Патенты с меткой «пленок»
Способ определения толщины пленок на подложке
Номер патента: 1682767
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Арнаутова, Ивонина, Ишутин
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, подложке, толщины
...в него люмогеном светло-желтым 564 К в концентрации 3 к сухому остатку. Для этого образцы из сплава Д 16 Т размером 50 х 50 х 2 мм, покрытые грунтовкой АК, взвешивают на весах и с помощью краскораспылителя покрывают составом ИВВСМ с введенным в него люмогеном. Причем покрытие составом осуществляют так, чтобы на каждом последующем нным данным строят калиброик (см. чертеж), из которого, иент яркости, можно опредепленки на микровосковой осной на грунтовку,о получей графкозффицолщинунанесен вочн зная лить ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛПЛЕНОК НА ПОДЛОЖКЕ(57) Изобретение относиной технике, а именно к Изобретение относится ной технике, а именно к защи от внешних воздействий факЦелью...
Установка для изготовления мешков из полимерных пленок
Номер патента: 1684078
Опубликовано: 15.10.1991
МПК: B29C 65/02, B29C 65/74
Метки: мешков, пленок, полимерных
...) на правляющих отверстилх верхних головок 28 скоб, Верхнле 28 и нижние 29 головки скоб разделяот г)ластинчатые пружины 30 с прорезями для прохода пуансонов 26. Пружины 30 служат Для с 14 ятия пленки с пуансоном во время подъема верхнеи траверсы, Кроме того, в нижних головках скоб 29 установлены шайбы 31, Верхний И и нижний 17 ножи, верхний 18 и нижний 19 нагреватели и пуансоны 2 б являюгся рабочими органами г ехацизмов резки, сварки и перфорации соответствегпо,Возврат верхней траверсы 8 в исходное положение Осуществляется силовым приводом 12 (пневмоцилиндром) посредством чатырехлинейного пневмораспределителя 32 с электромагнитным толкателем 33.Все механизмы сварочно-отрезного устройства 5 смонтированы на раме 7 сварной )...
Устройство для сварки полимерных пленок
Номер патента: 1684082
Опубликовано: 15.10.1991
Авторы: Моряков, Фикс-Шимель
МПК: B29C 65/18
Метки: пленок, полимерных, сварки
...обеспечивает возможность подъема и опускания сварочного инструмента, Во избежание преждевременного поворота инструмента при подъеме пневмоцилиндр 20 поворота жестко закреплен на шатуне 17.Тяга 1 б подвижно соединена со станиной 21, на которой установлен стол 2 ,о,ора), с которым подвижно связана гяга 18, Б столе 22 зацодлицо размещена эластичная подкладка 23, а также упор 24, покрыпгые антиадгезионной прокладкой 25.Нагреватель 1 имеет возможность удлинения при нагреве за счет перемещения ввернутых в него винтов 26 в пазах 27 основания 7, В нагревателе расположен нагревательный элемент 28,Устройство работает следу 1 ощим образом.Подлежащую сварке сложенную в два слоя и более пленку(пе псказапа) уклэдыва" ют на стол 22 до упора 24,...
Устройство для непрерывной сварки полимерных пленок
Номер патента: 1685741
Опубликовано: 23.10.1991
МПК: B29C 65/02, B29C 65/18
Метки: непрерывной, пленок, полимерных, сварки
...ЦОМ СО(.ЛИНС.ЦЦЫс П 1 арНи 1) ЦО 3 сЖ 1( соос)И 310. средством оси 17. 1 уп,)с 1 й рычг 15 име. ет паз 18 лля перемещения;3.Нки 6 11, горизоцтальцой оси 19 и,си 16 сос)олц( закреплен с возможцосгьк) цоцсрот ерхций Охлалитсль 7, пО;1 п рмжи 3(ец иый п 1 х жи пои )с), один коцс 3 которой закрс иле и ссбОЛ 3 и конце лвмплечего рычагО,;1 .(р) гой упоре 2 корпуса 1. Нижпий Ох.)ли Ге,)1, 8зжестко закреплен на корпусе 1. Охладители 7 и 8 выполнены из теплопроводного материала с обращенными одна к другой рабочими поверхностями Т-образной формы и шириной рабочей части, равной ширине сварного шва свариваемого материала.5Устройство работает следуюгцим образом.При включении привода (не показан) вращаются ведущие 3 и ведомые 4 ролики, приводящие в...
