G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Страница 553

Способ обнаружения дефектов и определения прочности соединения слоев в двухслойных изделиях

Загрузка...

Номер патента: 1580151

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Загребельный, Новиков, Петраковский, Русак, Семизельников

МПК: G01B 7/06, G01N 27/90

Метки: двухслойных, дефектов, изделиях, обнаружения, прочности, слоев, соединения

...по величине значения электрических проводимостей, например адгезионных.Целью изобретения является повышение точности контроля при выявлении дефектов и определении прочности соединений материалов с близкими по величине электрическими проводимостями.На чертеже показан график зависимости температуры от времени, описывающий тепловые процессы в материалах соединения. На чертеже обозначено: а - верхний слой изделия, б - йижний слой изделия при импульсном нагреве верхнего слоя.Способ осуществляется следующим обра в течение времени Т( - , гдеаФормула изобретения Т(О. Барывч к Сост Техред Тираж комитета осква, Ж ский комбо изобре- 35, Ра нат Па ру, поскольку тепловая волна еще не дос-. тигла ее поверхности. Длительность первого этапа определяется...

Устройство для калибровки измерителя линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1580152

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Метелев, Ткаченко, Фурман, Хазанович, Цыбулько

МПК: G01B 7/14

Метки: измерителя, калибровки, линейных, перемещений

...показываемые измерительным блоком 7, и определяют погрешности показаний блока 7 при нормальной температуре Произведя нагрев преобразователя 6 с помощьк, электронагревателя 12 до заданного знач,.ния температуры в его рабочих условиях, определяют погрешности показаний при выбранном "начении температуры,Формула изобретения Устройство для калибровки измерителялинейных перемещений, содержащее установленную на основании скобу с двумя соосными отверстиями, в одном из которых установлен узел задания эталонного перемещения с подвижным стержнем, в другом - узел крепления калибруемого измерителя, отлинаюи 4 ееся тем, что, с целью повышения точности калибровки, оно снабжено элекронагревателем, узел крепления калиб руемого измерителя выполнен в...

Бесконтактный датчик расстояния до объекта из ферромагнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 1580153

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Василец, Узунова

МПК: G01B 7/14, G01H 11/00

Метки: бесконтактный, датчик, объекта, расстояния, ферромагнитного

...материала, например КС - 37 А.На боковой поверхности магнита 5 у его торца со смещением относительно магнит- ЗО ной нейтрали постоянного магнита между ним и полкой 3 полюсного наконечника 1 закреплен элемент 6 Холла. Для повышения чувствительности датчика он может быть снабжен вторым элементом 7 Холла, закрепленным симметрично первому на боко- З 5 вой поверхности магнита 5 у его второго торца между ним и полкой 3 второго Г-образного наконечника 2. Оба элемента соединяют последовательно-согласно.Бесконтактный датчик расстояния до объ екта из ферромагнитного материала работает следующим образом.В исходном положении, когда объект контроля находится на большом удалении от датчика, магнитный поток, создаваемый постоянным магнитом 5,...

Датчик деформаций с частотным выходом

Загрузка...

Номер патента: 1580154

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Седых

МПК: G01B 7/16

Метки: выходом, датчик, деформаций, частотным

...монокристалла, накл.- енного на объект измерений (фиг. 3). Длина зоны краевого эффекта для каждой системы монокристалл - клей - объект измерений имеет свое значение, предварительно определяемое экспериментально. Монокристалл включен в схему релаксационного генератора токоподводами 5, 7, 8 (фиг. 1). Запасной вариант включения - токоподводами 8, 6, 5.1580154 Формула изобретения Соста интел ь В. Мелузоваред А. Кравчук Корректор Л. Бескидаж 502 Подписноеета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССЖ - 35, Раушская наб., д. 4/5омбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 О Редактор С. ПатЗаказ 2002НИИПИ Государ1Г 1 роизводственн шева Те Ти ственного коми 3035, Москва -издательский Датчик работает следующим образом.После наклеивания...

