G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Приспособление для нанесения на план точек и сплошных линий по двум перекрывающим друг друга аэроснимкам

Загрузка...

Номер патента: 16428

Опубликовано: 31.08.1930

Авторы: О-Во, Фотограмметрия

МПК: G01B 11/30

Метки: аэроснимкам, линий, план, точек, двум, перекрывающим, нанесения, друга, друг, сплошных

...получается механически помощью прямой засечки двумя направлениями, лежащими в соответствующей плоскости снимков и исходящими из надлежаще выбранной на каждомснимке постоянной точки (полюс проекций), Для этого над или под . каждым сйимкомНанесение какой-нибудь линии на снимке,например, дороги, не по отдельным точкам, а непрерывным черчением, при би. нокулярной работе достигается простодвижением этой точки пересечения тонких шгрихов вдоль по определяемой линии, напр, дороге, путем соответственного движения пишущего прибора. Вместо этих штрихов можно устроить способные перемещаться в направлении линеек с и Ы визирные марки, которыейогут быть приведены в пространствен-ное совпадение с любой точкой пространственного изображения,Упомянутые...

Прибор для измерения зернистости, шероховатости и структуры матовых поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 38801

Опубликовано: 30.09.1934

Автор: Бурмистров

МПК: G01B 11/30

Метки: матовых, структуры, прибор, поверхностей, зернистости, шероховатости

...от требующегося рода освещения. В боковой трубке Т имеются два щелевых выреза, в первый из которых вставлен диференциальный растр Й так, что его плоскость параллельна оптической оси объектива О и находится в фокальной плоскости оку ляра Ок, лучи в который от растра попадают благодаря отражению от зеркальца Яр. Поэтому глаз наблюдателя одновременно видит сетку растра, освещенного лампочкой Ь через серый нейтральный клин К, вставленный во второй щелевой вырез боковой трубки Т, н в середине поля сетки растра изображение поверхностного слоя или поверхностиПодбирая теперь одинаковую освещенность центра и периферии рассматриваемого поля при помощи перемещения серого нейтрального кли. на К, можно диференциальный растр Я подвести, перемещая...

Оптическое приспособление для испытания материалов на шероховатость

Загрузка...

Номер патента: 41728

Опубликовано: 28.02.1935

Авторы: Ивановский, Лосев, Алексеев

МПК: G01B 11/30

Метки: оптическое, испытания, шероховатость

...3 для испытуемого изделия, перегаешаемую по направляющим 4. В эадней части основания 1 имт ется неподвижная стойка 5, несущая планку 6, конец которой, расположенный над испытуемым изделием, снабжен псворотным угловым рычагом 7; нижний конец рычага 7 снабжен острием, соприкасающимся с поверхностью испытуемого изделия, а верхний несет зеркало 8, служащее для отражения пучка лучей источника 9 света на светочувствительную бумагу, укрепленную на врашаюп;емся барабане 1 О. Для испытания качеств, например, строганой илн шлифованной поверхно сти дереьянных изделий, как например шпона или фанеры, испытуемые изделия укладываются В зажнмную 11 ло.щадку 3; затем на псверхно;ть изде, лия устанавливают остри: рычага 7, При этом пучок лучей...

Прибор для съемки профилей поверхностей сложной формы

Загрузка...

Номер патента: 60103

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Журавлев

МПК: G01B 11/30

Метки: профилей, прибор, съемки, формы, поверхностей, сложной

...8 происходит попеременно путем автоматического сцепления их с вращающейся шестерней 6 через посредство реле, включенного в цепь фотоэлемента.При пуске прибора коллиматор 2 устанавливают так, чтобы падающее от него на поверхность снимаемого объекта А световое пятно Б занимало возможно крайнее левое положение. Когда при вращении оптической трубы это световое пятно спроектируется по оси трубы 7, свет от него попадет на фотоэлемент, который автоматически осуществит расцепление червячного колеса 6 от оптической трубы и сцепление его с траверсой 1, вследствие чего свето. вое пятно начнет перемещаться.Как только световое пятно уйдет с оси оптической трубы 7, фотоэлемент перестанет действовать, вследствие чего произойдет расцепление чеовячного...

Оптический профилограф

Загрузка...

