G01B — Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров

Страница 617

Устройство для измерения толщины

Загрузка...

Номер патента: 1747890

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Коноваленко, Окаминов, Панкратов, Панферов

МПК: G01B 15/02

Метки: толщины

...изобретения - повышение точности измерения,Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для измерения толщины, содержащем располагаемые по одну сторону от объекта контроля источник излучения и компенсационный детектор, а по другую - рабочий дететор и последовательно соединенные блок обработки, входы которого подключены к выходам рабочего и компенсационного детекторов, и блок отображения, источник. излучения выполнен в виде герметичной емкости с двумя окнами, закрытыми фольгой, заполненной радиоактивным газом и ориентированной окнами в направлении двух детекторов,Это происходит за сцет использования данного источника иэлуцения, который позволяет исключить второй источник в компенсационной схеме измерения и создать идентичные...

Способ определения удельной площади поверхности твердых тел

Загрузка...

Номер патента: 1747891

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Григорьев, Мышкин, Семенюк, Холодилов

МПК: G01B 15/02

Метки: площади, поверхности, твердых, тел, удельной

...исследуемого диапазона 15неровностей, а об изменении удельной площади поверхности этих неровностей судятпо их отношению,На фиг.1 изображена схема взаимодействия пучка электронов (зонда) с исследуемой поверхностью; на фиг,2измерительный комплекс,Способ осуществляют следующим образом,На исследуемую поверхность твердого 25тела направляют сфокусированный пучокэлектронов, разворачивают его в растр, регистрируют интенсивность истинно вторичных электронов, определяют среднее 7 иминимальное 1 мин значения интенсивности, 30а об удельной площади поверхности (5 л)судят по отношению 35Поскольку неровности шероховатой поверхности имеют размерь 1, находящиеся вшироком диапазоне значений, измереннаявеличина ЧПП зависит от размера зонда (диаметра...

Ультразвуковой измерительный преобразователь скорости линейного перемещения

Загрузка...

Номер патента: 1747892

Опубликовано: 15.07.1992

Автор: Демин

МПК: G01B 17/00

Метки: измерительный, линейного, перемещения, скорости, ультразвуковой

...входом запуска ЦИВИ 14, второй выход триггера 27 управления являетсяпервым входом ЦИВИ 14, выход сумматора24 подключен к второму входу цифровогокомпаратора 26 и является третьим выходом ЦИВИ 14, а выход первого регистра 22 30подключен к второму входу сумматора 24.Одновибратор 29 (фиг,4) выполнен изпервого и второго О-триггеров 30 и 31 и. элемента 32 задержки, информационныйвход второго триггера 31 обьединен с единичным входом и подключен к единичнмувходу первого триггера 30, на которые подается сигнал "логическая единица", С-входпервого триггера 30 подключен к выходуформирователя 21 входных сигналов, информационный вход - к С-входу второготриггера 31 и инверсному выходу третьеготриггера 30, нулевой вход - к нулевому входу второго...

Способ определения внутреннего размера изделия с полостью

Загрузка...

Номер патента: 1747893

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Волобуев, Калядин, Шарапа

МПК: G01B 17/02

Метки: внутреннего, изделия, полостью, размера

...контролируемого изделия 3 (например, трубы) изакрепленные в демпфирующем элементе4, генератор 5, к выходу которого подключен пьезопреобразоаатель 1, индикаторныйблок 6, к выходу которого подключен пьеэопреобразователь 2. частотомер 7, такжеподключенный к выходу генератора 5. Длязаполнения контролируемого изделия рабочей средой под давлением и создания давления в камере 8 снаружи иэделияиспользуют баллон 9 или иное устройствоаналогичного назначения, Подачу и иэмерение давления а контролируемом изделииосуществляют клапаном 10 и манометром11, а в камере - клапаном 12 и манометром13, В случае необходимости проведения из 5 мерений при повышенной температуре устройство может быть снабжено нагревателем и системой контроля температуры...

Импульсно-фазовое устройство для контроля толщины

Загрузка...

