G01J 3/26 — с использованием эффекта многократного отражения, например интерферометры Фабри-Перро, переменные интерференционные фильтры

Компенсатор разности хода для интерференционных приборов

Загрузка...

Номер патента: 61498

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Рыскин

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерференционных, компенсатор, приборов, разности, хода

...в интерферометре белого света клинья должны быть установлены преломляющими углами в разные стороны, чтобы их совокупность была эквивалентна плоскопараллельной пластинке.Первая форма выполнения компенсатора показана на фиг, 2. Оба клина установлены таким образом, чтобы по ходу света приходились друг против друга области обоих клиньев с разными показателями преломления. При этом оптические длины лучей 1 и 2, из которых один проходит через клинья слева от плоскости склейки, а другой - справа, равны соответственно 3= = 11 П 1+ 1 П И 3,= г 1 П 2+ 12 П 1 (П 1 И и, - показатели преломления стекол). Очевидно, что 3=3, приСдвигая один клин относительно другого, как это показанона фиг. 3, можно осуществить равенство 1,=1, и добиться того,...

Автоколлимационный монохроматор для инфракрасной и ультрафиолетовой областей

Загрузка...

Номер патента: 109312

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Левин

МПК: G01J 3/16, G01J 3/26

Метки: автоколлимационный, инфракрасной, монохроматор, областей, ультрафиолетовой

...4, в фокусе которого нащелии э. Отразившие. рического зеркала, одна чка световых лучей прохо. ез плоское зеркало и щель мной части монохроматоая часть пучка лучей пазеркальный умножитель,гле: и -т сл Т НЯ П ого о зеркало ходвСЯ от сфе час"ь п дит чер о в прие ра, друг дает на Изме до стига дения п изменят В ИЗВЕ ПЫХ .100 ЛО, УОН СЛ 0)К НЬ Е;) О, ВПИ.1 Б прел,прок ) жд сложые; лиисские кратным Оди ли"а 1 110( увелчени примеси На 1)иг. КО,1,ИМа 1 на фиг. 2 ножителя.МОНОХРОМАТО т,ИОЛЕТОВОЙ ОБЛ , - : с,)ст 05 и й и:,1ИРИЗМЫ / ,1. лл5 испергируюи хвиг. 2), в;е;1 срых посерел 1 иЧисло ирохЧЕРЕЗ ДИСИЕОГ;,л(ЕТ 0 т Иможе 1 оь: л ссиссмы.И )мен, и:ес 5 вако 1:л) р л)1,УМ ЯО)КИТС,1)1 ЧИСЛО П )ОХО:З И.через,си р" р;, ,.:=пРизмы;го...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 114105

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Бахшиев, Киселев

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр

...узла, а третье зеркало, служащее для поворота одного из световых пучков на угол 90, выполнено неподвижным.Принципиальная схема прибора показана на чертеже. ет изобрет рфероме ч ающи повышен снижен икельсону, м, что, с вствительний к точтли елью ости яеготреб аявлено 15 марта 1957 г, за5 при СОБРЕТЕНИ ВИДЕТЕЛЬСТВУ Интер ферометр содержит полупрозрачную пластинку 1, компенсационную пластинкч 2, два плоских зеркала 3 и 4, жестко связанные с кареткой Б, перемещаемой по направляющим вместе с установленными на ней зеркалами и неподвижное зеркало 6, служащее для поворота одного из световых пучков на 90.При любых перемещениях каретки 5 взаимное расположение установленных на. ней зеркал 3 и 4 остается неизменным, т. е. плоскопараллельность (или...

Двухлучевой контактный интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 114698

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Коронкевич

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: двухлучевой, интерферометр, контактный

...расширить диапазон измерений в 20 - 30 раз.Достигается это тем, что между конденсором осветителя и светофильтром интерферометра устанавливается эталон Фабри - Перо.Устройство прибора показано на чертеже.Две стеклянные пластины 1 и 2 заключены в металлическую оправу 3. На поверхности пластин нанесены, обращенные друг к другу, светоделительные слои серебра, Расстояние между пластинами с определяет длину эталона Фабри - Перо. Прибор устанавливается между конденсором осветителя и светофильтром интерферометра, в результате чего в поле зрения микроскопа интерферометра можно наблюдать несколько систем интерференционных полос. Расстояние между черными ахроматическими полосами соседних интерференционных картин равно расстоянию между...