Номер патента: 63183

Опубликовано: 01.01.1944

Автор: Аммон

МПК: G01B 11/30

Метки: профилограф, оптический

...зрительную трубу и сходятся в главном фокуселинзы.Движения держателя 3 иглы через промежуточный рычаг 4, снабженный шаровой опорой для указанного держателя, 3 и качающийся на стойке 5, передаются держателю 6 подвижного зеркала 1.Ксоответствующей шаровой опоре на рычаге 4 держатель 6 прижимается пружиной 7.Настройка прибора на ту или иную точность показаний осуществляется при помощи винта 8. Перемещая винтом стойку 5 вправо. одноврвменно укорачивают левое плечо промежуточного зеркала благодаря чему повышается точность показаний. При обратном перемещении стойки дают прибору более грубые настройки.Предлагаемое встречное расположение,рьчага 4 и держателя 6 имеет то преимущество, что перемещением при помощи винта 8 стойки 5, несущей...

Профилограф

Загрузка...

Номер патента: 66805

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Левин

МПК: G02B 27/24, G01B 11/30, G01D 5/30 ...

Метки: профилограф

...целесообразно производить съемку нескольких кривых на одном и том же куске фотобумаги, за счет смещения после каждой записи светового луча на другой участок бумаги.Запись профиля на новом участке поверхности пр.и обычном пружинном шарнире осуществляется за счет добавочной деформации пружин рычага, чтьо и изменяет исходное положение щели в вовом месте на барабане. Эта добавочная деформация пружин увеличивает нагрузку на иглу, что иногда ведет к разрушению поверхности образца.Для осуществления указанного смещения луча, без создания дополнительной,нагрузки мглы на исследуемый образец, служит дополнительное зеркало 10 (фиг. 1 и 2), которое при помощи микрометричеакого винта 11 мож 1 но поворачивать на любой угол, например, из...

Микроскоп для определения качества поверхности

Загрузка...

Номер патента: 66974

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Линник

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: микроскоп, поверхности, качества

...поверхностью.Отличие предлагаемого микроскопа от ранее известных состоит в том, что для возможности изучения тонкой структуры поверхности объектив микроскопа снабжен интерференционной насадкой, выполненной по схеме интерферометра Майкельсона.Устройство насадки изображено на фиг, 1. Насадка содержит два зеркала: зеркало М состоящее из двух склеенных плоскопараллельных пластинок, одна из которых имеет полупрозрачный слой на склейке., и зеркало М, с наружным отражающим слоем.Пучек лучей, вышедший из источника света 5, частью отражается от разделительного зеркала М,. попадает на объект А, отражается от него обратно и попадает в микроскоп через объектив О. Часть пучка, прошедшая через зеркало М, .отражается затемМа и, снова отразившила М,...

Интерферометр для контроля качества поверхности, например слюды

Загрузка...

Номер патента: 70371

Опубликовано: 01.01.1948

Авторы: Парфианович, Мецик

МПК: G01B 9/02, G01B 11/30

Метки: слюды, интерферометр, поверхности, например, качества

...горенияотл ич аюральная часполнена враструба вустье возду Г 1 а чертеже изой продольныйтй газовой гор вертикаль- предлагаеобразуетсяв канал 4асьваемогонал. Дополозд шиапоступаи воздухвхода в Газо-в из газа, горелки газом " Предметом изобретегазовая горелка дляи тому подобного с эидополнительного возгорения газо-воздушноОтличительная особки в том, что централкрышки выполнена вобразного раструба, вположено устье воздутрубки иия 5 вл 5 етс 5 плит, таганов сектированием духа в зону й смесью.енность горельная часть ее виде конусокотором расхоподводя щей бражен разрезсмесь ющего а, при этот ка бдительный воздушно устье 3 конусообр ной частиБлагода коэфициен релки уве тоздух эжектируется газо.смесью через трубку 1, которой расположено в зном...

Прибор для определения качества поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 71052

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Беркович

МПК: G02B 5/04, G01B 11/30, G02B 1/10 ...

Метки: поверхностей, прибор, качества

...глаз няолюдятеля, Свет падает на хятовую товерхност, кятстя 6 р)1 змы 1. Окуляр 2 служит для увеличения изображения рассматриваемой картины контакт 1 ых участков,слсия и К ь сл( жят л 5 КО 11 чс(т 1 01010 0 СЕст (1105(я (0 тактных мсст, освещенных диффузным светом, приходяпЕихся на одно деление икалы. По числу штрихов, приходящихся ня единицу длины шкалы, можно суЧить о степени шероховатости исследуемой поверхности детали.;ег)я использования прибора при контроле образуюшпх внутренИК конических и,ш цилиндрических поверхностей, а также плоскостей, Гипотенузной грани призмы 1 может быть придана, напр мер, сферическая илп цилиндрическая форма,0 ",)х 0 ст. 0 дг(е)кьс Обсг) "ЛОВЕи 110 должны ь ( ЕолОт 0сбсзжирспы и обезвожены,Ъъ 71052...