Номер патента: 1747894

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Водотовка, Здоренко, Клушин, Скрипник

МПК: G01B 17/02

Метки: импульсно-фазовое, толщины

...материал, имеющий толщину и.Устройство работает следующим образом,В исходном состоянии между излучающим 5 и приемным 6 пьезоэлектрическими преобразователями размещают контролируемое изделие известной или номинальной толщины и размыкают второй ключ 13.Пьезоэлектрические преобразователи 5 и 6 установлены один против другого соосно на фиксированном расстоянии. Между пьезопреобразователями 5 и 6 находится иммерсионная среда. Высокочастотные электрические колебания фиксированной частоты в с выхода генератора 1 поступают через первый фазовращатель 2 на вход ключа 3 (фиг.2 а)О = Оп, соз (ж 1+ ср )и через второй фазовращатель 16-на один из входов фазового детектора 8 (фиг.2 б).02 = О саз ( вс + р 2 ), (2)Одновременно электрические...

Способ сравнения радиусов кривизны оптических поверхностей с помощью интерферометра

Загрузка...

Номер патента: 1747895

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Богомолов, Борейко, Еськов, Захаренков, Линский, Образцов, Подоба, Серегин, Фирсов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения

...зеркала10 и 11, возвратный отражатель 21, прямаяреперная,линия 22 в поле зрения интерферометра.На фиг.4 показаны пробные стекла иконтролируемые поверхности при значительных отклонениях радиусов кривизныпробных стекол от номинального значения,вид сверху: пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22. На фиг,5 показаны пробные стекла и контролируемые поверхности, размещенные на общей раме, при смещении интерферометра из центра кривизны поверхностей сравнения, вид сверху; пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, жесткая рама 9, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22.На фиг.б приведен пример реализации способа с наклонной осью интерферометра при...

Волоконно-оптический преобразователь

Загрузка...

Номер патента: 1747896

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Гусев, Ермолаев, Фетисов, Шестаков

МПК: G01B 21/00

Метки: волоконно-оптический

...освобождается от пульсаций и принимает вид 4 е,Таким образом, получен сигнал 0(х),свободный отр, Действительно, с учетом (1), (2),(3) и (4)100(х) = Ю 2(х) О 02(х) = Оо01(х рГ 1 хЮ 2(х) Оот - у. Полученная функция О(х)практическилинейна в широком диапазоне значений х и монотонно возрастает, поэтому предлагаемый преобразователь удобно использовать 20. для измерения перемещений Ьс (т,е, дляизмерения измерений расстояний х).Деление 02(х) на 01(х) может быть осуществлено также другими методами, например цифровыми. с предварительным 25 аналого-цифровым преобразованием,Предлагаемая структура устройства позволяет осуществить деление наиболее простыми и достуйными средствами.Предлагаемое устройство, как и извест ное, позволяет измерять...

Фотоэлектрический способ измерения размеров и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1747897

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Арутюнян, Бабалянц, Саргсян, Сушков

МПК: G01B 21/02

Метки: размеров, фотоэлектрический

...измерений 6 (например, габаритами,меньшими диапазона измерений). десканирующий вращающийся цилиндр 7 (второйсканатор) с винтовой отражающейповерхностью 8 (например, обратного направления подъема с параметрами. идентичнымипервому) при этом оси цилиндров 3 и 7 расположены в одной плоскости, неподвижноесквозное отверстие - оптическая бленда 9,на конце которой установлен фотоприемник10, а 11 - дескэнированный луч, ограженный от винтовой поверхности 8.50 вновь произойдет засветка фотоприемникадо прохождения всего диапазона сканирования. Таким образом, по соответствующим моментам засветки и затемнения, приняв в качестве начала отсчета либо первоначаль 55 ную засветку, либо установив отдельныйузел начала отсчета, можно измерять как смещение...

Способ определения углового положения слабоизлучающего малоразмерного источника и устройство его реализующее

Загрузка...

Номер патента: 1747898

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Воронин, Дедкова

МПК: G01B 21/22

Метки: источника, малоразмерного, положения, реализующее, слабоизлучающего, углового

...положение источника.Точность определения угловых координат повышается за счет повышения чувствительности предлагаемого устройства, которое достигается в результате снижения мощности засветки фотоприемника фоном при одинаковой амплитуде сигнала от источника,Излучение от источника поступает на фотодетектор только в том случае, когда изображение щели анализатора 2 и щель анализатора 4 совпадают с изображением источника. Число таких совпадений зависит от величины смещения источника от оптической оси Хо. Совпадение положения источника со щелями анализатора соответствует(+)изменению амплитуды поля Е 1 от источника на выходе фотоприемника 5.Амплитуда сигнала на выходе устройства максимальна при совмещении источника3с оптической осью устройства...

