G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Страница 597

Устройство для измерения угловых перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1693370

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Бирман, Гроссман, Седельников

МПК: G01B 9/02

Метки: перемещений, угловых

...интерференционного узла, а радиус сектора пластины 14 равен расстоянию от центра круга до блока отражателей интерференционного узла. Устройство работает следующим образом.Пучки лучей источника 1 когерентного излучения делятся светоделителем 2 на два пучка лучей, один из которых, отразившись от светоделителя 2, попадает на фотоприемник 11, а второй; пройдя через светоделитель 2, попадает в оптический коммутатор 3, который направляет его в один из световодов 4, Далее пучки лучей попадают в один из планарных интерферометров 5.Рассмотрим работу одного из них. Пучки лучей после выходного торца световода 4 делятся светоделителем 6 на два пучка лучей, один из которых попадает на фото- приемник 9, отразившись от блока 7 отражателей и пройдя...

Интерференционный способ определения толщины прозрачных плоскопараллельных объектов

Загрузка...

Номер патента: 1693371

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Москалев, Смирнова

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционный, объектов, плоскопараллельных, прозрачных, толщины

...с и Ь . Таким образом, перемещение зеркала интерферометра в воздушной ветви на величину Л = 1 до полногЬ наложения всех интерференционных полос в обеих интерференционных картинах позволяет непосредственно определить толщину т исследуемого образца,тСоставитель Б,ЕвстратовТехред М.Моргентал КоРРектоР М,шароши Редактор О.Головач Заказ 4067 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Способ осуществляют следующим образом,Монохроматический пучок света полупрозрачным зеркалом 2 разделяется на два луча 3 и 4, при этом лу 3, дойдя до зеркала 7, возвращается и, отразившись от...

Фотоэлектрический преобразователь перемещения

Загрузка...

Номер патента: 1693372

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Антиповский, Веденисов, Гермогентова, Киселев

МПК: G01B 11/26

Метки: перемещения, фотоэлектрический

...квторому входу электронного блока 14.Фотоэлектрический преобразовательработает следующим образом.При перемещении измерительноголимба 6 относительно индикаторного лимба 7происходит модуляция интенсивности пучков лучей источников 1 и 2 излучения, попадающих на фотоприемники 10-13. Врезультате на выходе фотоприемников 10 -13 образуются электрические сигналы счастотой в, пропорциональной скоростиперемещения, и амплитудой, пропорциональной интенсивности пучков лучей, попадающих на фотоприемники 10-13.С выходов фотоприемников 10 - 13 снимают сигналы11=А зи в;12=А зи вс;1 з = А 2 соз в 1+ ю),1 л = А соз в 1 + р 1);где р 1 - фазовый сдвиг, определяющий точность нанесения группы 8 штрихов относительно группы 9 штрихов индикаторного лимба...

Способ измерения клиновидности оптических прозрачных пластин

Загрузка...

Номер патента: 1693373

Опубликовано: 23.11.1991

Автор: Елисеев

МПК: G01B 11/26

Метки: клиновидности, оптических, пластин, прозрачных

...и 10 установлен с возможностью отсчетного перемещения по отношению к измеряемой пластине 12 вдоль линии, параллельной оси источника 1 излучения,Способ осуществляют следующим образом,С помощью источника излучения -лазера 1 и фокусирующей системы 2 формируют и направляют на пластину 12 расходящийся гомоцентрирующий пучок когерентного излучения, На делительной пластине 3 отраженное от пластины 12 излучение разделяется и частично направляется ею на зеркало 4, а от него - на делитель 6 Часть излучения отражается от делителя 6 снова к зеркалу 4 и направляется им через поляризатор 7 и скрещенные поляризаторы 9 и 10 на экран 11. Другая часть излучения проходит через делитель 6, попадает на зеркало5 и направляется им через поляризатор 8 и...

Устройство для контроля параллельности осей объектов

Загрузка...

