Способ измерения эллиптичности шариков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 63059
Автор: Коломийцев
Текст
СССР Класс 42 Ь, 8 фе 63 О 59 ОЛ И САНИ Е ИЗО БРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУЗареггггенрггровано в Бюро иеобретениб Гоенегана нрц СНК СССР аоанон га. Тй),БИ 3 эЛ Л",", Ю. В. Коломийцев Способ измерения эллиптичности шариковКак известно, испытание шариков на эллиптичность производится измерением их диаметров с помощью микрометра, оптиметра и т, п. приборов. Однако, величина эллиптичностн редко превышает несколько десятых микрона и эти првборы оказываются недостаточно чу вствительнымн. Кроме того результаты измерения сильно гискажаются из-за наличия случайных пылинок или забоин на испытуемой поверхности, а также вследствие температурных воздействий.Предметом изобретения является способ измерения эллиптичности шариков путем сравнения их поверхностей с эталонными на интерферометре сравнения типа Твайгмана.Оптическая схема интерферометра для измерения эллиптичности шариков представлена на чертеже, где обозначены: Я - лампа накаливания, 1. - конденсорная линза, Т - диафрагма с круглым отверстием, К - плоское зеркало, 01 и О. - астроноиические объективы, Бя 1, й-, 3 яя и Яи, 34 р, 34 з - плоские зеркала, 1 р, 1.4 и 1.", Ь - склеенные линзы, М - две склеенные плоскопараллельные пластины с полупрозрачным слоем серебра между,ними, К - испытуемый шарвк, К и Ка - сферические зеркала, О - окуляр.Выходящий гиз объектива 01 параллельный пучок лучей разделяется пластинкой М на две части. Из каждой части вырезается четыре узких пучка %, Ые %, Х и %, Я 2, Ыз, %, причем пучки %, Х 4, %, и Х 4 показаны на чертеже, а оси остальных пу.чков лежат в плоскости, перпендикулярной чертежу. После отражения ог сферических поверхностей все пучки идут обратно по прежнему направлеош 1 о и собираюся объективом О в фокальнгой плоскости окуляра О. Установку собирают так, чтобы пучок % интерферировал с пучком М, пучок Х. - с пучком Х 2 и т. д.Четыре интерференционные картины наблюдают на поверхности объектива О непосредственно глазом (убрав окуляр О и поместив глаз на его место) или с помощью телескопической лупы.Юстировкой интерферометра добиваются того, чтобы гири испытании заведомо идеального шарика(качество этого шарика легко проверить, поворачивая его вокруг вертикальной оси) разность хода для всех четырех пучков была равна нулю, что проверяется по появлению нулевой белой полосы в центре каждой интерференционной картины, Если после этого мы будем испытывать шарик эллиптический, то при нълевой разности хода, паI пример, для пар пучков % - 1 и Х; - Х разность хосда пучков Х 1 - М 1 и Ыа - Ма будет отличной от нуля и соответствуощие п левые интерференционные полосы окажутся смещенными от центра поля зрения. Измерив это смещение и выразив его в ширине полос (как известно, смещение полос на ширину одной полосы соответствует изменению разнюсти хода па 0,25 - О,ЗР,), мы легко сможем измерить эллиптичность шарика с точностью до 0,1 р - точность, едва-си достижимая каким-нибудь другим, не иптерференционным, методом. Предмет изобретения 1. Способ измерения эллиптичности шариков, отличающийся тем, что шарик номецаот в интерферометр сравнения типа Тваймана, снабженный двумя парами сферических эталонных поверхностей, отраженные которыми световые волны интерферируют с волнами, отраженными диаметрально противоположно расположенными в двух взаимоперпендикулярных направлениях участками поверхности шарика, давая в поле зрения интерферометра четыре системы интерференционных полос, с целью измерения разности диаметров шарика непосредственно по смещению пнтерферепционны х полос в поле2. Прием осугцествления способа и. 1, отливаощийся тем, что иптерферометр предворительно юстирует по эталонному шарику на совпадение нулевых интерференционных полос с центром поля зрения, а измерение разности диаметров испытуемого шарика производят путем отсчета смещения из центра поля арения нулевых интерференционпых полос.
СмотретьЗаявка
1432, 20.06.1941
Коломийцев Ю. В
МПК / Метки
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02
Метки: шариков, эллиптичности
Опубликовано: 01.01.1944
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-63059-sposob-izmereniya-ehlliptichnosti-sharikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения эллиптичности шариков</a>
Устройство для измерения оптической разности хода
Номер патента: 1787266
Опубликовано: 07.01.1993
Авторы: Александров, Жаботинский, Тузов, Фельд, Шушпанов
МПК: G01J 4/04, G01N 21/21
Метки: оптической, разности, хода
...является использование многоэлементного матричного ФП, так как только в этом случае можно исключить характерные для прототипа факторы, снижающие быстродействие и точность измерения, Быстродействие повышается за счет исключения операции калибровки и использования электронного сканирования (считывания) регистрируемой картины вместо длительного многостадийного процесса экспонирования химической обработки и фотометрирования фотопленки, Повышение быстродействия при замене фотопленки матричным ФП приводит к появлению возможности использования совершенно иных методом поиска координаты минимума сигнала, Фотометрирование является настолько длительнь,м и трудоемким процессом, что может быть выполнено за приемлемое время только в небольшой...
