Способ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 60130
Автор: Коломийцов
Текст
Зарегиетрироеоно е Отделе изобретений Гогнлина ори СНК СССР Ю. В. Коломийцов,Способ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов.,Заяалеко 2 марта 1940 года з НКВ еа Лъ 854, 1 : ь ,Ов б,аиковзно 31 мая 1941 года.Качество оптических поверхностей обычно проверяется по методу пробных стекол, Однако в случае испытания фронтальной линзы объектива микроскопа применение этого метода связано с большими затруднениями вследствие малых размеров такой линзы. В особенности трудно определять качество линзы на ее краях, где как раз и возможны наибольшие отступления поверхности от идеальной сферы.Предметом изобретения является способ испытания на качество формы поверхности линз малых размеров, в частно"ти фронтальных линз микрообъективов, основанный на применении оптической схемы, напоминающей интерферометр Тваймана, отличакнцийся тем, что обе волны, применяемые в исследовании, создаются совершенно одинаково, а именно с помощью вставленных в каждую ветвь интерферометра фронтальной линзы, а также микро- объектива, фокус которого совпадает с центром кривизны линзы.На прилагаемом чертеже изображены детали схемы, служащей для осуществления способа согласноизобретеншо. Здесь изображены.источник монохроматического света 1, линза-конденсор 2, диафрагма 3 с круглым отверстием, стеклянная пластинка 4, состоящая издвух склеенных плоскопараллельных пластинок с тонким полупрозрачным слоем серебра между ними, два одинаковых мнкрообъектива 5 и 6, эталонная фронтальная линза 7 микрообъектива с поверхностью заведомо хорошего качества в участке, которым она отражает свет, и испытуемая фронтальная линза 8, укрепленная на столике, имеющем, возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При хорошей юстировке прибораокуляр микроскопа видно одно резкое изобрвкание отверстия диафрагмы, составленное из двух сов, падающих изображений этого отверстия. Вьц 1 ув .окуляр и аккомоди 1 туя глаз р,плоскость выходного зфра обе 1;тивр 6, мы увидим интереренциору;о картину и по ее аиду можеРудигь о величине отступленя испытуемой поверхности от этаОтной и ов езх ности, а ни огично тому, как это делается при испытании качества поверхностей по методу пробных стекол.11 оложение точного совмещения фокуса объектива 6 с центром кривизны поверхности 8 характеризуется тем, что полосы интерференции ири этом наименее искривлены.ОФступления поверхности от сферы можно определить с точностью о 0,2 полосы. Измерения возможны, естк отннбки поверхности лежат в пределах от 0,2 полосы до:6 полос, Длтельность испытания - несколько минут.Если объективы 5 и 6 имеютапертуру 0,40, то при одной наводке испытывается сравнительно небольшой участок поверхности, заключенный в телесном угле 46.,чем диктуется требование делатьпесколько паводок на разные участки для исключения случайности ре,. зультата,Из рассмотрения систем полос,принадлежащих разным сечениямиспытуемой поверхности, можноопределить ее астигматизм.Грсдмст изобретенияСпособ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов с помощью интерферэметра Тваймана, треоующий установки испытуемой линзы на совпадение центра кривизны ее поверхности с фокусом микрообьектива, отличающийся тем, что в качестве фронта волны сравнения используют фронт волны, полученной с помощью аналогичных образом установленных во второй ветви интерферо:, етра другого мнкросбьектиза и эталонной фронтальной линзь
СмотретьЗаявка
854, 02.03.1940
Коломийцов Ю. В
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02, G03B 43/00
Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных
Опубликовано: 01.01.1941
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-60130-sposob-opredeleniya-kachestva-formy-poverkhnosti-frontalnykh-linz-mikroobektivov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов</a>
Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки
Номер патента: 1661603
Опубликовано: 07.07.1991
Авторы: Ермилов, Полетаев, Пуряев, Турчков
МПК: G01M 11/00
Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы
...обработанной сферической поверхностью, по.которой осуществлено ее базирование, В полой части патрона установлены источник 4 излучения, точечная диафрагма 5 и линзы б компенсатора так, чтобы в полвливается н оиэводится е окончания к я инструмент поверхности л ится микроско чку А, и на ис я питание, При рхности расчет зображения т тана ипр а обраба- обработоторой отсо стороинзы 3 к, сфокуочник 4 оотве ному знаочеч ной ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОбРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР(56) Технология оптическихМ. Н, Семибратов М,; 1085, с,Авторское свидетельствоМ 1569639, кл, 6 01 М 11/00,ученной оптическокомпенсатора и асла исправлены сУстройство содермикроскоп 7,Устройство разомУстройство устывающем станкека заготовки, послзаготовки...
Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки
Номер патента: 1661604
Опубликовано: 07.07.1991
Авторы: Ермилов, Полетаев, Пуряев, Турчков
МПК: G01M 11/00
Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы
...процессе обработки в серийном производстве,На чертеже представлена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленным на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой асферической линзой 3, которая обращена к гильзе предварительно обработанной асферической поверхностью, являющейся ее базой, Линзы 4 компенсатора закреплены в полой части патрона так, чтобы в полученной оптической системе была исправлена волновая аберрация, а также обеспечивался Оно уст щем станке ботка асфе обработки о румент и со ности линз анализатор 5 зуется осеет регистрирую тические эл патроне, явл ного интерф на. Сравнивнавливается на обрабать на котором производится обраической поверхности, После т нее отводится режущий инстстороны...
Интерферометр для контроля качества вогнутых цилиндрических поверхностей
Номер патента: 355489
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01B 9/02
Метки: вогнутых, интерферометр, качества, поверхностей, цилиндрических
...пучок направляется па цилиндрическую линзу б, с помощью которой ня гряп 5 гх а и б кубика 7 собирается в прямыс ли нии, параллельные образующим цилиндрических поверхностей линзы 8 и проверяемой детали 10 и расположенныс, соответственно, в фокальной плоскости линзы 8 и пл)Скост 51 центров кривизны проверяемой поверхности.10 1.1 я гранях а н б нанесены зсркальныс по,1)ски, в середине которых прорезаны узкие прозрачныс цели (св. внд по стрелке Л), Щель па граш 6 совмещена с фокальной линией лпнзь 1 б и пропускает к поверхности проверяс мОЙ детали гольку ту часть пучка, котора 51дифрагировала на щели. После отражения от детали 10 пучок направляется в пнтерферов 1 етр мимо зеркальной полоски, 1 кой х),1 пучка обеспечивается соответствующиз...
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей
Номер патента: 1026002
Опубликовано: 30.06.1983
Автор: Пуряев
МПК: G01B 9/02
Метки: выпуклых, интерферометр, поверхностей, сферических, формы
...гиперболическими с эксцентриситетами; равными показателю преломления материала двояковыпуклойлинзы, линза с эталонной поверхностьювыполнена так, что ее поверхность,обращенная к двояковыпуклой линзе,.имеет радиус кривизны, обеспечинающий минимальную сферическую аберрацию для осевого пучка лучей, аформа другой ее поверхности выполняется в соответствии с геометрической формой контролируемой поверхности,На чертеже представлена оптическаясхема интерферометра.Интерферометр для контроля формывыпуклых сферических поверхностейсодержит источник 1 монохроматического излучения и последовательнорасположенные по ходу лучей конденсор 2, светоделитель 3, объектив 4,двояковыпуклую линзу 5, обе поверхности которой выполнены гиперболи,ческимис...
Станок для шлифования и полирования сферической поверхности оптического изделия (линзы)
Номер патента: 141401
Опубликовано: 01.01.1961
Авторы: Власов, Голиков, Журавлев, Куманин, Степанов, Штандель
МПК: B24B 11/10, B24B 13/02, B24B 47/22
Метки: изделия, линзы, оптического, поверхности, полирования, станок, сферической, шлифования
...1 др 4, включаемый от золотника электромагнитом, Для предотвращения ударов изделия об инструмент при подводе шпинделя вверх, станок имеет гидравлический демп М 141401фер 5, предсгавляющий сооой сосуд с иглои и отверстием для с жидкости. Станок работает по полуавтоматическому циклу, т. е. функции рабочего сводятся к установке детали и снятию се, Деталь укла. дывается в патрон 6, в проточку которого вставляется резиновая прокладка толщиной 1 ,ял. Крепление детали в патроне не производится. При включении станка начинают вращение оба шпинделя, электромагнит включает золотник и воздух, поступая в цилиндр, поднимает шпиндель изделия быстро до гидравлического демпфера, после чего шпиндель медленно подводится до соприкосновения детали...
Предыдущий патент: Способ определения качества коррекции микрообъектива
Следующий патент: Способ нанесения надписей и цифр на чертеж
Случайный патент: Регулятор температуры полосы на выходе из чистовой группы непрерывного стана горячей прокатки