G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Номер патента: 1710990

Опубликовано: 07.02.1992

Автор: Субботин

МПК: G01B 5/20

Метки: диагностирования

...на стержне упором, взаимодействующим с толкателем, и двумя закрепленными на стержне накладками, между которыми размещен якорь, выполненный в виде подпружиненного к толкателю неравноплечего рычага, большее плечокоторого состоит из двух участков, расположенных под тупым углом один к другому.На фиг, 1 дано устройство, общий вид, исходное положение; на фиг. 2 - то же, рабочее положение; на фиг. 3 - вид А на фиг.1; на фиг. 4 - вид Б на фиг, 1; нафиг. 5 - разрез В-В на фиг. 2; на фиг. 6 - вид Г на фиг. 2,Устройстводля диагностирования изделий содержит стержень 1 и втулку 2. На стержне 1 закреплены угломер 3, упор 4 и две накладки 5, выполнен продольный паз 6, в котором установлен толкатель 7. Между накладками 5 размещен. якорь 8,...

Номер патента: 1710991

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Бердинских, Нев

МПК: G01B 5/24

Метки: биений, поверхностей

...поверхностей А и Г и торцовыхбиений поверхностей В и Е относительнооси Н составляют 0,03 - 0,05 мм. На фиг. 4 приведена последовательность измерений радиальных биений отдельных участков поверхности А диска 5,Каждое из последовательных положений%5 обозначено буквами а, б, в, г, д, е, ж, з, и,Точки поверхности А, с которыми контактирует измерительный наконечник 11 прикаждой начальной его установке, обозначены цифрами 1, 11, 1 И, 1 Ч. Положения отсчет 10 ного устройства 10 обозначены цифрами1-1, 2-2, З-З, 4-4. Утолщенная линия на окружности обозначает участок поверхности Адиска 5, на котором произведено измерениебиения. Поворот диска одновременно под 15 разумевает и поворот исполнительной оси,Положение диска, соответствующее нулевому...

Номер патента: 1710992

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Домбровский, Зеленый, Кычма, Максимчук

МПК: G01B 5/25

Метки: конструкций, осей, разметки, симметрии, строительных

...меньшее, чем втулка. Сила трения между торцовой поверхностью втулки и балкой позволяет надежно закреплять устройство в любом положении, при этом маркер устанавливается на продольной оси сим 15 20 25 30 35 40 45 50 55 метрии измеряемой балки или колонны. Замена маркера подпружиненным керном, расположенным в продольном пазу корпуса устройства, облегчает процедуру разметки осей симметрии строительных конструкций и несущих балок машинных агрегатов На фиг. 1 показано устройство для разметки осей симметрии строительных конструкций, осевое сечение; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг. 1 (с установленным подпружиненным керном); на фиг, 3 - сечение Б-Б на фиг. 1.Устройство для разметки осей симмет.- рии строительных конструкций содержит корпус 1 с...

Номер патента: 1710993

Опубликовано: 07.02.1992

Автор: Курчаков

МПК: G01B 5/30

Метки: внецентренное, испытаниях, образцу, приложения, растяжение, сил, смещения, точек

...равенств (5) и (6) из фиг. 3следует, чтоС Нз 1 пр = (7)В С.Очевидно, чтоСН - СЕ - НЕ. (8)Для формулы (8), использовав равенство (4), найдемСН = С Е - ВО, (9)Формула (7) согласно формуле (9) примет видзп 3 С Е - ВОВ СТеперь найдемВР АВ з 1 п Р. (11)Подставив в формулу (1 1) формулу (10),получим1ВГ АВ С Е В О (12)В СТеперь определимЮ ВО-ВЕ. (13)Формула (13) в соответствии с формулой (12) равнаСЕ - ВОРО ВО АВС Е-В О (14)ВСВведем обозначенияАВ а; ВС=Ь;АС=с; (15)АА -дд; ВО дв; СЕ "дс. (16)Формулу (14), прйняв во внимание равенства (1) и (3), обозначения (1) и (16), представим дд =дв-адс -дв(22)Смещение точки А.на верхней прямойАС относительна точки А на нижней прямой 10 АС, точки В - на верхней прямой АС относи-тельно точки В на нижней прямой...