Зеркально-призменный умножитель для изменения дисперсии

Загрузка...

Номер патента: 115022

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Ефимов

МПК: G01J 3/26

Метки: дисперсии, зеркально-призменный, изменения, умножитель

...половины призмы прямого зрения, причем многократное прохождение пучка через призму происходит прц изменении угла мекду ними, путем наклона зеркала илц призмы.На чертеже показана схема зеркально-призменного умножителя.ТФ 5 и К 8 - желательные сорта стекол. Лучи, идущие от источника света. проходят черсз объектив 1, отражаются от задней грани призмы 2, попадаю на зерало 3, проходят в призму ц внов отража 1 отся задней гранью на зеркало, после которого эти лучи возвраща 1 отся ооратно тем же путем (случай четырехкратного прохождения луча в полугрцзме прямого зрения).В зависимости от угла наклона призмы или зеркала прохождение пучка света можно менять и получать по желацшо однократным, двух- кратным и многократным, имея тем самым, переменный...

Многолучевой интерферометр типа фабри-перо с переменной разностью хода

Загрузка...

Номер патента: 190618

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой, переменной, разностью, типа, фабри-перо, хода

...повредить зеркальные слои пластин. На чертеже представлена схема предложенного многолучевого интерферометра типа Фабри - Перо с переменной разностью хода.Интерферометр состоит нз полупрозрачных 5 зеркальных пластин 1 и 2, подвижной системы отражающих зеркальных поверхностей 3 и 4, расположенной между зеркальными пластинами, и регистрирующей системы.Световой, пучок от источника падает иа,по лупрозрачную зеркальную пластину 1, многократно проходит между зеркалами 1 и 2 по пути 1 - 3 - 4 - 3 - 2 и обратно. Образованная в результате многократного отражения между зеркалами 1 и 2 многолучевая интерферен ционная картина наблюдается с помощьюоптической системы б на экране б. Ребра зеркальных поверхностей 3 и 4 параллельны друг другу и лежат в...

Электрострикционное устройство для юстировки, перемещения и крепления пластин фабри-перо

Загрузка...

Номер патента: 195657

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Германска, Иностранец

МПК: G01J 3/02, G01J 3/26

Метки: крепления, перемещения, пластин, фабри-перо, электрострикционное, юстировки

...поверхность перемычек нанесен проводящий слой 15, Участки покрытия на наружных поверхностях перемычек изолированы друг От друга.К электропроводящсму слою 15 перемычек подается напряжение, Регулируя напряжение на каждой перемычке, можно изменить угол клина между пластинами 12, 13, про изводя гаким образом юстировку прибора.Прилагая одинаковое напряжение ко всем трем участкам электропроводящего покрытия перемычек можно плавно менять расстояние мехкду пластинами при сохранении угла клина,На опоре 1 б (см, фиг. 2) находятся перемещаемые по направляющей 17 салазки 18, к которым прикреплены две параллельные Опоры 19, 20 с вырезами 21, 22, расположенные под поямым углом к направлсни 0 пеоемещения.Цилиндр 23 находится между опорами. Один конец...

Многолучевой интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 197218

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ловков, Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой

...параметров.Для таких неоднородностей, характеризующихся разными величинами и направлениями градиентов плотности, необходима исходная настройка различных участков интерференционного поля на различную ширину и ориентировку полос.Известные многолучевые интерферометры не позволяют проводить одновременную настройку интерференционной картины, обеспечивающую получение системы полос с различными параметрами за один цикл эксперимента, т. е, без перенастройки устройства.В данном устройстве это достигается тем, что одна из зеркальных пластин выполнена в виде многоэлементного блока, состоящего из системы зеркальных пластин с различными Он содери коллиматора ную пластин блок 4, пред 0 кальпых пла ми отражен тировочные родность 5,стему 7. 5...