Устройство для контроля прямолинейности длинномерных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1580155

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Букасев, Федоринин

МПК: G01B 7/287

Метки: длинномерных, прямолинейности

...их малости (по сравнению с сопротивлением воздушного зазора РОО мм) или можно пренебречь, Тогда потокосцепление и наводимая ЭДС в катушках будет функцией зазора сР(фиг. 3). При строго параллельной подвеске штанги 4 относительно изделия 5 величина зазора у дополнительных (базовых) 1 и 3 и основного (измерительного) 2 электромагнитов одинакова, если изделие между электромагнитами 1 и 3 является прямолинейным, В ином случае зазор у электромагнита 2 изменяется на величину дР, И в индикаторных обмотках основного электромагнита 2 наводится ЭДС, отличная от .ЭДС индикаторных обмоток дополнительных магнитов 1 и 3 на величину ЛЕ, пропорциональную дР (фиг, 4).Таким образом, в идеальном случае, 1 когда штанга 4 с электромагнитами 1-3...

Способ определения дробной части порядка интерференции

Загрузка...

Номер патента: 1580156

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Киселев, Коленко, Лачугин, Ульянов

МПК: G01B 9/02

Метки: дробной, интерференции, порядка, части

...поьрядков интерференции;1(- ) - функция Бесселя и-го поряд 4 Ака аргумента (4 А/Д);Я - длина волны оптическогоизлучения.Амплитуда четной гаРмоники имеет 55 вид;26 о Г 4 А Пф = р вз.п -- 1 (- - ) Ль Л.0 = 2 р зхп6 1 (- в ) , (2)2 4 иАр д ь ь Л Для нечетннх гармоник соответствующее выражение имеет вид Ц ф- "2 сов 6 1 (- - ) е (3)2 п 4 АВ 4 я ь ф Л Подстановка (2) и (3) в соотно шение (4) позволяет получить выражение, связывающее значения амплитуд гармонических составляющих и по известной амплитуде колебаний одного из зеркал интерферометра определить величину дробной части порядков ин- терференции г 1 2 А - +П + 0- агсс 18 (5) Способ реализуется следующим образом. С помощью лазерного интерферометра Майкельсона, образованного источником 1...

Устройство для перемещения зеркала интерферометра

Загрузка...

Номер патента: 1580157

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Степаненков

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркала, интерферометра, перемещения

...- жесткость стержней 6.Благодаря пазу 13 и наклонному закреплению стержней 6 и 8 угловые Фперемещения кольца 7 сопровождаются осевым перемещением, котороЕ определяют по формулегде К . - радиус окружности, на которой размещены стержни 6;с( - угол наклона стержней 6 коси обоймы 3.Угловые перемещения кольца 7 обеспечивают осевое перемещение кольца 9, которое определяют по формулеН = К. уапцгде К - радиус окружности, на которой размещены стержни 8;О - угол наклона стержней 8 коси обоймы 3.,Осевое перемещение зеркала 10 определяется разностью перемещенийН и Н, и обеспечивает сканирование5по прямолинейной траектории и строгую ориентацию различных эон зеркала10 относительно оптической оси,Устройство работает следующим образом,Задают...

Устройство для определения деформаций поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1580158

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Городниченко

МПК: G01B 11/16, G01B 9/021

Метки: деформаций, поверхности

...выполйен паз, параллельный образующей цилиндра, шириной, равной толщине стек Ола с регистрирующей средой 6 (фотопластинки) и глубиной порядка 2/3 образующей цилиндра с большим радиусомоснования. Крепление фотопластинкиосуществлено двумя винтами 7, которыеприжимают фотопластинку 6 к плоскойповерхности паза, на которую предварительно наносится тонкий слой оптической замазки,Устройство работает следующим образом.Когерентное излучение от источника 1 преобразуется коллиматором 2 в параллельный пучок света, который попадает на юстируемое плоское зеркало 3, предназначенное для изменения угла падения света на зеркало 5, что дает возможность освещать по нормали внутреннюю цилиндрическую поверхность 9. Отражаясь от зеркала 5, свет через...

Измерительный микроскоп для контроля качества оптических деталей и систем

Загрузка...