Измеритель параметров ферритовых пленок
Номер патента: 1686386
Опубликовано: 23.10.1991
МПК: G01R 27/04
Метки: измеритель, параметров, пленок, ферритовых
...проводников 10 и 12 на уголГа- агсщ , - =3 ГС 1 цдЬ 3 13 где А К - расстояние по шкале волновыхчисел между двумя соседними значениямипараметра затухания 2 Ь Нк; а - расстояниемежду соседними соединительными проводниками, При данном угле обеспечивается сдвиг между приемными антеннами 11,как и между передающими антеннами 8,Лравный . В результате разница длин.Кканалов МСВ составляет г= 2 . Ферритовая пленка не показана), параметры которой измеряются, накладывается на антенны8 и 11 либо непосредственно, либо черезтонкую прокладку из слюды, Магнитнаясистема (не показана), полюса которойрасполагают по торцам подложки 5, намагничивает ферритовую пленку вдоль антенн8 и 11,Измеритель работает следующим образом,СВЧ-сигнал, поступающий от...
Устройство для контроля электризуемости полимерных пленок
Номер патента: 1689885
Опубликовано: 07.11.1991
МПК: G01R 29/12, G03C 1/85
Метки: пленок, полимерных, электризуемости
...11, исходя из необходимого расположенияобразца 18, фиксируется фиксатором 23.Основной составной частью узла 3 электризации образцов является электризующий элемент, выполненный в виде свободно вращающегося валика 24 из нержавеющей стали, Валик 24 через подшипники качения прикреплен к двум держателям 25, находящимся на некотором расстоянии друг от друга, На нижней части держателей 25 имеется резьба, куда ввинчена регулирующаягайка 26, позволяющая изменять высоту подъема валика 24. Пружина 27, помещенная в цилиндр 28, через держатель 25 обеспечивает плотный контакт валика 24 с образцом 18. Держатели 25 установлены накаретке 29, совершающей возвратно-поступательные движения по направляющим стержням 30, прикрепленным к двум противоположным...
Способ получения тонких монокристаллических пленок
Номер патента: 1691432
Опубликовано: 15.11.1991
Авторы: Лавров, Попель, Спиридонов
МПК: C30B 13/24
Метки: монокристаллических, пленок, тонких
...падения луча на поверхность формируется высокосовершенный монокристалл куприта, рассеиваясь на котором, электроны формируют дифракционную картину, состоящую из непрерывных узких полос, свидетельствующих о наличии пакета плоскостей оксида, толщиной до 2,0 нм.На фиг. 1 представлена электронограмма на отражение от поликристаллической поверхности меди; а нафиг.2 - то же, от полученной пленки Сц 20; на фиг. 3 - электронограмма.П р и м е р 2. По методике примера 1 получен монокристалл германия на поверхности германия. Высокое качество кристалла подтверждается не только наличием тонких полос на электронограмме, но и Ки,ИГКРГг гС изводственно-издательский комбинат Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 кучи-линиями, указывающими на ориентацию...
Способ неразрушающего контроля намагниченности насыщения магнитных пленок
Номер патента: 1691796
Опубликовано: 15.11.1991
Авторы: Матковский, Михалевич, Скицкий, Убизский, Червинский
МПК: G01R 33/05
Метки: магнитных, намагниченности, насыщения, неразрушающего, пленок
...расположенной в плоскости пленки, Цель изобретения - повышение точности измерений - достигается тем, что переменное магнитное поле направлено в плоскости пленки, а регистрацию переменной составляющей оптического сигнала проводят при использовании тангенциального магнитооптического эффекта. 2 ил,нитное поле прикладывают В плоскости пленки с амплитудой, в 2-3 раза превышающей коэрцитивную силу материала пленки, и регистрируют переменную составляющую тангенциального магнитооптического эффекта - экваториального или меридиональ- ф ного эффекта Керра при использовании 0 с отраженного света или эффекта Фогта при 0 использовании прошедшего света,вювгЪЗаказ 3926 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям...
