Патенты с меткой «интерференционных»

Номер патента: 57971

Опубликовано: 01.01.1940

Автор: Балаков

МПК: C03C 15/00

Метки: интерференционных, пластинок

...полированную поверхность слоя какого-либо прозрачного вещества ра(спылением го в вакууме или серебрение с последующим переводом металличеокого серебра химическим способом э хлористое серебро, или же протравливание желатинового слоя, различные части которого предварительно в различной степени задубливаются.Такие пленки обладают весьма су-, щественным недостатком: они недо- , статочно устойчивы как в отношенииференционных пластинок.года в НКВ за574,нтября 1940 года,механических, так и в отношении химичеоких воздействий и быстро могут портиться.Предлатаемь 1 й метод позволяег быстро и легко, изготовлять интерференционные пластинки непосредственно вытранливанием полированной плоскости поверхности стекла слабым раствором плавиковой кислоты...

Номер патента: 61498

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Рыскин

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерференционных, компенсатор, приборов, разности, хода

...в интерферометре белого света клинья должны быть установлены преломляющими углами в разные стороны, чтобы их совокупность была эквивалентна плоскопараллельной пластинке.Первая форма выполнения компенсатора показана на фиг, 2. Оба клина установлены таким образом, чтобы по ходу света приходились друг против друга области обоих клиньев с разными показателями преломления. При этом оптические длины лучей 1 и 2, из которых один проходит через клинья слева от плоскости склейки, а другой - справа, равны соответственно 3= = 11 П 1+ 1 П И 3,= г 1 П 2+ 12 П 1 (П 1 И и, - показатели преломления стекол). Очевидно, что 3=3, приСдвигая один клин относительно другого, как это показанона фиг. 3, можно осуществить равенство 1,=1, и добиться того,...

Номер патента: 68564

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Воюцкий

МПК: G01S 3/80

Метки: интерференционных, направленности, обострения, приемников, систем, характеристики

...и последующим экспандироиз четырех приемников установит ванием, пРичем постоянная временисоотношение:сЯ компрессора, во избежание искажений, должна быть взята настолько- = 0,554-1,1,большой, чтобы компрессор не дейА ствовал на отдельные колебания иП именяя экспанне искажал их форму, а регулировалрименяя экспандер, мы можем по закону кривой, огибающей колебания,циллог амме езко вДля того чтобы отражения на ос- Такая же необходимость в предр р зко выделялись на варительной нивелировке возникает иобходимо взять экспан- при акустической пеленгации любогофоне помех необходер с большим коэ икоэфициентом (и) экс- встречающегося на практике источпандирования нап им, например, равным 4. ника шума, вследствие всегдаимеюТогда на выхо е э спд...

Номер патента: 91873

Опубликовано: 01.01.1951

Авторы: Герасимов, Смолянский

МПК: G01B 9/02, G01D 5/38, G02B 5/18 ...

Метки: движущихся, интерференционных, полос, счета

...чтобы одна полоса в точности покрывала диафрагму 4 и была параллельна ее краяь.Непосредственно за диафрагмой установлены два зеркала 7 п 8 под углом 45" и оси линзы 3, делящие плоскость диафрагмы иа три равные части как цзобра)коцо на фиг. 2. Свет от крайних участков диаф 10 рагмы, отражаясь от зеркал, (н)надает на фото;)лемеить 9 и 10. 1 асть света от среднего участка диафрагмы проходит ъежду зеркалами и попадает иа (ротоэ(еме)т 11. При перемещении зеркала 5 1 роис,(одит пе редвижение изображения полос в плоскости диафрагмы 4 в направлении, перпендикулярном делящим краям зеркал. Такое движение должно вызвать соответственный поворот ротора синхронного электродвигателя 12. Передвижение интерференционной картины на одну полосу...