Номер патента: 1580159

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 9/04

Метки: измерительный, качества, микроскоп, оптических, систем

...пластинка 3перпендикулярна оптической оси 00микроскопа, боковой сдвиг между интерферирующими фронтами равен нулю. 55Интерференционная картина имеетвид концентрических колец, число которых зависит от толщины пластинки 3, и не дает информации об искажениях волнового фронта. Конфигурация интерференционной картины подобна конфигурации контролируемой детали или зрачка контролируемой системы. Для получения информации об искажениях волнового Фронта необходимо ввести боковой сдвиг между интерферирующими фронтами. Боковой сдвиг вводится поворотом пластинки 3 вокруг оси, совмещенной с плоскостью шкалы 4. Угол поворота пластинки 3 составляет несколько градусов от исходного положения. Направление сдвига устанавливается поворотом пластинки 3 вокруг...

Оптическое устройство

Загрузка...

Номер патента: 1580160

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Воробьев, Дегтярев

МПК: G01B 11/00

Метки: оптическое

...луча размещают зеркало, которое связано с измеряемым объектом. Формула изобретения 20 Составитель Н.ЗахаренкоТехред М.Ходанич Корректор М,Кучерявая Редактор Н.Лазаренко Заказ 2003 Тираж 492 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении,Целью изобретения является упрощение устройства.На чертеже представлена схемаустройства.Оптическое устройство содержитосветитель (не показан), плоское зеркало 2, выполненное с отверстием,симметричным относительно оптическойоси устройства, и установленное подоуглом...

Оптический способ определения перемещений объекта

Загрузка...

Номер патента: 1580161

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Горшков, Первушин

МПК: G01B 11/16

Метки: объекта, оптический, перемещений

...соединенный с блоком 14 управления (генератор пилообразного напряжения). Сканирование интерферометра 9 осуществ 3 1580161 .ляется блоком 10 управления базой,на который подается сигнал с блока14 управления,Разъюстированный измерительныйинтерферометр 5 (фиг. 2) представляет собой два зеркала 15 и 16, междукоторыми расположены две кварцевыепрокладки 17 и 18, разница толщинкоторых дг равна диапазону перестройки сканируемого интерферометраУголпри вершине определяется выражениемхкоксе( = агссгд ---- .Э15 где х - верхний предел нзмеряеМиксмого перемещения;ДГ - диапазон изменения базы(расстояния между пластинами) сканируемого интер ферометра.При этом угол а не должен превышать величины, описываемой выраже- нием2 йп,где Йп - диаметр...

Устройство для измерения отклонения от прямолинейности

Загрузка...

Номер патента: 1580162

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Пузырев, Юрлов

МПК: G01B 11/26

Метки: отклонения, прямолинейности

...измерительной каретки. 5 10 15 20 25 Формула изобретения 30 35 40 45 Составитель О.МамонтовРедактор Н.Лазаренко Техред М,Ходанич Корректор М.Шаропп Заказ 2003 Тираж 493 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано для измерения отклонений от прямолинейности и взаимного смещения различных частей технологического оборудованияЦель изобретенияповьзпение точности измерения отклонений от прямолинейности за счет применения отражателей в виде двух вертикальных блоков ретроотражателей и введения второго Фотоприемника.На...

Способ контроля неровностей поверхности изделий

Загрузка...

Номер патента: 1580163

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Липовко-Половинец

МПК: G01B 17/08

Метки: неровностей, поверхности

...5 поверочногообразца 4 устанавливают прямой ультраОзвуковой преобразователь б с равномерной ближней зоной, посредствомкоторого излучают и принимают ультразвуковые колебания в направлений исследуемого изделия 2, Пространствомежду поверхностями 1 и 3 исследуемого изделия 2 и поверочного образца4, соответственно заполняют однородной пограничной средой (жидкостьюили газом) с известным акустическимсопротивлением Е,По амплитудам излучаемого и принимаемого от границы контакта исследуемого изделия с поверочным образцом сигналов определяют амплитудныйкоэффициент К отражения, Неровность .контролируемой поверхности 1 исследуемогоизделия 2 определяют но удельной .площади с углублений упомянутойповерхности, которую в свою очередьопределяют по...

Способ контроля положения внутреннего элемента системы автоматики

Загрузка...