Номер патента: 1693374

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Пимшин, Хорошилов

МПК: G01B 11/26

Метки: объектов, осей, параллельности

...под углом 45 к оси контрольного элемента, На контролируемый элемент на симметричных базовых точках устанавливают зонную пластину 6 (ось симметрии зон совпадает с центром базовой точки) с отражающими зеркалами 4 и 5 и пентапризму 8, причем отражающие зеркала 4 и 5 перекрывают только верхнюю часть эонной пластины 6. Плоскость эонной пластины 6 также устанавливается под углом 450 к оси контролируемого элемента, Регистрирующий блок 9 устанавливается в конечной точке.При выполнении геометричесКого условия расположения элементов, т.е. контрольный и контролируемый элементы не имеют взаимного разворота и номинальный размер между ними соблюдается, луч проходит через коллимирующую оптику 2 и попадает на полупрозрачный кубик 3, где одна...

Устройство для разметки поверхностей изделий

Загрузка...

Номер патента: 1693375

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Вагнер, Шундиков

МПК: G01B 11/26

Метки: поверхностей, разметки

...целевых знаков 7 и 8, установленных с противоположных сторон трубы 2,и поверхность 11 размечаемого объекта,Труба 2 установлена в опорных шарнирах сцентрами 0 с возможностью вращения относительно продольной оси О-О и регулировки положения по вертикали игоризонтали посредством механизмов перемещений телескопических стоек 9 и.10,Устройство работает следующим образом.Устанавливают лазер 1 и трубу 2 в заданное положение относительно размечаемого изделия регулировкой механизмовперемещений на телескопических стойках 9и 10 и путем вращения трубы 2, вводя центры позиционно-чувствительных целевыхзнаков 7 и 8 в реперную ось опорного лазерного пучка.Опорный пучок лазера 1, попадая напервую по его ходу плоскопараллельную5 10 30 40 45 лазера,...

Устройство для измерения шероховатости поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1693376

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Витушкин, Гинкул, Михайлов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...нанесена тарированная вкала шероховатости поверхности. Поверхность 10 грани, на которой выполнена линза 7, - зеркальная.Устройство работает следующим образом,Излучение от исто Рникасвета проходит через отверстие диафрагмы 2 и фокусируется линзой 3 на зеркале 4. При медленном перемещении всего измерительного устройства по контролируемой поверхности 11 изделия щуп 5, повторяя профиль микронеровностей поверхности 11, отклоняет зеркало 4 на определенныЙ угол п, величина которого пропорциональна максимальной высоте микронеровностей, На угол 2 р отклоняется падающий нд зеркало 4 тонкий луч света. Далее луч света проходит цилиндрическую линзу 7 и, преломляясь, разворачивается на угол у, Попадая на отрдженнуо линзу 8, луч разворачивается нд...

Способ контроля частоты отражающих радиусных поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1693377

Опубликовано: 23.11.1991

Автор: Нетреба

МПК: G01B 11/30

Метки: отражающих, поверхностей, радиусных, частоты

...дефектов типа: риски, раковины выбоины, выступы,С помощью предлагаемого способа можно производить на экране аизуальное сравнение количества и размеров наблюдаемых дефектов с фотошаблоном, определяющим допустимые размеры и количество дефектов в поле зре п я. Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано длябесконтактного визуального контроля чистоты отражающих радиусных поверхностей,преимущественно шариков и дорожек качения подшипниковых колец,Цель изобретения - повь,шение качества контроля и расширение области использования способа эа счет возможностиобнаружения единичного и групповых дефектов с размерами порядка среднегоразмера шероховатостей исследуемой поверхности, а также за счет обеспеченияконтроля...

Устройство для контроля печатных плат

Загрузка...

Номер патента: 1693378

Опубликовано: 23.11.1991

Автор: Иванов

МПК: G01B 11/30

Метки: печатных, плат

...впадин, то происходит нарушение изображения кольцевой диафрагмы 3 в виде "местной" или "общей" ошибки, При этом величина отклонения формы кольца в месте ошибки пропорциональна стрелке про-, гиба поверхности отверстия 10, а направление определяется типом дефектов 12,Для контроля дефектов 12 на всей внутренней поверхности отверстия 10 печатной платы 11 проекционная и анализирующая системы одновременно перемещаются вдоль оптической оси на высоту отверстия 10, При этом на экране телевизионной камеры 9 возникают изображения профиля участков поверхности отверстия 10 платы 11.Благодаря введению коллиматора 2 и подбору соотношения фокусов коллиматора 2 и.проекционного объектива 4 изображение источника 1 света Формируется в задней фокальной...

