G02B 21/14 — дающие освещение для фазоконтрастного наблюдения
Микроскоп, предназначенный для наблюдения малоконтрастных прозрачных объектов
Номер патента: 58495
Опубликовано: 01.01.1940
Автор: Линник
МПК: G02B 21/14
Метки: малоконтрастных, микроскоп, наблюдения, объектов, предназначенный, прозрачных
...лучей, то все вредные рефлексы исчезнут, а свет от объекта пройдет через осветитель к окуляру микроскопа.П р е д м е т и з о б р е т е и и я,1. Микроскоп, предндзндченный для наблюдения малоконтрастных прозрачных об ьектов, о т л и ч а кэ щ и й с я тем, что, с целью достижения увеличения наблюдаемого контраста объекта путем пропускания пучка лучей через каждую его точку дважды, он сидбжен установленным иа месте коиденсорд и сфокусированным на объект А микроскопическим объектиьом О, в плоскости, сопряженной с объектом Л, которого расположено вогнутое дерека ло М.2. Форма выполнения микроскопа пои, 1, отличающаяся тем, что, с целью устранения из поля зрения рефлексов от оптических поверхностей, , для освещения объекта применена...
Устройство для рассматривания прозрачных объектов под микроскопом в интерференционном поле
Номер патента: 78570
Опубликовано: 01.01.1949
Автор: Поляков
МПК: G01B 9/02, G01N 21/45, G02B 21/14 ...
Метки: интерференционном, микроскопом, объектов, поле, прозрачных, рассматривания
...5 и окуляр б, В микроскопе, в месте образования изображения щели 8 объективом 5, устанавливают плоскопараллельную пластинку 7, покрытую полупрозрачным слоем, алюминия с пропускной способностью 0,3 - 035. На алюминированной поверхности пластинки 7 сделана щель (или щели) шириной 0,01 - 0,02 мм.Плоскопараллельную пластинку 7 устанавливают так, чтобы изображение щели 8 было совмещено со щелью в пластинке 7. Тогда пучок лучей света, пройдя через щель в пластинке 7, подвергнется лишь дифракционным изменениям и создаст одну из двух иятерферирую щих волн. Другой интерферирующей волной являютсялучи, прошедшие через рассматриваемый объект и полупрозрачный слой пластинки 7 и подвергшиеся изменению уже в зависимости от оптических свойств...
Фазовое приспособление к микроскопу
Номер патента: 86268
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Бурмистров
МПК: G02B 21/14
Метки: микроскопу, фазовое
Прибор для контроля качества обработки поверхностей
Номер патента: 88231
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Бурмистров
МПК: G01B 11/30, G02B 21/14
Метки: качества, поверхностей, прибор
...в Г(Е) ТЯК, ч 10 11.: оптические оси образуют одииякои 1 С углы с нормалью исследуемй поверкиости.2. с 15 орма выполнения прибора д.(я ко)п роля качества ооработки поверулюстей по п. 1, отл ича)оп я 51 с 51 гс(1, 1 то фазовыс Глястии- КИ МИКРОСКОПЯ ВПОЛСИЫ СМС ИИЫ- ми и оптическая толщина изменя)опсик фазу элементов ик плавно измеястся от одного края к другому. редактор П. Ю. Мазуренк таидартгиз. Поди. к печ. 2717-1957 г. Об ьец 02 Министерства культуры Чувашской АССР. Зак. 4 р. Алатырь, типогр 113 ЬОДИТС 5 ПО СООТВСТСТВЮ(ЦСИ (1)ОР- муле,Фазовые пластинки о микроскопа выполнены смс)шыми и о(пичсска 51 то 11 ци 11 а 11 зме 151101 цик фазу Э,1 СМСИТОВ И.С П 11 ВПО 1 ЗМЕП 51 СГС 51 ОТ од(н)го края к друОму. Предмет изоорстеиия 1. Прибор для...