Номер патента: 103999

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Рыскин

МПК: G01N 21/03, G01N 21/43

Метки: измерений, интерференционных, кювета

...кювета в двух проДва полированных прозрачныхвкладыша П и Пг, имеющие форму параллелепипедов, непосредственно прилегают друг к другу осевыми плоскостями, но взаимно смещены вдоль оси ЛЛ (по ходу светового , луча), Вкладыши образуют в пространстве внутри кюветы две камеры, заполняемые сравниваемыми жидкостями. Таким образом, каждь.й луч проходит без преломления через одну из жидкостей ,. ь вкладыш П 2 и тонкии слои другои жидНЦИОННЫХ ИЗМЕРЕНИ за ЛЪ 070545309 кости ра (или соответственно, через тонкий слой жидкости ц вкладыш П и жидкость ра). Благодаря этому получается френелевая дифракция в лучах, приобретающих разность хода в сравниваемых жидкостях.Техника изготовления кюветы проста и сводится к следующим основным операциям.Из...

Номер патента: 108906

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Уверский

МПК: G01B 9/02

Метки: датчиков, интерференционных, помощью, размеров, фотоэлектрических

...прибора црн диафрагме, изобрджсццой нл ( иг. 2.Прсаллоксшый способ может осуществляться датчиком выполисцц),тх и,) слс;1 т)ощсй схеме. Электрическая лампа 1 через коцдсцсор 2 и свстоф),ьтр 3 сц всщдс пов(рхцость ЛЛ 1 ластины 4, каоторля рлз;1 сляет поток светл цд;1 ва пучкл. (.)диц пучок. пройдя щслсвуто дидфрдпу 5 и кол)ецглто) 6, плдлст ид зеркало 7, которое жест)(о свя и но с измер:тельным цдкоцсчшком 8 при помощи стержня и цмсс с ним может персмсдидться вдо.п, оси от упора 9. Другой пучок сгста надает на зеркало 10, которос укреплено нд шпилях 11 и может ца них поворачиваться.Пучки света, отраженные зеркалами, при цебольшой разности хода ицтерферируют в плоскости ЛЛ и частичцо проходят вдоль ширм)я 12 с зеркалом 1 Л, которые...

Номер патента: 122590

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Горохова, Суйковская

МПК: C03C 17/25, C03C 17/34

Метки: интерференционных, области, оптических, пленок, работающих, спектра, ультрафиолетовой

...вещества, пропускающие ультрафиолетовую область спектра, не были известны.Предлагается способ изготовления светоделительных зеркал путем голучения на их поверхности пленок двуокиси тория, прозрачных до 220 млк с показателем преломления п=2,0, для чего спиртовый раствор азотнокислого тория наносится на поверхность вращающейся детали, которая затем прогревается при 400, .Таким образом можно получить, например, светоделительные не поглощающие света зеркала для опак-иллюминатора микроскопа с отражением в 30% в ультрафиолетовой области спектра,Для изготовления интерференционных светофильтров или просветляющего слоя на поверхность детали наносят юследовательно чередующиеся слои двуокиси тория и кремнезема. Применяя нанесение...

Номер патента: 124676

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Власов

МПК: G01B 9/02

Метки: двух, дробной, интерференционных, интерферометрах, полос, сдвига, систем, способа, части, этого

...можно объективно и с высо. кой точностью измерить дробную часть смещения интерференционных полос, причем и качестве интерферометра используется интерферометр Кастерса или Жамена, Обе системы пнтерференционных полос, даваемые сравниваемыми образцами, приводятся в равномерное движенис. При сравнении, например, концевых мер это достигается равномерным перемещением с помощью синхронного мотора 1 1 см. чертеж) предметного столика с концевыми мерами 2. Обе системы интерференционных полос сравниваемых образцов проектируются: помощью щели 3 и двух призм 4 на два фотоумножителя 5. Разность фаз синусоидальных напряжений, возникающих на выходе фотоумножителеи, пропорциональ. на смещению полос и может быть измерена с высокой точностью фазометром,...