Способ контроля микрогеометрии поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1747899

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Гришко, Дудник, Федоров, Хвалов

МПК: G01B 21/30

Метки: микрогеометрии, поверхности

...и фотоприемный узел, подключенный к входам независимых усилителей. Имеются вычислительный и регистрирующий узлы. Выходынезависимых усилителей связаны с функциональным преобразователем, фиксирующим отношение их интенсивностей,, который связан через ключ с генераторомлинейно изменяющегося напряжения, генератором тактовых импульсов и счетчиком, 40определяющим высоту микронеровностейпо сигналу нуль-органа; индиь 1 ированномуна индикаторе.На фиг.1 изображены микрснеровностис отрицательным и нулевым углом; на фиг,2 45- форма распределения энергии: на фиг.Зфункциональная схема устройства для кон.троля микрогеометрии,Пример конкретной реализации предлагаемого способа контроля микрогеометрии поверхности эталонных мер настройкии...

Индикаторный нутромер

Загрузка...

Номер патента: 1749694

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Вулих, Городецкий

МПК: G01B 5/12

Метки: индикаторный, нутромер

...подпружиненного упорногонаконечника: втянут внутрь - исходное рабочее положение,На фиг.1 показан нутромер, общий вид;на фиг.2 - эксцентриковый валик; на фиг,З -положение штифтов ограничения поворотаэксцентрикового валика; на фиг.4 - положение пяты в процессе измерений; на фиг.5 -положение пяты при вводе индикаторногонутромера в зонуизмеряемой канавки в выводе из зоны измерения.Устройство содержит полый цилиндрической корпус 1, в котором размещен с возможностью осевого перемещения шток 2,На корпусе 1 неподвижно установлен индикатор 3, взаимодействующий с одним концом штока 2, На корпусе 1 закрепленавтулка 4, ось которой перпендикулярна осиштока 2.Во втулке 4 вдоль оси размещена пята5, поджатая пружиной 6. Усилие пружины 6выбирают...

Устройство для контроля расстояния между колесами при перепрессовке колесных пар

Загрузка...

Номер патента: 1749695

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Евграфов, Климентьев, Темин

МПК: G01B 5/14

Метки: колесами, колесных, между, пар, перепрессовке, расстояния

...перемещения по полой штанге 1.На гильзе 19 смонтирован поворотный упор 20, взаимодействующий с установлен 5 10 мощью струбцин 23 и 24. Поворотный упор 20 устанавливается в положение, показанное на фиг.2,Благодаря жесткой кинематической связи стакана 7 с полой штангой 1 посред 15 ством резьбовых участков 14 и 15, каждому положению дифференциального винта 12 соответствует определенное расстояние а между оптронными парами 5 и 6.При наличии зазора с между поворотным упором 20 и ограничителем 21 расстояние а между оптронными парами 5 и 6 не зависит от расстояния между колесами колесной пары 25, а расстояние Ь между оптронной парой 6 и передней гранью защитного экрана 11 - зависит.Вращением головки 13 перемещается дополнительная...

Устройство для контроля углового расположения шпоночной канавки

Загрузка...

Номер патента: 1749696

Опубликовано: 23.07.1992

Автор: Маресов

МПК: G01B 5/24

Метки: канавки, расположения, углового, шпоночной

...повышения производительности и точности контроля, механизм ориенгации детали выполнен в виде закрепленного на основании стакана с радиальным отверстием в стенке, переходной втулки, коаксиально установленной на стакане с возможностью поворота и закрепленного на втулке кронштейна, э измерительный щуп установлен на кронштейне так, что его конусный наконечник размещен в радиальном отверстии стакана с возможностью контактирования с измерителем ли 50 ной втулки,.коаксиально установленной на стакане с возможностью поворота, и закрепленного н втулке кронштейна, а измерительный щуп установлен нэ кронштейне так, что его конусный наконечник размещен в радиальном отверстии стакана с возможнейных перемещений, устройство т 1 кже снабжено двумя...

