G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров
Прибор для измерения толщины легкодеформируемых изделий
Номер патента: 1605133
Опубликовано: 07.11.1990
Автор: Захарченко
МПК: G01B 5/06
Метки: легкодеформируемых, прибор, толщины
...равным его весу, Когда реакция упругих сил материала изделия 11 будет уравновешена усилием измерения, шарики 9 нач- нут взаимодействовать с конической поверхностью измерительного наконеч-. ника 5 и цилиндрической поверхностью направляющего отверстия 3 корпуса 1.При этом шарики 9 блокируют перемещение измерительного наконечника 5относительно корпуса 1. По показателям отсчетного механизма 4 судято толшине иэделия 11. Кроме того,после заклинивания шариков 9 возможно извлечение изделия 11 из.:прибора. При этом показания отсчетногомеханизма 4 не изменяются,Прибор позволяет снизить относительную погрешность измерения и повысить стабильность показаний за счетнормализации измерительного усилия,что делает его пригодным для контроля...
Устройство для контроля внутреннего диаметра деталей
Номер патента: 1605134
Опубликовано: 07.11.1990
Автор: Матросов
МПК: G01B 5/08
Метки: внутреннего, диаметра
...корпуса 1подпружиненные с помощью плоскопружинных параллелограммов 7 щупы 8, 25два индуктивных преобразователя,неподвижные элементы 9 которых установлены в корпусе 1, а подвижныеэлементы 10 связаны со щупами 8связанный с индуктивными преобразователями преобразователь сигналов исвязанный с ним отсчетный узел.Для создания измерительного усилия щупов 8 предназначены пружины 11и винты 12.В корпусе 1 выполнено центральноеотверстие 13. предназначенное .дляналадки устройства на контролируемыйразмер.Устройство работает следующим40образом,Упоры 6 с помощью концевых мерустанавливают относительно централь"ного отверстия 13 на необходимый радиус контролируемого диаметра и Фик" сируют винтами 5, На базовую поверхность 2 корпуса 1...
Устройство для измерения внутреннего диаметра деталей
Номер патента: 1605135
Опубликовано: 07.11.1990
Автор: Доброхотов
МПК: G01B 5/08
Метки: внутреннего, диаметра
...треугольный выступ14 взаимодействующий с нутромером1, и растягивающейся нити 15, например резинового шнура один конец.которой закреплен на планке 13 вместе ее крепления со стойкой 3(точка Б на Фиг. 2), а другой разме-,щен в продольном пазу 16 планки своэможностью перемещения в нем, авдоль паза нанесена шкала 17 дляотсчета углов на торце детали 2 от0 до 90Устройство работает следующимобразом,В начале производят настройкуустройства для измерения диаметраотверстия в заданном сечении детали.Для этого ослабляют фиксаторы 9 на "стойках 3 и 4 и перемещают поочередно ползушки 6 и 7 в направлениистоек, устанавливая на шкалах 11. заданный размер, после чего полэушки 67 фиксируют соответственно на стойках 3 и 4 Фиксаторами 9. Затем ослабляют...
Способ измерения расстояния от торца изделия до плоскости симметрии криволинейной поверхности
Номер патента: 1605136
Опубликовано: 07.11.1990
МПК: G01B 5/14
Метки: изделия, криволинейной, плоскости, поверхности, расстояния, симметрии, торца
...поверхности, 06 - допуск на ее изготовление. 3 ил. 1где К - номинальный радиус измеряемой поверхности,Ы, - допуск на ее изготовление.На фиг, 1 дано устройство, реализующее предлагаемый способ, общий вид; на Фиг, 2 - схемы самоустановки оси контрольного элемента в плоскости А-А симметрии различных криволинейных незамкнутых контуров, на фиг, 3 - конструкция контрольного элемента.Устройство, реализующее способ, содержит поверочную плиту 1, установленную на ней с возможностью пере. мещения стойку 2 с отсчетным индикаторным узлом 3 с плоским измерительным наконечником 4, контрольный элемент 5, выполненный в виде самоустанавливающегося цилиндра б с коль" цевыми магнитами 7 на торцах, которые закреплены к цилиндру б с помощью1605136 ьИ...