Многолучевой интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 234706

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Скоков, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой

...пройдя оптическую систему 2, падает на плоские полупрозрачные зеркала 8 и 4. Интерференционная картина регистрируется приемником б с помощью оптической системы б. Камера 7 с исследуемой неоднородностью установлена между зеркалами 8 и 4. Для наблюдения второй интерференционной картины между зеркалами 8 и 4 после камеры 7 установлена полупрозрачная пластина 8, с помощью которой световой поток направляется на дополнительную мет изобретения Предлагаемое устройство о сти оптических исследований в прозрачных средах.Известен многолучевой инт Фабри-Перо для изучения газ нородностей, содержащий дв прозрачных зеркала и регистр му. оптическую систему, содержа лупрозрачное зеркало 9, опт 10 и приемник 11, Незавпси зеркал 4 и 9 при неподвижн 5 каждой...

Интерферометр фабри-перо

Загрузка...

Номер патента: 234707

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Колошников, Лапшин, Рагимов

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, фабри-перо

...параллельно, Зеркало 1 крепится на оправе сканирующей системы 3, которая сообщает зеркалу 1 коле бательное движение с частотой омо и амплитудой а, Зеркало 2 закреплено в оправе, установленной на подвижном столике 4, который перемещается в горизонтальном направлении с постоянной скоростью при помощи микро метрического винта. Оправа снабжена регулировочными винтами для установки положения зеркал и точной юстировки их параллельности. Параллельность зеркал сохраняется при пх взаимных перемещениях. Излучение источ ника 5, прошедшее через интерферометр ифильтр с полосой пропускания меньшей, чем область дисперсии интерферометра Фабри-Перо, регистрируется приемником б излучения и через усилитель 7 поступает на вход спнхрон ного...

Волномер оптического диапазона

Загрузка...

Номер патента: 252663

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гуськов, Рубанов

МПК: G01J 3/26

Метки: волномер, диапазона, оптического

...интервала и непосредственно связан с осциллографом 10.Исследуемое излучение направляют на ЭФП 1. Интерференционная картина линзой 2 проектируется на фотокатод трубки 8, Величина фокусного, расстояния линзы выбирается такой, чтобы на фотокатоде уложилось требуемое для измерения число колец интерференционной картинны. Однострочная прямолинейная развертка фотокатода производится со скоростью, определяемой характеристиками измерителя 9 и заданной точностью измерения. При движении, развертывающего луча на выходе трубки появляются электрические импульсы, соответствующие положению интерференционных колец на фотокатоде.Генератор 4 развертки запускается импуль. сами от синхронизатора 5, которые подаются также,на каскады б и 7 электронной...

Привод для сканирования в спектрометре фабри-перо

Загрузка...

Номер патента: 270289

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Архипов, Плтен, Розуванова

МПК: G01J 3/26

Метки: привод, сканирования, спектрометре, фабри-перо

...менее одного свободного интервала, упругую мембрану б, задающую камеру 7. Рабочая камера 3 состоит нз двух 10 сильфонов, установленных коаксиально, причем основание пластины контактирует с оправой зеркала.Работает привод следующим образом.Давление в рабочей камере 3 изменяется за 15 счет смещения ее основания илп в результате изменения давления рабочей смеси при смещении подвижного основания задающей камеры 7. При изменении давления в рабочей камере мембрана прогибается, и пластины 20 Фабрп-Перо смещаются.При перемещении одного из подвижных оснований задающей камеры с помощью кулачкового, винтового или других механизмов (устройства 5) изменяется давление внутри 25 камеры, необходимое для смещения пластинФабри-Перо на половину длины...

Интерференционный способ определения спектрального состава излучения

Загрузка...

Номер патента: 320731

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Оптики, Тарасов

МПК: G01J 3/26

Метки: излучения, интерференционный, состава, спектрального

...от обычных спектрограмм, в которыхрасстояние от нулевого максимума до спектральных линий пропорционально длине волны, здесь это расстояние пропорционально частотам световых колебаний. Иитерференциониьи способ определения спектрального состава излучения, включающий в себя запись интерферограммы исследуИзобретение относится к области спектрального приборостроения и может найти применение при разработке малогабаритных спектральных аппаратов.При известных интерференционных способах определения спектрального состава излучения сначала с помощью двухлучевого интерферометра производят запись интерферограммы, затем осуществляют преобразование Фурье полученной записи одним из известных способов, восстанавливая исходный спектр,При определении...

Всесиюзная -, gt; amp; -гьi•: . •4»f. wp-“ip ii; -; i су; i lit1 litunlwit. -lii

Загрузка...