Устройство контроля прямолинейности образующей цилиндрической детали

Загрузка...

Номер патента: 1749697

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Бражник, Головко, Исаков, Колесник, Сорока, Шеметов, Шульга

МПК: B21D 3/10, G01B 5/24

Метки: детали, образующей, прямолинейности, цилиндрической

...оси первого щупа 9, и в то же время он с одной стороны соединен с четвертым датчиком б, а с другой стороны - с1749697 движения по первому варианту. Возможна тельный щуп 13 расположен, так что его ось также реализация датчика пройденного пуконцом второй измерительной линейки 16, 10. концов направляющей линейки 19 (или 20) Третий измерительный щуп 11 с одной.сто- устанавливается оптический отражатель. роны соединен с третьим датчиком 5; а с Перед проведением измерений отклодругой стороны - с концом третьей измери- нейия от прямолинейности образующей цительной линейки 17, Шестой измеритель- лйндрической детали, например вала ный щуп 14 расположен так, что его ось 15 погружного электродвигателя, устройство параллельна оси третьего щупа 11, и...

Способ изготовления составного образца для исследования процессов обработки металлов давлением

Загрузка...

Номер патента: 1749698

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Трахтенберг, Хамин

МПК: G01B 5/30

Метки: давлением, исследования, металлов, образца, процессов, составного

...металлическую литейную форму, состоящую из наружного бандажа 1 и разрезного секционного кольца 2, помещают тонкостенные термостойкие разделительные пластины 3 (толщиной не более 0,15 - 0,25 мм), которые своим положением определяют границы формирования элементов составного образца, Дно литейной формы обеспечивает получение нижнего торца образца заданной формы и размеров В указанную форму заливают жидкий металл и осуществляют опрессовку (фиг,2) составной отливкой 4 пуансоном 5, на торце которого выполнены пазы 6 под разделиудаления разделительных пластин, плоскости разъема элементов образца имеют качественную поверхность с шероховатостью не более 0,32 мкм, Затем на эти поверхности разъемов элементов известными методами (царапанием,...

Дифференциальный датчик положения

Загрузка...

Номер патента: 1749699

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Загороднюк, Селиверстов

МПК: G01B 7/00

Метки: датчик, дифференциальный, положения

...и габариты, а также снижает его надежность,Цель изобретения - повышение информативности и упрощение конструкции.Это достигается тем, что ферромагнитное основание выполнено в виде угольника, постоянные магниты закреплены на торцах линеек угольника перпендикулярно один к другому и соогветствующим линейкам, а центральный стержень размещен в биссекторной плоскости угольника между разноименными полксами м агнитов.На чертеже показана схема дифференциального датчика пол лужения.Датчик соде ржит дпа одинаковых постоянных магнита 1 и 2, ферромагнитное основание 3, выполненное в форме угольника, и центральный стержень 4, размещенный1749699 Составитель А,ЗагороднюкТехред 1 ф, Моргентал . Ко Редактор А,Ко р Э,Лончаков Заказ 2587 Тирак Подписное ВНИР...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1749700

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Гусейнов, Попков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...а второй - один из ненулевых максимумов,Нормаль к поверхности зеркала б совпадаетс биссектрисой угла между интерферирующими пучками.Интерферометр работает следующимобразом,Луч лазера 1 (фиг.1), пройдя через коллиматор 2 и светоделитель 3, попадает наотражательную решетку 4, закрепленную наисследуемом объекте 5. Нулевой максимумдифракционного излучения, отразившисьот решетки 4, в обратном направлении, попадает на светоделитель 3 и делится на двапучка, один из которых 9 попадает затем наолупрозрачное зеркало 6. Отразившись отзеркала б, пучок 9 освещает матовь 1 й экран 7.Первый (или любой ненулевой) дифракционный максимум 10 отраженного отрешетки пучка излучения проходит черезполупрозрачное зеркало 6 и попадает наматовый экран 7, где в...