Дифференциальный трансформаторный датчик линейных перемещений
Номер патента: 1605137
Опубликовано: 07.11.1990
Метки: датчик, дифференциальный, линейных, перемещений, трансформаторный
...относительно обмоток 3 и 4.Датчик работает следующим образом,При подключении катушки 1 к источнику 5 переменного напряжения через ее обмотку, протекает переменный ток, величина которого определяется напряжением питания и полным сопротивлением замкнутой электрической цепи. Переменное электромагнитное поле, образующееся вокруг обмотки катушки 1, возбуждает в симметричнь 1 х обмотках 3 и 4 переменные электро- движущие силы (ЭДС). В определенном положении сердечника 2 с катушкой 1 в обмотках 3 и 4 индуцируются равные ЭДС, что соответствует нулевому показанию регистрирующего прибора 6. 40 При смещении сердечника 2 с катушкой 1 от этого нулевого положения индуцированные ЭДС в симметричных обмот,- ках 3 и 4 изменяются на величины разного...
Фольговый датчик раскрытия трещины
Номер патента: 1605138
Опубликовано: 07.11.1990
МПК: G01B 7/16
Метки: датчик, раскрытия, трещины, фольговый
...так, цтобы.трещина пересекала центр гребенки2 чувствительных элементов, Прираскрытии трещины вся поверхностьэлектроизоляционной подложки 1 растягивается и через участки слоя клеяч деформация передается гребенке 2чувствительных элементов, При увеличении ширины раскрытия трещины разрывается подложка .1, но не гребенка2 чувствительных элементов, разрывкоторых последовательно наступаетпри наперед заданной деформации, определяемой предельным удлинением материала Фольги и базой растяжения,т.е. расстоянием между тоцками крепления контактных площадок 3 гребенки 2 чувствительных элементов с подложкой 1. База каждой ветви гребен"ки 2 чувствительных элементов предварительной тарировкой калибруетсяна заданную ширину раскрытия трещины....
Способ контроля геометрических параметров элементов изделий с периодической структурой
Номер патента: 1605139
Опубликовано: 07.11.1990
Автор: Христич
МПК: G01B 9/00
Метки: геометрических, параметров, периодической, структурой, элементов
...близким илиравным 90 О, проволоки0,03 мм,проводят напыление, например, углерода при остаточном давлении не выше4 .10 ГПа, убирают трафарет.На поверхности МКП останутся двепересекающиеся полосы без покрытия,С помощью микроскопа необходимо выбрать один канал, находящийся в центре перекрытия полос, и определитьего контрольные параметры с учетомвсех погрешностей. Нижний пределширины полос, свободных от поглощающего покрытия, объясняется необходимостью иметь в центре перекрестияне менее одного полного контролируемого микроэлемента при случайном расположении теневого трафарета, еслимикроэлементом считать отдельнуюструктурную единицу; либо канал(сердцевину), либо перемычку (оболочку), Верхний предел - не болеедвух полных микроэлементов,...
Способ контроля размера элементов топологической структуры и устройство для его осуществления
Номер патента: 1605140
Опубликовано: 07.11.1990
МПК: G01B 11/02, G02B 26/12, G02B 27/44 ...
Метки: размера, структуры, топологической, элементов
...по шкале,Способ реализуют следующим образом.Пучок света от лазера (через поворотную призму 2 и формирующееустройство 3) Фокусируется на объекте измерения (топологической структуре типа дифракционной решетки)под углом 9 , дифрагирует и череззеркало 5 попадает на барабан 6 сотражательным экраном 7 и шкалой 8,Вращением барабана переключаютшкалы и на экране наблюдают половинудифракционного спектра, начиная отнулевого пучка.Для определения размера элементатопологической структуры вращениембарабана подводят ту грань, котораясоответствует порядковому номерусчитываемого минимума огибающей дифракционного спектра (наблюдаемогона экране 7 визуально). На каждойшкале грани барабана 6 с номероми = 1, 2 3, ч, 5, 6 значения размера Ь...