Фазовое приспособление к микроскопу
Номер патента: 89138
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Бурмистров
МПК: G02B 21/14
Метки: микроскопу, фазовое
...3 0(Ь ее 11 БВИНЧП 12 стс 51 с иОкне стопа:ь Паса,1(и и (7015 сирмстс 51 на ( веет ) 5, поз"С;пый и стол с . еи.)Оскопа. Снеем;) (Г(пЛинасс 5 таК, 1(.( .ЗОРЯЕСПС Д 3РЯГМ,1:) ЧСРСЗ ЕОИ,Е:СОР И 007 ССГО О- лУЧЯ.Ось 3 1 )35 х ) д) 0 е",ОКа 1/ с .1.1 ГО(1 ьо 1 1; ,Озо 1 лососто 18. 112 Од,10 и и. зтих Граиеп п 2 носися еиОтеа с зп)оз. рач:1)1. (.с хтор 1.5 и ег к у, 2раз 11 КОН;1 спсора, с еото рь ми с(п. с щают глаиныс дифрае(понис максимумы в изобр 1:,спин диа(1)раг- МЫ , 3 НСРСД ДП,ГОИ ИС.,Си,.ОТ ИОДБИЖНОИ (1)сЗОЫИ ЕГИН И СПСТО- фил,тр. Свет, ирои;сдпиЙ Срез зт грани, идег дальше по двум ломаиы) кап(1.з 1, От)3 каясь Оране; Призм (или 0 зсрка,1, и на ног(-р О з р 21 О., зс р е 1 Л с- с л 1 в 2 с т с 5Од и и п "о к. 2,с и :11 и ," ь:1 м...
Испытательные тесты для контроля микроскопов
Номер патента: 91875
Опубликовано: 01.01.1951
Автор: Бурмистров
МПК: G01M 11/02, G01N 21/41, G02B 21/14, G02B 27/52 ...
Метки: испытательные, микроскопов, тесты
...хрома, коцдецсироваРРого и вакууме ш фоОГ 3)дфпЧСС 1(ИС Ц;ООРЯЖСЦИЯ 1 ССОВ Цс ХРОМ ИРОВЯПП 1 Х СЛ 05 Х Ко;1. гОИ,ОБ 13;Смол., рУГс слои ( воск и рдзлицыс Грмпт 11) цри цсОбхо,Тимох ллитсги цом травлении и осооенцо выцслачивди осгаот от с.кла, 3 1 остепеццым опускаисм Б кСлоту фазового клип;1 пс и)лу чаются 3 з-зд действия капиллярных сцл ца смдч 133 схост, сгеклд в х ких 1 ромсжугкх (е)к (у птр 1 хя 13. ) )р 3 с 3 елль,.,л 51 пог 31 р(13.13 ии фдзоОГО кли 133 т 11)к( цс Го )5 1 С 51 пз.зд пслосттоГН 01 их твеРДОСТ 1.11 Г) с л м с т п 3 0 б р с т с и и 511. И(п 1 т(;ццье (.с 1;л 5 коптрол 51и к Г)оско 0, ы пол псцв иыс и Би;с системы штрихов, цацсссццых ца прозра цуо основу и рясполо)ксцньх рупца.1 и 0 чсть 11)см ияправлениям к...
Микроскоп для наблюдения малоконтрастных объектов
Номер патента: 102350
Опубликовано: 01.01.1956
МПК: G02B 21/14
Метки: малоконтрастных, микроскоп, наблюдения, объектов
...од)ге)ковы с р)3;)морд:. и)обрдженця кольцевой дпдФрдгмы.Вращая анализатор, мОжнО цзмнять соотношение пнтенс)гв)е)стсй прямопрокодяц(ей и диФФра)провацной состдвляюп(ик )г тел)1 еутем повыгиатг коещ)дстпостг цз)- ораженця. Можно такж) получать Фа;Ов- кон)ристе)ое ггзоорахенце О)ъекто, 3 ь);(я 1 Омпенсатором некотору)О разность ,.(д, прямопрокодящего и .(НФФрдгировдццц О ЦУЧЕ(ОВ.Прп раооте ло скеме н)ер)1)ернццон, - го )пгкроскоп) )ц)имсняегся щ )свая - дФрагма (вместо кольцевой) с рядом щ- лей )г стеклянндя пластинка ГвОсто Фдзовой) с вытравленными на. нй 3)3)рикдзпг. Нанесенным(1 такци ооразом, ч)л) )п)11 перекрываются изооражением и(елей щелевой дпаФрагмы, Световая волн, прокодя неоднородный прозрачный ооъект, деФормпрустся в...