Номер патента: 1580164

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Летучих, Овсянников, Пичугин

МПК: G01B 17/00

Метки: автоматики, внутреннего, положения, системы, элемента

...расположенного на внешней поверхности корпуса специализированной системы автоматики с внутренним элементом (поршнем), принимают сигнал, возникающий при соударении внутреннего элемента с корпусом, по которому судят о положении внутреннего элемента. 1 ил. навливают приемник акустических налов и принимают сигнал, возник щий при соударении внутреннего э мента ССА с корпусом, по котором судят о положении внутреннего эл мента. Приемник 2 акустических сигналов устанавливают на поверхности корпуса 4 ССА 1 и подключают его к блоку 3 обработки. В исходном положении поршень 5 занимает крайнее левое по чертежу положение. При включении устройства 6 управления и переключении при этом распределителя 7 одна из его полостей сообщается с магистралью 8,...

Измеритель длины и теоретической массы проката

Загрузка...

Номер патента: 1580165

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Бехтер, Дубинский, Зинченко, Коба, Куценко, Нападайло

МПК: G01B 21/00

Метки: длины, измеритель, массы, проката, теоретической

...проката и количеством сработавших при этом датчиков, определяется экспериментальным методом набора статистических данных.В ОЗУ 2 фиксируются состояния сработавших датчиков, количество которых соответствует длине измеряемого проката. После прохождения проката над линейкой 1 датчиков распределитель 5 импульсов по команде функционального блока 3 производит опрос триггеров ОЗУ 2 через схему 4 считывания, и полученная информация передается в блок 13 определения и коррекции длины проката.Блок 13 определения и коррекции длины проката функционирует согласно приведенному алгоритму (фиг, 3). По полученной информации с ОЗУ подсчитывается количество сработавших датчиков и. Определение длины проката Е. производится по формуле1.=п 1У где и -...

Устройство для измерения смещений

Загрузка...

Номер патента: 1580166

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Пузырев, Юрлов

МПК: G01B 21/00

Метки: смещений

...в дифракционныймаксимум и попадает на фотоприемник3, который детектирует световой сигнал и подает на первый вход фазометра4 задержанный во времени сигнал счастотной свип-генератора 6. П бых сов ф" Кх)На второй вход фазометра 4 подается опорный сигнал от генератора 6. Фазовый сдвиг между этими сигналами составляет величину 30линейно связанную с расстоянием х,При работе в широком диапазонеизмерений величин.х .фазовый сдвигможет содержать несколько целых пе 35 Риодов фазы, равной 211Генератор.5 генерирует синусоидальные колебания частотой Я, промоду 40 лированные по амплитуде сигналомчастотои Ч от свип-генератора 6, изменяющейся в пределах Я, ( Я сЯ,В результате на ячейку 2 поступает45 амплитудно-модулированный сигнал и в ячейке 2...

Преобразователь сигнала тензомоста в интервал времени

Загрузка...

Номер патента: 1580260

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Береславский, Козелов, Прокопенко

МПК: G01B 7/16, G01R 17/10

Метки: времени, интервал, сигнала, тензомоста

...элемент И 17 воздейству- . ет на счетный вход регистра, Состояние прямого выхода П-триггера 23, соединенного с информационным входом регистра, заносится в последний и на выходе регистра появляется комбинация Я 0111, где Я - состояние выхода названного триггера.35Далее элемент 13 снова формирует сигнал "Пуск" и весь описанный процесс аналогичным образом повторяется до тех пор, пока не завершится компенсация. Завершение компенсации возможно при том условии, что компенсирующее напряжение 1) входит в формулусо знаком плюс пРи максимальном коде регистра и со знаком минус при минимальном, а его наибольшая величина - не меньше величины начального разбаланса тензомоста, Данное условие продиктовано необходимостью обеспечить правильное...

Устройство для измерения размеров между отверстиями

Загрузка...

