Микроскоп для определения качества поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 66974
Автор: Линник
Текст
66974. Класс 425, 8 в425, 12 пе 4211, 34 СССР АНИЕ ИЗОБ 1 ктк АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Здрееистрироеано в Бюро изобретений Госилана СССР нд,оо 1 В. П. ЛинникИКРОСКОП ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТ ПОВЕР Ло 44866 (30898 явлено 15 апреля 1938 года в Наркомат Вооружения Опубликовано 30 свнтября 1946 годот зеркала ь от зеркав объектив ервым пуччества пя ее верхнос тем, чт тонкой объекти терфер ненной Майкел Предметом настоящего изобретения является микроскоп для определения качества поверхности путем сравнения ее с эталонной оптической поверхностью.Отличие предлагаемого микроскопа от ранее известных состоит в том, что для возможности изучения тонкой структуры поверхности объектив микроскопа снабжен интерференционной насадкой, выполненной по схеме интерферометра Майкельсона.Устройство насадки изображено на фиг, 1. Насадка содержит два зеркала: зеркало М состоящее из двух склеенных плоскопараллельных пластинок, одна из которых имеет полупрозрачный слой на склейке., и зеркало М, с наружным отражающим слоем.Пучек лучей, вышедший из источника света 5, частью отражается от разделительного зеркала М,. попадает на объект А, отражается от него обратно и попадает в микроскоп через объектив О. Часть пучка, прошедшая через зеркало М, .отражается затемМа и, снова отразившила М, тоже попадаетО и интерферирует с Возможен вариант насадки с применением вместо зеркала М 1 стеклянного кубика Р (фиг. 2) с полупрозрачной диагональной плоскостью. При применении монохроматических лучей во втором варианте зеркало М. может составлять одно целое с кубиком, что упрощает конструкцию. редмет изобретен оскоп для определения поверхности путем срав с эталонной оптической потык, отличающийся о для возможности изученияструктуры поверхности в микроскопа снабжен иненционной насадкой, выполпо схеме интерферометра ьсона.
СмотретьЗаявка
44866, 15.04.1938
Линник В. П
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30, G01B 9/02
Метки: качества, микроскоп, поверхности
Опубликовано: 01.01.1946
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-66974-mikroskop-dlya-opredeleniya-kachestva-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Микроскоп для определения качества поверхности</a>
Предыдущий патент: Фотозатвор
Следующий патент: Донный взрыватель
Случайный патент: Способ сульфидирования чугунных деталей