Способ определения качества коррекции микрообъектива
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 60129
Автор: Коломийцов
Текст
Класс 42 Ь, 3560129 СССР НИЯТВУ ПИСАНИЕ ИЗОБР ОМУ СВИДЕТЕЛ ВТО Коломийц ОПРЕД МЕНИЯ КАЧЕСТВА КОРРЕКЦИРООБЪЕКТИВО В 2 марта 1940 г. зз М 313061изобретений и товарных знаков М 10 за 1964 г Заявлен иубликовано в Бюллетенеъекти идоиз Предметом изобретения является способ испытания микрооб вов, основанный на применении оптической схемы, являющейся в менением интерферометра Тваймгна,Отличие предлагаемого способа от известных заключается в том, что обе волны, применяемые в исследовании, созда 1 отся совершенно одинаково, а именно при помощи вставлснных в каждую ветвь интерферометра сферического зеркала и микроооъектива, фокус которого совмещается с поверхностью или центром кривизны зеркала.На чертеже изображена оптическая схема прибора для осуществления предлагаемого способа.Прибор имеет источник 1 монохроматического света, конденсор 2, диафрагму 3 с круглым отверстием и стеклянную пластину 4. Стеклянная пластина 4 состоит из двух плотно склеенных параллельных пластинок с тОнким полупрозрачным слоем сереора между ними. За пластиной 4 установлен микрообъектив 5 хорошего качества. Испытуемый микрообъектив б того же увеличения, что и объектив 5, устанавливается геред пластинкой 4. Фокусы объективов совмещаются с фокусами двух Одинаковых сферических зеркал 7 и 8 достаточно хорошего качества. Зля устройства этих зеркал можно использовать поверхности двух одинаковых линз, посеребренных или алюминировачных, с целью получения большего количества света.Описываемый интерферометр можно навинтить на тубус обыкновенного микроскопа вместо объектива.Свет от источника 1 собирается конденсором 2 на отверстие диафрагмы 3, находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и б, Пластина 4 разделяет на два пучка расходящиеся лучи, подающие на нее. Пучки эти затем собираются объективами 5 и б в точках 9 и 10, с которыми совмещаются центры кривизны или поверх:Ости сферических зеркал 7 и 8. Вследствие этого, отразившись ог зеркал, пучки БозвряШяются к пластине 4 те)1 и путями, какими шли От нее, и соединяются ею в один пучок.При хорошей юстнровке прибора и окуляр микроскопа Бид;о о.,но резкое изобра)кение отверстия диафрагмы, состояцее из двух совпад 210 ших изооражени этоГО Отгерстия. Ьынув О(уляр и Яккомодировяв глаз на плоскость выходного зрачка обьектива 6, можно увидеть интер- фЕРСНЦИОННуЮ 1:.ЯРтнну, по ВИДУ КотОР 01 Ъ 10 ЖО суДить 0 всличине БОЛ- новой аоерраци нс Оси Ооьектив 2 и, следовательно, 0 еГО качестве.Если обоектвы ) и б навсдены н; поверхности, а нс:а цетрь кривизны зеркал 7 и 8, ошибки поверх остей последних исключаются, Но Б таком варианте метод прнго,с; лишь для ооня)у)кен;я си)метрических ошибок.Возможно примснснне ОслОГО сВста с нелью улу 1 нненя Вн;И)10 сти полос. Эта озх 0)кность появляется от того, что интсрферирующне пуч(и роходт приерно Одииаковыс пути в стекле. 1 р сд) ет и зоб р стен и я Спосоо Определения КЯествя корре(Иии микр 000 ьсктивя с по ОШЬЮ и 1 ТсрфСромеТранайман 1, Б которо)1 1 Спытуе)Ы 1 ОоьеКТИВ уст 2 навлиь 210 т на сОВпядение его Г 1)окмся с центром крвнзны с)еричс- СКОГО ЗСРКЯЛЯ НЛН ПОВЕРХНОСТЬК Г 10 С.1 СДНЕГО, 0 Т Л Н2 К) 1 Ц Н й С и ТСМ, ЧТО В качестве волы с)Явнен 1 использ,1 От ВОЛ 1), пол) чснную п)и по)101 ци аналогичным образом установле;щых во второй ветви интерферометра этялоннОГО )1 икроооьектнва и;русого срерическОГО зе 1 ркяла. едактор Г. Б. Субботина Текрсд Л, К. Ткаченко Корректор Г, Е. Опарина- 64 г. Формат бум. 70 Х 10 Тираж 200 ДаРСтВСИНОГО КОГинтета ПО Депаи И Москва, Центр, пр. Серова
СмотретьЗаявка
854, 02.03.1940
Коломийцов Ю. В
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02, G01M 11/02
Метки: качества, коррекции, микрообъектива
Опубликовано: 01.01.1941
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-60129-sposob-opredeleniya-kachestva-korrekcii-mikroobektiva.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения качества коррекции микрообъектива</a>
Способ контроля хлопающих сферических диафрагм
Номер патента: 526788
Опубликовано: 30.08.1976
Авторы: Балаев, Жеребцов, Молчанов, Стрелецкий, Сухов
МПК: G01L 27/00
Метки: диафрагм, сферических, хлопающих
...и амплитуды перемещения клапанных механизмов в рабочее положение. Возможное изменение при изготовлении и сборке диафрагм параметров перемещения необходимо контролировать.Применяются также хлопающие сферические диафрагмы, выпуклость которых создается специально при их изготовлении.Известен способ контроля хлопающих сферических диафрагм, при котором нагрузка создается воздействием испытательного давления по всей выпуклой поверхности диафрагмы и при этом определяется зависимость давление - скорость перемещения.Недостатками такого способа являются невозможность непосредственного измерения амплитуды перемещения диафрагмы при одновременном ее нагружении с выпуклой стороны на центральном участке поверхности диафрагмы до потери...