Интерференционный способ наблюдения микропрофиля поверхности в заданном ее сечении и прибор для осуществления способа

Загрузка...

Номер патента: 72947

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Линник

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 17/06 ...

Метки: сечении, микропрофиля, интерференционный, наблюдения, прибор, поверхности, способа, заданном

...окуляром О. Если окуляр О будет установлен таким образом, что в него будут четко видны изображения щели 5 без цилиндрической линзы С, или, иначе говоря, лучи, исходящие из точек 5 а и лежащие в плоскости, проходящей через ось цилиндрической линзы С, будут давать изображения в предметной плоскости окуляров О, то интерференционная картина, наблюдаемая в окуляр в каждом ее сечении плоскостью, перпендикулярной изображениям щелей 5, и 52, будет характеризоваться расстоянием со72947ответствующей точки Яз от некоторой постоянной плОскОсти. Если поверхность Т не будет плоской, то сдвиг центральной полосы будет пропорционален этому расстоянию. Иначе говоря, интерференционные полосы 1 будут извилистыми, а их форма будет воспроизводи 1 гь...

Прибор для исследования качества поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 74536

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Беркович

МПК: G01B 9/08, G01B 11/30

Метки: качества, прибор, поверхностей, исследования

...7,Изображения места контакта имеют вид темных пятен на светлом фоне, характеризующих нарушение полном внутреннего отражения местах контакта. редмет изобретения Прибор для исследования качества поверхностей, снабженный, призмой полного внутреннего отражения. контактирующей с исследуемой поверхностью, о т л и ч а ю щ и й с и тем, что, с целью получения места контакта исследуемой поверхности с призмой на экране, призма включена в оптическую схелу компаратора. Предметом настоящего изобретения является прибор для исследования качества ,поверхностей, снабженный призмой полного внутреннего отражения, контактирующей с исследуемой поверхностью.Устройство прибора поясняется чертежом, на фиг. 1 которого изображена конструктивная схема прибора;...

Фотоэлектрический прибор для определения качества поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 79966

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Рабинович

МПК: G01B 11/30, G02F 1/19

Метки: прибор, фотоэлектрический, качества, поверхностей

...лиизу 4 па светочувствительной поверхности фотоэ;семеита 5, включенного .о входнусо цепь усилителя переменного тока 6, имеосцего в выходной иоии измерите;сьиьи прибор 7, создается изображение поверхности растра 3, Изображение участка исследуемой поверхности па растре 3 приводится в непрерывное вращательное пли колебательное движение от носнтельно растра, например, при помони вращающейся призмы 8 или пары вращающихся клиньев, либо при помощи непрерывного движения самого растра 3.При отсутствии следов обработки исггседуеасо) поверхности псремс -Г.% .79966 В случае налнчпя следов обработк 11 т 1 оворх 11 остп 1 юз 1 п 1 кающее Г с 1 Я- эп с этим неравномерное распределение 51 ркост 11 пзооражепп 51 исследуемой поверхности, перемещающегося...

Микроинтерферометр

Загрузка...

Номер патента: 80251

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Захарьевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: микроинтерферометр

...применения оолеесильных микрообъективов, его интерферометрическая часть выполнена из двух плоских пластинок, разделенных слоем воздуха и расположенных параллельно или под малымуглом одна к другой.На фиг. 1 схематично изображенмикроинтерферометр с осветителемв разрезе; на фиг. 2 - ход лучей винтерферометре; на фиг. 3, 4 и 5 -различные варианты осуществления18 к интерференции света при помощи плоско-параллельных пластинок.Осветитель 1 (фиг. 1) отбрасывает луч света через микрообъектив 2 и интерферометр 3 на испытуемую поверхность 4, В зависимости от характера этой поверхности в картинной плоскости 5 будут наблюдаться ннтерференционные поло, сы в белом свете.Интерферометр 3 состоит из полупрозрачного слоя 6 и небольшого зеркального...