Голографический интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1749701

Опубликовано: 23.07.1992

Автор: Махмутов

МПК: G01B 9/025, G03H 1/04

Метки: голографический, интерферометр

...изображений, ду 5 смещают между экспозициями в ееНа фиг,1 изображена схема устройства; плоскости, интерференционные полосы в на фиг.2 - элементы, формирующие точеч- восстановленной интерферограмме периый диффузныи рассеиват. л, 5 пендикулярны направлению смещения, ИнГолографический интерферометр со- терферограмма в полосах конечной ширины держит лазер, си т1, систему 2 очистки, расши- образуется при восстановлении голограмрения и коллимации лазерного пучка, мы пространственно когерентным источни-, фазовый объект 3, фокусирующую систему ком света, в полосах бесконечной ширины - 4, регистрирующую среду 5, положительную 10 некогерентным,Преимущество изобретения заключаПервая экспозиция среды 5 произво- ется в простоте реализации, что...

Измеритель диаметра деталей

Загрузка...

Номер патента: 1749702

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Карпова, Смирнов

МПК: G01B 11/08

Метки: диаметра, измеритель

...исключение двухсторонней жесткой базыинструмента с самоцентрированием контролируемой детали и инструмента.Использование изобретения в качестве измерителя диаметра деталей обеспечивает повышение точности проводимыхизмерений без увеличения погрешности, зависящей ат увеличения типоразмера инструмента и контролируемой детали.На чертеже представлен измерительдиаметра деталей, разрез,Измеритель диаметра деталей. включаетлазерный интерферометр 1, соединенный спрограммируемым процессором 2 и блоком3 обработки и отображения информации,оптически связанный одномодовыми волоконно-оптическими световодами 4, 5 черезобъективы 6 со светоделительным кубом 7,и уголковым атражатзлем 8. образующихвыносной блок интерфераметра, расположенный на коапусе 9,...

Способ измерения угла поворота материального объекта вокруг оси вращения

Загрузка...

Номер патента: 1749703

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Коровин, Кущенко

МПК: G01B 11/26

Метки: вокруг, вращения, материального, объекта, оси, поворота, угла

...реперную точкудо поворота:адд - отсчет на первую реперную точкупосле поворота;ац - отсчет на вторую реперную точку)до поворота;лав - отсчет на вторую реперную точкупосле поворота.Выполнение измерений предлагаемымспособом позволяет повысить точность измерения угла поворота материального объекта в тех случаях, когда ось угломерногоинструмента не совмещена с осью вращения материального объекта и когда реперная точка расположена невдалеке от осиугломерного инструмента, например в лаборатории. цехе или другом ограниченномпространстве,На чертеже показаны оптический углоизмерительный прибор 1 с осью вращения1, материальный объект 2 с осью вращенияО, угол поворота материального объекта г,положение нуля углоиэмерительного прибора...

Устройство для контроля качества поверхности отверстий детали

Загрузка...

Номер патента: 1749704

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Абульханов, Данилов, Копытин, Скуратов, Трусов, Федоров

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, качества, отверстий, поверхности

...в положение прикотором он перекрывает образующую внутренней поверхности исследуемого кольца30 29, а путем перемещения траверсы 31, посредством вращения вертикального ходового винта 34, между исследуемойповерхностью кольца 29 и волоконно-оптическим датчиком 39 устанавливается зазор35 равный 12 мм.При этом калибровка устройства осуществляется по одному из двух эталонных колец-кольцу, на поверхности которогоприжоги отсутствуют, или кольцу, поверх 40 ность которого сплошь покрыта прижогами(100 ), и с помощью управляемого источника питания 2 на схеме индикации 14 устанавливается удобный для отсчета "условныйкоэффициент отражения" К 1 для данного45 кольца. "Условные коэффициенты отражения" других эталонных колец (имеющих раз.личные...

Способ определения величины остаточных напряжений и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1751641

Опубликовано: 30.07.1992

Авторы: Ефимов, Касаткин, Кравченко, Смирнов, Тюрин

МПК: G01B 5/30

Метки: величины, напряжений, остаточных

...12, а вторым - со входом второго блока17 задержки, подключенного к входу АЦП 9.датчика 8, Одновременно выход второгоблока 17 задержки соединен через третийблок 18 задержки со входом АЦП 7 датчика6.Способ с помощью предложенного устройства осуществляют следующим образом,В ванне 1 закрепляют образцы 2 и 3 спомощью приспособлений 4 и 5, Включаютисточник питания и осуществляют процесстравления, При травлении будет происходить деформирование образца 3 и сигналбудет поступэть на вход АЦП 9, Таймер 16настраивается на заданный интервал времени, Через заданный интервал сигнал стаймера 16 поступает на приспособление12 подъема, который перемещает образец 2вертикально вверх относительно раствора травления. Одновременно сигнал с...

