G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Номер патента: 1597509

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Игошин, Какулев, Кафтанатьев, Новожилов

МПК: G01B 3/18

Метки: микрометр

...узла. От выпадания рукоятку 8 предохраняет винт 9. За счет проточки на барабане 6 рукоятка 8 имеет возможность осевого перемещения, которое больше, чем высота выступов на рукоятке. Между гайкой 7 и рукояткой 8, выполненной из магнитомягкого материала, установлен кольцевой магнит 10, жестко связанный с гайко 9 7 и выполненный с равномерно расположенными на свободном торце впадинами (фиг, 3), Рукоятка 8 выполнена с соответствующими впадинам магнита 10 выступами (фиг. 4),Микрометр работает следующим о,. разом.Микрометр с предварительно отдвинутым измерительным стержнем 4 подводится к объекту, охватываемый размер которого необходимо измерить, и базируется пятой 3 с одной его стороны, Вращая рукоятку 8, вращают микрометрический винт 5 эа...

Номер патента: 1597510

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Ляшенко

МПК: G01B 5/16

Метки: волнистого, гребнем, кромкой, листа, между, расстояния

...г. Ужгород, ул, Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля расстояний от гребней до кромок волнистых асбестоцементных листов,Целью изобретения является повышение точности и удобств при контроле.На фиг, 1 показана схема контроля расстояния между гребнем и кромкой волнистого листа; на фиг. 2 - схема действия сил при базировании листа.На схеме обозначены основание 1, установленные на нем на заданном расстоянии друг от друга две пары цилиндрических элементов 2 и 3, каждый из которых выполнен в виде каретки 4 и поворотного цилиндра 5, радиус которого составляет,0,2 - 0,8 от минимального радиуса кривизны гребня листа 8, и угольники 6 и 7, контактирующие с кромками волнистого листа...

Номер патента: 1597511

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Кощеев, Танасийчук, Тимофеев

МПК: G01B 5/02

Метки: линейных, размеров

...В.Егоров Редактор О.Юрковецкая Техред М.Моргентал Корректор В,ГирнякЗаказ 3038 Тираж 494 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано вмашиностроении при измерениях крупногабаритных фасонных деталей литейногопроизводства. 5Целью изобретения является повышение производительности измерения эа счет.снабжения устройства измерительной скобой,На чертеже изображено устройство, общий вид.Устройство содержит корпус 1 со шкалой 2 и пазом 3, установленное на корпусе1 с возможностью перемещения в пазу 3основание 4,...

Номер патента: 1597512

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Пильщиков, Свидерский, Стрелец, Трофимов

МПК: G01B 5/22

Метки: вращения, отклонений, поверхности, полых, сферы, тел, формы

...и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано вмашиностроении для измерения отклонений от сферичности деталей с неполнойсферической поверхностью. 5Целью изобретения является повышение точности и производительности.На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ измерения отклонений, 10Способ реализуется следующим образом,Деталь 1 устанавливают с помощьюкрепящего узла 2 на поворотный стол 3 так,что оси вращения его и детали 1 совпадают. 15Устанавливают механизм измерения, содержащий штангу 4 с индикатором 5, настойке б так, что ось 7 качания штанги...

Номер патента: 1597513

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Колганенко, Разумовский, Яковлев

МПК: G01B 5/24

Метки: оси, отверстия, расположения

...игольчатых опор 7 и 8,Устройство работает следующим обра-. зом.У настроенного по эталону устройства приподнимают подпружиненный фиксатор 5 с установочной цангой и устанавливают корпус 1 опорными цангами в пазы или отверстия измеряемого изделия 9 до упора игольчатыми опорами 7 в изделие 9, затем вводят подпружиненный фиксатор 5 с установочной цангой в отверстие измеряемого изделия до упора кареткой 4 в игольчатые опоры 8. При этом корпус 1 под действием опорных чанг стремится занять симметричное положение относительно осей отверстий (в случае базирования по отверстиям) или осей пазов (в случае базирования по пазам); аналогично каретка 4 под действием установочной цанги и подпружиненного фиксатора стремится занять симметричное...