Рентгеновский измеритель толщины проката
Номер патента: 1605141
Опубликовано: 07.11.1990
Авторы: Гусев, Егоров, Маслов, Соколов
МПК: G01B 15/02
Метки: измеритель, проката, рентгеновский, толщины
...в один из полупериодов сетевого напряжения, которые35проходят соответственно через контролируемую полосу 2 и клин. 3 компенсации,При этом возможны три случая конт 40роля: толщина полосы равна толщинеклина, толщина полосы больше толщиныклина и толщина полосы меньше толщины клина.В первом случае интенсивность45рентгеновского излучения преобразуется сцинтиляционными кристаллами 4 и5 в световые импульсы, которые, пройдя ФЭУ 6 и 7; преобразуются в электри.ческие сигналы, сравниваемые междусобой в блоке 10 сравнения, а так как 5 Отолщина полосы 2 и клина 3 равная,то сигналы с вторых выходов ФЭУ 6 и 7 поступают на соответствующие входы дифференциального усилителя 15блока 14, если эти сигналы равны по 55амплитуде и длительности,...
Ультразвуковой способ измерения толщины пленки
Номер патента: 1605142
Опубликовано: 07.11.1990
Автор: Базаров
МПК: G01B 17/02
Метки: пленки, толщины, ультразвуковой
...Заказ 3449 Тираж 478 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Н, Раувская наб д, 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент",г, Ужгород, ул.Гагарина,101 Изобретение относится к контрольно"измерительной технике и можетбыть использовано для измерения толщины пленок в процессе их нанесения.Целью иэобретенйя является повышение точности измерения за счетисключения погрешности, вызванной неидентичностью элементов.На чертеже приведена блок"схема. 1 Оустройства, реализующего ультразву, ковой способ измерения .толщины пленки.Устройство содержит подложку 1,на котсФую наносится контролируемая 15пленка, излучатель 2, приемники 3и 4, размещенные по разные стороныизлучателя,...
Фотоэлектрический импульсный датчик
Номер патента: 1605143
Опубликовано: 07.11.1990
Авторы: Альтер, Епишин, Кудрявцев, Шраго
МПК: G01B 21/00
Метки: датчик, импульсный, фотоэлектрический
...вращения осевого смещения, пово втулки 3 установлен винт 9, вх в круговой паз 10 (фиг. 1) на ке 3.1605143 3Диск 12 с прорезями устанавливается на вал контролируемого объекта,а прорезанной частью входит в пазкорпуса 1.Фотоэлектрический датчик работаетследующим образом.Диск 12 перемещается с валом измеряемого объекта. Свет от осветителя 2(полупроводникового диодами через перемещающиеся прорези диска 12 и диафрагмирующие отверстия. 11 попадаютна Фотодиоды 4, в которых образуютсясдвиги по фазе на 90+2, затем специальной электронной схемой превращается в две серии сигналов, сдвинутыхдруг относительно друга на 90о,В случае нарушения сдвига фаз либоустановления диска с другим шагом прорезей осуществляется корректировкасдвига Фаз. Корректировка...
Устройство для контроля полых стеклянных емкостей на дефекты в полости
Номер патента: 1605934
Опубликовано: 07.11.1990
Автор: Ганс-Ульрих
МПК: G01B 5/004, G01B 5/02
Метки: дефекты, емкостей, полости, полых, стеклянных
...контролю подлежат стеклянные емкости, устье которых имеют другой внутренний диаметр. Отвернутая от штанги 1 сторона тарелки 5 имеет согласованную с выпуклым днищем контролируемой стеклянной емкости вогнутость.Тарелка 5 выполнена из легкого материала, например пластмассы, а противоположная штанге 1 поверхность имеет твердое покрытие, например, из пРужинной стали, чтобы цапфы и другие острые дефекты не могли повреждать поверхность тарелки 5, Держатель 2, так же как и тарелка 5, выполнен иэ легкого материала, например пластмассы, алюминия и т.п.Устройство работает следующим образом.Контролируемую емкость с помощьютранспортного механизма перемещаютна установочную позицию. Вводят вконтролируемую полость механическийчувствительный элемент....
Рентгеновский измеритель толщины проката
Номер патента: 1606451
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Гусев, Егоров, Маслов, Соколов, Фирстов
МПК: G01B 15/02
Метки: измеритель, проката, рентгеновский, толщины
...контролируемая фильтр 4 низких час сигналов и показыва также устройство 7 полненное в виде ген ного напряжения, оди подключен к источн излучения, компарат которого подключен ратора 8 пилообразн 10 опорного напряже второму входу компа входы которого соеди 3 и компаратора 9 со подключен к входу фи На чертеже покаана полоса 12 проката.1606451 3 Рентгеновская трубка 1 питается пилообразным напряжением от генератора 8. Напряжение Ов может быть различным по амплитуде (фиг,2 а - в). Импульсы рентгеновского излучения, прошедшие через конт ролируемую полосу 12 проката, попадают на сцинтилляционный кристалл 2, где преобразуются в световые импульсы, которые пройдя ФЭУ 3, выделяются в виде электрических сигналов Оз. Одновременно пилооб разное...