Номер патента: 1581989

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Петров, Таран

МПК: G01B 3/20

Метки: между, отверстиями, размеров

...оросителя содержит выполенные по одну сторону листа 1 выступы 2 виде полых усеченнцх конусов с отверсти ми 3 и 4 в основаниии вершине соответстенно и в боковых стенках отверстиями 5. о другую сторону листа 1 в шахматном орядке размещены выступы 6 в виде полых сеченных конусов с отверстиями 7 и 8 при 20 сновании и вершине и со сплошной бокоой стенкой. Выступы 2 выполнены с диаетром основания 3 и высотой, оставляющими 1,2 - 2,5 диаметра основания 7 и высоты выступов 6, Ороситель гра дирни составляется в виде рядов упомянутых пластин, при этом пластины сопряжены между собой меньшими основаниями выступов 2 и 6 с образованием каналови 10. 30Вода, подлежащая охлаждению, разрызгивается над оросителем. Протекая по развитой системе каналов 9 и...

Способ измерения величины смещения боковых поверхностей шлицев

Загрузка...

Номер патента: 1581990

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Кытманов, Ревенко

МПК: G01B 5/14

Метки: боковых, величины, поверхностей, смещения, шлицев

...8, помещенных во втулку 9, размещенных в пазах 3. Нэ сьемных линейках 10 и 11 также выполнены пазы 12 и 13 и нанесены шкалы 14 и 15. Съемная линейка 10 одним концом паза 12 установлена на шарнире 16, ось которого совпадает с началом отсчета шкалы 2, Другой конец паза 12 при помощи конусного Калибра соединен с рамками 17 и 18 и. одним. концом паза 13, Второй конец паза 13 соединен с рамкой 5 и пазом 3 основания 1 с помощьюоси конусного калибра.Устройство работает следующим обра, зом,Перемещают по пазу 3 рамки 4 и 5,конусные калибры 8 фиксируют в проверяемых отверстиях (не показаны), также пере мещают рамки 17 и 18, устанавливают конусный калибр 8 в третье проверяемое , отверстие, По шкалам 2, 14 и 15 определяют расстояния между...

Устройство для измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1581991

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Зубков, Павлов

МПК: G01B 5/14

Метки: линейных, перемещений

...параметров шлицеых изделий, протяжек и т.п.Цель изобретения - повышение точноти.На чертеже представлена схема иэмеения величины смещения боковых шлицев, еализующая способ.Способ измерения величины смещения оковых поверхностей шлицев осуществляется следующим образом.Контролируемый шлицевой вал 1 баэиуют относительной общей измерительной азы на базовой плите 2 в центрах 3. Изме- ение производят в сечении, расположеном в непосредственной близости от одного 3 концов шлицевого вала 1. Вал 1 устанавивают и закрепляют так, чтобы две точки 4 5 соответствующих ребер, образованных ересечением боковых поверхностей шлиев 6 и 7, принадлежащих к одной контроируемой шлицевой впадине 8, с их оверхностями по наружному диаметру 9 и 0 находились на...

Способ установки оптимального взаимного положения зубчатых колес передачи

Загрузка...

Номер патента: 1581992

Опубликовано: 30.07.1990

Автор: Рыгин

МПК: G01B 5/20

Метки: взаимного, зубчатых, колес, оптимального, передачи, положения, установки

...измерительных Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных перемещений в отсчетных системах измерительных приборов координатно-измерительных машин и станЦель изобретения - повышение точности измерений,На фиг.1 показана схема устройства для измерения линейных перемещений; на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1; на фиг.3 - разрез Б-Б на фиг,2.Устройство содержит корпус 1, закрепленную в нем измерительную дифракционную решетку 2, отсчетную головку 3, установленную в корпусе 1 с возможностью перемещения вдоль решетки 2, установленную в головке 3 каретку 4 с опорами 5 - 7, контактирующими с рабочей поверхностью решетки 2, механизм прижима каретки 4 1581991 А 11581991 3 екосы решетки 14...

Устройство для контроля профиля газодинамической поверхности замка турбинной лопатки

Загрузка...

Номер патента: 1581993

Опубликовано: 30.07.1990

Автор: Пасынков

МПК: G01B 5/20

Метки: газодинамической, замка, лопатки, поверхности, профиля, турбинной

...величина которой задается нагружающим устройством (не показано), уровень сигнала с вибропреобразователя 1, усиленный виброизмерителем 2 и преобразованный измерителем 3 амплитудных параметров, например, измерителем средневыпрямленного значения сигнала, меньше или равен уровню сигнала задатчика 12, поэтому сигнала из блока 4 сравнения нет. Положение осей зубчатых колес остается без изменения и в этом положении происходит фиксация эксцентриковых втулок, например с помощью штифта.При увеличенном межосевом расстоянии уровень вибрации зубчатых колес подСоставитель Б.Афонскийнец Техред М.Моргентал Корректор А. Обр едактор Н. Киш аказ 2079 Тираж 493 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035,...