Способ исследования поверхности тканей, войлока, фетра и других волокнистых материалов и прибор для осуществления способа

Загрузка...

Номер патента: 81149

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Беркович

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, способа, тканей, исследования, волокнистых, других, войлока, прибор, фетра

...материала оыстро улетучиьающейся иммерсией с показателем преломления, близким к показателю преломления стекла призмы прибора.Не фпг. 1 и 2 приведены виды опор 1 ьх поверхностей различных тканей, полученных предлагаемым способом; на фпг. 3 - прибор, в ко. торо 1 прижимная пркия находится Вне корпмса прибора; ня фиг.4 - прибор, в котором прижимная пружина находится в корпусе прибора.В качестве иммерсионной жидкости для смачивания исследуемых участков тканей могут служить, например, чистый бензин, петролейный эфир и т. дПредлагаемый прибор для осу 1 цествзения описываемого способа ОтличаетсЯ теъ 1, что Он снабжен прпкпъной пружиной длЯ регулирования прижима испытуемого ъ 1 атериала к призме полного внутреннего отражения.Ткань...

Способ определения прямолинейности поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 89430

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Райский

МПК: G01B 11/30, G02B 27/60

Метки: поверхностей, прямолинейности

...а Р 6 г=-(аЬ) Я:и и 5(п 3- Пр том же направлении наблюдения й периоди. ,:;самой ОСГ 1 тки Р имеет ьажущ Ося ирину О +6 = (й+6) 51 п(г - : ),В реву,.Тяте получают наложение двух систем полос одной сиСТЕМЬ Л С СрИС,О:л Пг., - 6 г и Лру. Ой СИТЕМЫ Р С ПСриодО. й "; 6 Рслсдстэие рязлп Гя в псопод;х этих двух систем Гя,ГоженГс различно в разовх участиях .Яблюдяемо картин, В одних местах, где светлые полоси теневого ГзооряжеГя якоиЯльио зягоряживяОтея рвисткой,-, ,х и:рИа няпменьГГая (этп места кажутся теми,пи), а в други", мсстях. где светлые ГОлоскп изооряжеГия мянимяльно, экрянир 1 гОтея решеткой, Иирика Гх Яибольиа: (эти места кажутся светлмГ), Поэтому при пабл:одении видно чередование светлых и темных участко картины, ооразуюших...

Способ контроля криволинейных поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 87675

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Омельченко

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: поверхностей, криволинейных

...закрепленноГО неподвижно, В резу;ьтате этОГО н 1 фотоплСтинке воспроизводится кривая линия, соотвстствмющая п)офплю Сследхе)01 повеРхности. Возможность фотозаппс ПРОч)1 ЛЯ повеРхнОстсп, име 1 ощих сложну 10 конф 5 Гурацию, Обеспечиваетсч переменение) Издег 11 я и экран В направ,ении, перпРндпкулярном к и;Оско ти пдс 1 я и Отракени 51 луча.На фиГ. 1 схематически изО,)1)аКено строство, Обеспечиза 0 нее применение нового спос ба контроля 1:;)1;волс 1 ых поверхностей; на фиг. 2 - полученная кривая.На подвижном столе 1 закреплена контролируемая деталь 2, имеющая поверхность сложной конфигурации. На стойке 3 стола 1 смонтирована фотопластинка, служащая экраном 4. При помощи источника 5 света на контролируемую поверхность детали 2...

Прибор для контроля качества обработки поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 88231

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Бурмистров

МПК: G02B 21/14, G01B 11/30

Метки: прибор, поверхностей, качества

...в Г(Е) ТЯК, ч 10 11.: оптические оси образуют одииякои 1 С углы с нормалью исследуемй поверкиости.2. с 15 орма выполнения прибора д.(я ко)п роля качества ооработки поверулюстей по п. 1, отл ича)оп я 51 с 51 гс(1, 1 то фазовыс Глястии- КИ МИКРОСКОПЯ ВПОЛСИЫ СМС ИИЫ- ми и оптическая толщина изменя)опсик фазу элементов ик плавно измеястся от одного края к другому. редактор П. Ю. Мазуренк таидартгиз. Поди. к печ. 2717-1957 г. Об ьец 02 Министерства культуры Чувашской АССР. Зак. 4 р. Алатырь, типогр 113 ЬОДИТС 5 ПО СООТВСТСТВЮ(ЦСИ (1)ОР- муле,Фазовые пластинки о микроскопа выполнены смс)шыми и о(пичсска 51 то 11 ци 11 а 11 зме 151101 цик фазу Э,1 СМСИТОВ И.С П 11 ВПО 1 ЗМЕП 51 СГС 51 ОТ од(н)го края к друОму. Предмет изоорстеиия 1. Прибор для...

