Способ определения проницаемости пленок

)5 (з ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР г РЕТЕНИ ПИСАНИ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Изобретение касается определения па-: боре компаундов и отработке технологии раметров проницаемости пленочных мате-: . формирования защищаемого от внешнего риалов и может найти применение .в воздействия покрытия при нанесении свепрактике отработки технологических про-" тоотражающих и защитных пленок,цессов нанесения защитных и других пле- Определение скорости газожидкостной ночных покрытий с целью регулирования проницаемостипленокпозволяетпрогнозиюевЪ процессов газожидкостной проницаемости ровать эффективность покрытия с точки зрепленок и предотвращения. коррозионйых: ния сохранения стабильности параметров разрушений, в частности для определения . приборов, а также физико-химического созащитных функций пленочных покрытий, к стояния защищаемой поверхности,которым предьявляются требования дли- Известны методы определения кинетительной стабильности оптических, механи- ческих характеристик процессов проницаеческих, электрических и других параметров, мости газов и жидкостей через а также может быть использовано при под-твердофазные пленки. Твхническое испол 1(56) Авторское свидетельство СССРМ 569907, кл. 0 01 М 15/08, 1977.Патент США М 377687, кл. 6 01 й 33/34,1971,(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОНИЦАЕМОСТИ ПЛЕНОК(57) Изобретение относится к области определения параметров пленочных материалови может найти применение при определении свойств пленочных покрытий с цельюизучения процессов газо-жидкостной проницаемости пленок и определения защитных функций пленочных покрытий.Предлагаемый способ повышает точность ипроизводительность процесса, Способ состоит в том, что каждую из двух пленок исследуемого материала известной толщиныприводят в соприкосновение с исследуемой жидкостью, пропускают через пленки свет постоянной интенсивности, в произвольный момент времени измеряют интенсивность прошедшего через пленки света, затем повторяют замер интенсивности света через интервал временили по полученным данным рассчитывают искомую величину по формулеС =п(19 - , --- 19 - , )/ Ж(1 -- ),А 1 Ь 2 А. Ь А Ь. А , Ь. где М и пг - толщины пленок; А 1 и Атаев интенсивности прошедшего через пленки1света; А 2 и А 2 - интенсивности прошедшего через пленку света, замеренные черезйвремя Ьт после измерений А 1 и А 1,. Применение простой схемы прямого измерения, ф . прошедшего через пленки светового излучения с одновременным измерением временного интервала позволяют повысить : точность определения коэффициента проницаемости пленок.10 20 25 30 35 40 45 50 55 611 - )Ь Ь нение этих способов связано с использованием специальных диэлектрических ванн сэлектролитом.Наиболее близким является способ регистрации проницаемости, в котором проницаемость определяют по отраженномуизлучению.Однако этот способ не обеспечивает сдостаточной точностью измерения производительности процесса.Цель изобретения - повышение точности, и производительности процесса,Предложенный способ отличается отизвестного последовательностью и содержанием операций, заключающихся в том,что выбранные две пленки известной толщины каждую приводят одной стороной поверхности в контакт с исследуемой средой(жидкость, газы, пары и т,д.). Через слойжидкости (газа), толщина которого поддерживается постоянной, и пленки, которые насыщаются данной жидкостью (газом),пропускают монохроматический свет постоянной интенсивности. Интенсивность света, прошедшего через обе пленки,регистрируется во времени. В процессе насыщения пленок жидкостью (газами) в произвольный.момент времени с началапроцесса проницаемости производят измерения величин интенсивностей проходящихчерез пленки света. Повторный замер интенсивностей проходящего света проводятчерез интервал времени Ж, прошедший после первоначального замера, Искомую величину константы скорости проницаемостипленок С рассчитывают по формулеД Я.АИЯ --9 -)где Ь 1 и Ьг - толщины первой и второй пленок;/А 1, и А 1 - интенсивности прошедшегочерез пленки света в произвольный моментпроцесса проницаемости;А 2, и А 2 - интенсивности прошедшегочерез пленки света, замеренные через время й после измерений А 1, и А 1,Предлагаемый способ реализуется следующим образом.Для измерений выбирают две плоскопараллельные пленки, каждая произвольной толщины, Приводят в контактодновременно каждую пленку одной стороной поверхности с насыщающим веществом (или смесью веществ) в газовой илижидкой фазе. Через пленку - газ (жидкость)пропускают монохроматический свет, например, лазерного источника. Интенсивность света поддерживают постоянной, В начальный произвольный момент времени производят замер интенсивности прошедшего через обе пленки света. Через время й, выбираемое обычно произвольно, производят повторный замер интенсивности прошедшего через обе пленки света.Искомую константу скорости проницаемости С рассчитывают по приведенной формулеПредлагаемый способ исключает необходимость количественных измерений давления газов или количества жидкостей, а также парциальных давлений, снижающих точность определения искомой величины при использовании известных способов. Способ эффективен для материалов пленок как с большой, так и с малой скоростями проницаемости. Целесообразно измерения интенсивностей проходящего света, а также толщин пленок проводить в произвольных масштабных единицах, так как они в расчетную формулу входят в относительной форме, Процесс измерения и расчета легко может быть автоматизирован и обладает быстродействием.Простота операций измерений дополняется повышением точности расчетов; значения интенсивностей проходящего света измеряются с точностью не ниже 1%, а примененные интервалы времени порядка 1 мин дают точность не ниже 0,3%, т.е. погрешность предлагаемого способа, не будет превышать 2-2,5%.Формула изобретения Способ определения проницаемости пленок, включающий контакт исследуемой пленки с воздействующей средой и облучение, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и производительности процесса, две пленки исследуемого материала разных толщин приводят в контакт одной стороной с воздействующей средой, пропускают через пленки нормально к их поверхности свет с постоянной интенсивностью, измеряют интенсивность прошедшего через пленки света, затем через произвольный интервал времени .повторяют процесс облучения светом и измеренияинтенсивности и по полученным даннымрассчитывают проницаемость по формулеД Ь А"1 )А 3 ЬА 3 где Ь 1 и Ь 2 - толщины первой и, второй пленок;1716392 Составитель Е.КармановаТехред М,Моргентал Корректор Т.Малец Редактор М.Келемеш Заказ 607 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101ФА 1. и А 1 - интенсивности прошедшего через пленки света в произвольный момент, процесса проницаемости; лА 2,А 2 - интенсивности прошедшего че-рез пленки света, замеренныечерез время