Патенты с меткой «микрообъектива»

Способ определения качества коррекции микрообъектива

Загрузка...

Номер патента: 60129

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G01M 11/02

Метки: качества, коррекции, микрообъектива

...линз, посеребренных или алюминировачных, с целью получения большего количества света.Описываемый интерферометр можно навинтить на тубус обыкновенного микроскопа вместо объектива.Свет от источника 1 собирается конденсором 2 на отверстие диафрагмы 3, находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и б, Пластина 4 разделяет на два пучка расходящиеся лучи, подающие на нее. Пучки эти затем собираются объективами 5 и б в точках 9 и 10, с которыми совмещаются центры кривизны или поверх:Ости сферических зеркал 7 и 8. Вследствие этого, отразившись ог зеркал, пучки БозвряШяются к пластине 4 те)1 и путями, какими шли От нее, и соединяются ею в один пучок.При хорошей юстнровке прибора и окуляр микроскопа Бид;о о.,но резкое...

Устройство автоматической фокусировки микрообъектива

Загрузка...

Номер патента: 512449

Опубликовано: 30.04.1976

Авторы: Еникеева, Костюкевич, Майоров

МПК: G03B 3/02

Метки: автоматической, микрообъектива, фокусировки

...устроет осветитель с конден е 30 тоделительный кубик е 512449а 3,83 30 35 40 шетку 4, зеркало 5, микрообъектив 6, отражающий элемент 7, фотоприемник 8, усилитель 9, фазочувствительный детектор 10, исполнительный механизм 11 и модулятор 12,Растр 2 в виде пространственной решетки установлен в плоскости, сопряженной с плоскостью А предмета (фиг. 1), и освещается осветителем 1. С помощью светоделительного кубика 3, зеркала 5, фокусируемого микро- объектива 6 строится изображение растра в плоскости наведения на отражающем элементе 7. Отраженные от плоскости наведения лучи строят автоколлимационное изображение растра 2 в плоскости А, сопряженной с плоскостью А предмета.Модулирующая решетка 4 размещена в плоскости нулевого контраста...