Флуоресцентный микроскоп для прижизненного изучения органов животных
Номер патента: 122305
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Барский, Брумберг, Зарубина, Рагузин
МПК: G02B 21/14, G02B 5/20
Метки: животных, изучения, микроскоп, органов, прижизненного, флуоресцентный
...определенного слоя клеток в поле зрения микроскопа достигается перемещением фокуса внутри объекта, осуществляемым путем перемещения окуляра вдоль его Оптической оси или же перемещением линзы 4 в тубусе микроскопа,Фронтальной линзе 3 может быть придана форма усеченного конуса для лучшего проникновения объектива вглубь исследуемого органа.М 122305Мощный рассеянный свет флуоресценции устраняется помещенным в выходном зрачке объектива двухцветным светофильтром, разделяющим апертуру на две части: кольцевую, в зоне которой осуществляется освещение объектива, и центральную, служащую для наблюдения.Внешнее кольцо светофильтра 5 пропускает только синие лучи, а центральный круг - все лучи видимой, области, кроме синих (желтый светофильтр)....
Устройство для наблюдения оптических неоднородностей
Номер патента: 151067
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Уханов
МПК: G02B 21/14
Метки: наблюдения, неоднородностей, оптических
...выполнен так, что соответственные точки, симметрично расположенные относительно средней линии экрана, имеют противоположньге значения фаз,Для наблюдения оптических неоднородностей в прозрачных средах известно применение фазовых экранов с поглощающей полосой.С целью повышения контраста изображения, а следовательно, чувствительности и точности используемого для наблюдения устройства, предлагается выполнять указанный экран так, чтобы в соответственных точках, симметрично расположенных относительно средней линии экрана, фазы имели противоположные значения, т, е. отличались на л, При этом точки экрана, лежащие по одну сторону от средней линии, также1отличаются по фазе, в частности на 2, Такое распределение фаз позволяет получить...
Пдткнтно•»iи
Номер патента: 181337
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: G02B 21/14
Метки: пдткнтно•»iи
...пучках в одной из ветвей интерферометра установлена стеклянная пластинка б, адля регулировки интенсивности этих пучков20 предусмотрена пластинка 7, установленная вдругой ветви интерферометра. На одной изповерхностей пластинки 7 нанесен фотометрический клин.Изображение объекта, даваемое объекти 25 вом и оптической системой линз 1, получаетсяв плоскости 8 и рассматривается с помощьюокуляра 9.При работе микроскопа по схеме переменного фазового контраста в обе ветви интер 30 ферометра, в плоскость вынесенного выходного зрачка объектива, вводятся апертурные диафрагмы 10 и 11. Форма диафрагмы 10 подобна форме фазового кольца фазовых объективов, а диафрагма 11 является ее дополнением, т, е. прозрачным местам первой соответствуют...
Фазовый микроскоп с изменяемым контрастом
Номер патента: 200219
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Максимилиан, Польска
МПК: G02B 21/14
Метки: изменяемым, контрастом, микроскоп, фазовый
...отверстиями,оптически связанными с фазовыми кольцами,и системы из трех поляроидов. Два поляроидамаскируют по одному кольцевому отверстиюи расположены так, что их плоскости поляризации взаимно перпендикулярны, а третий поляроид перекрывает оба прозрачных кольцевых отверстия и установлен с возможностьюповорота вокруг оси, совпадающей с оптической осью микроскопа. Это позволяет ускорить смену фазы контраста.На чертеже представлена оптическая схемамикроскопа,Микроскоп содержит окустекло 2, конденсор 3, объеМежду линзами 4 и 5 обдва концентричных кольцаторых является кольцом п яющим фазу проходящего света н второе - кольцом отрицательно 1 еняющим фаз проходящего светЗаказ 2982/8 Тираж 535 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам...
Люминесцентный микроскоп-фотометр
Номер патента: 303527
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Зарубина, Кулаков, Лапина, Лебедев, Панов
МПК: G01J 3/42, G02B 21/14
Метки: люминесцентный, микроскоп-фотометр
...с п10, 11, 12 и призм 1с помощью ою.ляро следуемоготельную пв свете люью призм15, рассма инокулярн ии иоделиектаомощ3, 14,в 16 объекта ластинку инесценНа черте прибора.При набл раста источ калом 3 пр ной диаф диафрагма конденсоров следуемого конденсора ходного зра ке представлена оптическая схем юдении по методуник света 1 колли оектируется в плорагмы конденсор 5 коллиматором4 проектируется объекта 6. Аперту 4 проектируется в чка микрообъекти фазового контатором 2 и зерскость апертур 4, а полевая зеркалом 3 и в плоскость псрная диафрагмаплоскость выа 7., 9, линз ривается ой насадПри регпстрапппце: цш призма 8 пов свет люминесценции 30 жителя 24. Линза 2 пнтенсивносторачпвается на фотокато5 обеспе пва люминеснаправляет д...
