G01L 1/24 — путем измерения изменения оптических свойств напряженных материалов, например путем фотоупругого анализа напряжений

Номер патента: 43501

Опубликовано: 30.06.1935

Автор: Королев

МПК: G01L 1/24, G01L 3/00, G01M 15/00 ...

Метки: молотка, пневматического, прибор, силы, средней, удара

...призма б повернута по отношению к призме 2 на 90, то она этот поляризованный свет не пропускает. Если начать сжимать эталонный кубик 5, то вызванное сжатием напряжение стекла деполяризует луч света и он стано. вится способным проходить через призму б. Сила света, выходящего из призмы б, прямо пропорциональна силе давления на кубик 5. Нагружая постепенно кубик 5 и измеряя силу выходящего из призмы б света с помощью фотометра 7, 8, возможно получить кривую зависимости силы света от силы давления. Если давление на кубик 5 заменить ударами пневматического молотка, то сила света, выходящего из призмы б, будет пропорциональна силе удара, Так как частота ударов больше семи в секунду, то колебание света для глаза будет незаметно. Далее нетрудно...

Номер патента: 47829

Опубликовано: 31.07.1936

Автор: Степанов

МПК: G01L 1/24, G01M 5/00

Метки: изучения, конструкциях, оптическое, телах

...материала, обладаюСТВО НА ИЗОБРЕТЕН тепанова, заявленному 19 январяерв.184869),опубликовано 31 июля 1936 года. щего пластическими и механическими характеристиками, подобными тем, которыми обладает металл рассматриваемой детали, сооружения и т. д, Это открывает совершенно новые возможности и позволяет решать ряд задач, недоступных ранее оптическому методу, как, например, перераспределение натяжений в шейке при точении, роль надрезов, вопросы холодной обработки, ковки, резания, протяжки, штамповки и т. д., быстропеременные температурные натяжения, вопросы упругого гистерезиса и усталости, вопросы криппаОсобое значение имеет этот метод 1) для испытания деталей, работающих за пределом упругости, как например, турбинные лопатки, роторы...

Номер патента: 72959

Опубликовано: 01.01.1948

Авторы: Андреевская, Буров

МПК: G01L 1/24

Метки: изучения, моделях, напряжений, прозрачных, распределения

...тогда как в большинстве современных конструкций начинают находить все более широкое применение анизотропные материалы.Предлагаемый способ изучения на прозрачных моделях условий работы сложных конструкций, составленных из разных материалов н ;рудно поддающихся математическому расчету, позволяет воспроизвести условия работы сложных конструкций, Сущность способа заключается в том, что модель конструкции также изготовляется из различных прозрачных веществ, обладающих одинаковым лучепреломлением, напрчмер, из прозрачной смолы, армированной стеклянными нитями механически скрепленными между собой. Модель подвергают статическим и динамическим испытаниям между двумя поверхностями поляроидов в поляризованном свете, что позволяет видеть и изучить...

Номер патента: 78631

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Гармаш

МПК: G01L 1/24, G02F 1/01

Метки: движущихся, исследования, моделях, напряжений, прозрачных

...навстречу другому,Световой луч от источника света 4, пройдя поляризатор 5, попадает на отражающую плоскость В, призматического отражателя 3, Если призматическпй отражатель вращать с угловои скоростьк од,то отраженный световой луч будет менять свое направление относительно падающего луча с угловой скоростью 2 в . Отраженный от плотскости В 1 луч падает на отражающую плоскость В, которая вращается с угловой скоростью, равной, но обратной по направлению угловои:скорости плоскости ВьОчевидно, луч, отраженный от зеркала 6 и попадающий в анализатор после прохождения через модель 1, будет иметь угловую скорость 1,2 ш + а ) . 2 = 6 а.Луч, отраженный последней поверхностью В.-, будет менять свое направление, например, при пяти призматических...