Способ контроля толщины диэлектрической пленки на электропроводящей подложке

Загрузка...

Номер патента: 1572170

Опубликовано: 30.07.1992

Автор: Туберовский

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрической, пленки, подложке, толщины, электропроводящей

...разлагает электролит, и токв цепи резко падает, цто предотвращает разрушение пленки, По максимальному знацению силы тока и тарировочным зависимостям определяют толщинупленки. 1 ил. станем электрического тока, От истоцника б постоянного тока подаются напряжения на подложку 2 и на электрод 4, поэтому в процессе протек ния тока через электролит сопротивление электролита увеличивается за счет его разложения, цто регистрируют потенциометром 7. Максимальное знацение зарегистрированной силы тока сравнивают с тарировочной зависимостью, которую получают при измерении предложенным способом известных толщин диэлектрических пленок, а также при отсутствии диэлектрицескои плен" ки на электропроводной подложке,ф Составитель И эКОсоян Техред...

Автоматический корректор высоты отпрессованных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1752567

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Бекетов, Ковров, Куренков, Кучеров

МПК: B29C 43/58, G01B 11/00

Метки: автоматический, высоты, корректор, отпрессованных

...6 одновременно являетсятранспортным лотком 8 перемещения отпрессованных изделий.В корпусе 7 датчика в соосно располо 40 женных отверстиях 9, 10, 11 установленычередующиеся по крайней мере в двух парах осветителя 12 приемники 13. Отверстия9, 10, 11, образующие и принимающие световые пучки, перекрыты регулируемыми за45 счет резьбовой части 14 диафрагмами 15,подпружиненными относительно крышки16,В датчике также имеется оптоэлектронная пара 17 наличия изделий в зоне контро 50 ля состоящая, например, из расположенныхпод углом к опорной площадке основания 6осветителя 18 и приемника 19,Расстояние 1 между парами осветитель- приемник меньше наружного габарита диаметра иэделия.Регулировка. датчика на определенный допуск Л на высоту иэделия...

Способ размерного контроля деталей

Загрузка...

Номер патента: 1753234

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Червяков, Щербаков

МПК: G01B 5/00

Метки: размерного

...значенияразмеров А, В, С, О, Е, Г, В, К (фиг. 1 и 2), Результаты прямых измерений пяти заготовок(установочная партия) и результаты корреляционного анализа (коэффициенты 20 корреляции) парных сочетаний размеровсводятся в соответствующие таблицы. Полученные зависимости между размерами изображены на графе (фиг. 3), который описывается матрицей достижимости (фиг. 4), 25 После выполнения соответствующих процедур выделения обязательных строк, сокращения покрываемых строк, столбцов и решения неожидаемой матрицы по методу Петри для рассмотренного примера получе ны следующие варианты минимальных покрытий: г 5 При составлении технологии контроляостальных заготовок данного наименования технолог может выбрать любой из этихвариантов,Таким...

Устройство а. в. махортова для измерения длины материала

Загрузка...

Номер патента: 1753235

Опубликовано: 07.08.1992

Автор: Махортов

МПК: G01B 5/04

Метки: длины, махортова

...изоблоемкости уства зксплуатац ретения - уменьшение металройства и повышение удобстии,ель достигается тем, что лиа в виде гибкой ленты жеы, устройство снабжено щим механизмом, выполвух пружин кручения, устансвленных на противоположных концах ленты и закрученных в разные стороны.На фиг. 1 изображено устройство для измерения длины материала, общий вид, на фиг.2- видА на фиг.1; на фиг,З - вид Б на фиг. 1; на фиг. 4 - разрез В-В на фиг, 1,Устройство содержит стол 1 с базовой поверхностью 2. размещенную на столе 1 с возможностью перемещений параллельно базовой поверхности 2 линейку, выполненную в виде гибкой ленты 3 желобчатой формы со шкалой 4, средство 5 Для нанесения метки и средство 6 для ее Фиксации на материале 7, вал 8 для...

