G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Номер патента: 1840514

Опубликовано: 20.05.2007

Авторы: Ленков, Самарин, Федчишин, Щербаков

МПК: G01B 9/04

Метки: обнаружения, объектов, скрытых

Устройство обнаружения скрытых объектов, содержащее объектив, модулятор, выполненный с возможностью вращения и расположенный между объективом и пироконом, помещенным в фокусирующе-отклоняющую систему, генератор развертки, вход которого соединен с системой синхронизации, а выход - с фокусирующе-отклоняющей системой, соединенные последовательно с сигнальной пластиной пирокона предусилитель, видеоусилитель и процессор кадра, отличающееся тем, что, с целью повышения вероятности обнаружения и опознавания объектов в полевых условиях путем выделения их контуров, в него введено плоское зеркало, установленное перед объективом под углом к его оптической оси и выполненное с возможностью синхронизированного с кадровой разверткой вращения...

Номер патента: 1628658

Опубликовано: 10.06.2007

Авторы: Васильев, Здоренко, Матющенко, Скрипник

МПК: G01B 17/02

Метки: акустического, плоских, толщины

1. Устройство для акустического контроля толщины плоских изделий, содержащее последовательно соединенные первый генератор импульсов и усилитель мощности, к выходу которого подключены два параллельно соединенных акустических излучателя, два акустических приемника, установленных соосно с акустическим излучателем и на одинаковом расстоянии от него, последовательно соединенные регулируемый избирательный усилитель, пиковый детектор и индикатор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля, оно снабжено двумя усилителями напряжения, двумя фазочувствительными выпрямителями, интегратором, источником опорного напряжения, вторым генератором импульсов, четырьмя ключами и фильтром...

Номер патента: 1461126

Опубликовано: 10.06.2007

Авторы: Галкин, Здоренко, Марченко, Скрипник

МПК: G01B 17/02

Метки: бесконтактного, толщины

Способ бесконтактного измерения толщины, заключающийся в том, что электроакустические преобразователи располагают соосно на расстоянии l между собой, излучают акустические колебания частотой f1, принимают акустические колебания, измеряют фазовый сдвиг между излучаемыми и принимаемыми колебаниями, изменяют частоту f1 и определяют толщину контролируемого изделия с учетом разности частот, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения толщины изделия из неоднородных материалов путем исключения влияния физико-механических характеристик материала изделия, дополнительно измеряют фазовые сдвиги ...

Номер патента: 1422798

Опубликовано: 10.06.2007

Авторы: Здоренко, Скрипник

МПК: G01B 17/02

Метки: бесконтактного, толщины

Способ бесконтактного измерения толщины изделий заключается в том, что размещают контролируемое изделие между излучателем и приемником акустических колебаний, излучают и принимают ультразвуковые колебания, измеряют разность фаз между принимаемыми и излучаемыми колебаниями и с учетом измеренной разности фаз определяют толщину контролируемого изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, принимают отраженные от поверхности контролируемого изделия акустические колебания, определяют соотношение амплитуд отраженных и излучаемых акустических колебаний, а толщину контролируемого изделия определяют по формуле

Номер патента: 1840845

Опубликовано: 27.12.2012

Автор: Самсонов

МПК: G01B 7/32

Метки: диэлектрике, емкостного, слоя, токопроводящего

Способ емкостного контроля токопроводящего слоя на диэлектрике, заключающийся в том, что диэлектрик контактируют с электродом, измеряют электрическую емкость между этим электродом и токопроводящим слоем и по значению этой емкости определяют площадь указанного слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля изменения указанной площади вследствие нарушения целостности токопроводящего слоя и фиксации координат этого нарушения, сканируют поверхность слоя составным электродом, поочередно коммутируя его компоненты, а затем один из них перемещают в пределах выявленных дефектных зон в контролируемом слое.