Номер патента: 79172

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Рапопорт

МПК: G01L 1/24, G01L 7/00

Метки: грузовых, манометров, образцовых, прибор, проверки

...и поверяемая,колонки 5 и 6 устанавливаются так, что тени их тарелок проектируются соответственно на левую и правую половины экрана и сходятся у его середины, Картина экрана при равноаесии колонак показана на фиг. 2. Расхождение тены, указывающее на отсутствие равновесия, показано на фиг. 3 и 4. Одновременное опускание поршней определяется по одинаковому смещению теней опносительно двух наклонных шприхов на экране.Прибор создает оптичесКое увели. чение, заключающееся в том, что взаимное смещение теней на экране, указывающее на нарушение равновесия, может быть практически получено в 5 - 10 раз больше смещения поршня колонки, что позволяет ясно отмечать опускание поршня (одной кадонкн) на 0,1 мм, полагая, что при резких тенях расхож...

Номер патента: 82601

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Суворов, Трумбачев, Цимбаревич

МПК: C09K 3/00, G01L 1/24, G02B 1/08 ...

Метки: активного, оптически

...что взятый фото-желатин помсщают в плотно закрывалый сосуд, з,- ливаот водой при темпеатуре 20 и даот жслатину )азухнуть и Вод, После этого сосуд с желатицом и водой ставят в водяную Ояию иа газоВую горелку для варки, которая продолжается ири тлИсратурс це свыпе 90. После растворсцпя нслатиия В воде в сосуд зэ:1 анют исты) глицерии и дооавляот бета-иафтол ио расчету.Содержяцпе фото-желатина, глицерина и водь зависит от требус - мого модуля упругости при сжатии получалого оптически а нного материала и его оптической постоянной.Варку состава производят в течение 30 мин прп тщательном иереюепиваипи; по окончании Варки состав медленно Охлаждают ца воздухе до температуры разлива, При тлИсатурс 40 - ,")О состав залиМ 82601 вают и загэаггег...

Номер патента: 100283

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Татаринов

МПК: G01L 1/24

Метки: металлоконструкций, напряженного, поляризационно-оптический, состояния, элементов

...обоих указанных выше способов и состоит в том, что к напряженному элементу металлоконструкции предварительно плотно приклеивают пластинку из оптически активного материала (например, бакелита), после чего в материале оптического датчика, а затем в металле расположенного под ним элемента высверливают центральное отвер. стие. Концентрация напряжений вблизи высверленного отверстия в исследуемом элементе металлоконструкция передается оптическому датчику с некоторым уменьшением, зависящим от соотношения модулей упругости материала элемента и датчика. Для пересчета величин напряжений в оптическом датчике, полученных на основании измерений посредством поляризационного микроскопа, на искомое напряжение в исследуемом элементе...

Номер патента: 104104

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Борун-Инденбом

МПК: G01L 1/24

Метки: вращения, напряжений, оболочках

...а Оболочки неоок)димо и(1)ц(ти икалт. Иаиримр, е цомнщьн) теГьчы или путем и;(клейки ио:осок ми;(лнмг 1 рнво 31 йумаГи. оате Н 1 я)из. водят ни 3 д,(чш( Г( о)н тр(че кик иар,ьметроь Фггг. 1) вО,(3, мер)ицаца Ойн;1гк:, которое удн)ц 153 н ироизвнлить цн чер. тежу издс,шя. Пд ц (ИФк(ьии) точек ч ртежа и нанн иИ(й иа и.целие Гикалы можн И 1 я)и (води ( ь г инмоиья) кур 1)им тр(ь и коцрнлг(иь.с з;мер)в радизг(1 ц(ьр(ллсль- НОГО к рт Г(ь.Пзмереци( чагцрегеггия разности мял лучей 1 иг, )Г гцоль мридпаца произво 1 ится с цоьгоцьО Одцогтороццей установки или, если Оболочка имеет лостаточно открытуО форму,и 5 О(3 г,го ебычйого цоля;.) - )1 РТИИН(И)ЬИЬ( У" П,(ИЯ;- ПРГР(ЗЫДЭППИГ У)Ь(ия; г - )гйлиу( ирдл.(.,ьно 1 о круг(1; в - гдггтояние вло,ь...