Номер патента: 1710994

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Лукашенок, Недельский, Рифтин

МПК: G01B 5/30

Метки: тензометр

...2 штоки 8 и 9, связанные с трзверсой 2, и втулки 10 и 11, связанные с траверсой 1, Хвостик конуса 4 установлен в резьбовой втулке 7, а штоки 8 и 9 - соответственно во втулках 10 и 11, Штоки 8 и 9 и втулки 10 и 11 размещены по разные стороны от тензобалок 5 и 6. Каждая иэ траверс 1 и 2 выполнена в виде планки 12 с пазами 13 для образца 3 и накладки 14 с выступом 15. входящим в паэ 13. Планка 12 и накладка 14 соединяются с помощью болтов 16, Каждая из тензобалок 5 и 6 представляет собой пластину из упругого материала (например, из стали марки 30 Х ГСА) с размещенными (наклеенными) на ней с двух сторон тензореэисторзми (твнэодатчиками) 17, включенными дифференциально в активные плечи тенэомоста, соединенного с соответствующей...

Номер патента: 1710995

Опубликовано: 07.02.1992

Автор: Козлов

МПК: G01B 7/02

Метки: двухкоординатного, перемещения, преобразования, сигнал, электрический

...работает следующим образом.С генератора 14 переменное нэпряже- .5 ние (прямоугольное, синусоидальное) 01(фиг, За) подается на первую 8 и третью 10 диодные группы, которые. разделяют переменное напряжение на две составляющие 02 и 0 з (фиг. Зб, в). Напряжения 02 и 0 зподводятся соответственно к первой 4 и третьей 6 контактным группам, которые подключены к резистивному слОю 2,Таким образом, ток в момент времениа, что соответствует напряжению 02 (фиг. Зб), проходит по резистивному слою в направлении У, а в момент времени з, что соответствует напряжению Оз (фиг. Зв) - внаправленииХ. Принахождвнии подвижного щупа в определенной точке резистивного слоя с него снимается падение напряжения,соответствующего в момент времени 12 сопротивлению...

Номер патента: 1710996

Опубликовано: 07.02.1992

Автор: Косовский

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретоковых, градуировки, мера, поверки, покрытий, покрытия, толщиномеров, толщины, электромагнитных

...2.относительно рабочей поверхности основы. 55 профрезерован сквозной прямоуголъный1 нова 1 выполняется из немагнитного металла, например из сплава Д 16 Т. Для электрО- магнитных толщиномеров основа 1 изготавливается из стали 20 - стали 45. Мера дополнительно снабжена четырьмя одинаковыми цилиндрическими стержнями 3, диаметр которых равен толщине основания 1. Два стержня 3 закреплены по одному на торцах противоположных сторон основы 1, содержащих паз. Данные стержни размещены одинаково на торцовых сторонах основы 1 и смещены вверх так, чтобы их верхние образующие выступали над поверхностью основы 1 на величину, равную(4/5 -1/5)т, При этом верхние образующие стержней 3 параллельны между собой и рабочей поверхности основы 1. Два других...

Номер патента: 1710997

Опубликовано: 07.02.1992

Автор: Лымарь

МПК: G01B 7/06

Метки: защитных, покрытий, прибор, толщины

...а шкала нанесена вдоль прорези, снабжен втулкой с наружной конусной поверхностью, установленной на свободной торцовой части муф ты, закрепленным на втулке диском с нанесенной на нем дополнительной шкалой с ценой деления, меньшей, чем на основной шкме, и стрелкой, закрепленной посредст- .вом реэьбового соединения на торцовой не рабочей части корпуса. Прибор для измерения толщины защитных покрытий содержит цилиндрический корпус 1 с прорезью 2 вдоль образующей, постоянный магнит 3, укрепленный во втулке 4, пружину 5 растяжения, скрепленную одним концом с втулкой 4, э вторым - со штоком 6, полэун 7, скрепленный со штоком 6 с возможностью регулирования расстояния между ними. Корпус 1 охватывает муфта 8, установленная с возможностью вращения и...