Номер патента: 369424

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вольфганг, Иностранцы

МПК: G01J 3/26

Метки: 4f, litunlwit, wp-"ip, всесиюзная, г.и, су

...15 соответственно, изменяет диапазон регулируемых расстояний между зеркалами, Комбинируя величины напряжения на прокладках различных извилистых элементов, можно регулировать наклон зеркал.20 На фиг. 2 показано устройство, малочувствительное к изменениям температуры.Зеркала 10 и 11 опираются соответственнона стержни 12 и 13 одинаковой длины, изготовленные из электрострикционного материа ла с одинаковым коэффициентом линейногорасширения. В показанном на фиг, 2 варианте устройства стержни, поддерживающие каждое из зеркал, являются образующими цилиндра, связанными кольцевыми перемычка- ЗО ми, и составляют вместе с последними единую369424 12 Фиг оставитель Б. Арло Техред Т. Ускова Нанки Корректорьп А. Дзесова и Л. Новожилова акто Заказ...

410266

Загрузка...

Номер патента: 410266

Опубликовано: 05.01.1974

МПК: G01J 3/26

Метки: 410266

...5 с одновременнымувеличением, отражающие зеркала 6, 7.Радиусы кривизны зеркал 3, 4, 5 одинаковыи равны расстоянию между зеркалами 3, 4 и 5, 25т. е. центры кривизны зеркал 3, 4 лежат в отражающей плоскости зеркала-коллектива 5, ацентр кривизны зеркала-коллектива 5 лежитв плоскости зеркал 3, 4,Световой пучок, вошедший в кювету через 30 входную щель 1 и прошедший несколько раз между зеркалами 3, 5, 4 (число прохождений зависит от угла разворота а зеркал 3, 4), выходит из кюветы через щель 2 и попадает на приемник радиации, регистрирующий интенсивность У,светового потока (для т прохождений светового пучка в кювете). При этом поток претерпевает дополнительно а отражений на плоском образце 8 (число отражений п+2 равно числу...

Сканирующий эталон фабри-перо

Загрузка...

Номер патента: 422978

Опубликовано: 05.04.1974

Авторы: Ветвннскнй, Изобретени, Легеза, Радченко

МПК: G01J 3/26

Метки: сканирующий, фабри-перо, эталон

...производится за счет изменения расстояния между зеркалами.В большинствс случаев эталоны такого типа не позволяют исключить влияние флуктуаций газов в полости между зеркалами на точность измерений, имеют сложную систему перемещения зеркал или требуют создания высоких давлений газов для проведения сканирования,Цель изобретения - повышение точности спектральных измерений.Цель достигается за счет выполнения эталона Фабри-Перо в виде мембранной коробки,Схема сканирующего эталова Фабри-Перо представлена па чертеже.Эталон состоит из двух одинаковых колец 1 с мембранными выступами 2, кольца-прокладки 3, зеркал 4 и штуцера 5 для откачки или напуска газа,При введении эталона в камеру, давление в которои может изменяться, за счет деформации...

Фурье-спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 518643

Опубликовано: 25.06.1976

Автор: Шаров

МПК: G01J 3/26

Метки: фурье-спектрометр

...на общемосновании зеркала 7 и смещенное параллельно его плоскости. Фотоэлектрическая частьФурье-спектрометра включает в себя усилительный тракт 9 измерительного канала,усилители-формирователи 10 первого контрольного канала и 11 второго контрольнсго канала, устройство управления 12, аналогс цифровой преобразователь 1 3, вычислительную машину 14, генератор 15 пилообразного напряжения, сумматор 16 и систему 17 контроля скорости движения.50На выходе спектрометра 1 интерферограммы исследуемого изпучения 2, монохроматического излучения 3 и немонохроматическогоизлучения 4 подвижным зеркалом 5 с помощью преобразователя перемещения 6 путем подачи на него пилообразного напряжения от генератора 15 через сумматор 16,управляемый системой...