Номер патента: 106173

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Котович

МПК: G01B 9/02, G01L 1/24

Метки: механических, перемещений, повышения, сил, точности

...данной амплитуде колебаний диафрагмы,В различных областях науки и техники известно применение микрофазометрического метода для измерения чрезвычайно малых механических перемещений.Основным недостатком этого метода, вследствие его чрезвычайной чувствительности, является непостоянство показаний индикатора малых перемещений во времени.Поскольку показания индикатора изменяются в течение короткого промежутка времени от максимального значения до любой малой величины, вплоть до нуля, результат измерения имеет малую достовер ОСТЬ. Описываемое изооретение устраняет этот недостаток следующим образом.Изменения в показаниях индикатора вызываются непостоянством среднего значения разности хода светового луча, т, е, изменением взаимного...

Номер патента: 116036

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Пригоровский, Филимонова

МПК: G01L 1/24, G01M 13/00

Метки: напряжений, остаточных

...в поковке 1 (фиг. ) ротора, при определении осевых остаточных напряжений по среднему сечению, делаются две кольцевые проточки на определенную глубину. Измерение деформаций производится датчиками 2 сопротивления, наклеенными на поверхности ротора по окружности данного сечения. Таких проточек по сечению последовательно делается несколько. Ближе к поверхности, где существует градиент напряжений, эти проточки делаются чаще, а ближе к середине, где116036напряжения распределяются более равномерно, их делают реже. Последовательность выполнения проточек обозначена на схемах римскими цифрами. На каждом этапе разрезки натурной поковки замеряют деформации и в результате получают эпюру деформаций по установленным тензометрам в зависимости...

Номер патента: 116037

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Пригоровский, Филимонова

МПК: G01L 1/24, G01M 13/00

Метки: исследования, конструкций, машин, напряженного, поляризационно-оптический, состояния

...материала.В качестве оптиче ки неактивного материала, согласно изобретению, применяют прозрачное органическое стекло типа серийного, но с содержанием дибутилфталата примерно 100 .Такое органическое стекло обладает оптической постоянной, близкой к нулю, и, кроме того, имеет модуль продольной упругости и коэффициент Пуассона практически тот же, что и оптически активный материал, например ЭДб-М.Склейку составных моделей производят карбинольным клеем, Склеиваемые поверхности обезжиривают ацетоном и слегка зашкуривают тонкой шкуркой. Свежеприготовленный карбинольный клей ровным слоем в одну сторону наносят на обе склеиваемые поверхности; при этом не допускают образования пузырьков воздуха и непромазанных клеем участков. Затем...

Номер патента: 139469

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Иванов

МПК: G01L 1/24

Метки: возникающих, материале, напряжений, прозрачном

...с картинами напряжения можно наблюдать действительную величину приложенной нагрузки.На чертеже изображено предлагаемое устройство.Исследуемый образец 1 из прозрачного материала закрепляется в раме 2 при помощи захватов 3 и 4. Захват 4 связан при помощи тяги 5 с нагрузочным механизмом, состоящим из силовой пружины б и рукоятки 7, Пропорционально действующей на образец нагрузке будет перемещаться опорная шайба 8, которая при помощи нерастяжимой 1 шти 9, переброшенной через шкив 10, связана с прозрачной шкалой 11 с изображением стрелки, Шкала 11 расположена за исследуемым образцом и поворачивается на угол, соответствующий величине приложенной нагрузки. Постоянное натяжение нити 9 обеспечивает груДо 139469 Предмет изобретения Устройство...