Способ определения спектра возвышений волнения морской поверхности и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1693379

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Лазарев, Лобанов

МПК: G01B 17/00, G01C 13/00

Метки: возвышений, волнения, морской, поверхности, спектра

...анализируемого волнения.Формула изобретения1. Способ определения спектра возвы шений волнения морской поверхности, заключающийся в том, что в морской среде размещают излучатель и приемник акустических волн, излучают акустическую волну, принимают прямую волну и отраженную от 15 морской поверхности, измеряют спектральную плотность мощности принятого излучения, по которой судят о контролируемом параметре, отличающийся тем,что,с целью расширения области применения, 20 акустические волны излучают с постоянной спектральной плотностью мощности, определяют частоту модуляции спектральной плотности мощности принятого излучения, а спектр возвышений волнения морской поверхности определяют по ее временной зависимости.2. Устройство определения...

Фотоэлектрический преобразователь перемещения

Загрузка...

Номер патента: 1693380

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Киселев, Тахунц

МПК: G01B 21/00

Метки: перемещения, фотоэлектрический

...фотоприемники располагаются в зонах формирования нониусныхполос, пороговое устройство входами и выходами подключено соответственно к дополнительным фотоприемникам и блокуобработки сигнала.На фиг.1 представлена функциональнаясхема преобразователя; на фиг.2 - конструкция измерительного и индикаторныхрастров и расположение дополнительныхФотоприемников.10 15 20 щении измерительного растра 3.25 Блок 9 обработки сигнала фиксирует величину грубого перемещения иэмеритель 30 35 40 45 50 55 Преобразователь содержит оптически связанные источник 1 света, конденсор 2, измерительный 3 и индикаторный 4 растры, дополнительный индикаторный растр 5, образующий с измерительным растром 3 нониусное сопряжение, фотоприемники 6,дополнительные...

Фотоэлектрический датчик перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1693381

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Конаков, Мурашкина, Преснякова

МПК: G01B 21/00

Метки: датчик, перемещений, фотоэлектрический

...формируемыйгенератором 9, постпает на излучатели 1 и2, формирующие модулированные по интенсивности потоки излучения, которые через подводящие световоды 3 и 4 падают наотражающую поверхность объекта 19.Отраженные от отражающей поверхности объекта 19 потоки излучения попадаютна отводящие световоды 5 и 6 и преобразуются в электрические сигналы фотоприемниками 7 и 8.Электрические сигналы, снимаемые сфотоприемников 7 и 8, поступают на фазовращатели 14 и 15, с выхода которых поступают на одни.из входов сумматоров 16 и 17,Модулированные по интенсивности потоки излучения, формируемые излучателями 1 и 2, через дополнительные отводящиесветоводы 12 и 13 падают на дополнительные фотоприемники 10 и 11, выходные сигналы с которых поступают на...

Способ измерения изменения фазового сдвига световых волн

Загрузка...

Номер патента: 1693382

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Белецкий, Игнатов, Конысбеков, Сенников, Степаненко, Телешевский

МПК: G01B 21/00

Метки: волн, изменения, световых, сдвига, фазового

...совмещенные порядки дифракционного спектра после блока 10 направляются на фотоприемник 11, формирующий выходной электрический сигнал Овых с частотой, равной разности взаимодействующих частот порядков дифракции Еи(о) и Еоп(1). Сигнал Овых постУпает на вхоД частотного детектора 14, при помощи которого фиксируются срывы частоты, и по каналу положительной обратной связи через коммутатор 12 - на возбуждение излучателя 8, Генератор 13 гармонических колебаний на частоте 1 о и коммутатор 12 служат для органиэации положительной обратной связи. Генератор 12 обеспечивает возбуждение излучателя в моменты нарушения оптической связи в устройстве и в начальный момент работы.Сущность способа заключается в следующем.Световые волны...

Способ измерения положения энергетического центра светового пятна

Загрузка...