Номер патента: 1710998

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Заблоцкий, Ройтман, Темис

МПК: G01B 11/16, G01B 7/06

Метки: гибкой, деформации, передачи, связи

...в гибкой связи при измеренииболее высоких частот измеряемых деформа- деформаций наиболее высокой измеряемойций. частоты. Для этого вычисляют оценку шагаПоставленная цель достигается тем, что в миллиметрах по формулепо известному способу измерения дефор- ТЧ/Р,мации гибкой связи передачи, заключающе где Ч - скорость движения гибкой связи,муся в том, что на гибкую связь с заданным мм/с;шагом наносят метки,.авблизи траектории Р - максимальная частота измеряемыхперемещения гибкой связи размещают на продольных. колебаний гибкой связи, 1/с.заданном расстоянии два датчика прохож- Далее определяют приблизительное кодения меток, измеряют интервалы времени 20 личество метокмежду характерными точками сигналов обо- й " ОТих датчиков, один из...

Номер патента: 1710999

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Воронов, Орлов

МПК: G01B 9/00

Метки: перемещений

...полосы, виды А, В, С, О, Е.Способ определения перемещений осуществляется следующим образом.. 6 качестве муарового датчика переме щений (фиг. 1) используют винтовую цилиндрическую пружину 1, у которой отношениедлины к наружному диаметру выбрано апределах 10 - 15. Датчик 1 закрепляетсяодним концом на опоре 2, е другим - наисследуемом объекте 3. Затем, сближаяопору 2 и обьект 3 (например, перемещаяопору из положения 2 в.положение 2 ), формируют в средней части пружины 1 упругоизогнутый участок. Наблюдение зэ датчиком ведут из точки 4.Перемвцение исследуемого объекта 3вызывает образование на датчике овальныхили С-Образных муаровых полос по обЕ стороны От 3-или 2-образной нулевой полосы, причем перемещение объекта вдоль оси пружины...

Номер патента: 1711000

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Бахтин, Казеннов, Коновалова, Перк, Шарафутдинов, Шубин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образец

...материала прокладками иэ фольги,В качестве материала Фольги используют материал, не взаимодействующий с материалом матрицы композиционного материала при температурно-деформационных условиях обработки давлением исследуемого 5 композиционного материала. Это условиеобеспечивает отсутствие образования твердого раствора на границе между монослоями, что может исказить картину их деформирования, Подготовленный таким 10 образом образец подвергается температурно-деформацион ному воздействию, результатом которого является деформация образца, которую и необходимо определить. После окончания обработки давлени ем образец разрезается и изготавливаетсяшлиф поперечного сечения, представляющего собой скол торцов волокон, размещенных в...

Номер патента: 1711001

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Езерский, Калашников, Король, Маслов, Сыревич

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...перемещения светового луча вплоскости образца 3 при сохранении посто 35 я нного угла падения луча и нормали к поверхности образца в контролируемых точках,Управление механизмом 2 осуществляетсяпосредством механической связи с выхода7 блока 8, который тактируется по входу 9 с40 выхода синхронизатора 10, При этом управление записью значений отсчетов индикатрисы рассеяния в контрольных точкахосуществляется при помощи дозатора 12циклов контроля, управляемого сигналами,45 синхронными с тактами перемещения светового луча, с выхода 11 блока 8 калиброванного дискретного перемещения. Процесссъема информации устройством состоит изМ циклов, в каждом иэ которых выполняется50 . тактов сдвига светового луча в плоскостиобразца на...