Способ измерения чистоты поверхности полированных стеклянных пластин

Загрузка...

Номер патента: 91859

Опубликовано: 01.01.1951

Авторы: Калинина, Курицкий

МПК: G01B 11/30, G01D 5/34

Метки: поверхности, чистоты, полированных, пластин, стеклянных

...тем, что пучок света направлен на контролируемую повсркность под углом, больППИ 5 1 Гла ПОЛНО 0 ВНТРЕННЕГО ОТДЯЖЕИ 51, ВС ЕДСТВЕ ЧСГО ООЛЬПЯ 51 ЧЯСТЬ света зеркально отражается и поглощается, я диффузно рассеиваемая часть улавливается фотоэлс 5 енто 1, помсп 1 енным за:роверяс:,ой пластиной.На сртеке изооря)епя скемя, и, лост 1) и) ощая предлягяс.;ы способ контроля чистоты повер.;ности стол 5 ппык пластин.Пчок сВстя От источника ), прокодя через кя ли)ятор 2 и кювст 5 с Иммет,)сОННО 1 Ткьдкость 0 ), па 1 ает под улом, Оольп 1 м уля поли)- Г 0 внутреннего отракени 51, на п 1)ове 1)яе.;110текл 5 пп,10 пластпн, -5.Зе)калыО Отрйткенпыи 01 и)ОВс 05 сОЙ ПОЯС)ост спет ПО;10- щается ловушкой 5., ,иффузно рассея)пгый свет улавлпвается...

Способ определения чистоты поверхности методом сравнения исследуемой поверхности с образцом

Загрузка...

Номер патента: 97370

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Саркин

МПК: G01B 9/04, G01B 11/30

Метки: методом, сравнения, поверхности, исследуемой, чистоты, образцом

...не отличит поверхность более низкого класса от поверхноспи более высокого класса.Сущность изобретения состоит в том, что предлагается сопоставлять не сами поверхности, а изображения интерференционных картин сравниваемых поверхностей.На фиг. 1 дана схема прибора для осуществления предлагаемого способа определения чистоты поверхно"ти; на фиг. 2 в по зрения окуляра.Две одинаковые микроинтерференционные системы Линника образуют на поверхностях образца а и контролируемой детали б интерференцианные картины, изображения которых сводятся через систему призм в поде зрения окуляра.Сопоставляемые детали - а - образец чистоты и б - подлежащая кантролю деталь - устанавливаются в приборе, состоящем из источников света в, эталонных зер 1 кал г,...

Интерференционная установка для проверки вогнутых параболических зеркал

Загрузка...

Номер патента: 97595

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Курицкий

МПК: G01M 11/02, G02B 5/30, G01B 11/30 ...

Метки: зеркал, параболических, интерференционная, вогнутых, проверки

...которого, отражаясь от проверюмой поверхности, параллельным пучком падают на объектив, в фокальной плоскости которого расположена полупрозрачная пластинка с точечным отверстием,Благодарзя гочечному отверстию ь полупрозрачном слое пластинкамивозннкаст когерентная сферическая волна.В случае общего или местного отклонения поверхности контролируемого зеркала от правильной параболической форьмы отраженныелучи проходят через пластиноку негомоцентрическим пучком, благодарячему когеоентная волна интерфергирует с осталцньэми лучами,Интерференнионная картина, соответствующая отклонениям отправильной геометрической фор 1 мы контро,.гиругмого параболическогозеркала, наблюдается либО непосед,",твенно, либо с номон 1 ью вспомогательной зрительной...

Фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности деталей

Загрузка...