Устройство для получения пленок композиционных материалов
Номер патента: 1694411
Опубликовано: 30.11.1991
Авторы: Богомолов, Гулиш, Дикова, Поландов
МПК: B29C 71/04
Метки: композиционных, пленок
...протяжки лентопротяжного механизма. 1 ил. ин к другому распылитель 7 и элекалик 9 со вторым ленточным электи вальцы 11 для формирования ионной пленки, Устройство содеру 12 для расплавления полимера и ый стол 13, нагрев которых осущея на"ревателем 14. Все механизмы кожухом 5. Напряжение на элект и 10 подается от источника 16 Готовая пленка наматывается на и барабан 17.ойство работает следующим обраектродвигателя (не пока- в движение лентопротяж1694411 ЗпВкт пипоьицисннай ный механизм 1, На гибкую металлическую ленту, являющуюся первым ленточным электродом 2 и находящуюся под отрицательным потенциалом, с помощью вальцов 4 наносят из ванны 12 расплавленный пол имер, После этого металлическая лента с нанесенной полимерной пленкой...
Шликер для изготовления керамических пленок
Номер патента: 1694499
Опубликовано: 30.11.1991
Авторы: Озолиньш, Паукш, Раман, Шперберга, Экманис
МПК: C03C 8/16, C04B 41/86
Метки: керамических, пленок, шликер
...образования покрытия 880-910 С, термический коэффициент линейного расширения 7 - 7,9,1/град.О, полуматовость6покрытия, показатель соответствующего блеска 25 - 30, доминирующий тон цвета 550 - 570 нм;чистота тока 25-30 ь, яркость пленки 30 - 50 фО, 2 табл.. Сц 00, - 02.Шликер для изготовления керамических0 пленок готовят совместным помолом кампо- О нентов в шаровой мельнице, куда загружа Ъь ют все составляющие компоненты, Глину, фь стекловидный продукт и отходы отрабо н- сО ного катализатора применяют в виде оз- Я .душно-сухого порошка, а карбоксиметилцеллюлозу - в виде концентрированного раствора при добавлении к составу шликера по массе, Помол в шаровой фмельнице проводят до тонины шликера, обеспечивающей остаток на сите М 0056 в...
Способ получения высокопрочных, высокожестких полиэтилентерефталатных пленок и нитей
Номер патента: 1694723
Опубликовано: 30.11.1991
Авторы: Марихин, Мясникова, Ульрих
МПК: D01F 6/62
Метки: высокожестких, высокопрочных, нитей, пленок, полиэтилентерефталатных
...вытягиван ное натяжение) в этой с о 0 вМПа. После реализа ного вытягивания, услов падают с принятым в нас промышленности для вто стадийного вытягивания, ния Е-модуля - Е = 10,4 Г прочности - аР = 0,728 Роувег Ргерг. Аеег. СЬ 1979, 778),Однако свойства получаемых изделийнедостаточно высокие. Цель изобретения - повышение разрывной прочности и модуля упругости.1694723 формула изобретения Условия П име 1 ста ия 2 стд ия Температура вытягивания Тв, К (С)Натяжение при вытягивании,сгов, МЛа 323 (50) 15Кратность при вытягиванииЯЕ - модуль, Е ГПа (начальный тангенциальный модуль)Разрывная нагрузка анагр., ГПа (измеренная при Т - 77 КТемпература вытягивания Тв, К (С)Натяжение при вытягивании,сг, МПа 4,1 10,2 15,5 0,75 . 34 (68) 15Кратность при...
