Устройство для получения ахроматических полос в интерферометрах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 102717
Автор: Рабинович
Текст
М 102)1 1)ласс 42 л. 34)с ГССР О О НИЕ ОРСКО К ВИДЕТЕЛЬСТВУ бинови УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ АХРОМАТИЧЕСКИХ ПОЛОС В ИНТЕРфЕРОМЕТРА М г 2621605211 в Гоетехннну СС явлено 26 сентября 1950 г. з рометры да)от пряинтерференционные оянпе между сосед).,, где ), - длина Пзвестные пнтерф мыс равно стоящие шлосы, причем рас тими полосами рави световцп волны и ) - угол )снтерс)еро)сетссческого клина. Поэтому при работе в целом свете только одна (нулевая) полоса получается ахроматической, а все остальные окрашены тем сильнее, чем больше их порядковый номер.Для получения ахроматических полос в пнтерферометрах уже предлагалпсь устройства в виде двух призменных элементов в одной ветви интерферцметра и двух плоскопараллельных компенсационных пластин в другой его ветви.В предлагаемом устройстве указанные призменные элементы выполнены поворотнымии и состоят каждый из склеенных или посаженных на оптический контакт клиньев, имеющи.с равные или почти равные углы и коэффициенты прелом;шния, но различные дисперсии, подобранные таким образом, что ддя некоторой длины световой волны эти призменныс элементы эквивалентны пдоскопараллельной пластинке. Такое выполнение устройства дает возможность изменять степень дисперсии призменных элементов.На чертеже показана схема интерферометра с предлагаемым устройством Лля ахюматизации полое, где (1) - сцель, освепраемая источником белого света, (2) - коллиматор, (3) и (Ф - плоскопараддельные пластины, (5) и (с - плоские зеркала, причем зеркало (6) вращается вокруг цси, перпенликудярнцй плоскости рисунка (приемная часть прибора на фигуре не показана). Предлагаемое устройство, ввеленное в пн герферометр, показано в ниле пластин , (Б), (В) и (1). Две одинаковые ахроматические стеклянные пдастиныи (Б), устанавливаемые в одной и: ветвей пнтсрФсро)сетра в месте, )Ле нссхцлсстя плоскость локализации интерференц)сонных полос (или близ него), состоят каждая пз двух кдссньев, склеенных межлу собой или насаженных на оптический контакт. Елинья изготовлены пз стекол с разны)с)с дисперсиями, но имесот равные илп почти равные углы и показате,сп ссрело)сления. Поэтому лля лучей некоторой срелнейс длины волны обе пластины Лействусот как плоскопарадлельные (илп как сснтерс)еренциоссные клинья), При их вращении около оптпческ )й оси на равные углы достигается ахроматизацпя интерференцссонных полос, Две другие стеклянные пластины (В) п (Г) - обыкновенные плоскопараллельные пластины - устанавливаются в другой ветви пнтерферометра для получения олцнаковой оптической ллсгны хола лучей в ооеих ветвях интерферометра.От существующих Лисперсионных )срссз)ссстссческссх систем предлагаемая система (устройство) отличается применением юсесто простой призмы пластин из двух ) клеенных клиньев г разными дисперсиями и возможностью вращения пластин около оптической оси.Предмет изобретения1. Ъ стройство лдя получения ахролш);счсских полос в пнтерферометрах, вы)содненное в виде установленных в холеМ 102(17 л чей интерФеро)истра двум прнзменнык элементов в одной ветви интерферометра и двум плоскопараллельнык пластин для во)5)5 енсации разности кода в другой ветви, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что для возможности изменения степени дисперсии призменные элементы выполнены поворотными и состоят каждый пз двум, взаимно склеенным плп посаженным на оптический контакт стекляннык призм- елин)зев, 1 Гмеюэци." раВные, )лп почт РаВНЫЕ УГЛЫ И К)Э 5 Н)ПЦПЕНтЫ ПРЕЛо)5 ЛЕПасколь гюкавипцоооно)яррренцовнньц потс 56 г. Стандарт;ив.)6)ъсы 0,125 и. . Тираж 2560 Цена 25 ьоп 9615 от 28/1 1 ГипоГРафия )53 1 осковская правда;, Потаповский пер., 3. Зак, 2478 в. редактор А, Л, Сержпинсная пя, но различные дисперсии, подооранные таким образом. что для некоторой длины световой вотпы пластины эквивалентны плоскопараллельной пластинке.2. ФО 10 и Выполнения устройстВа по и. 1, отличагОщаЯСя тем. что пО- казатели преломления и углы составляя)- щик дисперспонные пластины клиньев подоираются таким образом, чтобы для некоторой длины световой волны пластины были эквивалентны пнтерфер о 5.тр)5- ческому клину.