Номер патента: 1597514

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Денисенко, Цлаф

МПК: G01B 5/14, G01B 5/24

Метки: позиционирования, станка, точности, узлов

...25 образует зазор величиной 0,3 - 0,5 мм с образующей диска 23. При измерении включают привод 13 и вращают вал 8, После включения привода 13 фотоэлектрический преобразователь 14 генерирует импульсы счета на информационный вход блока 31. При повороте вала 8 на некоторый угол с помощью кулачка 11 формируется импульс "Начало счета" при сходе контакта с ламели.Кулачок 9 приводит в движение каретку 18 и приводит измерительный наконечник 21 к пластине 6; а кулачок 10 поворачивает рычаг 24, перемещая измерительный наконечник 25 к диску 23. При касании наконечником 21 пластины 6 разрывается цепь между электроконтактным наконечником 20 и микровинтом 22 и формируется импульс "Конец счета 1", а при касании наконечником 25 диска 23...

Номер патента: 1597515

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Ерюшкин, Заугольнов, Монахов

МПК: G01B 5/24

Метки: разметки, соединения, труб

...(средства 12 крепления) снабжена шарнирно соединенными с ней неподвижным фиксатором 34 и подвижным фиксатором 35, состоящим из бобышки 36, ползуна 37 и ходового винта 38, служащих для поджима ленты к трубе,На осях 39 поворота базирующих и разметочных приспособлений установлены зажимные барашки 40, позволяющие фиксировать положение приспособлений на участках 41 и 42 трубопроводов.Устройство работает следующим образом.Пластинчатые цепи 18 и разметочные ленты 27 закрепляются фиксируемыми концами 19 и 28 в неподвижных фиксаторах 20 и 34 соответственно, пластинчатые цепи 18 накидываются на участки 41 и 42 размечаемых трубопроводов, подлежащие соединению в местах предполагаемых резов, и продеваются в подвижные фиксаторы 21 так, чтобы...

Номер патента: 1597516

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Кондюрин

МПК: G01B 5/25

Метки: отверстий, центров

...колеса 16, выполненный в виде упругодеформируемого кольца 17, установленного в проточке 2 и обеспечивающего силовое замыкание между зубчатыми колесом 16 и венцами 13-15, Величину осевого перемещения штоков 4 - 6 определяют по формуле 3- -игде п - количество зубьев, на которые поворачивают венцы 13-15;а - количество зубьев на колесе 16;1- шаг резьбы в соединениях резьбовых хвостовиков 7-9 и гаек 10-12.Устройство работает следующим образом.В исходном состоянии кольцо 17 извлекают иэ проточки 2, зубчатое колесо 16 выводят из зацепления с венцами 13-15, устанавливают корпус,1 на стол 18 внутри эталонной.детали 19 и вращают гайки 10-12 до тех пор, пока не совпадут оси симметрии эталонной детали 19 и корпуса 1. Затем зубчатое колесо 16...

Номер патента: 1597517

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Мальцев

МПК: G01B 5/28

Метки: дефектов, листовых, поверхностей

...с затвором полевого транзистора. Канал полевого транзистора при этом закрывается, и на выходе преобразователя появляется электрический сигнал "Лог. 1". Если контролируемый материал не касается какого-либо из электродов-роликов 6, то канал полевого транзистора открыт и на выходе соответствующего электрического преобразователя 9,сигнал соответствует уровню "Лог, 0",В случае, если толщина материала меньше дпп, все электроды-ролики 6 не касаются поверхности материала и вследствие этого неподвижны. На выходах всех электрических преобразователей 9 при этом сигнала нет ("Лог. 0"),Сигналы "Лог. 0" с выходов многовходовых схем И 12 и 13 инвертируются с помощью инверторов 19 и 23 соответственно и поступают на входы схемы И 21. С выхода этой...

Номер патента: 1597518

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Левитас, Сащук

МПК: G01B 7/00

Метки: датчик, положения

...магниточувствительный элемент, находящийся в зазоре магнитной системы с симметрично заостренными концентраторами 4 и 5 на полюсных наконечниках 2 и 3, происходит перераспределение концентрации электронно-дырочных пар по сечению мэгниторезистора 6 вдоль направления силы Лоренца, которое перпендикулярно его боковым граням 7 и 8 с зонами повышенной скорости поверхностной рекомбинации, в зависимости от положения магниторезистора 6 относительно острия концентраторов 4 и 5. Под действием магнитного поля в одной части магниторезистора 6 происходит увеличение неравновесной концентрации носителей тока, в другой - ее уменьшение, В "нулевом" положении магниторезистора 6, симметричном относительно концентраторов 4 и 5, увеличение...