Номер патента: 1711002

Опубликовано: 07.02.1992

Автор: Шилин

МПК: G01B 21/00

Метки: нагретых, оптико-электронное, размеров

...проходящего через первый светофильтр, величина светового потока,проходящего через второй светофильтр, не превышает величину светового потока первого светофильтра во всем диапазоне температур нагретого изделия.К усилителю 8 фототока, соединенному с фотоприемником 3 и сопротивлением нагрузки Вн, подключен блок автоматической регулировки усиления (АРУ), состоящий из пик-детектора 9, задатчика 10, которые соединены с входами дифференциального усилителя 11, который кроме функции усилениявыполняет также функцию элемента сравнения. Выход дифференциального усилителя соединен с фотоприемником 3, К40 45 50 55 вертирующим выходом одновибратора 13, с триггером 17 Шмитта, Выход триггера 17 Шмитта соединен с управляющим входом третьего коммутатора 18,...

Номер патента: 1711259

Опубликовано: 07.02.1992

Автор: Рыбалко

МПК: G01B 11/00, H01J 37/30

Метки: восстанавливающего, микроструктур

...материаловмикроструктуры и апертурной диафрагмы25 соответственно, Вт/град;р 1, рг - плотности материалов микроструктуры .и апертурной диафрагмы соответственно, кг/см ;з,д 1, дг - глубина максимума энерговы 30 деления в,материалах микроструктуры иапертурной диафрагмы соответственно, см;а 1, аг - теплопроводности материаловмикроструктуры и апертурной диафрагмысоответственно, Вт/м град.35 Указанное выражение связывает допустимую длительность управляющего импульса с с объемной плотностью мощностиОо, выделяемой в облучаемом материале,которая прямо пропорциональна мощности40. электронного пучка. В случае, если указанное условие не соблюдается несмотря настробирование, температура произвольно,облучаемых поверхностей превосходит допустимый...

Номер патента: 1711685

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Хельмут, Юрген

МПК: G01B 7/14, G01R 33/02

Метки: зазора, между, реактивной, токопроводящей, шиной, электромагнитом

...что напряжение О 33 имеет величину ниже образованного напряжением 02 39 порога. Во время тактв Т 4 44 сигнал на проводе 42 получает зйачение 05 41. Благодаря этому цепь 32 контролируется в том отношениичто напряжение 0541 выше образованного напря 10 жением 04 40 дорога. Во время такта Т 2 45 сигнал на проводе 42 принимает значение 0 25. Тем самым, в режиме "Измерение" определяется, находится ли выходной сиг. В режиме "Контроль" во время тактов Тз 43 и Т 4. 44 получается такая жехарактеристика сигнала, что и в режиме "Измерение.". -20 Во время такта Тг 45 определяется, находится ли сигнал чувствительного элемента 0 25 внутри диапазона, характеризуемого пороговыми значениями 02 39 и Оз 33. Благодаря этому производится контроль по...

Номер патента: 1712767

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Яровой

МПК: G01B 3/26

Метки: внутренних, диаметров, калибр, стержня, цилиндрического

...25 водят путем воздействия на его верхнийторец 16. пендикулярно его оси торец 15 втулки 12 находится на одном уровне с торцом 11.Калибр работает следующим образом.Оператор удерживает калибр за рукоятку 8 и нажимает пальцем на торец 16 штанги, утапливая ее вниз. При этом сжимается пружина 14, стержень 3 становится в наклрнное положение и это дает возможность ввести корпус 1 внутрь измеряемого отверстия, где штангу отпускают. Под действием пружины 14 штанга 6 поднимается, поворачивается стержень 3 до соприкосновения его сферических поверхностей с поверхностью контролируемого отверстия. Чем меньше разница между длиной стержня и 40 диаметром контролируемого отверстия, тем больше стержень 3 приближается к перпендикулярному положению, а...