Устройство для контроля параметров конических валов

Загрузка...

Номер патента: 1581994

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Блохин, Винокурова, Мамонова

МПК: G01B 5/24

Метки: валов, конических, параметров

...изобретения - повышение точно сти контроля за счет формирования общей контрольной поверхности по периметру замка.На фиг.1 изображено устройство для ,контроля профиля газодинамической по верхности замка турбинной лопатки, общий ,вид; на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1; на фиг, 3 в . уахройство, вид сверху.Устройатво содержит корпус 1 с базовой+Я ойорной 3 поверхностями, упор 4, 15становленный на опорной поверхности 3, соединенные с корпусом 1 и образующие вместе с ним паз планки 5 и 6 с участками 7 и 8 эталонной поверхности и установленный в пазу вкладыш 9. На упоре 4 и вклады ше 9 выполнены участки 10 и 11 эталонной поверхности, Планки 5 и 6 соединены с корпусом 1 штифтами 12.Устройство работает следующим образом, .25В паз устройства...

Способ центровки роторов

Загрузка...

Номер патента: 1581995

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Брылев, Матвеев, Помазан, Романов

МПК: G01B 5/25

Метки: роторов, центровки

...на боковиках с возможностью перемещения измерительных стержней перпендикулярно образующим конической поверхности контролируемого вала, 3 ил. можностью перемещения вдоль ее оси; измерительные узлы установлены на соответствующих боковиках 3 и 4 и выполнены в виде индикаторов 6 и 7. измерительные стержни 8 и 9 которых установлены с возможностью перемещения перпендикулярно образующим конической поверхности контролируемого вала.Контроль симметричности шпоночного паза осуществляется следующим образом,Устройство ставят на коническую поверхность контролируемого вала.В паз вала вводят шпанку 2, доводят упор 5 до его торца, Перед измерением предварительно устройство настраивают по эталону, обеспечивая натяг индикаторами "0,6 мм,...

Приспособление к профилографу

Загрузка...

Номер патента: 1581996

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Бугай, Кодак

МПК: G01B 5/28

Метки: профилографу

...а роторы фиксируют так, чтобы измерительные приборы и плоскость находились в точке 1 (фиг.2) и снимают показания. Затем синхронно поворачивая роторы, через 90 выставляют их в точки 11 и 111;По полученным замерам в точках Н 11 определяют угловое и радиальное смеще- ние в горизонтальной плоскости и устраняют их. Определяют угловое смещение в вертикальной плоскости, которую вычисля1581995 4и и о ов 5 и 6, Внесение поправки Л позволяет исклюют, как разность показаний приборов 5 и е ними Е, и чить новую сериюию замеров. деленную на расстояние междуФормула изобретения т вто ю серию заме- Способ центровки роторов, эа ючаю 5 ийся в том чт проводят две серии изме ров.т го заме- рений взаимного расположения роторов Расчет недостающего...

Устройство для измерения параметров вращающегося вала

Загрузка...

Номер патента: 1581997

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Дыбан, Клименко, Полухин, Сарапин, Хавин

МПК: G01B 7/16

Метки: вала, вращающегося, параметров

...профилограмма характеризует профиль и его отклоненияПриспособление к профилографу,содержащее штангу, обойму, поднесс пружинами и опору, установленные 45 на профилографе с возможностью взаимодействия между собой, и алмазнуюиглу, установленную на опоре, о т - ,л и ч а ю щ е е. с я тем, что, с целью повышения точности и производительности измерения отклонений профилей продольных сечений цилиндрических поверхностей, оно снабжено закрепленным на опоре кронштейном, установленным на нем с возможностью поворота в плоскости иглы неравноплечим рычагом, большее плечо которогопредназначено для взаимодействия сиглой, а меньшее - с измеряемой поверхностью посредством двух дополнигде Б - измерительное усилие;1 - расстояние, на котором...