Номер патента: 1597519

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Рубин, Сысоев

МПК: G01B 7/00

Метки: датчик, линейных, перемещений

...1 о(А)+1(Ао)соя(ос + 90)=-АР П сояхГЕ(А ) ++1 (А ) 3 яз.п сзсгде 1- коэффициент передачи фазосдвигающего блока 9. Первый синхронный детектор 13 детектирует синусоидальную составляющую-1 су 1 с 1 эц соях с 1 о (А,)+Хо(Ан)у где 1 - коэффициент передачи детектора 13.Вторая гармоника сигнала вьзделяется вторым фильтром 12 выделения второй гармоники:П = 1 йПз= 1 с з зпхс 1(А ) + 7 3 ф Ъ 1+ 1 з (Ар)3 81 п 24 зс где 1 с - коэффициент передачи фильтра 12.Синхронизирующий сигнал для второго синхронного детектора 14 образуется после ограничения опорного сигнала ограничителем 10 и фильтрации первым фильтром 11 выделения второй гармоники:П = П язп 2 ьзс,где П - амплитуда второй гармоникиВна выходе фильтра 11.На выходе второго синхронного...

Номер патента: 1597520

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Елисеев

МПК: G01B 7/04

Метки: длины, перематываемого

...датчика 6 оборотов разматываемого рулона..1. - суммарная длина, намотанная за последние К лпоборотов;.Е 1.к., - суммарная длина, перематанная за предыдущие(К - 1)Дп оборотов; средняя толщина материала, рас"читанная за весьцикл перемотки;средняя толщина материала, рассчитанная за сум-му предыдущих йп оборотов;число, соответствующееколичеству произведенных расчетов средней толщины (д = 0,1,2, ,). где( з.-1) -ср В момент обрыва материала срабабывает датчик 10 обрыва материала и с задержкой па времени, задаваемой блоком 11, выходит в режим ожидания восстановления обрыва. После восстановления обрыва производится дальнейшая намотка материала и с задерккой, заданной блокам 12, срабатывает микропроцессорный блок 4, разрешая дальнейший расчети С...

Номер патента: 1597521

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Кутов, Шутов

МПК: G01B 7/06

Метки: немагнитных, стенки, толщины

...устройства вдоль измеряемой стенки изделия 3 перемещается также элемент 2, прй изменениитолщины стенки изделия 3 изменяетсярасстояние между элементом 2 и на 75216конечником, а следовательно, и ЭДС Холла. Это изменение фиксируется блоком 6 регистрации. Шкала блока 6 регистрации может быть проградуирована в миллиметрах и показывать сразу толщину измеряемой стенки иэделия 3 в любом сечении, не прерывая процесс измерения.Технико-экономический эффект от использования изобретения заключается в повышении производительности и точности измерения за счет непрерывного . измерения толщины стенки и применения элемента Холла, а также в упрощении конструкции,Формула изобретенияУстройство для измерения толщины 20 стенки изделий из немагнитных...

Номер патента: 1597522

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Безбородов, Козлов, Тимошина, Харламов

МПК: G01B 7/12

Метки: бесконтактный, профилометр

...постоянной и зависит только от внешней температуры. В детекторах 4 и 5 выделяются 15огибающие соответствующих сигналов,Сумматор 6 вычитает из сигнала с выхода детектора 4, соответствующегопрофилю поверхности, сигнал с выхода детектора 5, компенсируя постоян Оную составляющую температурной по"грешности.Коррекция коэффициента передачиК измерительного тракта при изменении температуры осуществляется схемой 7.увеличение температуры приводит к изменению (например, уменьшению) напряжения П(фиг,2, кривая а)на выходе детектора 5 и изменению(снижению) коэффициента передачи Кйэ(фиг.2 кривая б). Для полной компенсации этой переменной температурйойпогрешности необходимо, чтобы зависимость коэффициента усилителя 9. оттемпературы имела вид кривой в...

Номер патента: 1597523

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Чижов

МПК: G01B 7/16

Метки: высокотемпературный, тензометр

...начальной точки отсчета, Величина электросопротивления каждой из цепей (К 1 и К соответственно) зависит от величины электросопротивлений: К ц - токоподводов 11, К - прослойки в1э канале трубки электрода 4, К - участка трубки электрода 4, заполненного3расплавом прослойки и К - участказэтой трубки, не заполненного расплавом прослойки. При этом каждое из электросопротивлений К и К , соответствующих равновесному количеству расплава прослоек в каналах каждой из трубок электродов 4, составляОВ ходе нагружения испытуемого образца по мере его деформирования происходит поворот установочного подвижного зажима 2 на оси 8 на угол щ, который связан с величиной деформации Д 1 образца и радиусом г вращения с установочного подвижного зажима 2...