Номер патента: 100065

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Постнов, Нурищенко, Папировский

МПК: G01B 11/30

Метки: фотоэлектрическое, поверхности, качества

...лу д П 1.уц ) булст ре:(:(5 т(.5 и .1 симост 0 т Т 051 ин и1 срхи- ст 11 31 отки. ( че,ЧО 1) с льиО, ,Гоциль лучи П прделяст рлзрешд 1 цук) с 1 с 6 Гост. си( те ы..Ь( илддет срсдций ровень отрдкдт(льцой способности, а лучкдк бы осматривает оГерхГост:и- готовки. Отряжсииые луш ( и П ти- ступают ил соотвстствующис фотоэлементы 5 и б, вклоченцые по диффсрсицидльной схеме.Световой пот 01(, исходяиий из )дцого источника 7, разделяется оптичсской системой 8 ца две приблизительно рлвцыс части (луч ( и П), Это иск;иочаст возможиыс погрсигнс. сти из-зд нестабильности работы источники се) , тяк клк ии)сс иие ицтисиГол и злуччия о 1 е о источники светл цс (Гас т изееия дпря)КЕГ 15 ЗЫОДЕ ф 1 Э 1 СМ(ИТОБ.1 сриод поступления импульсов определяется...

Прибор для исследования и контроля чистоты поверхности древесины

Загрузка...

Номер патента: 101037

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Бессонова, Буглай

МПК: G01D 5/04, G01B 11/30, G01B 9/04 ...

Метки: прибор, древесины, поверхности, чистоты, исследования

...6 осветителя с лампочкой 7, конденсатором 8 и об ьективом 9.Карета 4 в нижней своей части скреплена жестко с коробкои 10, имеющей две боковые стенки и дна с прорезью, через которую рассматривают исследуемого пс верхность. Внутри коробки 10 помещен механиз.1 для регмлир)в 11 ния положения ножа 11 (при приведенш. его в поле зрения микроскопа) при настройке прибора.Нож 11 (фиг. 2) шарнирно скреплен с качающейся на оси 12 рамой 13. Регулирование положения ножа при рассмотрещш профиля его тени на исследуемой поверхности осуществляется поворотом рукоятки 14, закрепленной на концс оси ), С осью 1 д жестко скреплена скоба 16, подведенная нижнси своей частью под фигмрные скооы 1/, м 13 еплен ые на пл;сости ножа 11.При повороте рукоятки 14 по...

Способ определения качества обработки стеклянной шлифованной поверхности

Загрузка...

Номер патента: 102321

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Городинский

МПК: G01B 11/30, G01D 5/26

Метки: качества, стеклянной, шлифованной, поверхности

...в Фокусе объектива (2), и прямоугольной призмы (3), наклоненной под углом 3 к горизонтальной плоскости для обеспечения заданного угла иддеция лучей света в 84. Перед объективом (2) рдсположгна црисоВл диафрагма ( ) дл цзгцсиц Величины иат;нищ 5 ца исследуемую поверхность эигрггти еского потока цзлучгцил. ПРок сВстд, Выходпццй цз коллимдтора, падает на цлиФовацную (исследуемую) поверхность, а отраженные от исо лучи попадают на прямоугольную призму (о), также наклоненную под углом 3 к горизонтальной плоскости, и собираются в Фокусе объектива (6) иа диаФрагме (7), за которой расположены двояковопутая линза (8) и сернисто-серебряный Фотоэлемент (9), сосдинсцнтдй со стрелочным гальвдцомстром (10). Для исключения рассеянного света между...

Сравнительный микроскоп

Загрузка...

Номер патента: 102349

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Егудкин

МПК: G02B 21/18, G01B 11/30

Метки: микроскоп, сравнительный

...раоположенпе эталонных поверхностей непосредственно в корпусе микроскопа позволяет защит 1 ггь эти поверхности от повреждений.Па Фиг. 1 представлена схема сравнительного микроскопа; на Фиг, 2 диск с эталонными поверхностями.Свет от электрической лампочки (1) разделяется полуссребряной пластинкой (2) на два потока. Один световой поток, .отражаясь от пластинки (2), падает на исследуемую поверхность, второй пр 9 ходггг сквозь пластинку (2) и освещает эталонную поверхность.Эталонная и исследуемая поверхности находятся в предметной плосгостп микроскопа, состоящего из обьектива (3) и окуляра (4); в этой же плоскости находятся диаФрагмы (5), которые позволяют видеть обе поверхности, разделенные в середине поля зрения окуляра. Эталонные...

Оптический профилограф

Загрузка...

Номер патента: 103948

Опубликовано: 01.01.1956

Авторы: Лозанский, Лактионов, Цейтлин, Мещярякой

МПК: G01B 11/30, G02B 7/22, G03B 5/04 ...