Устройство для измерения сближения проводов действующих линий электропередачи
Номер патента: 1606845
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Каунбаев, Кудратиллаев, Умурзаков
МПК: G01B 5/10
Метки: действующих, линий, проводов, сближения, электропередачи
...11 соединен со средствами передачи информации, представляющими собой последовательно установленныесогласующий трансформатор 12, преобразователь 13 напряжения в оптическое излучение, передающую оптическую систему 14,приемную оптическую систему 15, преобразователь 16 оптического излучения в напряжение и индикатор,17,Устройство работает следующим образом.Как видно из чертежа, при установкеустройства в точке измерения соответствующим образом его антенны с проводамилинии образуют три конденсатора. Первыйконденсатор образуют одни иэ проводов 2линии и антенна 10, находящаяся ближе кэтому проводу; второй конденсатор - антенны 9 и 10, третий конденсатор - провод 3другой фазы линии и другая антенна 9. Принормальном состоянии проводов, т,е....
Устройство для измерения отклонений межосевых расстояний отверстий
Номер патента: 1606846
Опубликовано: 15.11.1990
МПК: G01B 5/14
Метки: межосевых, отверстий, отклонений, расстояний
...кронштейне 2 с помощью самоцентрирующего механизма, выполненного в виде параллелограмма 5, имеющего вид корпусных планок 6 и упругих перемычек 7, и составляет единое целое с одним из кронштейнов 2, Каждая головка 3 и 4 выполнена в виде двух рычагов 8 и 9, связанных соответственно с параллелограммом 5 и кронштейном 2 гибкими перемычками 10. В основании 11 головок 3 и 4 установлены . подпружиненные пружинами 12 и 13 валики 14 и 15 с грибками 16, имеющие лыски 17. Валики 14 и 15 установлены с возможностью перемещения и вращения. В кронштейне 2 с параллелограммом 5 установлен подпружинненый толкатель 18 с возможностью перемещения, взаимодействующий с валиком 14 и имеющий фиксатор 19, а валик 14 имеет ограничительный штифт 20. Валик 15...
Способ контроля биения зубчатого колеса и устройство для его осуществления
Номер патента: 1606847
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Вихрев, Мещанский, Соловьев
МПК: G01B 5/20
Метки: биения, зубчатого, колеса
...Затем отводят отзубчатого колеса 2 контактирующий узел 6 20и поворачивают с помощью приспособления 4 для поворотов зубчатого колеса навеличину угла окружного шага, фиксируемого датчиком 5 угловых поворотов, и сновапроизводят указанные измерения, получая 25отсчет а 2 з , при этом цикл измерений продолжают до тех пор, пока зубчатое колесо 2не совершит полный оборот. Таким образом будет получено и отсчетовй 12, а 2 з ап,п, где и - число впадин 30зубчатого колеса 2, затем величину биенияВ) зубчатого колеса 2 вычисляют по формулеВ = Вшах Вщп 1в которой В = рЬ "1/206265", 35при этом р - величина окружного шага;1Л =Л- - ,", ЛигдеЙ=и+1-:="1и -1причем д, =а - 1,к - ак,к+1.Ошибка (в) определения величины биения оценивается по формулеп 3 в =...
Способ измерения отклонений от прямолинейности
Номер патента: 1606848
Опубликовано: 15.11.1990
МПК: G01B 5/28
Метки: отклонений, прямолинейности
...точек производят одновременно и непрерывно, Преобразование ординатв отклонения совокупного профиля от прямолинейности показано на фиг.2, где датчики 5-9гп каждый на своем интервалесканирования 1 хох Х 1; 2(Х 1 хх 2;3(Х 2 5 Х - ХЗ);1(Х 1-1 :ХХ 1);П(хпХ хп),зарегистрировали соответственно следующие ординаты профилей интервалов относительно собственного начала координат:У 1(Х); У 2(Х); УЗ(Х); , У 1(Х),Уп(Х),что обусловлено настройкой датчиков 5 - 9,. в начальном положении сканирования нануль, т.е.5 6 7У 1(0) У 2(х 1) У з(х 2) - О;8,у 1(х 1 -) =0;У(х) =О,где верхний индекс означает порядковыйномер прибора, нижний индекс - порядковый номер сканируемого интервала, причем т-п.Ясно, что каждый иэ датчиков 5-9 т,сканируя конечную точку...