Номер патента: 129313

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Крылова-Лукомская, Соколова

МПК: C03C 17/30, G02B 1/10

Метки: дихроических, зеркал, интерференционных, передающих, приемных, светоделительных, телевидения, устройств, цветного

...прозрачных пленок, образующихся в результате гидролиза плеикообразуюших растворов этиловых эфирог, ортотитановой и ортокремниевой кислоты. Технология процесса состоит в нанесении п 1 дролизующегося раствора на поверхность врашаюшейсдетали и последуюп,ей суИке образовавшейся пленки при 350 - 400. Пользуясь растворами разли 1 ной концентрации и меняя скорость вращения деталей, можно получить плеш(и различнсй толщшы. Меняя число пленок и соотн 01 иение ме)кду толщинами, лОжно получать зеркала. характеризуемые высоким основным максил 1 ул 1 ол отражения (90",и больше) в красной и синей частях спектра, и существенно снизить по мехи от побочных максиъ 1 умов, Полученные зеркала вследствие отсутствия поглощения в его слоях имеют высокий...

Номер патента: 258653

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Дриккер, Могилевский, Фальк

МПК: G01J 3/04

Метки: интерференционных, полос, регистрации

...в качестве меток частот, содержащие эталон Фабри-Перо, освещаемый источником сплошного спектра, монохроматор и приемно-усилительное устройство.Недостатком этих устройств является необ ходимость частой настройки приемно-усилительного устройства, что обусловлено зависимостью от длины волны средней интенсивности светового потока после выходной щели монохроматора. 15Предложенное устройство позволяет устранить частую настройку приемно-усилительного устройства и, следовательно, упростить процесс измерения благодаря тому, что на оси выходной щели монохроматора расположена 20 дополнительная щель, спектральная ширина которой превышает в несколько раз расстояние между интерференционными полосами. В процессе измерения производят регистра. цию...

Номер патента: 280920

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Казанджан, Сухоруких

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: газовой, динамике, измерений, интерференционных, плотности, потока

...2. Определяют угол 20 от между этой касательной и направлениемневозмущенного потока (осью О - Х),По углу ф и числу Маха невозмущепногопотока М, замеренному в эксперименте, вычисляют отношение плотностей за и перед 25 ударной волной, равноеПредмет изобретения Выбирают две темные пнтерференционные полосы 3, проходящие вблизи ударной волны. Отмечают точки В и С пересечения этих полос с прямой х=сопз 1, Отрезок АС должен быть таким, чтобы внутри него зависимость плотности от радиальной координаты г была близка к линейной. При этом длины отрезков АВ и ВС должны по крайней мере в 3 - 5 раз превышать погрешность измерения этих длин.Измеряют расстояния от точек А, В и С до оси симметрии - соответственно гх, гв и тс, Результаты измерений...

Номер патента: 291092

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Радченко

МПК: G01B 11/16

Метки: датчиков, деформацией, замороженной, интерференционных, линейной, оптически, перемещений, полос, чувствительных

...оптически чувствичиков с линейной замороженнойс применением фотографированиятерференционных полос на каждгружения, отличающийся тем, чтовыщения точности измерения, неграфируют и по микрофотограммют величины перемещений макситвующих центрам интерфере интерферентельных датдеформацией картины ином этапе нас целью погативы фотоам определямумов, соотнционных поветс лос,Изобретение относится к области измерения относительных деформаций при исследовании деталей машин или строительных конструкций.Известен способ измерения перемещений интер ференционных полос оптически чувстви тельных датчиков с линейной замороженной деформацией и применением фотографирования картины интерференционных полос на каждом этапе нагружения.Предлагаемый способ...

Номер патента: 298557

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Жуковска, Крыжановский, Юркова

МПК: C03C 17/25

Метки: зеркал, интерференционных

...600 С, а в раствор вводят добавку5 - 10% -ной кислоты, например, трифторуксусной. 15Сущность данного метода заключается вобработке нагретого до 550 в 6 С стеклааэрозолем раствора этилового эфира ортотитановой кислоты Т 1(ОСсНа)4 в спирте с помощью сжатого воздуха (3 - 4 атм) или 20инертного газа. Распыление ведут из специальных форсунок высокой распыляющей способности,В качестве пленкообразующих растворов используются 10 - 40% -ные растворы 25Т 1(ОС,Н,), в спирте с добавкой одной из нижеперечисленных кислот:5 - 10% -ной трифторуксусной5 - 10%-ной перфторпропионовой5 - 10% -ной уксусной 30 вторыобретения Б. П. Крыжановский, Е 3 - 5%-ной плавиковой3 - 7% -ной соляной.Наилучшей добавкой является трифторуксусная кислота. Предлагаемый способ...