Многолучевой интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 545877

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Карпушко, Синицын

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой

...) = /,(, - Я ,1 из усгпвия: ЙА, ) =К 1 с,где ю - угол врашения плоскэсти поляризации ддя издучения с длиной вэлны ЯК - целое положительное чисдо, Определяемое тэлшинэй пластины 3, Полуширина Жмаксимума прэпускания определяется выражением;(М-ч 12 27г, 40гдеОптическая толшина зазора между отрезающими покрытиями, В зависимостиот тодшичы пластины 3 и дисперсии вращения плоскости поляризации в ней Отношение/Р)о может изменяться от нескольких 4 эдесяткэв дэ нескольких тысяч.На фиг. 2 изображена схема интерферометра, в котором с целью получения различ-,ных характеристик пр опускания (невзаимности) при прямом и обратном прохождении иэ-фдучения один из поляризаторов 5 расподожейвнутри, а второй 4 - вне зазора интерферометра. (Обозначения,на фиг,...

Механизм перемещения зеркал интерферометра

Загрузка...

Номер патента: 554472

Опубликовано: 15.04.1977

Автор: Матвеев

МПК: G01J 3/26

Метки: зеркал, интерферометра, механизм, перемещения

...через центры плоских пружин, причем стержень снабжен устройством магнитострикционной и обратной пьезоэлектрическойдеформации, а для получения сложных закоЕР АЛ ИНТЕРфЕРОМЕТРА нов сканирования между консолями установлена прецизионная винтовая пара, соединенная с жестким стержнем,На чертеже показан предлагаемый меха низм перемещения зеркал, имеющий основание 1 и подвижную плиту 2, соединенныепружинами 3. Средняя часть пружин усилена накладками 4. Неподвижное зеркало 5 интерферометра закреплено на основании 1, а подвижное зеркало 6 - в юстируемой оправе 7 на подвижной плите 2.На основании 1 и плите 2 устаиовлсны соедииснцыс стеркием 8 консоли 9. 15 Механизм работает следующим образом,Вследствие магнитострикционных и обратных...

Спектрометр для измерения длины волны монохроматического излучения

Загрузка...

Номер патента: 566147

Опубликовано: 25.07.1977

Авторы: Варга, Зайцева, Суханова, Чурбаков

МПК: G01J 3/26

Метки: волны, длины, излучения, монохроматического, спектрометр

...определяется числом используемых двоичных разрядов, Дополнительный измерительный канал образован светоделителем, состоящим из двух зеркал 9 и 10, объектива 11 и спектрального прибора, в состав которого входят спектральная щель 12, коллима торный объектив 13, дифракционная решетка 14 и выходной объектив 15, на выходе которого установлена кодирующая двоичная линейчатая маска 16, За маской 16 установлен дополнителыгый регистратор, содержащий блок 17 разводящих элементов, линзу 18 и блок 19 фотоприемников.Ус.ге ройство работает следующим образом, Исследуемый сигнал, рассеянный рассеивателем 1, формируется объективами 2 и 3 на входной апертуре интерферометра 4 Фабри - Перо.Образованные интерферометром 4 кольца формируются фокусирующим...

Интерференционный спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 593081

Опубликовано: 15.02.1978

Автор: Гершун

МПК: G01J 3/26

Метки: интерференционный, спектрометр

...верхних (нижних) секторов диафрагм 8 и 12 совпадает с ииж- ЗО ними (верхними) секторами этих диафрагмкак в лучах, которые проходят интерференционную часть спектрометра, не отражаясь от зеркал 7 и 9, так и в лучах, которые отражаются от этих зеркал. Интерференционные кольца в плоскости диафрагм 8 и 12 наблюдаются только в лучах, которые не отража. ются от зеркал 7 и 9. Для остальных лучей контраст интерференционной картины равен нулю вследствие клина, введенного наклоном этих зеркал, так как нижняя часть спектрометра представляет собой только светоделительную схему, а не интерферометр с обратнокрутовым ходом лучей. Объективами 18 н 15 изображения диафрагм 3 и 12 проектируются на плоскость зеркального прерывателя 16, который...

Интерференционный спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 648852

Опубликовано: 25.02.1979

Авторы: Архипов, Лысенко, Паршин

МПК: G01J 3/26

Метки: интерференционный, спектрометр

...колебаний интерференционного модулятора.Спектрометр работает следующим образом.Модулятор 1, периодически изменяя разность хода интерферометра, производит селективную модуляцию спектра с частотой ъ 11 . Переменный сигнал на этой частоте выделяется приемно-регистрирующим устройством 3. Амплитуда 1 О этого сигнала пропорциональна функции Бесселя первого рода первого порядка от амплитуды Е. колебаний интерференционного модулятора 11 О -,(К -- ,ЕХеЛгде К - параметр, зависящий от конкретного исполнения интерференции модулятора;Х - длина волны, на которую настроен спектрометр.При условии начальной разности хода оо = ф функция Бесселя имеет максимум при= 1,84, что соответствует нулеЬ вому значению первои производнои Нахождение нулевого...