Способ сравнения радиусов кривизны оптических поверхностей с помощью интерферометра
Номер патента: 1747895
Опубликовано: 15.07.1992
Авторы: Богомолов, Борейко, Еськов, Захаренков, Линский, Образцов, Подоба, Серегин, Фирсов
МПК: G01B 21/00
Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения
...зеркала10 и 11, возвратный отражатель 21, прямаяреперная,линия 22 в поле зрения интерферометра.На фиг.4 показаны пробные стекла иконтролируемые поверхности при значительных отклонениях радиусов кривизныпробных стекол от номинального значения,вид сверху: пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22. На фиг,5 показаны пробные стекла и контролируемые поверхности, размещенные на общей раме, при смещении интерферометра из центра кривизны поверхностей сравнения, вид сверху; пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, жесткая рама 9, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22.На фиг.б приведен пример реализации способа с наклонной осью интерферометра при...
Зеркало с изменяемой кривизной поверхности
Номер патента: 1418636
Опубликовано: 23.08.1988
Авторы: Лиманаускас, Рагульскис, Тамошюнас, Шержентас
МПК: G02B 26/06, G02B 5/10
Метки: зеркало, изменяемой, кривизной, поверхности
...с касательной окружности. а внутренний ряд ЗСпьезопакетов 5 установлен так, чтооси поляризации ориентированы радиально: Кажпьй пьезоакет 4, 5 подключен через блок управления к блокупитания, С тыльной стороны диска 1между "яцами ячеек выполнено кольцеобразное ребро 6 жесткости, к .кото-рому прикреплены плоские пружины 7,подвижно соединяющие диск 1 зеркалас основанием 8.Устройство работает следующим образом,Напряжение от блока питания через блок управления подается на каждый пьезопакет 4 и 5 обоих рядов, Пьезопакеты 4 и 5 растягиваются, При растяжении расположенных по внешней окружности пьезопакетов 4 наружнаячасть относительно ребра 6 жесткости,диска 1 деФормируется вверх от основания 8, а внутренняя часть - вниз;так как создается...
Зеркало с изменяемой кривизной
Номер патента: 1281524
Опубликовано: 07.01.1987
Авторы: Колокольчиков, Подкопаев
МПК: G02B 5/10
Метки: зеркало, изменяемой, кривизной
...следующим образом.С источника тока 2 на намагничивающую катушку 3 подается напряжение. Ток, протекающий по катушке 3, создает в магнитопроводе 4 магнитный по ток. Таким образом, на оптический блок 1, помещенный между полюсами магнитопровода 4, накладывается магнитное поле, которое намагничивает магнитострикционные слои 7 и 8 в многослойных изгибных конструкциях 5 и 6. Слои 7 и 8 изменяют свои линейные размеры, что приводит к изгибу конструкций 5 и 6.Промежуточные слои эластичного материала 9 не препятствуют такому изгибу, так как модуль упругости его ниже, чем у многослойных изгибных конструкций 5 и 6. Таким образом, оптический блок 1 изменяет свою кривизну.Армирующие включения 10 и 11 увеличивают жесткость блока в направлениях,...
Зеркало с регулируемой кривизной
Номер патента: 1402119
Опубликовано: 07.07.1993
Авторы: Грахов, Кусимов, Тлявлин, Фатхиев
МПК: G02B 26/06, G02B 5/10
Метки: зеркало, кривизной, регулируемой
...является упрощение конструкции зеркала с регулируемой кривизной.,На Фиг,1 схематично изображенопредлагаемое зеркало; на Фиг.2 - тоже, вид сверху.Зеркало содержит трехслойный элемент, средний слой 1 которого выполнен из немагнитного токопроводящегоматериала, а слои 2 и 3, прилегающиек среднему слою, изготовлены из магнитострикционных материалов с противоположными по знаку коэффициентамимагнитострикции, Одна или обе внешние поверхности трехслойных элементов 1, 2, 3 выполнены отражающими,Отдельные слои могут быть электрически изолированы между собой.К краям токопроводлщей пластины1 припаяны толстые шины 4, изготовленные из материалов, обладающих высокой электрической проводимостью и ЭОобеспечивающих поэтому равномерныйпо ширине пластины 1...
Предыдущий патент: Отрезной станок с дисковой пилой
Следующий патент: Способ определения качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов
Случайный патент: Способ обезмасливания парафинового гача