Прибор для точных измерений при помощи интерференции световых волн
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
АВТВРСНОЕ евидвтельтво НА иприбора для точных измерений при помощи интерференции световых волн.О выдаче авторского свидетельства опубликовано 30 ноября 1934 года.При точных измерениях помощью интерференции световых волн известно применение стеклянных пластинок, расположенных таким образом. что между ними образуется Клиновидная прослойка воздуха. При изменении толщиныэтой прослойки ИЗМСНЯЕТСЯ ЦВЕТ И КОЛИЧЕСТВО интерференционных полос, что дает возможность судить о точности размеров обмеряемого предмета. В настоящем изобретении для регулирования толщины воздушной прослойки применен мери тельный штифт, передвижной в осевомНа чертеже фиг. 1 схематически изображает предлагаемый прибор сприменением микроскопа для отсчета; фиг. 2 предлагаемый прибор с отсчетом простым глазом.Прибор состоит из двух стеклянных пластин 1 и 2, из которых первая неподвижная, а вторая подвижная и имеет опорную поверхность 4. Между пластинами 1 и 2 помещена фольга 3. Обмеряемыи предмет 17 помещается на подставке 16, сдвигая при этом в осевом направлении Мерительный штифт 5, поад Д. иену-ы;.мещенныйв корпусе 2 прибора Штифт доказывает давление на подвижную пластинку 2, перемещая ее. Вследствие этого воздушная прослойка между пластинами изменяется, а следовательно изменяется цвет и количествоДля отсчета количества полос может быть применен микрометр 7 (фиг. 1) с микроскопом 6, установленным на салаз ках 9. Отсчет может быть произведентакже простым глазом через анахроматическое стекло 13.для отсчета положения подставки 16 служат шкала 15 и микроскоп 14.Прибор для точных измерений при помощи интерференции световых волн с использованием клиновидной прослойки воздуха, образуемой между пла стинами, отличающийся применением передвижного мерительного штифта 5,служащего для регулирования воздушной прослойки между пластинами 1 и 2, В СООТВЕТСТВИИ С размерами ОбМЕРЯЕМОГОК авторскому свидетельствуЗимина иЦпммъ пана м: 39986
СмотретьЗаявка
120295, 15.12.1932
Зимин В. Н, Циммерман К
МПК / Метки
МПК: G01B 11/06, G01B 9/02
Метки: волн, измерений, интерференции, помощи, прибор, световых, точных
Опубликовано: 30.11.1934
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-39986-pribor-dlya-tochnykh-izmerenijj-pri-pomoshhi-interferencii-svetovykh-voln.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Прибор для точных измерений при помощи интерференции световых волн</a>
Предыдущий патент: Устройство для проверки параллельности оси шпинделя в направляющих станины станка
Следующий патент: Способ и прибор для обмера готовых изделий
Случайный патент: Способ управления процессом упаривания растворов в многокорпусной установке