Способ определения оптических параметров тонких пористых пленок
Номер патента: 1695183
Опубликовано: 30.11.1991
Авторы: Леонова, Окатов, Толмачев
МПК: G01N 21/43
Метки: оптических, параметров, пленок, пористых, тонких
...значение показателя преломления пористой пленки в вакууме или в условиях заполнения пор сконденсированным веществом;п 1 - принимается для пустых пор равным показателю преломления вакуума (п 1=Ц, а для заполненных - равныы показателю преломления в жидком состоянии сконденсированного вещества для данной длины волны Л,Использование двух и более равнений (1) для соответственно двух и более измере-, ний (до и после заполнения пор соответстцующим веществом) позволяет найти два неизвестных показателя; пористссть - о и истинный показатель преломления матери ала пленки - пист.Изобретение может быть применено для широкого диапазона пленок, подложек и конденсирующихся веществ. Измерения параметров поляризации отраженного из луцения позволяют...
Способ получения металлических пленок
Номер патента: 1696111
Опубликовано: 07.12.1991
Авторы: Мазур, Руфанов, Шпортко
МПК: B22D 11/06
Метки: металлических, пленок
...расплава на образующую диска; Л- толщина пленки, мм; т- время работы плунжерного устройства, с; б - диаметр камеры плунжерного устройства, мм; Н -3 рабочая высота камеры плунжерного устройства, мм; 0 - диаметр кристаллизатора, мм; т - . ширина пленки, мм. 1 табл. В работе использован рабочий элемент, изготовленный из меди. Рабочий элемент охлаждают воздухом через форсунки. Посредством дозатора порцию металла впрыскивают графитовым плунжером.Таблица показывает изменение толЩины пленки в зависимости от угла подачи расплава на образующую рабочего элемента, его числа оборотов и времени работы дозатора. При углах подачи расплава 80 повышается качество пленки, что обусловлено действием центробежных сил и противодействующими силами инерции...
Раствор для удаления оксидных пленок с поверхности титана и его сплавов
Номер патента: 1696583
Опубликовано: 07.12.1991
Авторы: Анохин, Волейник, Нестеренко, Огнев, Портнова, Скрыпнюк
МПК: C23F 1/26
Метки: оксидных, пленок, поверхности, раствор, сплавов, титана, удаления
...натрия 1-1.5; перекись водорода 20-30, Снижение потерь титана достигается за счет дополнительного введения в состав раствора перекиси водорода. 1 табл. нюю очередь производят загрузку расчетного количества фтористого натрия.Окалину удаляют со стружки титана и его сплавов, образующейся в процессе фрезеоования итокарной обработки слитков и других видов заготовок, Температура окисления составляет 500 - 800 С, Максималь ная толщина неотслаивающейся оксидной ЯЬ пленки 35 мкм.(дНекондиционную стружку сплава ТС0 р массой 50 г обезжиривают, промывают горячей и холодной проточной водой и загружают в травильную ванну с температурой 550 С. Процесс проводят при постоянном перемешивании травильного раствора в тече- ф ние 25 мин, после чего...
Устройство для получения металлосодержащих пленок из паров химических соединений
Номер патента: 1700097
Опубликовано: 23.12.1991
Авторы: Горбунов, Персиянцев, Соцков, Сыркин, Толмасский, Уэльский, Францев
МПК: C23C 16/458
Метки: металлосодержащих, паров, пленок, соединений, химических
...конструкИп апггарата имеет ряд отличий От известага; дерхатель выполнен в виде стержня; с прогивапалажных сторон ат Оси-дермател 51 Стерм 1 я, 1 араллэльна плоскостям;.,Иска-под, О 5 кки установлены нагреватель и питатель паров металлсодерм(аших соединении,Мож 1 о предположить, чта Граисхадит более усредненный равномерный нагреь всей поверхности Гюдлокки за сет радиа- ционннОГО и канВекциОннога потоков Г 1 ри многократном прохождени:. диска-подложки через нагреватв 1 ь.Используемый как в извет 1-Ом, так и В бытующей практике резистивный кантактнь:й нагрев падло 5 кек ва всех без исключения случаях неспособен Обеспечи 1 усреднения скорости теплова" го движения элекгронов и равномернога 5 15О 28 Я 5 35 40 50 55 пс)огрева в силу...