Номер патента: 1712768

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Завацкий, Коротков, Лигун, Москаленко, Шумейко

МПК: G01B 5/08

Метки: детали, диаметра, цилиндрической

...в базирующих элементах с возможностью перемещения и предназначены для взаимодействия с электроконтактами. При ориентации устройства под углом 45 к измеряемой детали контактные элементы замыкаются, формируя сигнал на считывание данных с датчика.Отличительной особейностью и редлагаемого устройства является снабжение его соединенными в последовательную электрическую цепь и размещенными на базирующих элементах электроконтактными группами, которые замыкаются подвижными базирующими наконечниками при установке устройства в измерительную позицию.На фиг, 1 изображено предлагаемое устройство, вид сбоку; на фиг, 2 - то же, вид сверху. Устройство содержит выполненный в виде крестовины корпус 1 с рукояткой 2, в центре которого установлен...

Номер патента: 1712769

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Иделевич

МПК: G01B 5/20

Метки: межосемеров, поверки

...большего радиуса паза разделяет толщину диска пополам, а устройство снабжено винтом и контргайкой, сопряженными с резьбовым отверстием диска,.40 45 50 55 Конструкция устройства позволяет производить проверку межцентромера на различных диапазонах измерения одним и тем же диском, и поэтому нет необходимости иметь свой диск на каждый диапазон измерения, Таким образом, снижается металло- емкость устройства.Предлагаемое устройство отличается от прототипа тем, что проверочный диск выполнен с концентричным его наружной цилиндрической поверхности сквозным пазом и конической расточкой в ступице, в которой нормально к конической поверхности расточки вы пол не но резьбовое отверстие, расположенное в радиальной плоскости диска, причем точка...

Номер патента: 1712770

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Байкевич, Грачук, Киреев, Рубин

МПК: G01B 5/20

Метки: двухпрофильного, зубчатых, колес, прибор, цилиндрических

...анализ предлагаемого решения с прототипом показыавает, что оно отличается тем, что прибор снабжен упором, закрепленным на плите, а поворотный калибр выполнен в виде двуплечего рычага с соотношением плеч больше единицы, плунжер с регулирующим элементом расположен на большем плече рычага, а рычаг установлен с возможностью контакта меньшим плечом с оправкой измерительной колеса, а большим -с упором.На фиг. 1 изображен прибор, общий вид спереди; на фиг, 2 - вид А на фиг. 1; на фиг.3 - установочное устройство, общий вид; на фиг,4 - разрез Б-Б на фиг, 3.Прибор для двухпрофильного контроля цилиндрических, зубчатых колес содержит основание 1, плиту 2 с оправкой 3 и посаженной на ней втулкой 4, являющимися базирующими...

Номер патента: 1712771

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Агошков, Кузьмин, Севастьянов

МПК: G01B 13/16, G01B 5/207, G01B 5/24 ...

Метки: поверхностей, профиля, фасонных, формы

...эталонный элемент 2,выполненный в виде полудиска с системой измерительных сопл и пневмосистемой 25 с измерительным узлом (радиальными измерительными отверстиями 3, соединенными с разводными каналами 4).Устройство работает следующим образом. 30Устройство устанавливается эталонным элементом 2, выполненным по минимальному размеру формы профиля измеряемой поверхности 5, на поверхность,5, При этом контакт эталонного элемента 2 с измеряе мой поверхностью 5 осуществляется по наиболее выступающим точкам б, 7 и 8 измеряемой поверхности 8, а поверхность 9 эталонного элемента 2 занимает положение, отличное от положения прилегающей 40 окружности профиля. При этом между поверхностью 9 установочного элемента 2 и измеряемой реальной поверхностью...

Номер патента: 1712772

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Колганенко, Цареградский

МПК: G01B 5/245

Метки: отклонения, пазов, перпендикулярности

...в отверстие, а затем измерение положения отверстия, вследствие чего затрачивается дополнительное время на установку оправки,Измерительный наконечник установлен на оси и имеет зазор в этой вращательной паре, что снижает точность измерения,Цель изобретения - повышение точности и производительности измерения.На фиг, 1 изображено устройство, общий вид; на фиг. 2 - то же, разрез А - А на фиг, 1.Устройство содержит корпус 1, закрепленный на нем базовый валик 2, упор 3 и отсчетный узел 4, Измерительный валик 5 закреплен на призме б, взаимодействующий с отсчетнымузлом 4. Поверхность 7 корпуса 1 и плоскость 8 призмы 6 взаимодействуют с параллельно расположенными валиками 9 рукоятки 10, которая закреплена на корпусе 1 и призме 6 с помощью...