Номер патента: 145033

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Гречушников, Дистлер, Чудаков

МПК: G01L 1/24

Метки: кристаллах, напряжений, неоднородностей, полупроводниковых

...определения напряжений и нсоднородцостей В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТЯЛЛЯХ ОСЦОВЯН НЯ СКЯИИПОВЯНИЦ УЗКИМ ПУЧ- ком инфракрасного излучения исследуемого полупров дникового кристалла с одновременной трансформацией выходного усиленного сигнала в видимое излучение, регистрируемое на обычном фотоматериале, который сканируется синхронно с исследуемым образцом. При применении предложенного способа исслсдованце производится в широком диапазоне инфракрасного спектра.Эффективность способа для выявления различного рода дефектов В полупроВодникоВых материалах подтВсрждяется практической про веркой. рсдмст изобретен об определения напрян(сций и неоднородностей в кристаллах путем цзмер=н: я их дво 1 Ного лучеп ю щ и й с я тем, что, с целью повышения...

Номер патента: 145373

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Варданян, Пригоровский

МПК: G01L 1/24, G01N 3/18

Метки: моделях, напряжений, оптически, прозрачного, температурных, чувствительного

...деформаций, и145373испытуемая модель сохраняет напряжение, соответствующее темпера 1 уре замораживания После соответствующей разрезки модели на тонкие пластинки (в случае объемной модели) или без разрезки ее производятся измерения напряжений при помощи полярископа или поляризационного микроскопа.Для воспроизведения свободных температурных деформаций в отдельных элементах модели, в границах которых температурное поле постоянно или линейно, их нагружают растяжением, сжатием, изгибом или центробежными силами, а затем замораживают напряжения, вызванные этими нагрузками.Температурные напряжения в деталях объемной формы определяют для различных ее сечений на плоских моделях, геометрия и температурное поле которых совпадает с...

Номер патента: 149160

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Козловский, Ульянов, Шевченко

МПК: G01L 1/24

Метки: динамических, исследования, методом, нагрузках, напряжений, распределения, твердых, телах, фотоупругости

...регулировать величину давления и продолжительность действия ударной волны, создавать в модели только продольные волны напряжений и на загружаемой поверхности модели волну напряжений с крутым фронтом по времени производить многократное испытание модели без ее разрушения.На чертеже изображена разрядная камера, в которой осуществляются исследования по предлагаемому способу.Кроме указанной разрядной камеры установка для исследований содержит генератор высоковольтных импульсов, блок подсветки и комплект регистрирующей аппаратуры (на чертеже не показаны),На электроды 1, распологженные внутри корпуса 2 разрядной камеры, в заданный момент времени с генератора подается высоковольтный149160импульс, который является источником формирования...

Номер патента: 174403

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Ловкое, Отпущенников, Сабодаш, Харитонов

МПК: G01L 1/24, G01M 9/00

Метки: всесоюзная, шнтиу

...волн, распределение плотности в поле обтекания и т. д.; тензометрическим - определяют напряжения в модели (лишь в отдельных ее точках). Для определения поля напряжений в моделях можно применять способ фотоупругости с использованием известных поляризационных приборов в аэродинамической модели из оптически активного материала.Неодновременное определение параметров обтекания модели и напряжений в ней, зависящих от параметров обтекания, усложняет проведение опыта и уменьшает надежность результатов. При исследовании же нестационарных процессов применение такого способа измерения сопряжено со значительными техническими трудностями либо вообще невозможно.Предлагаемый способ одновременного определения параметров обтекания модели и напряжений в...

Номер патента: 189202

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Ворани, Голубчик, Изобретеии, Миленный, Рв

МПК: B21B 1/00, G01L 1/24

Метки: 189202

...устройство отличается от известного тем, что в прокатном стане устройства установлены съемные холостые ролики (линейки), а на станине выполнены отверстия для крепления холостых роликов и рабочих валков в различной комбинации. В отверстиях станины могут быть закреплены направляющие, в которых установлены обоймы с консольно разаещенньви рабочими валками с редукторами или роликами (линейками).При обжатии вращающейся заготовки поступательное движение вращающихся валков достигается благодаря тому, что между двигателем привода и редуктором каждого валка может быть установлена телескопическая шарнирная муфта,Такое выполнение устройства позволяет осуществить прокатку в двух, трех или четырех валках или продольную прокатку в двух валках и...