Способ контроля качества резистивных пленок на диэлектрических подложках
Номер патента: 1702270
Опубликовано: 30.12.1991
Автор: Ряхин
МПК: G01N 24/00, H01C 17/00
Метки: диэлектрических, качества, пленок, подложках, резистивных
...равной разности ТКС, измеренных после и до термооб работки,чала проводят измерение сопротивления заготовок йь армированных контактными узлами, при комнатной те.пературе+25 С, а затем нагревают их до температуры на 100 С выше комнатной, т.е, до +125 С, и, проводят второй замер сопротивления Й 2, а затем по формуле определяют ТКС:2 1ТКС = Т = (Тнагр - Ткомнат) Эту же или другую выборку образцов из изготовленной партии термообрабатывают при температуре 150-350 С.Проводить термообработку и редпочти-. :тельно при температурах 150-350 С, так как при увеличении температуры до 400"С и выше разница между значениями ТКС пленок с хорошей адгезией и с неудовлетворительной будет уменьшаться, т,е, чувствительность способа будет снижаться.После...
Способ модификации поликапроамидных волокон и пленок
Номер патента: 1703724
Опубликовано: 07.01.1992
Авторы: Аржаков, Бакеев, Бондарев, Волков, Волынский, Копаева, Селезнев
МПК: C08J 7/12, D01F 11/08
Метки: волокон, модификации, пленок, поликапроамидных
...воздухе при 155 С в течение 0,2 ч. В остальном обрабатьвают попримеру 1, Результаты приведены в табл.1иЗ,П р им в р 6. Образцы изотропной 45поликапроамидной пленки толщиной 8090 мкм и ориентированного поликапроамидного волокна диаметром 100-130 мкмпомещают в избыток 0,5 о -ного водногора:твора пироквтехина (5 г/л) и еыдерживают в этом растворе в течение 3 ч при 95 С,работанные раствором образцы помещают в стеклянный сосуд продолговатойформы, с одной стороны соединенный с источником газообразного формальдегида, а сдругой - с гидравлическим затвором, Сосудс обрабатываемыми образцами помещают втермоствтируемую камеру. Через этот сосудпропускают поток газообразного формальдегида, образующегося при разложении параформа при 150 С.Обработку...
Устройство для испытания эластичных пленок
Номер патента: 1704020
Опубликовано: 07.01.1992
Авторы: Нагибин, Тусупов, Чижиков
МПК: G01N 3/12
Метки: испытания, пленок, эластичных
...пленки и при помощи кольца 6 прижимают его к дну 2. Дно 2 ввинчивают в корпус 1, Под действием давления среды на образец 8 через отверстия 7 происходит выдавливание материала образца в отверстия 4, при этом происходит фиксация сбразца 8. 1 ил. размещен между дном 2 корпуса 1 и ко;ьцом 6. Дно 2 и кольцо б вь полне:ь с р. оятками 9 и 10. Источн . давлении на чертеже не показан соединен с кс. .сок;патрубком 11. а средство 12 измеое" г;еления - г 1 а;изком 13Устройство работает следую .: :,азам.Острой кромкой 5 дна 2 вырезают образец 8 исследуемой пленки и при помощи кольца 6 прижимают его к дну, Дно 2 ввинчивают в корпус 1, По патрубку 11 в корпус 1 от источника подают рабочую среду под давлением. Под действием давления среды на образец 8...