Индикаторный нутромер

Загрузка...

Номер патента: 1753236

Опубликовано: 07.08.1992

Автор: Габов

МПК: G01B 5/12

Метки: индикаторный, нутромер

...снабжен соосно установленной в корпусе и подпружиненной по оси дополнительной втулкой, закрепленной нэ ней клиновидной направляющей, размещенным в основной втулке подпружиненным по оси штоком, на торцах которого выполнены глухие осевые отверстия, и шариком, размещенным в одномиз"глухих отверстий штока и взаимодействующим с клиновидной поверхностью направляющей, а регулируемая измерителькая пятка размещена в другом отверстии штока,На фиг, 1 изображен нутромер, разрез; на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1.Индикаторный нутромер содержит корпус 1, нэ.котором закреплены индикатор 2 и втулка 3, ось которой перпендикулярна оси стержня 4. установленного в корпусе 1 с возможностью осевого перемещения, Во втулке 3 соосно с одной стороны установлены...

Способ измерения формы поверхности детали

Загрузка...

Номер патента: 1753237

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Абубекеров, Баранов

МПК: G01B 5/20

Метки: детали, поверхности, формы

...операций; ускоренный подвод 10 15 20 25 30 35 40 измерительной головки к детали, торможение и медленный подвод головки к детали до контакта с нею щупа, затем отвод головки и выход на новую точку с повторениемвсего ряда выше описанных оп раций, чтб снижает производительность измерений.Цель изобретения - повышение производительности измерений.Указанная цель достигается эа счет того, что выбираютдополнительную систему координат измерительной головки КИМ, оси которой параллельны соответствующим осям координат КИМ или совмещены с ними, определяют положение точек поверхности в дополнительной системе координат, апри определении Формы поверхности учитывают алгебраическую сумму одноименных координат точек в обеих системахкоординатВ предложенном...

Устройство для измерения отклонения формы внутренней поверхности экрана кинескопа

Загрузка...

Номер патента: 1753238

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Верховская, Верховский, Карасев, Никифорук, Сапожков, Чекмарев

МПК: G01B 5/20

Метки: внутренней, кинескопа, отклонения, поверхности, формы, экрана

...на фиг. 5 - то же, вид сбоку на фиг. 6 - разрез А-А на фиг. 5; на фиг. 7- фрагмент узла базирования экрана; на фиг, 8 - разрез Б-Б на фиг. 7.Устройство для измерения отклонения формы внутренней поверхности экрана кинескопа содержит корпус 1, шарнирно связанную с ним штангу 2 с измерительным преобразователем 3, привод перемещения штанги (на фиг. не показан), узел базирования экрана, выполненный в виде комплекта из трех параллельных плит 4, одна из которых жестко соединена посредством стоек 5 с корпусом 1. вторая установлена с возможностью перемещения в плоскости, параллельной первой плите, а третья плита установлено с возможностью перемещения в плоскости, перпендикулярной второй плите, и упоров 6, установленных на третьей плие с...

Способ контроля детали с конической поверхностью

Загрузка...

Номер патента: 1753239

Опубликовано: 07.08.1992

Автор: Гликин

МПК: G01B 5/24

Метки: детали, конической, поверхностью

...котором его диаметр равен номинальному Оном диаметру конуса .в основной плоскости, определяют минимально допустимый Омин и максимально допустимый Омакс диаметры годного по базорасстоянию конуса, измеренные в основной плоскости,: На фиг. 1 изображена принципиальнаясхема, поясняющая реализацию способа контроля детали с конической поверхностью; на.фиг.2 - принципиальная схема устройства для осуществления способа.На иг. 1 обозначены: Е - базорасстояние конуса, + Л - допускаемое отклонение базорасстояния, Оном - номинальный диаметр конуса, Омон - минимально допустимый диаметр годного по базорасстоянию конуса, Оэ - максимально допустимый диаметр годного по базорасстоянию конуса.Устройство содержит корпус 1, в котором закреплен рычаг 2,...