Номер патента: 191109

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ивановский, Калинин, Подъемщиков

МПК: G01L 1/24

Метки: «тугорина», активного, оптически

...равномерного распределения жидкой фазы между зернами желатины, содержимое необходимо в течение 1 - 2 мин заливки тщательно и непрерывно перемешивать. лКелатина разбухает в кислотно-глицериновой смеси через 10 - 25 час.П р и м е р 3, Варка материала.Разбухшую фотожелатину распределяют определенными порциями в необходимое количество сосудов (форм) . Предварительно внутренние поверхности сосуда смазывагот чистым вазелином во избежание прилипания к ним материала. Эти сосуды должны удовлетворять следующим основным условиям:а) иметь отверстия для проникновения в них пара;б) вращаться (число оборотов и радиус вращения сосудов определяются конкретным заданием);в) форга и основные размеры (в направлениях оси и касательных к окружности вращения)...

Номер патента: 191191

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Арбузова, Злотников, Кувшинский

МПК: G01L 1/24

Метки: материал, оптически, чувствительный

...институт горнойи маркшейдерского дела аявите е ОПТИЧЕСКИ ЧУВСГВИТЕЛЬНЬ 1 Й МАТЕРИАЛ Регулируя густ можно получать тельные материа апазопом оптикочсм температурь дульных составоцои температуры,оту попти лы, об мехазах в зпа ространственпоп сетки, чески высокочувствипадаощие широким диических свойств, приораж 1 Вя 1 п 51 пизкомоительпо выше комнатедмет изобретения в сти- В каче Л 11 ДЗ 1 Ямстода Известно применение в качестве модельных материалов в поляризапионно-оптическом методе исследования напряжений для работы по способу замораживания отверждеппых эпоксидных смол. Однако материалы на основе этих смол пе обладают всем комплексом необходимых свойств, в частности они не обеспечивают нужного диапазона модулей высоко-...

Номер патента: 195690

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Гельман, Русецка

МПК: G01L 1/24

Метки: оптически, упруго-пластического, чувствительного

...по метоных покрытий.Фторсополимерывулканизованные, т могут применяться к к и невулканизованные. дмет изобретенп Известен способ получения упруго-пластнчекого оптически чувствительного материала нг снове каучука путем вальцевания и формоваПредлагаемый способ отличается тем, что в качестве исходного материала применяют фторсополимер (например, СКФ, СКФ), который вальцуют при 50 - 60 С и формуют под давлением 100 - 150 кг/сме и температуре 150 в 1 С в течение 15 чин, после чего охлаждают до комнатной температуры под давлением, Это обеспечивает получение оптической чувствительности. Такой способ может найти применение для прозрачных моделей поляризационно-оптического метода исследования напряжений, Фторсополимеры применяют в виде пластин,...

Номер патента: 195691

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Чемохуд

МПК: G01L 1/24

Метки: замораживания, моделях, напряженийв, термоупругих

...поле и охлаждают модель до нормальной температуры.Это упрощает создание модели заданныхтемпературных напряжешш.1( исследуемой модели, материал которойнаходится в гелеобразном состоянии, прикладывают требуемое температурное поле и дальнейшую полимеризацию ведут при поддержании неизменной разности температур междуточками тела,Снятие температурного поля после окончания полимеризяции приводит к появлению вмодели деформаций, равных по величине иобратных по знаку температурным деформациям, возникающим при приложении этого поля. Снимают температурное после в условиях 3 высокоэластичного состояния материала модели, поэтому при последующем охлаждении ее до нормальной температуры происходит замораживание появившихся температ р. ных дефор...