Способ изготовления мишеней, преимущественно керамических, для получения напыляемых пленок
Номер патента: 1704920
Опубликовано: 15.01.1992
Автор: Пастощук
МПК: B22F 3/12, C23C 14/34
Метки: керамических, мишеней, напыляемых, пленок, преимущественно
...алюминия и нитрида апюии .1 я в раствор добавляют 53 1704920 А 1(5)5 В 22 Е 3/12, С 23 С 14/34 ДЛЯ ПОЛУ МНОК(57) Изобретение относится к пометаллургии, Целью изобрегенияобеспечение люл 1 инесцентностиемых пленок. Предлагаемый сключается в том, что порошки алнитрида алюминия смешивают (5 миния, остальное нитрид алюминчивающей порошки и легко испажидкости, содержащей хлоридзатем проводят сушку, прессовани спекание при 660-700 С в заГл 1 осфере. спирт, В полученный раствор засыпают порошки нитрида алюминия и алюминия. Образованную суспензию перемешивают, В результате жидкость смачивает, обволакивает поверхность частиц алюминия и нитрида алюминия, а растворенный хлорид марганца равномерно распределяется по обьему порошка. После сл 1...
Устройство для контроля толщины пленок, в процессе напыления осаждением в вакуумной камере многослойного оптического покрытия
Номер патента: 1705700
Опубликовано: 15.01.1992
Авторы: Александров, Кацнельсон
МПК: G01B 11/06
Метки: вакуумной, камере, многослойного, напыления, оптического, осаждением, пленок, покрытия, процессе, толщины
...дорожкой 3 модулятора 2, а излучение, прошедшее оптический канал сравнения - кодирующей дорожкой 4,Выделяемый блоком 32 монохроматизации поток излучения с длиной волны Ао подается в фотоприемную систему 33, которая содержит фотоприемник, например фотоэлектронный умножитель либо фоторезистор, усилитель, АЦП и временной селектор каналов (ВСК), Фотоэлектрический сигнал усиливается и после АЦП в цифровом виде поступает в ВСК, расположенный на выходе фотоприемной системы 33, Кроме того, на два управляющих входа ВСК подаются опорные сигналы с ГОН 5 и 6. Сигналы с ГОН 5 совпадают по фазе с сигналами, снимаемыми с фотоприемника при попадании на него лучистого потока. пропущенного образцом 22 с контролируемой пленкой. Сигналы с ГОН 6 фазированы...
Способ вакуумного нанесения тонких пленок
Номер патента: 1708919
Опубликовано: 30.01.1992
Авторы: Закутаев, Исаков, Ремнев
МПК: C23C 14/46
Метки: вакуумного, нанесения, пленок, тонких
..., тонких пленок, При этом подложку можно размещать на небольшом расстоянии от мишени, что в свою очередь сокращает время осаждения и увеличивает скорость осаждения пленки. Нижний пре" дел плотности мо 4 ности пучка определяется как необходимый для испарения 35 мишени на глубину пробега ионов, ниже которого снижается эффективность плаз" мообразования, и соответственйо качество пленок.Для того, цтобы уменьшить потери энергии за счет теплопроводности необходимо, цтобы длина пробега ионов 1 е,была больше или сравнима с расстоянием, на которое распространяется тепловая волна за время действия импульса йц, так как:ф1 о г (ф("Й) (1) 19,"ЪП р и м е р. Для распыления использовали мишени из кадмия и меди..В таблице приведены рассчитанные...
Способ получения пленок на основе углерода
Номер патента: 1710596
Опубликовано: 07.02.1992
Авторы: Мовчан, Патон, Стеценко, Чуйков
МПК: C23C 14/32
Метки: основе, пленок, углерода
...ванну, для чего на расходуемой поверхности графита расплавляют навеску, содержащую вольфрам и/или молибден, при этом образовавшийся расплав исполь зуют в качестве термокатода дугового разряда. Наличие расплава на расходуемой поверхности графита способствует образованию интенсивного и равномерного пэрового потока углерода, вследствие 10 растворения графита в расплаве и последующего преимущественного испарения углерода из расплава в силу разницы в упругости паров углерода и материала расплавляемой навески. Кроме того, 15 вследствие конвективного перемешиваниярасплав имеет высокую и практически одинаковую температуру по всему объему, что в сочетании с высокими эмиссионными свойствами расплава способствует поддер жанию сильноточного и...