СмотретьЗаявка
435216, 26.09.1950
Рабинович Г. Д
МПК / Метки
Метки: ахроматических, интерферометрах, полос
Опубликовано: 01.01.1956
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-102717-ustrojjstvo-dlya-polucheniya-akhromaticheskikh-polos-v-interferometrakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для получения ахроматических полос в интерферометрах</a>
Способ калибровки шкалы длин волн сканирующего интерферометра
Номер патента: 634092
Опубликовано: 25.11.1978
Авторы: Голобородько, Шульман
МПК: G01B 9/02
Метки: волн, длин, интерферометра, калибровки, сканирующего, шкалы
...необходимо делать очень большим. Целью изобретения является повышение точности калибровки и расширение области применения способа.Это достигается тем, что дополнительную интерференционную картину создают путем ввода контрольного светового луча между зеркалами калибруе634092 Формула изобретения Иссре 3 уеный сигнал Звйиньи сиен Фиг. гСоставитель Л.ЛобзоваТехред З.Фанта КОрректор Е.Пап ародная едакто П овета Моткрыти кая наб Тираж 830 нного комитетаам изобретений ква, Ж, Рауш писное истров аказ б 747/37 ЦНИИПИ Государств по дел 113035, Мод.4/5 Филиал ППП фПатентфф, г.ужгород, ул, Проектная,мого интерферометра и получения многократного отражения этого луча.На фиг.1 изображена оптическая схема, реализующая предлагаемый способ; на фиг.2...
Интерферометр, репесматриваемый по длине волны
Номер патента: 471634
Опубликовано: 25.05.1975
Авторы: Воробьев, Крушеницкий, Федорцев
МПК: H01S 3/08
Метки: волны, длине, интерферометр, репесматриваемый
...параллельна поверхности пластины. При этом хотя бы одна из областей пластины легируется донорной примесью до такой степени, что в Диэлектрическая проницаемость полупника в определяется по формулам; в . - высокочастотная диэлектрическая проницаемость полупроводника в отсутствие свободных носителей тока;е - заряд электрона;Р - концентрация свободных электронов в и-материале и дырок в р-материале;аказ 999,"1421ЦНИИПИ Изд Лв 8 осуда рственногого делам изоМосква, Ж-З 5,Тираж 833омитета Совета Минисетений и открытийаушская наб., д. 4/5 ПодписноеСССР Тип. Харьк. фил Патент(,о - длина волны инфракрасногосвета;иг" (и - эффективные массы электрои рнов и дырок;С - скорость света.В области объемного заряда р - п перехода диэлектрическая...
Открытый резонатор для миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов длин волн
Номер патента: 293502
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Булыгин, Виноградов, Гугель, Днанов, Ирисова
МПК: H01S 3/02
Метки: волн, диапазонов, длин, миллиметрового, открытый, резонатор, субмиллиметрового
...в эгом диапазоне длн волн (измерение величщы фазовых сдвигов и степени прозрачности твердых образцов из различных веществ) предусмотрена раздвижная рамка, позволяющая помещать исследуемые образцы внутри резонатора.Раздвижная рамка может быть расположена в л 1 обой точке внутри резонатора, может вращаться вокруг двух взаимно перпендикулярных осей. В ней могут закрепляться образцы различных геометрических размеров.На фиг. 1 представлен открытый резонатор типа интерферометра Фабри-Перо; на фиг. 2 - съемный держатель образцов.Резонатор состоит из двух отражателей: переднего 1 и заднего 2, которые закреплены в оправах 3 при помощи постоянных магнитов 4.В качестве переднего отражателя применяется сетчатый элемент; в качестве заднего...
Интерферометр миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов длин волн
Номер патента: 684412
Опубликовано: 05.09.1979
Авторы: Андренко, Беляев, Провалов, Сидоренко, Шевтопалов
МПК: G01N 23/24
Метки: волн, диапазонов, длин, интерферометр, миллиметрового, субмиллиметрового
...пучка 7 или 8, угла 6(лпод которым гармоника с номером и уходит от дифракционной решетки 4,периода Р дифракционной решетки 4 и длины 5 Я волны падающего поля определяется следующим соотцошениемгде Жф - безразмерный параметрдифракциоцной решетки,При условии Х "-)И - К 1 д / ф А,является чисто мнимой величиной. Соответствующая гармоника в этом случае - неоднородная плоская волна, экспоненциально убывающая с удалением от плоскости дифракционцой решетки. Фаэовая скорость . в направлении, перпендикулярном линиям штрихов периодической структуры дифракционной решетки 4, у такой волны .пнискорости С света и определяется соотношением =С в - в , д 25В интерферометре, основанном на дифракции волновых пучков 7 и 8 ца дифракциоццой решетке 4,...
Устройство для резания полосы пластин для аккумуляторов на сдвоенные пластины
Номер патента: 1799314
Опубликовано: 28.02.1993
Авторы: Гаско, Пахольченко, Пухной, Свалявчик
МПК: B23D 25/12, H01M 4/04
Метки: аккумуляторов, пластин, пластины, полосы, резания, сдвоенные
...с помощью валки для уменьшения перегибов бесконечнаправляющих 15. Непосредственно перед ной ленты (с 180 до 90 О).местом резания в контакт с ушками 17 по 5 Заявляемое устройство обладает также поверхности Б входят позиционирующие более широкими функциональными возупоры 13. Так как их линейная скорость в можностями по сравнению с прототипом, точке соприкосновения с ушком выше, они . так как позволяет резать полосу; имеющую отделяют полосу от упоров 11 и перемеща- основу из неметаллического материала ютдальше к месту резания. Упоры 11 при 10 (стекловолокно, углеродное волокно и т;д.), этом несоприкасаются с ушками 17, В мо- получающую все более широкое распростмент резания зазор между ними равен с ранение, Это достигается применением (фиг....
Предыдущий патент: Автоколлимационный окуляр
Следующий патент: Двухроторная дробилка ударного действия
Случайный патент: Держатель зонда для контроля труб парогенератора