Фазовоконтрастный микроскоп
Номер патента: 404040
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Гюнтер, Иностранцы
МПК: G02B 21/14
Метки: микроскоп, фазовоконтрастный
...фазэвое покрытие б, 1 то в з 1 а 1 нтель:Ой степени иОключает меша 10- щее наблюдени 1 о паразитное излучение. Это представлено на фиг. 5, где первичное изображение апертурной диафрагмы 1 обозначено буквами а, Ь, с, д, е, а вторичное изображение (после отражения от объекта) - буивами а, 6, с, сГ, е.На фиг, 2 показана конфигурация диафрагмы, полученная из кольцевой диафрагмь 1, в;которой кольцо в пяти местах прерывается перемычками на ширину с угловым размером 36 какдая, В такой диафрагме интенсивность с:;ста:нижается на половину по сравнени,о с кольцевой диафрагмой. Исполнение диафрагмы согласно фиг. 3 дает такую же интексивность света, как кольцевая диафрагма. Конфигурация диафрагмы, показанная нз фиг. 4, получается из нечетного числа...
Конденсатор для фазового микроскопа
Номер патента: 576072
Опубликовано: 05.10.1977
Авторы: Милтон, Роберт, Эдвард
МПК: G02B 21/14
Метки: конденсатор, микроскопа, фазового
...типы микроскопов имеют множество в той или иной степенивзаимозаменяемых конденсоров. Однако такиезамены в онденсорах в любом микроскопе тре.буют или связаны с необходимостью замены фаэо. 15вых зазоров.Цель изобретения - улучшетвте коррекции аберраций,Это досптгается тем, что третий компонентвыполнен в виде одиночного положительного ме. Мписка, обращенного выпуклостью ко второму компоненту, а четвертый - в виде трехсклееннойдвояковыпуклой лизы,На чертеже представлена схема конденсораКонденсор состоит из четътрех компонентов. 25 Компоненты 1 - 3 выполнены в виде одиночных положительных менисков, Причем мениски 1 и 2 обращены выпуклостью к третьему компоненту, выпуклость которого обращена ко второму ком. поненту. Компонент 4 выполнен в...
Револьвер для микроскопа
Номер патента: 597346
Опубликовано: 05.03.1978
МПК: G02B 21/14
Метки: микроскопа, револьвер
...доска в двух направлениях в плоскости, перпендикулярной оптической оси микроскопа. Подпружиненные плунжеры 14 и винты 15 позиционируют опорный элемент 4, который может быть заблокирован в своем положении посредством окончательного затягивания винтов 6, Опорная стойка 16, около которой вращаются револьверные устройства 17 и 18, закреплена на опорном элементе винтами 19 и снабжена подшипниками 20 и 21, установленными соответственно на заплечиках 22 и 23.Устройство 17 опирается на пол,шинник 20 и его правильное центрирование поддерживается давлением прижимной пружинной шайбы 24, прижимающей револьверное устройство 1 к подпятнику 25, закрепленному фланцем опорной стойки. В устройстве 17 имеется множество отверстий 26 и одно...
Фазовый конденсор для микроскопа
Номер патента: 724093
Опубликовано: 25.03.1980
Авторы: Милтон, Роберт, Эдвард
МПК: G02B 21/14
Метки: конденсор, микроскопа, фазовый
...обращенных ко второмукомпоненту, и двояковыпуклой линзы.На чертеже представлена оптическая схемапредлагаемого конденсора.Конденсор состоит из трех компонентов1 - 3, Компоненты 1 и 2 - одиночные положительные мениски, выпуклостью обращенныек компоненту 3, Компонент 3 выполнен в виде трехсклеенной из двух отрицательных меО писков 4 и 5, линзы обращенных выпуклостьюк компоненту 2, и двояко-выпуклой линзы 6.Конденсор имеет вынесенный зрачок 7, чтоявляется весьма существенным, поскольку желательно, чтобы положение фазОвого зазораЯ кольца на чертеже не показано) было какможно ближе к положению зрачка.Конденсор хорошо скорректирован как дляполевой, так и для зрачковой аберраций, Коррекция для обеих аберраций хорошо выпол 20 няется как для...