Номер патента: 1712773

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Житник, Микинев

МПК: G01B 5/24

Метки: взаимного, передачи, расположения, элементов

...а на другом - пластины 1 и 2 соединены упорами 4и 5, которые обеспечивают необходимуюжесткость конструкции.На пластинах 1 и 2 закреплена шкала 6.Базирующий элемент 3 снабжен кольцевым сектором 7 с профилированнойповерхностью В, предназначенной для взаимодействия с канавкой одного из контролируемых шкивов.Ось профилированной поверхности В инулевая отметка шкалы 6 расположены водной вертикальной плоскости.На оси 8, соединяющей пластины 1 и 2,установлен с возможностью перемещенияизмерител ьн ы й элемент 9. Величина зазоров д, между измерительным элементом 9и пластинами 1 и 2, превышает величинудопустимого смещения канавок шкивов относительно друг друга, которое не должнопревышать 2 мм на 1 м межосевого расстоянияФиксатор 10 положения...

Номер патента: 1712774

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Григорьев

МПК: G01B 7/06

Метки: плоских, толщины

...наконечника, а два других размещены на обращенных один к другому торцах частей измерительного наконечника, и блоком опроса, при этом электроприводная часть измерительного наконечника, электрический контакт втулки и электрический контакт неэлектропроводной части связаны с входами блока управления, а его выход - с входом блока опроса, выход которого связан с входом компаратора, а выходы дискриминаторов - с входом блока опроса.За счет указанного оригинального конструктивного выполнения исполнительного органа и подключения его к блоку управления с учетом фиксированного положения площадки без детали определяется ее полный ход с деталью и по разнице размеров хода автоматически определяется размер детали.На фиг; 1 изображено...

Номер патента: 1712775

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Бирюков, Емельянов, Михальченко

МПК: G01B 11/08

Метки: внутренних, линейных, оптическое, размеров

...отверстия 11 в двух противо-. положных точках.Рассеянные поверхностью отверстия 20 световые пучки проходят через фокусирующие линзы 4 и 5 и, отражаясь от граней зеркал б и 7, попадают на позиционно-чувствительный фотоприемник 8 в виде двух. отдельных распределений освещенности 25 (фиг. 2). Электрические сигналы от позиционно-чувствительного фотоприемника усиливаются, преобразуются в цифровую форму. Дальнейшая обработка сигналов заключается в вычислении координаты 30 максимума освещенности каждого из двух полученных распределений освещенности.Разность координат пропорциональная внутреннему размеру измеряемого отверстия. 35Значения выходных электрических сигналов зависят не только от интенсивности засветки той или иной ячейки...

Номер патента: 1712776

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G02B 27/54

Метки: вогнутых, поверхностей, формы, эллиптических

...тем, чтоусовершенствуется способ контроля вогнутых эллиптических поверхностей, заключающийся в том, что контролируемуюповерхность освещают из дальнего ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливают вспомогательный оптическийэлемент перпендикулярно оси излучения,регистрируют отраженный волновой фронт,по которому судят о форме контролируемойповерхности,В качестве вспомогательного оптического элемента используют плоское зеркалои устанавливают его так, что отражающаяповерхность совмещается с ближним к контролируемой поверхности ее фокусом.На чертеже изображена схема, реализующая способ контроля вогнутой эллиптической поверхности с помощью теневогоприбора,Схема контроля включает источник света 1, конденсор 2, точечную, диафрагму...