Номер патента: 392515

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G06G 7/48

Метки: интерференционных, многослойных, покрытий, расчета, электронное

...интерференционного покрытия и электрических четырехполюсников.5 Электрическое напряжение с генератора 1синусоидальных колебаний, модулир ующее электромагнитные векторы типа 10где и,+, - показатель преломления среды;го - волновое сопротивление с учетомграничных условийЕ иЕ ) (0 0подается на автотрансформаторы 2, 3 и 4, 5 для умножения на постоянные величины, Затем сигнал преобразуется по закону суммирующими вращающими тр ансформаторами б, 7, после чего вычисляется модуль и 25 фаза векторов трансформаторами 8, 9. Блок10 угла поворота вектора, выполненный также на вращающем трансформаторе, осуществляет поворот вектора на угол 2 у, где р - фазовая толщина слоя.30 С трансформаторов 8, 9 можно считыватьЗаказ 3380/16 Изд. Мз 1825 Тираж 647...

Номер патента: 362074

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Дубинин

МПК: C23C 14/54

Метки: интерференционных, многослойных, покрытий, процессом

...17 и источником испарения 4 вещества б; далее ключа- ется электроиапнит 12, управлякхщий заслонками над иопарителем веществ а н б. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 Через заданное вреия включается вторая пропра;м,ма реле времени 15. Она приводит в действие электродввгатель 32 лентопротяжнопо механизма самопишущего потенциометра 8; цепь питаиия низковольпного оилового тра 1 нсформатора 17 при помощи реле 33; подключает фотоэлемент 10 посредством реле 34 к самопишущему потенц 1 иометру 8; включает электродви 1 гатель 1 вращения дбразца, Начинается процесс испаревия,вещества а и осаждение первого слоя покрытия,на образце. При конт 1 роле толщины. сигнал с фютовлемента 10 подается через автоматиче 1 ский регулятор 9 на усилитель...

Номер патента: 437815

Опубликовано: 30.07.1974

Авторы: Гендин, Кузнецова, Лавренов, Рамазанов

МПК: C23C 15/00

Метки: интерференционных, клиньев, напыления, прямоугольных

...подложек, Держатель подложек выполнен в виде установленной . на подставку в форме усеченного под углом полого цилиндра 1 оправы 2, представляющей собой круглый металлический диск с посадочным местом 3 для покрываемых подложек 4 и регулировочным винтом 5 для подрегулировки угла наклона подложек.Устройство ставится в посадочное место 6 вращающегося держателя деталей подколпачной арматуры,Для нанесения слоев равномерной толщины устройство ставится в посадочное место обращенным высокой стороной цилиндра к центру вакуумной камеры, т. е. к оси 7 вращения арматурыИспаритель 8 размещается так, чтобы в среднем расстояние между испарителем и двумя концами покрываемой подложки за полный оборот деталей вокруг оси 7 вращения оставалось...

Номер патента: 452795

Опубликовано: 05.12.1974

Авторы: Бейнарович, Тальдаев

МПК: G02B 5/28

Метки: герметизации, интерференционных, многослойных, фильтров

...например метакрила т-метилтриэтоксисиланом.Сущность изобретении состоит в следующем.По крайней мере две подложки складывают рабочими поверхностями в стопу, Нерабочие (боковые) поверхности обрабатывают адгезионным веществом - спиртовым раствором метакрилат-метилтриэтоксисилана, покрывают слоем вязкого тиокольного компаунда, наполненного, например, кварцем, выдерживают определенное время при комнатной температуре для отверждения компаунда и завершают отверждение при нагревании. Например, на одну подложку наносят вакуумным напылением интерференционное покрытие, определяющее основной спектр прозрачности фильтра, а на другую - фильтр, гасящий побочные (нежелательные) полосы основного фильтра.Эти компоненты складывают один с другим через...