Номер патента: 1597524

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Буканов, Зубро, Перельман, Тимина, Шелаков

МПК: G01B 7/16

Метки: испытания, нагружения, образцов, трехосного, установках

...при испытаниях по-.ристых тел. 10На чертеже показано предлагаемоеприспособление,Приспособление содержит эластичную оболочку 1, в открытые концы которой внатяг вставлены торцовые заглушки 2, Металлические стержни 3расположены диаметрально противоположно друг другу в месте контактаоболочки с образцом 4. Стержни 3 иторцовые заглушки 2 имеют кольцевыепроточки, обеспечивающие прижим игерметизацию эластичной оболочки 1к поверхности стержней 3 при приложении внешнего давления. Стержнизаформованы в эластичную оболочку 25на стадии ее изготовления.Приспособление работает следующимобразом.Исследуемый образец вставляетсявнатяг в кольцевую эластичную оболоч 0ку, что обеспечивает прижим металлисте:ческих стержней к поверхности образца,и...

Номер патента: 1597525

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Батхан, Рожанский

МПК: G01B 7/30

Метки: отметчик, положения, углового

...число зубьев. диска,Благодаря этому обеспечивается строгое соответствие между моментами прохождения зубьев зубчатого колеса55 И моментами появления импульсов на выходе индукционного датчика.Отметчик углового положения работает следующим образом. При прохождении каждым зубом чувствительной зоны, имеющей ширину 1, сопротивление магнитной цепи датчика 2 уменьшается, и магнитный поток, пронизывающий обмотку 4, индуцирует в ней ЭДС, что эквивалентно операции дифференцирования входного сигнала. Благодаря тому, что обмотка замкнута на резистор 5 и сопротивление К Формирователя 6, в ней проте" кает ток, который отстает по фазе на 90 от ЭДС, что эквивалентно операоции интегрирования. Ток совпадает по фазе с магнитным потоком в магнитопроводе...

Номер патента: 1597526

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Афанасьев, Землянов, Качанова

МПК: G01B 9/00, G02B 27/30

Метки: анализатор, изображений, оптический

...аеличины ошибки вопределении положения светового штриха для диафрагмы, прозрачные окна которых содержат различное число (И)треугольников. 30Оптический анализатор изображенийсодержит диафрагму, выполненную спрозрачным окном в виде прямоугольных треугольников 1-5 (фиг, 2), у каждого из треугольников 1-5 один из ка 35тетов расположен на общеи для данныхкатетов прямой, параллельной продольной оси светового штриха (оси У). Каждые два смежных треугольника 1 и 2,2 и 3 и т.д. имеют общую вершину, исуммарная длина всех катетов, расположенных на общей прямой, не превышаетдлины Ь светового штриха 6,Анализатор изображений работаетследующим образом, 45При перемещении светового штриха 6в плоскости анализа по оси Х происходит изменение величины...

Номер патента: 1597527

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Соловьев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, клиновидности, оптических, пластин

...зрения изображенияполос интерференционной картины постоянной ширины независимо от расстояния между отражателями 8 и 9. Объек 2 О тив 4 с рефлектором в виде зеркал 6и 7 образуют телескопическую систему,Контролируемую пластину 13 устанавливают на столик 5 так, чтобы нор 25 мали к ее рабочим граням составлялинебольшой угол с оптической осьюобъектива 4, Пучки лучей источника 1излучения (например, лазера) проходятчерез конденсор 2, светоделитель 330 и объектив 4 и параллельным пучкомпадают на грани контролируемой пластины 13 и после отражения от них проходят через объектив 4, отражаютсяот светоделителя 3, и последовательно35 отразившись от зеркал 6 и 7 рефлектора, падают на отражатели 8 и 9 в виде волнового Фронта. Перед...

Номер патента: 1597528

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Башков, Воронов, Мурзаханов, Тагиров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, объекта, прямолинейности

...чего пучки света интерферируют между собой, Результирующую интерференционную картину перехватывают регистратором 9, который осуществляет счет интерференционных полос, проходящих через фиксированную точку в плоскости регистратора, например щелевую диафрагму.сПри наличии линейного смещения углового отражателя 2 от оси распространения пучка света лазера 1, например, вверх на величину Ь переотраженный пучок света от отражателя 2 также смещается вверх на величину 2 Ьр 20 (на фиг. 1 показано. пунктиром), В выпуклых цилиндрических зеркалах 4 точки падения и отражения луча смещаются вправо. Наличие кривизны в выпуклых зеркалах 4 приводит к изменению угла 25 падения луча на светоделитель 5 на величину с . Пучок света при этом в канале...