Способ наклеивания пленок на цилиндрическую поверхность предметов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1712254
Опубликовано: 15.02.1992
Авторы: Карташов, Оборовский, Троицкая
МПК: B65C 9/25
Метки: наклеивания, пленок, поверхность, предметов, цилиндрическую
...лежащей на поеерх-, движениебарабаном,проходитпе 1 йдаппа- Зб ности рабочего стола, Для уменьаения ратом, который наносит клей иа ее обрат- деформациииповрежденивплеаиприееуеную сторону.лэдывании на опориуа.поверхность центрТаой способ наклеивания не щиеоден оси рычагов с. закеатами также должен надля йаклеивания особо тонкой пленки, так икаться ка плоскости, лежацей на поверхкак прикосновение к пленке иудержаниеее 40 йостьг рабочеге .стола. Кроме. того, для на круговой колодке разрежением.неизбеж- уменьаения деформацмм и повреждения но вызываютее разруаение пленкм необходимо, чтобы размеры оконИзвестен также способ (и устройсТво) (если они имеются) в рабочем столе были нанесения пластиковой этикетки на емко- бельае...
Способ получения сверхчистых пленок и устройство для его осуществления
Номер патента: 1712474
Опубликовано: 15.02.1992
МПК: C30B 23/02
Метки: пленок, сверхчистых
...границе, Моноэнергетические ионы с массой Мо после отклонения в поле продолжают двигаться в виде параллельного пучка, Если пучок на выходе из магнитного поля пропустить через продольные каналы коллектора 10, образованные тонкими металлическими перегородками, то на подложку попадут только ионы с массой Мо. Ионы с отличными от Мо массами из-за движения по свертывающимся М 1 Мс) и развертывающимся (МоМ 2) спиралям не пройдут через узкие каналы, Разрешающая способность такой системы определяется соотношением ширины одиночного канала к его длине, Известно, что подобные устройства позволяют создать анализаторы большой светосилы, что важно для обеспечения практически приемлемых скоростей осаждения пленок. Заметим также, что в установке...
Способ контроля периода доменной структуры феррит гранатовых пленок
Номер патента: 1714679
Опубликовано: 23.02.1992
Авторы: Дружинин, Краснов, Лунин, Юрченко
МПК: G11C 11/14
Метки: гранатовых, доменной, периода, пленок, структуры, феррит
...рассеяния обьектива 4 и окуляра 6обозначены соответственно как 1 й ФКак известно, предельный или граничный период бг пространственной структуры,освещаемой монохроматическим светом сдлиной волны А через конденсатор с апертурой Ак и наблюдаемой через объектив сапертурой Ао, определяется какАб =.+цгде и - относительный коэффициент пре-.ломления света иммерсионной среды, за-,полняющей пространство между ФГ, пленкой 1 и объективом 4.При приближении периода наблюдав; 5мой структуры к граничному (б бг) падаетконтраст изображения структуры, что связа-.но с изменением структуры оптическогосигнала, проходящего через объектив.Как известно, амплитуда оптического 10поля Я(х), которым освещается исследуемаяпространственная структура с...
Измеритель толщины диэлектрических пленок
Номер патента: 1716310
Опубликовано: 28.02.1992
МПК: G01B 7/06
Метки: диэлектрических, измеритель, пленок, толщины
...магнитных головок 39. К кассете 36 с помощью Г-Образных кронштейнов 40, объединенных перемычкой 41, прикреплена планка 42 из изоляционного материала, несущая ленточно-рессорные пружины 43,Измеритель работает следующим образом,Излучатель 2 электромагнитного поля запитывается генератором 1 переменного тока, Одновременно сигнал с генератора 1 переменного тока через фазовращатель 3 и аттенюатор 4 поступает на индуктивный приемник 5 электромагнитного поля. В отсутствии контролируемого изделия 11 осуществляется калибровка измерителя путем изменения параметров фазовращателя 3 и аттенюатора 4 до достижения нулевых показаний индикатора 8.Затем осуществляется контроль изделия 11, которое протягивается в зазоре между излучателем 2 и индуктивным...