Номер патента: 458707

Опубликовано: 30.01.1975

Авторы: Кононов, Попов, Седов, Урывский

МПК: G01B 11/26

Метки: измерений, интерференционных

...д - .ЯоЯЛ Ь Осветитель 7 и фотоприемник 8 расположе ны соосно шпинделям 2 и 3, а неподвижныеобъективы 9 вт 10 обеспечивают получение действительных изображений диафрагмы осветителя и входного зрачка фотоприемника в плоскости предметного стола. Зеркала 11, 12, 13 и 25 14 размещены на вращающихся частях шпинделей, Первые плоские зеркала 11 и 13 размещены на оси вращения шпинделей и составляют с ней угол 45, Вторые зеркала 12 и 14 удалены от оси вращения на расстояние Р. Нор мали к поверхностям зеркал 12 и 14 пересекаются с осями шпинделей и составляют с нимисоответственно углыр =- 45+ О,о агс 1 д -,йгде Й - расстояние от центра предметного стола до точки пересечения оси вращения шпинделя с плоскостью зеркала 11 (13); Я - расстояние от оси...

Номер патента: 512447

Опубликовано: 30.04.1976

Авторы: Гендин, Дюбайло, Лаврищев

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционных, фильтров

...устройство 11 фотометра, кассету12, контрольные узкополосные фильтры 13 и14, фотоприемник 15, ввод 16 вращения в вакуум, испаряемое вещество 17 с высоким показателем преломления, шестерни 18 и 19,лампы 20 накаливания, неподвижные шестерни 21 и 22 и фиксатор 23,10 Работает устройство следующим образом,После зарядки подложек 1 и 2 в подложкодержатели 3 и шестерни 4, а испаряемых веществ в испаритель 9 вакуумная камера, вкоторой находится устройство, откачивается15 вакуумными насосами до давления 10 -ммрт. ст. Приемное устройство фотометра устанавливается в положение, при котором контролируется толщина пленок, наносимых наподложки 1, а экранирующие лепестки 7 от.20 водятся внутрь, открывая эти подложки. Далеевключается двигатель,...

Номер патента: 524153

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Вальтер, Гундула, Маргарете, Хайдемари, Эберхард

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционных, фильтров

...ин терференционными слоями помещена межщг двумя подложками, прессуют при давлении 2000 кг/смц, вакууме до 1 торр, при температуре 150-300 С.Систему с несколькими интерференционнымгт слоями (отдельные системы) напыляот на подложку и соединяют одну с ДРУГОЙ прессованием. В качестве подложки применяют непоглощающий прессуюшийся поликристаллический материал. Отдельные системы имеют небольшое количество слоеви просты конструктивно, а поэтому просты в изготовлеътьтят. Так как каждая система,состоящая из нескольких слоев, выполняет только определенную, частичную функциюв досштнеенитт необходимой спектральной характеристикщ то и ее расчет не представляет особой грудности Небольшое количество слоев делает отдельные системы срав НИТЭПЬНО...

Номер патента: 554467

Опубликовано: 15.04.1977

Авторы: Власов, Гинзбург, Штанько

МПК: G01B 9/021

Метки: диффузно-когерентном, излучении, измерений, интерференционных

...способу изменяют разность фаз между объектным и опорным пучками до появления в отраженном объектом излучении внутри какдого элемента случайной зернистой структуры регулярных интерференционных полос, чему соответствует в математическом описании б (Ь г) ) 2 л.Такая операция возможна ввиду того, что отдельный элемент зернистой структуры является областью пространственной когерентности для диффузно-когерентного излучения, в пределах которой фаза объектного пучка практически не изменяется, поэтому регулярное изменение разности фаз б(Ьгр) по пространственной координате приводит к образованию регулярной интерференционной картины внутри каждого отдельного элемента случайной зернистой структуры.Практически установление требуемого изменения...