Номер патента: 1693383

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Отчик, Скворцов, Трофимов

МПК: G01B 21/00

Метки: положения, пятна, светового, центра, энергетического

...Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 Изобретение относится к измеритель. ной технике и может быть использовано при измерении и контроле положения различных объектов.Цель изобретения - повышение точности измерения за счет уменьшения погрешности дискретизации.На чертеже представлена функциональная схема устройства, реализующего способ,Устройство содержит оптически связанные осветитель 1, оптическую систему 2, прибор 3 с зарядовой связью (ПЗС) с двумя выходами, переключатель 4,.входы которого подключены к ПЗС 3,. аналого-цифровой преобразователь АЦП) 5, вход которого подключен к выходу переключателя 4, блок 6 вычисления, вход которого подключен к выходу АЦП 5, блок 7 управления, выходы которого...

Устройство для контроля углов наклона поверхностей объекта

Загрузка...

Номер патента: 1693384

Опубликовано: 23.11.1991

Автор: Санников

МПК: G01B 21/04

Метки: наклона, объекта, поверхностей, углов

...между спанатором 27 и объективом 4, и фотоприемниками 40 и 41, оптически связанных с вторым и четвертым отверстиями заслонки 39 соответственно, при э-ом блоки 20 и 21 выполнены с дополнительными входами, к которым подключены выходы фотоприемников 40 и 41 соответственно.Устройство работает следующим образом,С помощью сканирующего блока излучение источника 7 направляется поочередно на ооъективы 4 и 3. При этом с помощью обьектива 4 излучение фокусируется на ближнюю грань контролируемой линзы 42, а с помощью объектива 3 излучение фокусируется на дальнюю грань линзы 42. С помощью преобразователя 12 контролируется фокусировка обьективов 3 и 4 на соответствующую грань линзы 42, Коррекция фокусировки обьективов 3 и 4 осуществляется...

Устройство для измерения угла поворота объекта

Загрузка...

Номер патента: 1693385

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Костава, Куцер, Отаришвили, Поцхишвили, Цинадзе

МПК: G01B 21/22

Метки: объекта, поворота, угла

...- увеличение диапазона измерений эа счет обеспечения измерения углов, превышающих полный оборот,и повышение точности за счет обработкистатистических данных.На чертеже представлена блок-схема 10устройства,Устройство состоит из оптически связанных источника 1 излучения, модуляторанаправления плоскости поляризации, выполненного в виде поляризатора 2 с приводом 3 вращения, светоделителя 4,анализатора 5, предназначенного для закрепления на обьекте, и фотоприемника 6,оптически связанных с светоделителем 4анализатора 7 и второго фотоприемника 8, 20делителей, 9 и 10 частоты, входы которыхподключены к выходам соответствующихфотоприемников 6 и 8, и фазометра, выполненного в виде измерителей 11 и 12 интервалов времени, вход измерителя 11 и...

Растровый датчик для измерения перемещения

Загрузка...

Номер патента: 1693386

Опубликовано: 23.11.1991

Автор: Товкач

МПК: G01B 21/22

Метки: датчик, перемещения, растровый

...5, входы элемента ИЛИ 9 подключены соответственно к выходам формирователей 5 и 7 и выходу элемента И 13, входы элемента ИЛИ 10 подключены соответственно к выходам формирователей 6 и 8 и выходу элемента И 14.Датчик работает следующим образом.Источник 1 света формирует поток излучения, модулируемый по интенсивности измерительным и индикаторными растрами 2.При перемещении измерительного растра 2 на выходах фотоприемников 3 и 4 формируются электрические сигналы, сдвинутые по фазе друг относительно друга на 90".Формировател и 5-8 фо рми руют по переднему и заднему фронтам сигналов, поступающих на их входы, короткие импульсы, которые поступают на триггеры 11 и 12 через логические элементы 9,10, 13 и 14,При отсутствии вибрационных микро-...

Устройство для сигнализации

Загрузка...

Номер патента: 1693387

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Демидов, Орлов, Сорокин, Стеценко

МПК: G01B 21/00, G01D 5/12

Метки: сигнализации

...источника Г;итакия параметры диода Я выбрань так, чтобы - :ранзистар 5 оставался эакрыть 1 м до появгения импул 1.сов на катушке 3, При вращении индуктора 11 на резисторе 14 формируются короткие импульсы ; ампгитудОЙ, близкой к значениям 0,7-0,8 Е, БО время действия импульса с катушки 3 диод 9 Запер, а конденсатор разряжается через резистор 7 л диод 9, Благодвоя этому на базе транзистора 5 смещение подцерживается неизменным, Когда диод 9 заперт, Па оканчанил импульса конденсатор 10 подзаряжае гся до первоначального напряжения.При соответствующем вьборе сопротивления резистора 14 Величина тока В проводах 12 досгигает нескольких миллиампер при напряжении до 0,7-0,8 Е, что исклачает режим микротокав л повышает надежность устройства...