Номер патента: 196411

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Бокштейн

МПК: G01L 1/24

Метки: замораживания, моделей, составных

...этапа: щие в затя- и нагрузки, одель собиействии внеПредмет изобретени Способ залей для исслеционно-оптиче0 тем, что, с цетяга с соблюдгеометр ическопроизводят вли, участвуюп5 при действиитягу, затем мют ее при д Известны способы замораживания составных моделей из оптически-чувствительного материала для исследования напряжений поляризационно-оптическим метоПредлагаемый способ состоизамораживание производят всначала детали модели, участвуюге, замораживают при действисоответствующей затягу, затем мрагот и замораживают ее при дшней нагрузки,Это позволяет моделировать усилия затяга с соблюдением в зоне затяга силового и геометрического подобий,Способ поясняется чертежом.На первом этапе а в деталях 1, болте 2 и шайбе 3 замораживаются...

Номер патента: 198768

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01L 1/24

Метки: материал, оптически, чувствительный

...при поляризационно-оптическом методе исследования напряжений,Все прочностные характеристики ситалла гораздо выше, чем у эпоксифтамала, чаще всего употребляемого при исследовании напряжений. Поэтому ситалл применяют при значительно больших нагрузках.При напряжениях выше предела упругости ранее применявшихся материалов исследование их было илп невозможно, или требовало трудоемкого и приближенного моделирования.Следовательно, применение оптически прозрачного ситалла в поляризационно-оптическом методе исследования напряжений расширяет возможности самого метода, а также упрощает проведение испытаний.Образцы из прозрачного ситалла испытывались на действие сосредоточенной нагрузки как при квазистатическом (медленном), так и при...

Номер патента: 208313

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Арбузова, Всесоюзный, Злотников, Кувшинский, Маркшейдерского

МПК: G01B 11/16, G01L 1/24, G02B 1/08 ...

Метки: материуп, оптически, чувствительный

...сесоюзный научно-исследовательский институт горнойи маркшейдерского дела аяиитель механик 3т ОПТИЧЕСКИ ЧУВСТВИТЕЛЪНЪЙ МАТЕ изобрете ых блочных диметакрил ием после ве оптически моделей пол исследованния дмет е сшит ола с держа качест ла для метод При менени 10 парахлорстир гликоля, с с 10 мол. %, в ного материа оптического 15 ний.сополимеров атом этиленднего от 1 дочувствитель- яризационнотя напряжеОптически чувствительный материал не применялся в поляризационно-оптическом методе исследования напряжений и его фотоупругие свойства ранее известны не были.Предлагается применять для изготовления моделей в поляризационно-оптическом методе исследования напряжений сшитые блочные сополимеры парахлорстирола с диметакрилатом этиленгликоля с...

Номер патента: 211840

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Специальное, Шенфельд

МПК: G01L 1/24

Метки: микродатчиков, силовых, характеристик

...19 и 20 с закрепленными на них подЗО весами 21 и 22 для крепления измеряемого3микродатчика 23 и для навески груза 24, приблизительно равного по массе микродатчику 23, Кроме того, на коромысле 1 находятся балансировочная 25 и тарировочная 2 б гайки, зеркало 27 и воздушные успокоители 28. Для фиксирования нагрузочного коромысла 1 в нулевом положении служит фотооптическая система, которая состоит из осветителя 29, оптического механизма 30, фотоэлементов 31 и 32, включенных по мостовой схеме, и нуль-индикатора, которым является микроамперметр 33,Закручивающая головка 34 служит для выборки веса датчика (или тары) при установке коромысла 1 на нуль. Измерительный стол 35 предназначен для изменения координат катушки 3 б микродатчика 23 в трех...