Способ определения коэффициента неравномерности нагружения сателлитов планетарной зубчатой передачи
Номер патента: 1606849
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Сызранцев, Удовикин, Штин
МПК: G01B 7/16
Метки: зубчатой, коэффициента, нагружения, неравномерности, передачи, планетарной, сателлитов
...для всех ов нагружения определяют щения реакции датчиков на литов,1606849 Формула изобретения Составитель Е, Щелина Редактор М. Келемеш Техред М.Моргентал Корректор Э. ЛончаковаЗаказ 3544 Тираж 503 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, )К, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 нагружения сателлитов планетарной передачи необходимо судить по различию в приращении количественных характеристик реакции датчиков после появления первых ее признаков на сателлитах, а коэффициент Кнер определяют как отношение приращения количественной характеристики реакции датчиков с наиболее нагруженного сателлита к среднему значению этого...
Способ крепления тензорезистора к образцу
Номер патента: 1606850
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Бебишев, Гордеева, Курилова, Чудина
МПК: G01B 7/16
Метки: крепления, образцу, тензорезистора
...войЗатем с вление 8 - ботку при сле освообразец ботке при(54) СПОСОБ КРЕПЛЕНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРА К ОБРАЗЦУ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для укрепления тензорезисторов к образцу. Цель изобретения - повышение качества наклейки за счет уменьшения полэучести и трудоемкости. При размещении тензореэистора на поверхности образца в качестве клея используют калиброванную по толщине частично полимериэованную пленку из полиамидоимидного лака ПАИТ,Калиброванная частично полимеризованная пленка может быть получена путем нанесения на стеклянную поверхность с помошью фильеры с определенным зазором в зависимости от выбранной толщины и наносят полиамидоимидный лак ПАИТ, помещают в нагретую до 80-100 С печь,...
Способ определения неоднородных перемещений
Номер патента: 1606851
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Артеменко, Плохов, Речкалов
МПК: G01B 11/16, G01B 9/021
Метки: неоднородных, перемещений
...Келемеш Заказ 3544 Тираж 500 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 интерференционную картину, По полученной таким образом интерференционной,картине измеряют величину перемещений исследуемого объекта,Копию растра можно получить голографическим способом, Для этого на поверхность объекта с нанесенным растром-покрытием крепят, например, с помощью прозрачной промежуточной среды прозрачный фотоноситель. Объект освещают нормально падающей к его поверхности плоской волной когерентного излучения и записывают голограмму деформированного растра, причем делается только одна экспозиция....
Датчик положения кромки режущего инструмента
Номер патента: 1606852
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Андреев, Бирюков, Линд, Марков, Педь, Серко, Трохов, Шулепов
МПК: B23Q 35/04, G01B 11/00
Метки: датчик, инструмента, кромки, положения, режущего
...гранью куба-призмы 5 излучение отклоняется на призму б, отражается от ее гипотенузной грани и выходит из первого призменного блока вверх по направлению оси ОУ, скани 1606852руя одновременно вдоль оси ОХ. Отразившись от гипотенузных граней прямоугольных призм 8 - 10, образующих второй блок, излучение направляется в обратном ходе вниз, сканируя уже вдоль оси ОЕ, отражается от гипотенузной грани призмы 7 и через куб-призму 5 и щелевую диафрагму 3 возвращается к призме-сканатору 2 несколько ниже оси исходного излучения. На выходе из призмы 2 в обратном ходе ось излучения становится неподвижной. Отразившись от гипотенузной грани призмы 11, излучение попадает на фотоприемник 12. Часть излучения прошедшего через полупрозрачную 510 15 грань...