Способ контроля качества наклеивания тензорезисторов

Загрузка...

Номер патента: 1549273

Опубликовано: 30.11.1991

Автор: Рогаткин

МПК: G01B 7/16

Метки: качества, наклеивания, тензорезисторов

...времени нагрев енного теизореэистора, т,е, рое произойдет основное изменение сопротивления максимальной величины). Да материала конструкции, подле рии, наклеивают тенэореэисто контролируемой партии и при вого импульса тока с постоя н амплитудой и длительностью график зависимости М 2 = (/ изменения приращения сопр зорезистора, который пото проверке на качество наклеи известных разрушающих м мер, токовым нагревом до оЗаказ 4645 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 . основы, Если разрушающий метод показывает высокое качество наклеивания, зависимость М 2 =р т) принимают...

Измеритель мощности излучения

Загрузка...

Номер патента: 1695125

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Гусев, Милинкис, Петров

МПК: G01B 11/02

Метки: излучения, измеритель, мощности

...элемента 1 измерительный 1 и опорный 2 чувствительные элементы имеют одинаковую температуру, равную температуре окружающей среды. Емкости С параэлектрических конденсаторов измерительного 1 и опорного 2 чувствительных элементов, определяют по формуле 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 С -Т - О=а(Т - О)ВС где а - эффективный коэффициент тепло- передачи;а - константа, зависящая от размеров и свойств материала чувствительных элементов 1 и 2;ЯС - постоянная времени времязадающей цепочки управляемых генераторов 3 и 4.Поэтому в. исходном состоянии на выходе смесителя 5 сигнал, определяемый по формулеЬ=-а(Т - Т 2) =-а ЛТ, г 3) равен нулю. При этом ключ 6 в течение калиброванного промежутка времени, определяемого таймером 7, закрыт, т.е. на...

Способ контроля радиального зазора в подшипниках многополюсной электрической машины

Загрузка...

Номер патента: 1695239

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Курбасов, Рыбников, Санява, Узарс, Феоктистов, Храмцов

МПК: G01B 7/14, G01R 31/34

Метки: зазора, многополюсной, подшипниках, радиального, электрической

...сглаживающий реактор 8, Катушки главных полюсов, расположенные ниже оси 0 - 0 машины, исключены из цепи обмотки 6 возбуждения, например, путем их эакорачивания шунтами 9 или 10. К обмотке 6 возбуждения подключен также измерительный прибор 10, например осциллограф. Обмотка1695239 Фиг. якоря разомкнута и обесточена, якорь приконтроле может оставаться неподвижным,но предварительно необходимо прогретьподшипники 1 путем, например, кратковременной работы машины 3,Способ контроля реализуется следующим образом.Постепенно увеличивают напряжениеО на выходе источника 7, Пропорциональновозрастает ток возбуждения 8 в катушкахглавных полюсов, кроме тех катушек, на ко торых установлены шунты 9 или 10. Соответственно в магнитных контурах...

Микрометрический инструмент

Загрузка...

Номер патента: 1696832

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Гордиенко, Трач

МПК: G01B 3/18

Метки: инструмент, микрометрический

...исполнении 111 инструмента втулка 9, лыска штока 25 отсутствуют, шток 25 выполнен с выступом 30, на котором нанесена риска 26, а в цилиндре 7 выполнен продольный паз 31, взаимодействующий при осевом движении штока 25 с выступом ЗО, причем продольная ось паза 31 отклоняется от оси образующей цилиндра 7 пропорционально величине коррекции винтовой пары.Инструмент работает следующим образом,При вращении барабана 15 и винта 16 происходит перемещение втулки 27 и штока 25 вдоль оси инструмента. Исполнение 1 инструмента целесообразно в том случае, если увеличение шага винта 16 линейно, При осевом перемещении штока 25 его лыска взаимодействует с лыской втулки 8, расположенной в корпусе 1, Угол между норкоторой лежит ось инструмента,...