Номер патента: 221372

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Чебукин

МПК: G01L 1/24

Метки: 221372

...на оптически чувствтельноепокрытие в нем применена оптическая система из зе 1 экал полного наруэкцого Отраженияоборотных призм, расположенных под Определенными углами к оптическим осям полярископа,Такое конструктивное выполнение отражательной системы в полярископе У-образноготипа обеспечивает повыгпснцс качества изображения картины полос.На чертеже изображена опти еская схемаописываемого полярископа,Он содержит источник 1 света, коллиматор2, тепло- и светофильтры 3 и 4, поляризатора,пластинки 6 четвсрть волны, анализатор 7 иоптическую систему многократного отраженясветового луча на оптически чувствительное покрытие, которая выполнена из зеркал 8полного наружного отражения и оборотныхпризм 9, расположенных под опрсделеццымн углами Д, р...

Номер патента: 239639

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Белый, Отдел, Петроковец, Савкин, Свириденок

МПК: G01L 1/24, G01N 21/21

Метки: деформации, надмолекулярных, полимеров, степени, структур

...в поли мерах,под дейсгвием внешних нагрузок. Способ можно использовать как экспресс-метод для оценки механических свойств покрытий. Способ оп надмолекуляр механическогоИзвестен способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров путем одноосного,растяжения пленочного образца с .последующим визуальным миироскопическим определением в проходящем поляризованном свете, искомой величины.Для усовершенствования известного способа и,повышения точности определения предлагается полимерную пленку наносить на оптичесии прозрачную подложку, а затем производить механическое воздействие с помощью оптически прозрачного инденгора. Изменение структуры во времени фиксируется с,помощью фото- и киносъемки.На чертеже првведена схема...

Номер патента: 245425

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Архитектуры, Борзенко, Чече

МПК: G01L 1/24

Метки: внутри, модели, образования, прозрачного, сетки, тензометрической

...спЬсоб образ тейзометрической сетки внутри модел розрачного материала путем заливки модели сетки из нитей.Предлагаемый способ отличается от извест ного тем, что, с цепью исключеиня искажейия поля напряжений нитями, после затвердевания материала модели нити удаляют, в результате чего внутри модели образуется тейзометрическая сетка из цилиндрических ми кропустот,Образование сетки по описываемому способу происходит следующим образом.Внутри формы модели натягивают сетку из нитей, причем хлопчатобумажных или кап роновых, затем форму заполняют расплавленной (разжиженной) массой прозрачного материала модели. После завершения процесса коагуляций (затвердевания) материала Модели ниги выдергивают. Внутри модели образуется отчетливо видимая...

Номер патента: 246908

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Воропаева, Леонтьева, Резников

МПК: G01L 1/24, G01N 21/21

Метки: зависимости, напряжений, периода, релаксации, температурной

...остаточных напряжений при тепловой обработке определяются релаксацией именно внутренних напряжений.Предложенный способ позволяет измерить температурную зависимость периода релаксации внутренних напряжений в прозрачных кристаллах. Для этого предварительно измеряют двулучепреломление в свободном от внешней нагрузки образце с остаточными напрякениями закалочного типа при непрерывном нагреве его с постоянной скоростью, т, е. величину внутренних напряжений. Затем измеряют двулучепреломление в образце с такой же величиной остаточных напряжений ири ступенчатом нагреве, состоящем из серии последовательных периодов нагрева и выдержки. Измерения проводят в период выдержки постоянной температуры, что позволяет определить температурную...

Номер патента: 247553

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Апилат, Каплан, Смушков

МПК: G01L 1/24

Метки: количественного, напряжений

...прозрачных образцах с конечной теплопроводностью в процессе термообработки.Известный способ количественного измерения напряжений в любой точке образца, при котором одновременно измеряют величину оптической разности фаз б и оптического параметра изоклины р, не исключает влияния собственного излучения образца. Это связано с тем, что при высоких температурах на фото- катоды ФЗУ воздействует не только сигнал, но и собственное излучение образца, причем усиливаются и регистрируются величины, пропорциональные суммарным интенсивностям света, попавшего на фотокатоды ФЭУ.Предлагаемый способ позволяет одновременно измерять б и Р как при комнатной температуре, так и при высоких температурах, когда становится существенным собственное излучение...