Номер патента: 1712777

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, поверхностей, формы, эллиптических

...в том, что контролируемуюповерхность освещают из ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливаютвспомогательный оптический элемент перпендикулярно оси излучения, регистрируют 10отраженный волновой фронт, по которомусудят о форме контролируемой поверхности,Освещение контролируемой поверхности производят из ее ближнего фокуса, в 15качестве вспомогательного оптическогоэлемента используют плоское зеркало сцентральным отверстием и устанавливаютего посередине между койтролируемой поверхностью и дальним ее фокусом, 20На чертеже изображена схема.реализующая способ контроля вогнутой эллиптической поверхности с помощью неравноплечего интерферометра.Схема контроля включает лазер 1, расширитель лазерного излучения 2, светоделитель 3,...

Номер патента: 1712778

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...для контроля вогнутых эллипсоидов.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, светоделитель 2 для разделения излучения на две ветви - рабочую иэталонную, последовательно установленные по ходу прошедшего светоделитель 2 излучения фокусирующий объектив 3, диафрагму 4, плоское зеркало 5, объектив 6 для формирования плоского эталонного волнового фронта, светоделитель 7 для совмещения эталонного и контролируемого волновых фронтов, блок регистрации интерференционной картины, состоящий из объектива 8, диафрагмы 9 и фотоприемного устройства 10, и размещенные по ходу отраженного светоделителем 2 излучения плоское зеркало 11, второй фокусирующий объектив 12, диафрагму 13, установленную в заднем фокусе объектива 12,...

Номер патента: 1712779

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G01M 11/00 ...

Метки: интерферограммы, качества, линз, объективов

...объекта.со значением 1 фокусного расстояния голограмму Фурье рассеивателя с помощью коллимированного опорного пучка, осуществляют смещение рассеивателя в его плоскости и изменение угла падения опорного пучка, вновь записывают голограмму Фурье рассеивателя и проводят фильтрацию полученной двухэкспозиционной голограммы до получения интерферограммы контроля.- В отличие от известного способа освещение рассеивателя осуществляют расходящейся сферической волной с радиусом В кривизны фронта в плоскости рассеивателя Й = 1 /( - 1), где- расстояние от главной плоскости контролируемого объекта до регистрирующей среды,В предлагаемом способе возможность достижения положительного эффекта с физической точки зрения обеспечивается созданием...

Номер патента: 1712780

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Хабаров

МПК: G01B 11/26

Метки: объекта, центрирования

...на матовом стекле 6 и оказывается в поле зрения лупы 8, Второй пучок света, преломленный в призме 10, выходит из нее под прямым углом, задавая второе направление. Частично преломившись на полупрозрачной грани призмы 10, вторая часть этого пучка распространяется в противоположном направлении, что позволяет задавать второе направление, перпендикулярное первому, в обе стороны от кубпризмы 10. Для фиксации данных направлений с реперами скрепляют соответствующие зеркала.В первую очередь фиксируют первое направление, совпадающее с распространением пучка излучения лазера 1. Для этого зеркало 7 устанавливают на репер 13 и, регулируя положение репера 13, добиваются совпадения в поле зрения лупы 8 на матовом стекле двух пучков.Далее, регулируя...

Номер патента: 1712781

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Дрозд, Поперенко, Шайкевич

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактного, качества, поверхности

...столике 2. Зеркала 4 и 11 неподвижнозакреплены на кронштейнах 3 и 12 соответственно, поэтому падающие на них пучки отражаются в направлении осей вращения 50столиков гониометров с контролируемым иэталонным объектами. Установленные наосях 0101 и 0202 зеркала 5 и 10 крепятсяк кронштейнам 3 и 12 так, что отраженныеот них пучки света проходят в направлении 55вдоль этих осей независимо от поворотовкаждого из кронштейнов. Поскольку зеркала 6 и 9 закреплены неподвижно, то направленные к ним вдоль осей 0101. и 0202пучки света отразятся в направлении, перЦель достигается тем, что устройство для бесконтактного контроля качества обработки поверхности деталей, содержащее источник света и последовательно расположенные по ходу луча два...