Волоконно-оптический датчик микроперемещений
Номер патента: 1606853
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Аджалов, Голуб, Сисакян, Сойфер
МПК: G01B 11/02
Метки: волоконно-оптический, датчик, микроперемещений
...световодов 1,2 располокен плоский отражающий элемент 4, выполненный с возможностью перемещения. Световоды 1,2 оптически связаны отражающим элементом 4.Датчик работает следующим образом, Пучок излучения, формируемый световодом 1, преобразуется отражающим элементом 4 и возбуждает излучение в световоде 2,. Внешние воздействия, приводящие к любым смещениям отражающего элемента 4, обуславливают модуляцию интенсивности направляемых мод световода 2, чем и обеспечивается использование этой схемы в качестве амплитудного датчика микроперемещений.При выполнении отражающего элемента 4 в виде плоского рельефного элемента с высотой рельефа Ь(х, у), определяемой из соотношения+ К( + Н)2+ Р+12 волновое число;длина волны излучения;наты в плоскости...
Гидравлический способ определения среднего диаметра волокон
Номер патента: 1606854
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Адамян, Алексеев, Бегляров, Распутько, Северина
МПК: G01B 13/08
Метки: волокон, гидравлический, диаметра, среднего
...водного раствора ПАВ. По времени слива и тарировочным зависимостям определяют средний диаметр волокон,мости продолжител ности слива раствора от диаметра волокон и .времени слива раствора через измеряемую навеску определяют средний диаметр. волокон в навеске. Например, навеску из 30 г муллитокремнеземистого волокна термообрабатывают при 400 С в течение 10 мин, загружают в лабораторную электромешалку, заливают водой в таком количестве, чтобы жидкотвердое отношение составляло 20:1, и перемешивают до получения однородной суспензии. Затем этой суспензией заполняют сосуд диаметром 50 мм, образуя волокнистый слой.Одновременно готовят 0,30-ный водный раствор ПАВ - сульфонола с вязкостью 11 СПз, являющейся оптимальной для проведения...
Сканирующий интерферометр
Номер патента: 1606855
Опубликовано: 15.11.1990
Автор: Юрлов
МПК: G01B 21/00
Метки: интерферометр, сканирующий
...быть условно подразделена на два процесса: формирование сканирующей интерферограммы; собственно контроль прямолинейности или плоскостности относительно интерферограммы.Процесс формирования сканирующей интерферограммы осуществляется следующим образом,Лв ( ио;с 1- ч --- сопзт = с,ЭАП Зо,ЗК,ЗМ(фиг. 1) могут быть выпол 20 нены, "например, в виде пластинок из пьезоэлектрических кристаллов с двумяметаллизированными обкладками для подведения сигнала, одна из которых находится в непосредственном контакте с входнойгранью АОМ 2, При этом возбужденные имив АОМ 2 ультразвуковые пучки параллельны и находятся в зоне действия пучка лазера 1. АОМ 2 имеет на противоположнойграни скос или поглотитель ультразвука для30 устранения режима стоячих волн,...
Устройство для исследования траектории движения вращающегося вала
Номер патента: 1606856
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Астраух, Козловский, Печенкин, Суханов
МПК: G01B 21/00
Метки: вала, вращающегося, движения, исследования, траектории
...следующим образом.Сигналы датчика 1 с выходов двух бесконтактных преобразователей 2,3 перемещения в виде напряжений, амплитуды Ох и Оу которых пропорциональны расстояниям х и 1 у от вала 10 до соответствующего преобразователя, через первые входы коммутаторов 5 и 6 поступают на входы усилителей вертикального и горизонтального отклонения осциллоскопа 4, в результате чего на экране последнего появится светящаяся точка, положение которой будет задано величгнами напряжений Ох и Оу, С выходов квадратурного генератора 7 два синусоидальных, сдвинутых по фазе на.90, сигнала постоянной амплитуды, пропорциональной величине предельных перемещений, т,е, максимально возможному расстоянию 1 вах между валом и преобразователем, через вторые входы...
Способ определения координат объекта
Номер патента: 1606857
Опубликовано: 15.11.1990
МПК: G01B 21/00
...электромагнитного подвеса 8, формируется с помощью объектива 4 в виде изображения световой метки на фотоэлектронном умно- жителе 5, Попадая на фотокатод 6, световой поток преобразуется в поток фотоэлектронов, который устремляется усилившись динодами (эмиттерами) 9 к аноду 10, создавая ток во внешней цепи (сопротивление 11), Поток образовавшихся фотоэлектронов после фотокатода 6 отклоняют электрическим или магнитным полем (на фиг. 1 отклоняют электрическим полем), созданном взаимно перпендикулярными пластинами 7 и 8. При этом поток фотоэлектронов отклоняют вначале по горизонтали, затем по вертикали, в результате на сопротивлении 11 нагрузки образуются импулься тока (фиг. 2) 12 и 13.Причем импульсы 12 и 13 при переходе от отклонения...