Устройство для контроля резьбовых калибров

Загрузка...

Номер патента: 1696833

Опубликовано: 07.12.1991

Автор: Хомяк

МПК: G01B 3/40

Метки: калибров, резьбовых

...ближайший по ходу вращения выступ 11 воздействует на конечный выииочатель 15, Сигнал с которого подается на счетчик включений, Включается высшая частота вращения калибра-пробки 3,При дальнейшем совместном вращении калибров 3 и 5 выступы 11 обоймы 10 мноГократно взаимодействуют с защелками 12 и конечным выключателем 15, Когда число включений конечного вь 1 кл ючателя 15 станет равным предварительно установленному на счетчике включений, привод вращения калибра-пробки 3 переводится в режим динамического торможения. После остановки калибра-пробки 3 проводят замер величины натяга резьбы, а затем реверсируют привод. При обратном совместном вращении калибров 3 и 5 с высшей частотой система, состоящая из калибра-пробки 3, калибра-кольца 5 и...

Устройство для измерения внутренних резьб и зубчатых зацеплений

Загрузка...

Номер патента: 1696834

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Сорокин, Чертоусов

МПК: G01B 3/48

Метки: внутренних, зацеплений, зубчатых, резьб

...точность измерения. Наличие двух параллельных трубчатых элементов, по которым перемещаются оба охватывающих их кронштейна с измерительными элементами позволяет значительно увеличить жесткость устройства, что повышает точность измерения и одновременно позволяет вы 169683410 15 20 25 30 35 40 45 полнить их значительно большей длины, чтоувеличивает диапазон измеряемых диаметров, Этот диапазон диаметров может бытьеще более расширен за счет сменноститрубчатых элементов, причем все остальныеэлементы устройства, в том числе кронштейны, а также сухари, гайки, посредствомкоторых кронштейны охватывают трубчатые элементы, не меняются, меняется только длина трубчатых элементов.Упрощает смену трубчатых элементовтакже то, что внутри них ничего...

Устройство для вращения деталей при измерении их параметров

Загрузка...

Номер патента: 1696835

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Николаев, Толчев

МПК: G01B 5/00

Метки: вращения, измерении, параметров

...навтулке 9 с возможностью вращения и осевого перемещения шкива 11, возвратной пружины 12, кронштейнов 13, 14, закрепленных . на кронштейнах магнитов 15-17 с наконечниками 18-24, электродвигателя 25, ведуще.го шкива 26 и пасика 27, 25Устройство работает следующим образом.В исходном состоянии подвижныйцентр 2 отодвигают от неподвижного центра 3, устанавливают измеряемую деталь 28 30в опоры 4 и 5 и освобождают центр 2, который под действием пружины 8 смещается восевом направлении до тех пор, пока регулировочный винт 7 не упрется в корпус 1.Пружина 12 и винт 7 определяют положение 35 , наконечников 18-24 относительно детали28.При измерении с помощью электродвигателя 25 вращают шкив 11 с магнитами40 15-17, создающими вращающиймомент,...

Прибор для измерения радиального зазора в гнездах змейкового сепаратора радиального шарикоподшипника

Загрузка...

Номер патента: 1696836

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Жуков, Исаев, Росин

МПК: G01B 5/14

Метки: гнездах, зазора, змейкового, прибор, радиального, сепаратора, шарикоподшипника

...между гнезда 1 ми. 10На фиг.1 представлен прибор; на фиг.2, - разрез А - А на фиг.1,Прибор для измерения радиального зазора в гнездах змейкового сепаратора со.,держит основание 1, установленную на нем 15в центрах 2 и 3 оправку 4, на которой размещены базовый диск 5 с равнорасположенными по окружности упорами 6, имеющимина торце гнездо 7, прижимной диск 8 и гайку9, механизм перемещения измеряемых ша,риков в гнездах полусепаратора и индика-тор 10.Механизм перемещения шарика выпол"йен в виде установленного на диске 5 иподпружиненного пружиной 11 двуплечего 25рычага 12 и взаимодействующего с нимвторого рычага 13, установленного на ос. новании 1 и подпружиненного пружиной 14.Количество упоров 6 нб базовом диске 5 имеханизмов перемещения...