Модулятор разности хода двух оптических пучков
Номер патента: 1569789
Опубликовано: 07.06.1990
Авторы: Княжеченко, Мамедов, Соколовский
МПК: G02F 1/01
Метки: двух, модулятор, оптических, пучков, разности, хода
...11 11ственно-издательский комбинат Патент , г, Ужг ул. Гагарина, 10 Произв Изобретение относится к приборостроению, в частности может быть использовано в интерферометрах, Фурьеспектрометрах видимого и ближнего5 ИК-диапазонов,Цель изобретения - увеличение скорости модуляции и повышение вибростойкости конструкции.На фиг. 1 изображен модулятор, 10 общий вид; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг, 1; на фиг, 3 - сечение Б-Б на фиг.Модулятор содержит корпус 1, в котором установлен привод 2 вращательного движения, на оси 3 вала которого крепится переходной фланец 4, на котором установлена первая плоскопараллельная пластина 5, к которой прикреплена вторая плоско параллельная пластина 6, повернутая относительно пластины 5 на угол с.Модулятор...
Компенсатор разности хода для интерференционных приборов
Номер патента: 61498
Опубликовано: 01.01.1942
Автор: Рыскин
Метки: интерференционных, компенсатор, приборов, разности, хода
...в интерферометре белого света клинья должны быть установлены преломляющими углами в разные стороны, чтобы их совокупность была эквивалентна плоскопараллельной пластинке.Первая форма выполнения компенсатора показана на фиг, 2. Оба клина установлены таким образом, чтобы по ходу света приходились друг против друга области обоих клиньев с разными показателями преломления. При этом оптические длины лучей 1 и 2, из которых один проходит через клинья слева от плоскости склейки, а другой - справа, равны соответственно 3= = 11 П 1+ 1 П И 3,= г 1 П 2+ 12 П 1 (П 1 И и, - показатели преломления стекол). Очевидно, что 3=3, приСдвигая один клин относительно другого, как это показанона фиг. 3, можно осуществить равенство 1,=1, и добиться того,...
Устройство для автоматического определения оптической разности хода в оптически активных
Номер патента: 370508
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01J 4/04
Метки: активных, оптически, оптической, разности, хода
...регистрации (см, фиг. 3) включает в себя блок 66 отметки минимального уровня фототока, схемы 67 совпадений, счетчик 68 ;пульсов, схему 69 определения целого числа порядков и коррекции и электронные индикаторы 70.После установки исследуемого объекта в непосредственной близости точечной диафрагмы 43 с пульта управления подается команда на начало цикла. Электродвигатель 52 начинает вращать диск модулятора 51 и вентилятор 64, а приводной электродвигатель 17 через ведущий диск 11 разворачивает жестко связанные с ним фиксаторами 8 и 25 диски 5 и 16 против часовой стрелки со скоростью я=144 град/сек, От исходного положения, отмечая Нуль, от копира 20 срабатывает контакт 21 нулевого положения, дающий команду на начало отсчета импульсов...
Фотоэлектрический регистратор оптической разности хода
Номер патента: 412502
Опубликовано: 25.01.1974
МПК: G01L 1/24
Метки: оптической, разности, регистратор, фотоэлектрический, хода
...до 0,05 волосы.Применение ОКГ с мощным пучком сзетадало возможность получить, высокую разрешающую способность приоора, что позволяет,регистрировать эпюры в зона концентрациинапряжений с градиентом до трех полос на1 мм. Прибор прост в управле ги и надеженв работе.На чертеже представлена схема предлагаемого фотоэлектрлческого регистратора.Устройство состоит,из оптической системы,ЗО включающей ОКГ 1, две четвертьволновыеКорректор Л. Василь Редакт ыги 419 Тирагк 710го комитета Совета Министроизобретений и открытий-35, Раушская наб., д. 4/5 ПодписиСР Тип. Харьк. Фил. пред. Патент пластинки 2 и 3 для создания круговой поляризации поляроида-анализатора 4, связанного)Гс реверсивным электродвигателем о, блока 6 фоторегист 1 ратора,...
Предыдущий патент: Взрывобезопасный светильник
Следующий патент: Усилитель низкой частоты
Случайный патент: Способ определения свободности маршрутов