Фазовый конденсор для микроскопа
Номер патента: 776579
Опубликовано: 30.10.1980
Авторы: Милтон, Роберт, Эдвард
МПК: G02B 21/14
Метки: конденсор, микроскопа, фазовый
Микроскоп с переменным фазовым контрастом
Номер патента: 1107092
Опубликовано: 07.08.1984
Авторы: Андреев, Куликов, Окишев, Хохрин
МПК: G02B 21/14
Метки: контрастом, микроскоп, переменным, фазовым
...взаимно перпендикулярны,На фиг, 1 представлена оптическая схема микроскопа; на фиг, 2 - поляризатор, разрез; на фиг, 3 - то же, вид спереди.Предлагаемое устройство включает осветитель 1 с кольцевой диафрагмой 2, объектив 3, первую линзовую систему 4 переноса выходного зрачка 5 объектива 3, первый поляризатор 6, вторую линзовую систему 7 переноса зрачка 5, второй поляризатор 8, компенсатор 9, например Бабине-Солейля, окуляр 10 и анализатор 11, При этом поляризаторы 6 и 8 с помощью систем 4 и 7 оптически сопряжены со зрачком 5 и расположены по Е-образной схеме. Каждый из поляризаторов 6 и 8, в свою очередь, состоит из примыкающих друг к другу плоскопараллельной пластины 12 на поверхности 13 которой нанесено зеркальное покрытие, имеющее...
Оптическая система для получения промежуточного изображения при осуществлении контрастных методов в микроскопах
Номер патента: 1125592
Опубликовано: 23.11.1984
МПК: G02B 21/14
Метки: изображения, контрастных, методов, микроскопах, оптическая, осуществлении, промежуточного
...том случае, если они 15 у призмы Волластона, расположенной на стороне изображения, получаются в качестве линейно-поляризованного света.Из теоретической оптики известно, что при полном внутреннем отражении на стеклянной поверхности между составляющими лучей, колеблющимися па" раллельно и перпендикулярно плоскости падения, встречается зависимая 25 от угла падения 1 и показателя преломления стекла 1 разность фаз о . Су5592 4этой части обыкновенный луч остается обыкновенным и необыкновенный луч остается необыкновенным.Так как падающие на плоскости призм отображающие лучи имеют немного различное наклонение и поэтому достигают отражающих поверхностей под различными углами падения Ч разность фаз не одинаковая для всех лучей и для внеосевых...
Устройство для контрастного изображения микроскопических объектов
Номер патента: 1164641
Опубликовано: 30.06.1985
Автор: Гюнтер
МПК: G02B 21/14
Метки: изображения, контрастного, микроскопических, объектов
...вы 50ходном зрачке объектива системы изображения или вблизи, или в изображении выходного зрачка расположен дифракционный диск, последний имеетсов -образное распределение пропуска"55ния, длина периода которого соответствует диаметру выходного зрачка объ-,ектива системы, изображения или изоб 641 2ажения выходного зрачка во входном зрачке конденсора осветительной системы или в изображении входного зрачка расположен подобный дифракционный диск, длина периода которого, после изображения в плоскость дифракционного диска, соответствует длине пе- . риода расположенного там дифракционного диска.На чертеже представлена оптическая система предлагаемого устройства.Устройство содержит дифракционный диск 1, кондеисор 2, объект 3,объектив 4, систему 5...
Интерферометрическое устройство для контроля фазовых колец
Номер патента: 1465857
Опубликовано: 15.03.1989
МПК: G02B 21/14
Метки: интерферометрическое, колец, фазовых
...темной интерференционной полосы 19 совмещена с индексом 15, и снимают первый отсчет по оптическому уст" ройству 10, Затем разворачивают анализатор 11 до получения,интерференции на. зоне 16, при этом середина темной интерференционной полосы оказывается смещенной относительно индекса 15 на величину П, Перемещают призму Волластона таким образом, что интерференционная картина перемещается на величину 0 и снимают второйотсчет, По разности первого и второго отсчетовопределяют величину контролируемого фазового сдвига. В результате расположения интерференционных полос вдоль направления раздвоения изображения они пересекают серповид" ное изображение фазового кольца .18 в широкой и протяженной его части и хорошо различимы даже в случае низкого...