Устройство для рассматривания прозрачных объектов под микроскопом в интерференционном поле
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 78570
Автор: Поляков
Текст
% 78570 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУН. И. Поляков УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАССМАТРИВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ ОБЪЕКТОВ ПОД МИКРОСКОПОМ В ИНТЕРФЕРЕНЦИОННО Заявлено 9 апреля 1948 года в Комитет по изобретениям и при Совете Министров СССР за380598 Опубликовано 31 января 1950 года Изобретение упрощает известные устройства дчя получения интерференционного поля в микроскопах при рассмотрении малоконтрастных прозрачных объектов, Эти устройства имеют тот недостаток, что оптическая система, создающая интерференционное поле в поле зрения микроскопа, сложна и поэтому не представляется возможным снабдить ими существующие системы микроскопов без значительных конструктивных изменений последних,Предлагаемое устройство лишено этого существенного недостатка и имеет ту особенность, что в фокаль. ной плоскости микрообъектива помещена стеклянная пластинка, создающая одну из интерферирующих волн при прохождении света через прозрачный слой алюминия на пластинке, а вторую при прохождении света через ряд дифракционных щелей в алюминиевом слое,На чертеже схематически пока. зан ход лучей в микроскопе, снабженном предлагаемым ттройством для получения интерференционного псля.Лучи от источника 1 света через конденсор 2, щель 8 и рассматриваемый объект в плоскости 4 попадают в микроскоп, имеющий, как обычно, объектив 5 и окуляр б, В микроскопе, в месте образования изображения щели 8 объективом 5, устанавливают плоскопараллельную пластинку 7, покрытую полупрозрачным слоем, алюминия с пропускной способностью 0,3 - 035. На алюминированной поверхности пластинки 7 сделана щель (или щели) шириной 0,01 - 0,02 мм.Плоскопараллельную пластинку 7 устанавливают так, чтобы изображение щели 8 было совмещено со щелью в пластинке 7. Тогда пучок лучей света, пройдя через щель в пластинке 7, подвергнется лишь дифракционным изменениям и создаст одну из двух иятерферирую щих волн. Другой интерферирующей волной являютсялучи, прошедшие через рассматриваемый объект и полупрозрачный слой пластинки 7 и подвергшиеся изменению уже в зависимости от оптических свойств отдельных участков рассматриваемого объекта. При этом в фокальной плоскости 8 окуляра б будет наблюдаться объект, контрастное изображение отдельных участков1;378570 174 которого создается разностью хода лучей, вносимой во вторую волну в зависимости от оптических свойств упомянутых участков объекта.Небольшим смещением изображе. ния щели 3 относительно щели пластинки 7 можно легко изменить окраску тех или иных частей изображения объекта.При применении белого света различные места объекта окажутся окрашенными в различные интерфе ренционные цвета. При применении монохроматического света контрастность достигается так же, как и при использовании метода фазовых контрастов.Таким образом, для оборудования любого типа микроскопа предОтв, редактор М, М. Акишии латаемым устройством достаточно ввести в оптическую систему микроскопа всего лишь две пластинки. Предмет изобретения Устройство для рассматривания прозрачных объектов под микроскопом в интерференционном поле, о тличающееся тем, что, с целью создания интерференционного поля, в фокальной плоскости микроооъектива размещена стеклянная пластинка, создающая одну из интерферирующих волн при прохождении света через прозрачньш слой алюминия на;пластинке, а вторую при прохождении света через ряд дифракционных щелей в алюминиевом слое. Редактор А. И, Киселев
СмотретьЗаявка
380598, 09.04.1948
Поляков Н. И
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02, G01N 21/45, G02B 21/14
Метки: интерференционном, микроскопом, объектов, поле, прозрачных, рассматривания
Опубликовано: 01.01.1949
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-78570-ustrojjstvo-dlya-rassmatrivaniya-prozrachnykh-obektov-pod-mikroskopom-v-interferencionnom-pole.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для рассматривания прозрачных объектов под микроскопом в интерференционном поле</a>
Способ контроля оптически прозрачных диэлектрических объектов
Номер патента: 1374119
Опубликовано: 15.02.1988
Авторы: Домород, Кожаринов, Храповицкий
МПК: G01N 27/62
Метки: диэлектрических, объектов, оптически, прозрачных
...размера дефекта 6 При прохождении через объект 1 с дефектом 6 (газовой полостью) излучения лазера 5 поглощается дефектом 6 (в зависимости от размеров по лости и начальной проводимости газа в ней), температура, давление и частота столкновений в полости повышаются, и в результате сложных и взаимосвязанных процессов передачи энер гии излучения слабоионизованному газу в полости степень ионизации и яркость свечения газа возрастают. После окончания лазерного импульса (или группы импульсов) светящийся РазРяд в полости дефекта 6 существует еще некоторое время, в течение которого его и можно зарегистрировать с помощьи ЭОП 7. Длительность времени лослесвечения зависит от параметров дефекта 6 и величины приложенного к электродам 2,3...
