Патенты с меткой «микрообъективов»

Способ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов

Загрузка...

Номер патента: 60130

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G03B 43/00

Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных

...возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При...

Станок для центрирования микрообъективов и подрезки их по высоте

Загрузка...

Номер патента: 217997

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Долинский, Скворцов

МПК: B24B 9/08

Метки: высоте, микрообъективов, подрезки, станок, центрирования

...рабочий торец шпинделя выполнен в виде шаровой поверхности, центр которой совпадает с осью вращения шпинделя и удален от упорного торца корпуса микрообъектива на расстояние не менее 1,7 высоты микрообъектива. Станок повышаемикрообъективов изаменяемость.На чертеже с,ваемый станок,устройство 2 сдельную бабку 3.Рабочий торец шпинлелскую поверхность, центрнахолптся в точкс .-1 на раного торца Б центрнруемо5. Расстояние г вычисляет- длина резьбы объектива;д,р - средний диаметр резьбы объа - угол профиля резьбы объекля совмещения эквивалентнойи О центрируемого микрообъеквращения шпинделя гильзу б поокруг центра кривизны А сферыс помощью четырех юстировочнь точкосьюют вля 4тов 7,После ценгрирования ляют подрезку упорного мого объектива 5 резцо...

Устройство для измерения продольной аберрации микрообъективов

Загрузка...

Номер патента: 623124

Опубликовано: 05.09.1978

Авторы: Кривопустова, Русинов

МПК: G01M 11/02

Метки: аберрации, микрообъективов, продольной

...4 в виде штриха. Марка 4расположена в плоскостй предметов микрообъектива 5. Лучи от марки 4 прохо дят микрообьектив 5, диафрагму 6, расположенную в плоскости выходного зрачка микрообъектива 5 и выделяющую исследуемые зоны, и собираются в плоскости иэображений микрообьектива 5, с которой совмещен центр кривизны зеркала 7, и, отразившись от него по нормали, снова проходят через диафрагму 6, микрообьектив 5 и собираются в плоскости 1 О предметов микрообьектива 5, где и образуется. перевернутое автоколлимационное изображение марки 4. Марка 4 и автоколлимационное иэображение наблюдаются в стереомикроскоп 9. 15Диафрагмой 6 выделяют, исследуемую зону, т, е. открывают два симметричных относительно оптической оси отверстия 10, которые и...

Устройство для контроля хроматической разности увеличений микрообъективов

Загрузка...

Номер патента: 1497475

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Андреев, Никулин, Окишев, Пенюгин

МПК: G01M 11/02, G02B 21/02

Метки: микрообъективов, разности, увеличений, хроматической

...хроматической разности увеличений в окуляр11 наблюдается окрашенное иэображениеобъекта 3, Для компенсации вносимоймикрообъективом 4 хроматической разности увеличений гиперхроматическиелинзы 6-7 и 8-9 совместно перемещаются вдоль оптической оси и устанавливаются в положении относительноплоскости 10 изображений так, чтовыполняется равенство: с 1=БК1 )где Й - расстояние между гиперхроматическими линзами 6-7 и8 - 9Б - расстояние от первой гиперхроматической линзы 6-7 доплоскости О изображений,1 гК = 1 --- коэффициент ,г,г г, - радиусы первой б - 7 и второй 8-9 гиперхроматическихлинз соответственно.При выполнении данного условияпроисходит компенсация хроматической разности увеличений микрообьектива 4, что фиксируется по исчезновению...