Устройство для поверки индикаторов
Номер патента: 1501669
Опубликовано: 15.11.1990
Авторы: Гуляев, Заболовский
МПК: G01B 5/00
Метки: индикаторов, поверки
...известно, обеспечивается делительно-фиксирунчпим уз-.лом. В этих точках и поверяются показания цидикаторон, Переключение диапазонов излучения осушествляется поочередным взаимодействием с поверхностями эксцентриков 8 и 9 контактногонаконечника 6 каретки 5 путем егофиксированного поворота. 4 ил. дочные места дпя ло ров 4, установленну 2 кареткч 5 с конта Привод пе нполиенньв н виде бл8 и 9, ус 1 аиовленннозмол но тью вращензубчатых колес 11,устройство таклерующе-целительный у13 и фикса гор 14. Кчиик 6 утанонлеи свсно.а и;.с чсреднос л о н с р.с ц с 1 сь ю з к с цксторьсм лс 1 л" аатсял;ины 1 Сг О 1 Р 3 1устройство работает следующим образом,Поверяемые индикаторы 4 устанавливаются в кронштейны 3 каретки 5,предварительно выставленной в...
Устройство для измерения длины петли на основовязальной машине
Номер патента: 1608411
Опубликовано: 23.11.1990
Авторы: Иванов, Пинхасович, Чугунов
МПК: D04B 27/00, G01B 5/04
Метки: длины, машине, основовязальной, петли
...длины петли. По окончании цикла измерения срабатывает электромагнит и взаимодействующий с его якорем двуплечий рычаг отбрасывает метку по направляющей в начальное положение. 1 ил. Датчики 7 и 8 соответственно конечного и начального положения метки 1, а также датчик 10 числа оборотов главного вала машины подключены к соответствующим входам блока 9, выход которого связан с катушкой электромагнита 6, Метка 1 размещена на направляющей 2 с возможностью контакта с нитями 11 основы и возвратно- поступательного перемещения по направляющей 2 в зоне датчиков 7 и 8 конечного и начального положения метки 1, а также взаимодействия с двуплечим рычагом 3.Устройство работает следующим образом.При петлеобразовании и движении нитей 11 основы, на...
Способ определения толщины слоя покрытия
Номер патента: 1608412
Опубликовано: 23.11.1990
Авторы: Вугальтер, Глазов, Кирзон
МПК: G01B 5/06
Метки: покрытия, слоя, толщины
...толщины пленочного покрытия, осажденного на подложку.Цель способа - повышение информативности путем определения толщины 5 осаждаемого слоя покрытия в любой точке вращающегося подложкодержателя, а также ее зависимости от расстояния до центра вращения подложкодержателя.На чертеже приведена схема для иллю страции предлагаемого способа,Способ определения толщины слоя покрытия заключается в том, что на подложкодержателе 1 размещают и подложек 2 одинакового радиуса В по разным направ лениям от центра вращения подложкодержателя так, чтобы расстояния между центрами подложек и центром вращающегося подложкодержателя отличались у соседних подложек на постоянную величину 20 Ь, т.е. если центр первой подложки удален от оси вращения плоскодержателя...
Устройство для измерения толщины листовых материалов
Номер патента: 1608413
Опубликовано: 23.11.1990
Авторы: Василькова, Сиамашвили, Сретенская
МПК: G01B 5/06
...другому основаниямименьшего диаметра. Фланец 9 шарнирно закреплен на рычаге 5 и через него пропущенизмерительный наконечник 2, Фланец 10 жестко закреплен основанием большего диаметра на рычаге 6 и через него пропущенопорный наконечник 4. На основаниях меньшего диаметра выполнены полости для размещения измеряемого материала 11, К 35рычагу 5 шарнирно крепится нажимной рычаг12, а к рычагу 6 - скоба-ручка 13,Устройство работает следующим образом,В исходном положении рычаги 5 и 6 с 40фланцами 9 и 10 соответственно разжаты спомощью пружины 8, Фланец 9 установленна оычаге 5 шарнирно с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной осинаконечников. В полость между фланцами 9 45 и 10 пропускается измеряемый материал 11,Нажатием нажимного...