Устройство для измерения пространственного распределения коэффициента пропускания объектов, прозрачных для ик излучения
Номер патента: 1165901
Опубликовано: 07.07.1985
Авторы: Лисянский, Морозов, Морозова
МПК: G01J 1/44
Метки: излучения, коэффициента, объектов, прозрачных, пропускания, пространственного, распределения
...изображения, трехзапоминающих устройств - 18-20,аналогового измерителя 21 отношений,формирователя 22 строчных и кадровьм 55синхроимпульсов и формирователя 23стробирующих импульсов, два входакоторого соединены с соответствую 901 .4щими выходами формирователя 22 строчных и кадровых синхроимпульсов и формирователя 17 стробирующих импульсов четных и нечетных кадров иэображения, а выход соединен с входом второго запоминающего устройства19, выход. которого подключен к первому входу видеоконтрольного устройства 11, к второму входу которого подключен формирователь 22 строчных и кадровых синхроимпульсов 22,вход которого соединен с одним выходом формирователя 16 тактовых импульсов, два входа которого подключены соответственно к датчикам...
Устройство для визуализации электрических неоднородностей плоских объектов электрическим полем
Номер патента: 1003005
Опубликовано: 07.03.1983
МПК: G03B 41/00
Метки: визуализации, неоднородностей, объектов, плоских, полем, электрическим, электрических
...перемещают по исследуемой поверхностиобъекта б, а на обкладку конденсатора 2 и объект б подают напряжение с30 генератора токов высокой частоты00 101 сз формула изобретения 545(28 Тираж 471 .Одгп 1 сцо ВН 11 ПГ .л а к аз с 311 сиЛ Г 1 Г Г 1:1ецт" с гжГОГ)О 31, Ул . П 1" ек 1 1е показа).,Цля герметизации микроканалов 4 непрозрачная диэпс ктри - ческая 11 ластина 3 с обеих сторон покрыта токои оптически про.зра 1 ой диэлектрической пленкой 5.При попадании микроканала 4 ца участок с гсо 11 ерхностными цеодцороц- НОСтяМИ 7 ца 1 ИНаЕТСя СВЕЧЕНИЕ Исртного газа 3 м 1 лк 13 оканале 4 из-за пГ;.в вышения напряженности электрического поля на этом участке по сравнеию 10 со средней напряженностью электриеского поля по всей поверхности, Причем...
Устройство контроля тепловых полей объектов
Номер патента: 607114
Опубликовано: 15.05.1978
Авторы: Иванов, Лебедев, Мазурик
МПК: G01J 5/18
Метки: объектов, полей, тепловых
...из выходов блока 7 задания режима, другой выход которого соединен с формирователем 8 строб-импульсов. Выход формирователя 8 строб-импульсов связан с одним из входов коммутатора 4. Устройство работает следующим образом.Контролируемый объект 1, импульсное тепловое поле которого формируется блоком 7 задания режима, перемещается блоком 2 в поле зрения преобразователя 3 ИК-излучения. Одновременно с выхода преобразователя 3 ИК-излучения электрический сигнал, пропорциональный импульсному потоку ИК-излучения от соответствующей точки поверхности, поступает на коммутатор 4, который в исходном состоянии разомкнут. В момент окончания импульса питания контролируемого объекта 1 блок 7 задания режима запускает формиро607114 Составитель...
Устройство для регистрации векторных свойств электрического поля объекта
Номер патента: 773531
Опубликовано: 23.10.1980
Автор: Ставицкий
МПК: G01R 29/12
Метки: векторных, объекта, поля, регистрации, свойств, электрического
...нальных пластин, Напряжения на функциональных пластинах 12 устанавливаются с помощью блоков 13 настройки, которые в данном случае представлены группой спаренных потенциометров, подключенных к блоку 14 автономных источников питания. Существенно важным является то, что источники питания блока 14 гальванически связаны со вторым анодом б только в одной точке. При достаточно сильном поле, создаваемом объектом, гальваническая связь между блоком 14 и вторым анодом б может полностью отсутствовать. Индикатором 15 сигнала в данном случае является обычный катодный осциллограф, с помощью которого фиксируется сигнал в одном из сопротивлений нагрузки (16 или 17), включенных в цепь коллекторных пластин 9 и 10. Можно также воспользоваться...
Предыдущий патент: Дальномерная насадка к геодезическому инструменту
Следующий патент: Счетный прибор для сложения и вычитания
Случайный патент: Устройство для гашения колебаний роторов турбомашин