Номер патента: 1597529

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Зоншайн

МПК: G01B 11/00

Метки: датчик, перемещений

...растровое сопряжение, которое при перемещении решетки 3 модулирует световой поток излучателя 1, работающего в 30 1импульсном режиме, формируя на выходе фотоприемника 4 сигнал П (фиг.2). Излучатель 5, связанный непосредственно с Фотоприемником 4 и работающий в режиме модуляции со сдвигом фазыона 180 относительно излучателя 1,создает опорный сигнал П . Величинаопорного светового потока 0должнабыть отрегулирована и равна Пмакс + Плит"ол 2 где П и Б- максимальный и минимаксмальный соответственно сигналы с фотоприемника 4 при отключенном излучателе 5.В результате Освещения фотоприемника 4 двумя световыми потоками от растрового сопряжения и второго излучателя 5 на его выходе Формируется сигнал, пропорциональный их разности и имеющий 100%-ную...

Номер патента: 1597530

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Марапулец

МПК: G01B 11/02

Метки: линейного, перемещения, фотоэлектрический

...этой пары только к одной степени свободы в основном направлении движения, Герметичный кожух, продуваемый сжатым газом, служит для защиты измерительЮ ной системы от засорения посторонними частицами.1 з.п. ф-лы, 2 ил,С". траектории движения, а дконечной. Измерительныйжестко соединяется с общения. При перемещенииправляющей элемента 2 оиндикаторных отверстийпрерывание светового потельной системы 1, постфотоприемники 6. Расстодикаторными отверстиями10 15 20 отличным от шага цепи с целью получе" ния интерференционной картины, анализируемой блоком 7. При случайных отклонениях перемещаемого объекта от основного направления движения, выз" ванных неточностью изготовления путевых направляющих или деформацией конструкции транспортного...

Номер патента: 1597532

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Евсеенко, Коровченко, Попов

МПК: G01B 11/08

Метки: волокон, диаметра, прозрачных

...фотоприемника 6. При таком соотношении параметров цилиндрическая оптическая система 4 переносит изображение освещенного лазерным пучком участка волокна 2 на регистрирующий фотоприемник 6 с размерами чувствительного элемента Ь х Ь . Приэтом в параксиальном приближении отклонение плоскости рассеяния от оптической оси, происходящее при накло" 55 не волокна, не приводит к смещениюрегистрируемой картины с чувствительного элемента регистрирующего фото приемника. Размер П изображения вплоскости регистрирующего фотоприемника 6 связан с размером П освещенного участка волокна 2 формулой(2) Ъгде Ч = -- коэффициент увеличенияацилиндрической оптической системы.Освещенность Е в пределах площадки чувствительного элемента регистрирующего...

Номер патента: 1597533

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Нестеренко, Остафьев, Тымчик

МПК: G01B 11/12

Метки: диаметра, отверстий, цилиндрических

...за выходным торцом световода 7 лучи заполнят область пространства, ограниченную двумя несовпадающими близкими коаксиальными коническими поверхностями, углы при вершинах которых пропорциональны углу между узким параллельным пучком лучей, сформированным на входном торце световода 7, и нормалью плоскости д этого торца, Для увеличения рабочей апертуры на выходе световода 7 плоскость его входного торца наклоняют так, что угол между последней и оптической осью линз 5 и 6 не равен 90 . 25 :При введении выходного торца световода 7.в отверстие 13, диам .тр которого измеряется, лучи, заполняющие указанную область пространства, отражаются от поверхности отверстия 13 и посту 3 пают на фотоприемники 9, укрепленные на кронштейне 8. Затем...

Номер патента: 1597534

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Корихин, Ольховик

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, замораживания, модели

...следующим образом.приспособлении, смонтированном в спе циальной камере. Производят перевод материала модели в высокоэластичное состояние при комнатной температуре путем приложения к модели гидростатического давления порядка 100 МПа. Давление создается В камере за время порядка нескольких минут.Осуществляют нагружение модели до возникновения пластических деформаций, близких к пределу текучести материала, После этого гидростатическое давление вка(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях деформаций и напряжений в моделях из оптически чувствительного материала. Целью изобретения является расширение диапазона "замораживаемых" деформаций. Мач териал модели переводят в...