Привод качания оптического зеркала в многоходовых кюветах

Загрузка...

Номер патента: 649964

Опубликовано: 28.02.1979

Авторы: Васильев, Гутников

МПК: G01J 3/26

Метки: зеркала, качания, кюветах, многоходовых, оптического, привод

...гнездо суппорта имеет прорезь, ширина которой больше толщины гибкого стержня,На фиг. 1 - 4 показана конструкция данного привода и отдельных его узлов.Коллективное зеркало 1 и объективное зеркало в оправе 2 (второе объективное зеркало для упрощения чертежа показано условно) помещены внутрь геометрического корпуса кюветы, оптическая светящаяся марка 3 изображается объективным зеркалом на центре светоприемника 4, электрически связанного через управляющий усилитель 5 с электродвигателями редукторов 6 и 7 качания зеркала относительно осей Х и У, оправа с зеркалом при помощи точечного открытого шарнира 8 и гибкого стержня 9 (прочная пружина или тросик) под действием натяжной пружины 10 находится в постоянном механическом контакте с упорами 11...

Устройство для измерения разности хода в эталоне фабри-перо

Загрузка...

Номер патента: 658411

Опубликовано: 25.04.1979

Автор: Брикс

МПК: G01J 3/26

Метки: разности, фабри-перо, хода, эталоне

...оси, эталон Фабри-Перо выполнен в виде плоскопараллельной пластины с отражающими покрытиями, выполняющей одновременно роль компен сатора разности хода и расположенной на поворотном столе, снабженном средством для измерения угла поворота, при этом ось вращения эталона параллельна направлению колебания объек,тива коллиматора. На чертеже изображена схемаустройства для измерения разностихода н эталоне Фабри-Перо,Устройстно содержит осветитель,включающий спектральную лампу 1, конденсатор 2, диафрагму 3, светофильтр4, объектив 5 коллиматора, на оптической оси которого находится стабильный эталон фабри-Перо б, Устройство также имеет выходной объектив 7, Фотоэлектронный умножитель 8,снязанный с блоком регистрации, включающим узкополосный...

Интерферометр фабри-перо

Загрузка...

Номер патента: 684336

Опубликовано: 05.09.1979

Авторы: Абрамов, Томашевский

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, фабри-перо

...смазаны и притерты друг к другу. Эти поверхности выполнены шлифованными и притерты другк другу до зеркального отражения принормальном падении лучей, При этом 25смазка концентрируется в основном в углублениях, а контакт поверхностей линзпроисходит на полированных участках. Врезультате уменьшается слой смазки,Слой смазки допускает сдвиги и препят- ЗОствует отрыву линЗ друг от друга.Юстировку интерферометра производятсдвигами линз относительно друг друга,Сначала производят грубую юстировку,компенсаторами с цилиндрическими поверхностями, составленными из линз 7,9 и 5, 7, вращением линз относительноосей их цилиндрических. поверхностей,Для регулировки апертуры линзы сдвигают вдоль этих осей. Тонкая юстировка 4 Опроизводится линзовым...

Способ автоматической калибровки спектрометра фабри-перо

Загрузка...

Номер патента: 693124

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Архипов, Лысенко

МПК: G01J 3/26

Метки: автоматической, калибровки, спектрометра, фабри-перо

...параллельности пластин Фабри-Перо с помощью системы, использующей ампли-5 тудное рассогласование между сигналами, проходящими по трем регулируемым оптическим каналам через пластины 2,Известный способ не обеспечиваетвысокой разрешающей способности, точности и скорости регистрации спектра.Цель изобретения - повышение разрешающей способности, точности и скорости регистрации спектра. 2Поставленная цель достигается благодаря тому, что в системе регулировки параллельности пластин используют калибровочный источник и фазовое рассогласование между сигналами, причем один йз оптических каналов выполнен нерегулируемым и принят эа опорный, а калибровочный интервал в длинах волн отсчитывают с учетом фазовых рассогласований по опорному...