Номер патента: 581446

Опубликовано: 25.11.1977

Авторы: Плюта, Шакманов

МПК: G02B 5/08, G02B 5/28

Метки: интерференционных, качеества, узкополосных, фильтров

...полуширину.Однако этот способ, обеспечивая точные количественные,измерения Оптических характеристик, не дает полной Объективной информации О спектральной однородности светофильтра ИО всей оптической рабочей площади, одНОм из важнейших параметров. 2длиться от нескольких дней до несколько месяцев, причем в одних точках поверхности фильтра этот процесс заканчивается раньше, а в других позже. Так как качественным может быть признан лишь тот светофильтр, который 5 имеет однородное спектральное пропускание повсей оптической рабочей площади, очень важно при оцеьке качества светофильтра выявить участки, на которых или еще не закончился процесс смещения или появился по каким-либо другим причинам. Когда эти участки занимает О достаточно большую...

Номер патента: 672550

Опубликовано: 05.07.1979

Авторы: Лебедович, Манов, Степин, Ямнов

МПК: G01N 21/46

Метки: измерений, интерференционных, кювета, показателя, преломления, разности

...9, стеклянного окна 10 и полостей 11-14.Для измерения показателя прелом-. ления к полостям кюветы подводится газ по трубопроводам 9 в полости11 и 14 - образцовый газ, например азот,а в полости 12 и 13 - исследуемый гаэ,например смесь газообразного азота и углекислого газа.Кювета устанавливается в интерФерометре таким образом, что один луч интерФерометра проходит последовательно через торцовое окно 10 полость 11 с образцовым газом, вкладьпа 4, полость 13 с исследуемым газом и торцовое окно 5, а другой луч интерфе672550 Формула изобретения Составитель Н. Гусеваактор Т. Орловская Техред О, Андрейко Корректор М. Вигула аэ 3881/44 Тираж 1089 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж,...

Номер патента: 708143

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Арлов, Голованов, Гуйван, Кукса, Никитенко, Сычева

МПК: G01B 9/02

Метки: белом, взаимного, двух, интерференционных, полос, свете, сдвига, систем

...определенного количества целых полос, с последующим делением полученного промежутка времени на число этих полос, Результат. умножается на коэффициент преобразования К, устанавливающий однозначное соответствие между шириной интерференционной полосы и периодом электрического сигнала. Таким. образом в блоке 6 формируется код коэффициента пересчета, устанавливающий соответствие между длиной волны монохроматического света и промежуточном времени, в течение которого электронный луч передающей трубки перемещается по строке из одной точки в другую. Код коэффициента пересчета запоминается в цифровой форме и поступает на входы блоков 9 и 12 формирования временных интервалов непрерывно в течение цикла измерений. Для измерения сдвига двух...

Номер патента: 714252

Опубликовано: 05.02.1980

Авторы: Бабичев, Ловков, Овечкин, Ревтович

МПК: G01N 21/46

Метки: аксиальносимметричных, измерений, интерференционных, показателя, преломления, сред

...от идентиикации полос позволяет также сократить ряп технологическихопераций (измерение числа Маха, опрепеление угла наклона касательной и пр,)и тем самым существенным образом упростить процедуру измерения, что даетвозможность применения средств автомажзации такого рода интерференционных измерений. 40 формула изобретении Способ интерференционных измерений показателя преломления аксяально-симметричных сред путем получения в моно- хроматическом свете интерференционной картины, на которой выбирают сечение, перпендикулярное ося симметрии срецы и измеряют расстояние вцоль сечения от середины темных и светлых полос по оси симметрии с оцной стороны, о т л ячающи йся тем;что,с цельюис. 3 714252ет проведения дополнительных часто дорогостоящих...

Номер патента: 742400

Опубликовано: 25.06.1980

Авторы: Гайнутдинов, Глебов, Несмелов

МПК: C03C 17/00

Метки: зеркал, интерференционных, многослойных

...В среднем по всем партиям (40 зеркал) выход зеркал с фазовой анизотропией в пределах +1 составил 1 Ъ, 20При изготовлении другой партии зеркал контроль толщины отдельных слоев выполняют также с помощью фотометра, но нанесение последнего слоя иэ Я 1 О осуществляют с перепылением на 5 Ъ от расчетной толщины. Затем образцы подвергают ионному травлению в режиме высокочастотного распыления в среде аргона со скоростью 0,2-0,51 сек в2-3 приема (суммарное время травления 3-15 мин) . После каждой операции травления измеряют фазовый угол на эллипсометре ЛЭФ"2, Выход годных зеркал с фазовой анизотропией в пределах +1 составил 90-95 Ъ. Таким образом, предлагаемый способ получения многослойных интерференционных зеркал позволяет изготавливать...