Способ измерения площади поверхности электропроводного изделия

Загрузка...

Номер патента: 1581998

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Гайсаров, Мангутов, Тюков

МПК: G01B 7/32

Метки: изделия, площади, поверхности, электропроводного

...еля 6 напряжения,В сОрой усилитель 7 служит для софг 1 ЯСОВЯ 1.ИЯ ПРО:1 сжУ НОЧНЫХ КаСКаДОВ СР 1 1 О-,г НАД,(2) Устройство работает следующим об -. разомСигнал с тензомоста 1 поступает на вход первого усилителя 4,Напряжение на его выходе описывается выра 132 ККлЦ К 1 9 (1) 4 г +г, +К,+К К 1где К - величина сопротивления одного тензорезистора тензомоста 1;х и г - переходные сопротивленияконтактов 3 и 11 соответст-.венно;К. - сопротивление резистора 12;К - коэффициент усиления перноФго усилителяЬК - величина изменения сопротив-ления резистора тензомоста1, пропорциональная величине измеряемого параметра;- напряжение источника 2 пи-"тания.Напряжение на резисторе 12 может быть описано выражением Сигнал с усилителя 4 поступает на второй вход...

Способ юстировки составной сферической антенны и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1581999

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Бархударов, Лорецян

МПК: G01B 11/24, G02B 27/62, H01Q 15/16 ...

Метки: антенны, составной, сферической, юстировки

...которое.конденсатор потерял при подключениик металлическому шарику 7. Это напряжение пропорционально заряду, перетекшему из конденсатора 1 к шарику7, в то же время заряд распределяет,ся по поверхности шарика, следовательно, чем больше площадь поверхности шарика 7, тем больший заряд. он накапливает, тем меньше остаточное,напряжение на конденсаторе 1,Если; с помощью эталонных шариков, укоторых площадь поверхности известна, проградуировать вольтметр в единицах площади, то он будет показывать непосредственно площадь поверхности измеряемых объектов,Предлагаемым способом можно изме,рить также площадь поверхности тел,имеющих сложную форму, Измереннаяпри этом площадь является эффективной площадью, которую необходимознать при гальванообработке,...

Фотоэлектрический датчик угла поворота вала

Загрузка...

Номер патента: 1582000

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Мифтахов, Салимов, Сафин

МПК: G01B 11/26

Метки: вала, датчик, поворота, угла, фотоэлектрический

...1 ивыполненным в виде оптической рычажной системы, состоящей из выпуклогосферического зеркала 5, контактирующего с подвижной опорой 3, неподвижного зеркала 6, экрана 7 с перекрестием 8 и источника 9 света, закрепленного под углом к выпукломусферическому зеркалу 5.Работа устройства иллюстрируетспособ юстировки составной сферической антенны,Устройство устанавливают на первом элементе 1 О СЗА, предварительновыставленного в поверхности сферы,При этом подвижную опору 3 устанавливают под одной из четырех точек,например А, лежащих на поверхностипоследующего элемента 11 СЗА, Подвижная опора 3, перемещаясь до упорав поверхность последующего элемента11 СЗА, поворачивает. связанное сней выпуклое сферическое зеркало 5,что в свою очередь...

Фотоэлектрический автоколлиматор

Загрузка...

Номер патента: 1582001

Опубликовано: 30.07.1990

Автор: Шиляев

МПК: G01B 11/26

Метки: автоколлиматор, фотоэлектрический

...нулевого значения,После этого процессор 8 включаеисточник излучения соседнего отверстия в диафрагме 2, лри этом в плоскости координатно-чувствительногоанализатора 7 изображения формируются яктоколлимационные изображениядвух соседних отверстий в диафрагме2, соответствующие пучкам лучей, отраженным от д 8 угранного отражателя5, д также автоколлимдционные иэображения, соответствующие пучкам лучей, отраженным от отражателя 6, Про"цессор 8 выбирает сигналы, соответствующие автоколлимационным иэображениям отверстий в диафрагме 2 послеотражения пучков лучей от двугранного отражателя 5, вычисляет расстояние А между изображениями отверстийв диафрагме 2 и путем сравнения с,реальным расстоянием Ар между отверстиями в диафрагме 2 определяет...