Способ определения проницаемости пленок
Номер патента: 1716392
Опубликовано: 28.02.1992
МПК: G01N 15/08
Метки: пленок, проницаемости
...известной толщины каждую приводят одной стороной поверхности в контакт с исследуемой средой(жидкость, газы, пары и т,д.). Через слойжидкости (газа), толщина которого поддерживается постоянной, и пленки, которые насыщаются данной жидкостью (газом),пропускают монохроматический свет постоянной интенсивности. Интенсивность света, прошедшего через обе пленки,регистрируется во времени. В процессе насыщения пленок жидкостью (газами) в произвольный.момент времени с началапроцесса проницаемости производят измерения величин интенсивностей проходящихчерез пленки света. Повторный замер интенсивностей проходящего света проводятчерез интервал времени Ж, прошедший после первоначального замера, Искомую величину константы скорости...
Способ получения прозрачных проводящих пленок на основе оксидов индия и олова
Номер патента: 1499573
Опубликовано: 07.03.1992
Авторы: Акашкин, Ветошкин, Печенкин
МПК: C23C 14/34
Метки: индия, оксидов, олова, основе, пленок, проводящих, прозрачных
...приводит к росту удельногосопротивления, т,е, в данных режимахстановится существенным процесс трав эления пленки. Так как выдержать время обработки с точностью до секундзатруднительно, то в этих режимахнаблюдается невоспроизводимость повеличине полученного значения удельного .сопротивления до минимальнойвеличины в течение нескольких секунд.В качестве рабочего газа используют азот и/или аргон, которые не, образуют летучих соединений с окислами индия и олова. Использованиедругих газов не обеспечивает достижение положительного эффекта ввидуих реакционной способности; сопровождающейся травлением и образованием летучих соединений, загрязняющихокислы индия-олова.При давлении рабочего газа ниже1 Па происходит. существенное увеличение...
Способ определения величины рн поверхности тонких диэлектрических пленок
Номер патента: 1718100
Опубликовано: 07.03.1992
Автор: Фоменко
МПК: G01N 27/417
Метки: величины, диэлектрических, пленок, поверхности, тонких
...кремниевой пластины на кристаллы проводится присоединение внешних выводов и герметизация чувствительного элемента 1 эпоксидным компаундом 17.В качестве полупроводникового чувствительного элемента может быть использована система электролит-диэлектрик-полупроводник (ЭДП).В этом случае информативным сигналом является сдвиг напряжения плоских, определяемый по сдвигу вольт-фарадных характеристик вдоль оси напряжений.Источником 3 (фиг.1) задают напряжение на стоке полевоготранзистора (200 мВ - 2 В), а источником 4 - ток стока (100-500 мкА), При погружении чувствительности элемента 1 вместе с электродом 2 сравнения в раствор с определенным значением рН замыкается отрицательная обратная связь через операционный усилитель 7 и...
Способ определения пористости неэлектропроводных пленок на металлах
Номер патента: 1723501
Опубликовано: 30.03.1992
Авторы: Ефимов, Иванова, Пучин, Щедров
МПК: G01N 15/08
Метки: металлах, неэлектропроводных, пленок, пористости
...пленки, надежный электрический контакт с металлом образца и выделять определенную часть поверхности для контакта с жидким металлом,Они состоят из металлической втулки 29, с помощью которой крепятся на штоке 13 бомбы 1 и через которую осуществляется электрический контакт с образцом, неподвижной 30 и подвижной 31 частей, изготовленных иэ полимерного материала (эбонит, текстолит и т,д.) и уплотнительных резино(2) 10 При увеличении давления постепеннозаполняются поры все более малого радиуса и соответственно этому изменяется или сопротивление постоянному току при нали чии сквозных пор, или электрическая емкость системы металл с неэлектропроводной пленкой - жидкий металл при наличии тупиковых пор, что позволяет рассчитать число пор и их 20...