Устройство для контроля размеров валов

Загрузка...

Номер патента: 1696837

Опубликовано: 07.12.1991

Автор: Брисман

МПК: G01B 5/20

Метки: валов, размеров

...и пальцев по наружному диаметру.Целью изобретения является повышение производительности и точности измерения за счет кинематической синхронизации перемещения измерителя относительно измеряемой детали,На фиг.1 изображено устройство, общий вид; на фиг.2 - то же, вид сверху.Устройство содержит корпус 1, установленный в корпусе 1 вал 2, на котором установлены измеритель 3 и шкив 4. Вал 2 установленный в подшипнйках 5, имеет привод 6. На шкиве 4 закреплена винтами 7 гибкая бесконечная лента 8, которая соединяет шкив 4 со шкивом 9, на котором лента 8 также закреплена винтами 10, Шкив 9 установлена на валу 11, один конец которого установлен в подшипниках 12, а на втором установлен привод 13 вращения контролируемого вала 14, причем ось...

Устройство для контроля шпоночного паза

Загрузка...

Номер патента: 1696838

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Варшавский, Гликин, Овечкин

МПК: G01B 5/24

Метки: паза, шпоночного

...2, и закрепленного на его оабочем конце двуплечего рычага б с роликами 7, предназначенными для взаимодействия с контролируемым шпоночным пазом, и два отсчетных узла 8, закрепленных на кор-, пусе 1 и служащих для взаимодействия с одной из рабочих поверхностей контролируемой детали (фи 1.1). На измерителе 4 закреплен ножевой упор 9, предназначенный для взаимодействия с дном контролируемого шпоночного паза. На другом конце валика 5 установлен кронштейн 10, который с помощью пружины 11 растяжения связан с корпусом 1, Ролики 7 имеют оси вращения, параллельные оси вращения валика 5. Базовая призма 2 выполнена с ножевыми рабочими поверхностями.Устройство работает следующим образом,Настройка устройства производйтся по эталону. При измерении...

Приспособление для контроля взаимного расположения деталей

Загрузка...

Номер патента: 1696839

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Асташов, Борисов, Иванов, Круглов

МПК: G01B 5/24

Метки: взаимного, расположения

...резиновые (эластичные) прокладки, предназначенные для улучшения контакта с мотальными валами 18, соединяемыми между собой в узле 19 соединения.Приспособление работает следующим 50 образом. головке 3 закреплены калиброванный пруток 5 и стрелка-указатель 6, на головке 4 -трубка 8 с продольным пазом и пластина 9со шкалой, 1 э.п. ф-лы, б ил,На валы 18 размещают узлы базирования, При этом прижимные пластины 12, имеющие Г-образную форму и расположенные на стержнях 1 и 2, отходят в сторону от полуколец 15, 16, а вал 18 заходит в пространство, образованное пластиной 12 и внутренней поверхностью полукольца 15, которые для облегчения условий заведения вала 18 имеют скосы 20. При этом одна сторона пружины 13, находящейся между втулкамв 14,...

Устройство для контроля симметричности заточки инструментов

Загрузка...

Номер патента: 1696840

Опубликовано: 07.12.1991

Автор: Похмельных

МПК: G01B 5/24

Метки: заточки, инструментов, симметричности

...50 шайбы 38 фиксирует модульная головка 21,С показывающего прибора, связанного смодульной головкой 21, считывают результаты измерений, 3 ил,ный в виде модульной головки 21. Корпус 20 установлен в направляющих основания 1 с возможностью перемещения вдоль него и фиксации винтами 22. Корпус 20 имеет стойку 23, на которой размещена платформа 24. Она закреплена на Г-образных упругих опорах 25 и 26, выполненных из плоских пружин, что позволяет ей перемещаться с помощью винтов 27 и 28 соответственно в горизонтальном и вертикальном направлениях относительно стойки 22, Для обеспечения этих перемещений в стойке 23 имеются пазы 29 (фиг,1), а в платформе 24 - пазы 30, Фиксация положения платформы 24 на стойке 23 осуществляется винтами Э 1 и гайками...