Метки: оптический, профилограф

...корпусом кдретки держдтелем (6). В зйвисимости от требуемой степени увеличения нд ооъгктпв Фотодипдрдтд надевают сменную )шсддочнуо линзу (с)Нод прямым углом к оптической оси Фотдиищ)дт(1 рйсиоложенд оптичсскдя ось шгветит(льного устройсГд, состоящего пз с)р(иеиного с опорной 1 гдмой осв(.тигс.я 1. в корпусе которого в штепсельных 1 И)зеткдх 1) и (30) устдндвлш)дстся трубгдтдя )дзид, (11) дневного свстд, Зд лдмиой рйспо;ожсн отрд;кдтсль (12), й исрсд ши иходится ирецизионндя щ,ль (1 ); и нижпсй части корпуса осветителя устдповленд цилиидрпческдя линзй (14),11)бь внеинсс Осв(иение (ВО Врся рйбог( днем при солнечном освсишши) нс ухудшало изобрджения светового сеч(иия: нд исследуемом учдстке повсрхио(ти, ь проФилогрдФс предусмотрено...

Оптический дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 104902

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Гаврилов

МПК: G02B 23/06, G02B 21/08, G01B 11/30 ...

Метки: оптический, дефектоскоп

...вверх и вниз. Для крепления всей системы лампового держателя на кожухе прибора служит зажимное кольцо 7 с внутренней резьбой.Ограничение всрпкального перемещения втулки 2 вниз осун 1 еств ляется гайкой 8, которая крепится на ней с помощью стопорного винта 9.Оптическая система 10 крепится в металлическом кожухе 11 и удерживается в нем с помощью конического ко ца 12.Оптическая система 10 составлгчш из сферического зеркального отражателя а, усеченного конического отражателя (зеркала) б с вклеенным в него полусферическим зеркалом (отражателем) в, и двояковыпуклойлинзочки а; все четыре детали склеены вместе и образуют один блок.Никня 51 поверхцость дефектоскоп 1 сыачи 1)ается соотвстствуОщсй и:51- мерсиоццой жидкостью и цак,ядь 1- вается на...

Устройство для определения неоднородности ткани

Загрузка...

Номер патента: 106677

Опубликовано: 01.01.1957

Авторы: Пашков, Качурин

МПК: G01B 11/30, D06H 3/08

Метки: неоднородности, ткани

...Ю (6 Н 9).11 ри осцещ.ции фогоэлемецтасв гов,л цтоком, проник;цоцимчс 1)3 1 ндць и целсвую дна 1)1)дГл 11, нд соцротив,ниях 11 Р;и Р 1 ио:)цикдет одинаковое пд.деие цир 1 кция, с,ц довдтельно,цд цх).1 усилителя (лдлИу 1 Г под 11 ся иулевой цосццил.11 ре)ультдге -)тпо ид соцропп).лсцичх 1 л и Кв дц)дцой цсиилдмиы 10 ц)дае Иап 1 яясцце и нддиодах лампы 1 Г) цет разности потсцццдлов,Лцод л 1 лИь 1 Г) через делительц 1 ц 1) 51)н с ц ц Л, состоя ц ц 1 и 3 со и ) отивлеций К-, и К, подклочены наВх)д л)оцгцоо дцчхтактц)ГО льходцого каскада нд лдмцдх 12 и 131 б) 13) с анодными ндруанами Р 9Так кдк разности потенциаловнд диодах лампы 1 Г) нет, то и насопротивлениях К и Во разностьпотенциалов также о гсутсвует,С.едователын), указатель 14 и...

Способ определения чистоты поверхности (шероховатости)

Загрузка...

Номер патента: 111923

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Квачева, Дручак

МПК: G01B 15/04, G01B 11/30, G01D 5/39 ...

Метки: чистоты, шероховатости, поверхности

...изображения реального профиля поверхности образца; на фиг. 2 - изображение реального профиля части образца; на фиг. 3 и 4 - электронограммы профиля поверхности шара после полировки и доводки; на фиг, 5, б и 7 - электронограммы профиля участка поверхности шарика после длительной эксплуатации.В предлагаемом способе исследования микрогеометрии поверхности образца любой конфигурации разработана схема применения приборас отраженным пучком электронов при включении только одной (второй) электромагнитной линзы.Схема применения прибора состоит из источника электронов 1, первой электромагнитной линзы 2, второй электромагнитной линзы Г, образца 4, пучка электронов б, экрана или фотопластинки б, На фиг. 2 представлено теневое...