Диспергирующее устройство спектрального прибора

Загрузка...

Номер патента: 705274

Опубликовано: 25.12.1979

Автор: Матвеев

МПК: G01J 3/26

Метки: диспергирующее, прибора, спектрального

...притылишь в далекой инфрвкЦель изобретения - уппии и повьпцение эффектиустройства,Для достижения этого отрверхности выполнены в видервщены одна к другой непрозкальными покрытиями, причемпластина выполнена иэ проэрариала, в в ее покрытии прорес постоянным шагом,На фиг. 1, 2 в двух пдена схема диспергирующеОно состоит из пере2 пластин с зеркальным и705274 Фиск Составитель А. Качанов ова Техред Н. Ковалева Корректодактор Н 1 азаро аквэ 8 015/43 Тираж 766 ЦНИИ ПИ Государственного по делам изобретений 113035, Москва, Ж 35, РПодпи комитета открыти ушская н"Патентф, г, У Филиал од, ул. Проект рые установлены параллельно друг к другу. В покрытии передней пластины 1 выполнены прозрачные щели постоянного шага.Устройство работает следукнцим...

Способ спектрального исследования излучения

Загрузка...

Номер патента: 724942

Опубликовано: 30.03.1980

Автор: Рагульский

МПК: G01J 3/26

Метки: излучения, исследования, спектрального

...сквозь поляризатор 1 (напри мер, диэлектрическое зеркало, расположенное под углом к пучку), интерферометр типа фабри - Перо 2 с базой 1=26 мм, четвертьволновую пластину 3 и искажающую волновой фронт фазовую пластину 4, Затем с помощью линзы 5 пучок направляют в световод 6, заполненный жидким сероуглеродом, где развивается вынужденное рассеяние на гиперзвуковых волнах (тппа Мандельштама - Бриллюэна), в ходе которого 0 происходит обращение волнового фронта. Вэтом процессе спектральный состав излучения не меняется, а частота всех спектральных линий сдвигается на постоянную величину25724942 Формула изобретения1 оставитель А. Смирнов орректор Л, Тарас едакт олнда хрен А. Камышникова каз 145/16 Изд. ЛЬ 210 Тирахс 729ПО Поиск...

Спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 763696

Опубликовано: 15.09.1980

Авторы: Архипов, Розуванова

МПК: G01J 3/26

Метки: спектрометр

...образом. Излучение направляется на решетку 1 и после дифракции - на Фабри-Перо и решетку 3. Дифракционная .решетка 1 осуществляет предварительную фильтрацию излучения, интерферометр Фабри-Перо .2 определяетразрешающую способность спектрометра, дифракционная решетка 3 осуществляет окончательную фильтрацию излучения. При повороте обеих решетокпроисходит сканирование спектра предварительным монохроматором. Располо-жение спектра в известных спектрометрах с Дифракционными решеткамиотличается существенно от расположения спектра в предлагаемом спектрометре. В настоящем спектрометре коэф"фициент интегральной Фильтрации,определяющий фильтрующую способностьприбора, является функцией координатх и у, расположенных в фокальнойплоскости (например, х -...

Интерференционное устройство с компенсацией фона

Загрузка...

Номер патента: 779821

Опубликовано: 15.11.1980

Автор: Дубков

МПК: G01J 3/26

Метки: интерференционное, компенсацией, фона

...информацию об исследуемом объекте, делится. светоделителем 1 на два пучка, которые направляются по двум ветвям, в каждой из которых Формируется иэображение объекта. В плоскостях иэображения объекта, совпадающих с,фокаль ными плоскостями коллиматоров 2 и 2 устанавливаются растры 3 и 3 . Причем, относительно оптической оси положение полос одного растра обратно положению полос другого. В случае, если изображение источника иэлучения умещается в пределах полосы растра, оно пропускается одним растром и не пропускается другим. Отражатели 4 и 4 и коллиматоры 2 и 2 Формируют параллельные пучки, идущие в интерФерометр 5. Фотоприемник б регистри- рует суммарный интерференционный сигнал . Фоновая засветка, проходя по обеим ветвям устройства,...