Номер патента: 1597535

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Елисеев

МПК: G01B 11/26

Метки: аттестации, блока, пентагонального

...опять от пентаганального блока 6 и попадает в автоколлиматор 1. Снимают по шкале автоколлиматора 1 угловой отсчет о 1, Затем поворачивают столик 5 вместе с пентаганальным блокам 6 ндо90 , при этом с автакаллиматарам 1 оптически связан второй отражатель пентагональнаго блока 6, В этом случае параллельный пучок лучей автокаллиматара 1 последовательно отражается от пентаганального блока 6, плоского отражателя 3, затем опять ат159753пентагонального блока 6 и попадает вавтоколлиматор 1. Снимают по шкалеавтоколлиматор 1 угловой отсчет с(.Для первого положения пентагональ 5ного блока справедливо следующеесоотношение: 5бТаким образом, предложенный способ позволит исключить влияние погрешности установки угла между плоскими отражателями 3 и 4 на...

Номер патента: 1597536

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Гузенко, Корниенко, Федчук, Шаповал, Шевченко

МПК: G01B 11/30

Метки: пластин, поверхностной, полупроводниковых, сверхрешетки, симметрии, типа

...пластину 11 полупроводника наносят слой анизотропного жидкого диэлектрика, Затем пластину 11 со слоем диэлектрика устанавливают на электроде 4 неподвижной части 2 держателя.Прозрачный электрод 7, жестко закрепленный на повторной части 3, приводят в контакт со слоем диэлектрика,нанесенного на пластину 11, Обе части 2 и 3 держателя скрепляют с помощью накидных пружйнных стопоров 6,входящих в кольцевой паз 9. Прикладывая к электродам 4 и 7 П-импульс.: электрического поля, поворачиваютмолекулы слоя анизотропнаго жидкогодиэлектрика. Затем поворачивают прозрачный электрод 7 на угол 0 - 90",С помощью шариковых подпружиненныхфиксаторов 5 и сферических углублений 8 угол поворота Фиксируют, Осве,щают устройство от источника 1 света длина...

Номер патента: 1597537

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Ангельский, Максимяк

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...пучка через диафрагму 5 из фотометрического шара 7 беэ дифракции. Это достигается благодаря экспериментальному выполнению соотношения (1), Механизм 9 перемещения объектива. 6 в продольном и поперечном направлениях позволяет компенсироватЬ некоторое сферическое отклонение от плоскости исследуемой поверхности 11. Показание фотоэлектрического блока 8 регистрации дает значение 1 . При этом лишь незначительная часть выходит через диафрагму 5. Механизмом 9 или 10 можно послать зеркальноотраженный пучок на стенку шара 7. Б этом случае показание блока 8 регистрации дает значение 1 П, Определяют степень шероховатости поверх ности из соотношения К4 созе где К - среднеквадратичное отклонениепрофиля от базовой линии; - длина волны...

Номер патента: 1597538

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Барабанов, Рабинович, Стефанюк, Суворов

МПК: G01B 13/10

Метки: малых, отверстий, пневматический, проходного, сечения

...и может быть использованодля контроля и сортировки жиклеров,насадок Форсунок, фильер и т.д.Целью изобретения является повышение точности путем учета негерметичности зажима.На чертеже представлена схема устройства, осуществляющего предложенный способ.Деталь 1 с измеряемым малым отверстием 2 эажимается в зажиме 3,который пневматически через вентиль4 связан с рабочей камерой 5. На входе в рабочую камеру 5 установленвходной дроссель 6. К рабочей камере5 подключен манометр 7. Через вентиль 8 рабочая камера 5 соединена сэталонным дросселем 9,Пневматический способ измеренияпроходного сечения малых отверстий.деталей осуществляется следующим образом.Вентиль 4 открывается, а вентиль8 закрывается. На входе входногодросселя 6 и выходе измеряемого...

Номер патента: 1597539

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Недавний

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщиномер

...вес его ком 1597539Цель изобретения состоит в повышении точности измерения толщины покрытия на наружной поверхности ребер.Эта цель достигается тем, что в толщиномере покрытий, содержащем ра 5 му, усгановленные в одной плоскости и располагаемые по одну сторону от контролируемого объекта источник ионизирующего излучения со щелевай диафрагмой и детектор со щелевым коллиматором, и регистрирующий прибор, подключенный к детектору,. щелевой колпиматор выполнен в сечении, нормальном центральной оси отраженного потока излучения, в форме центрального сечения двояковогнутой линзы, а рама выполнена с выступом, параллельным большим осям щелевой диафрагмы и щелевого коллиматора. 20На фиг.1. изображена схема толщиномера покрытий; на...