Номер патента: 883936

Опубликовано: 23.11.1981

Авторы: Афанасьев, Балягин, Нестеров, Смолин

МПК: G06K 11/00

Метки: интерференционных, информации, картин, считывания

...сигнал изображения с замешанными в него импульсами изображения измерительных отметок, гасящими и синхронизирующими импульсами.Исследуемое изобРажение, напРимер.интерферограмма оптической поверхности, проецируется на датчик 1 видеосигналов изображения таким образом, чтобы направление интерференционных полос было перпендикулярно горизонтальной полосе на экране блока 40 41 видеоконтроля (горизонтальной измерительной отметке) и параллельно Вертикальной полосе (вертикальной измерительной отметке).С подачей сигнала "Начало измере ний" например, после включения опе;1ратором соответствующей кнопки управления, на триггер 28 с блока 29 управления поступает положительный потенциал, опрокидывающий триггер 28,С выхода триггера 28 на вход...

Номер патента: 784460

Опубликовано: 23.01.1982

Авторы: Власов, Галкин, Семенов

МПК: G01B 9/02

Метки: изменений, измерений, интерференционных, объекта

...(т. е. коллимированный, сходящийся в точку или расходящийся из нее) опорный пучок. Изменение фазы восстановленного опорного пучка (а следовательно и его отклонение от гомоцентричности) определяется в этом случае только изменением, происшедшим с восстанавливающим объектным пучком, и соответственно изменением самого объекта. Операция оптической фильтрации позволяет очистить восстановленный опорный пучок от рассеянного диффузно когерентного излучения, также восстанавливающего вместе с опорным пучком. Другое назначение операции оптической фильтрации - получение на выходе голографической системы восстановленного опорного пучка, близкого к коллимированному. Таким образом, на выходе голографической системы первоначальному состоянию...

Номер патента: 964439

Опубликовано: 07.10.1982

Авторы: Захаров, Малышев

МПК: G01B 11/14

Метки: интерференционных, полос, числа

...7 и счетной схемы 8.Устройство содержит Фотоприем 45 ник 6, пороговый Формирователь 9 перепада напряжения, усилитель 1 О мощности, модулятор 4, коммутатор 11, который включает в себя триггер типа ОЧ 12, триггер типа О 19, логические элементы типа 3 И-НЕ 14 и 15 у50 а также Формирователи 16 и 17 импульсов и реверсивный счетчик 7Устройство работает следующим образом.Фотоприемник 6 преобразует движу щуюся интерференционную картину в электрический сигнал, Полученный сиг нал поступает на вход порогового Формирователя 9 перепада напряжений, который в момент достижения сигналои пороговой величины Формирует положительный или отрицательный перепад напряжения, поступающи 1 в коммутатор 11 на входы О триггеров 12 и 13. В исхоном состоянии...

Номер патента: 1017980

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Буров, Чехович

МПК: G01N 21/45

Метки: границ, интерференционных, полос

...точки хз сканируемого щелевой.диафрагмой 1с осевой линией диафрагмы 1, р - гр1 пи:изображения. Попадая в интерферометр водит к появлению Участка сечения 5, этот поток амплитудно делится на результирующего световово потока, . .два потока, совмешаемых в противофазе на котором интерферируют между собой с линейным смешением их сечений на 25 лучи А и В. Величина этого участ.величину дХ на полупрозрачном зеркале ка изменяется при этом от нуля до 9. .дХ и,;так как интенсивность резуль-,Таким образом, в. общем случае на тируюшего светового. потока на этом полупрозрачном.зеркале 9 совмещаются участке равна нулю из-за разности .и интерферируют между собой четыре хода интерферируюших лучей, равнойЗОьэ екогерентиых монохроматических све- . нечетному...