Патенты с меткой «интерференционном»

Устройство для рассматривания прозрачных объектов под микроскопом в интерференционном поле

Загрузка...

Номер патента: 78570

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Поляков

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45, G02B 21/14 ...

Метки: интерференционном, микроскопом, объектов, поле, прозрачных, рассматривания

...5 и окуляр б, В микроскопе, в месте образования изображения щели 8 объективом 5, устанавливают плоскопараллельную пластинку 7, покрытую полупрозрачным слоем, алюминия с пропускной способностью 0,3 - 035. На алюминированной поверхности пластинки 7 сделана щель (или щели) шириной 0,01 - 0,02 мм.Плоскопараллельную пластинку 7 устанавливают так, чтобы изображение щели 8 было совмещено со щелью в пластинке 7. Тогда пучок лучей света, пройдя через щель в пластинке 7, подвергнется лишь дифракционным изменениям и создаст одну из двух иятерферирую щих волн. Другой интерферирующей волной являютсялучи, прошедшие через рассматриваемый объект и полупрозрачный слой пластинки 7 и подвергшиеся изменению уже в зависимости от оптических свойств...

Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света

Загрузка...

Номер патента: 1298542

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Бабенко, Горбаренко, Евтихиев, Кучин, Левинсон

МПК: G01B 21/00

Метки: белого, геометрических, интерференционном, параметров, поверхности, профилографе, света

...3, к которому подключен также генератор 4 модулирующего напряжения, Вход датчика 11 перемещения опорного зеркала связан с опорным зеркалом 2, а его выход - с первым входом вычислительного блока 14, к второму входу которого подключен блок 13 сравнения, а выход вычис лительного блока 14 связан с генератором 6 отклоняющего напряжения. Формирователь 12 сигнала допустимой 2 2ошибки подключен к второму входу блока 13 сравнения,Способ и работа устройства осуществляются следующим образом.3 1985В блоке 13 осуществляется сравне -ние сигнала допустимой сшибки, сформированного формирователем 12, и сигнала расстройки, сформированного формирователем 9,5Если сигнал расстройки меньше величины, заданной формирователем 12,блок 13 сравнения...

Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света

Загрузка...

Номер патента: 1575070

Опубликовано: 30.06.1990

Авторы: Бабенко, Горбаренко, Евтихиев, Курчатов, Левинсон, Тугарин

МПК: G01B 21/00

Метки: белого, геометрических, интерференционном, параметров, поверхности, профилографе, света

...ахроматической полосой, и формирует сигнал, пропорциональный временному положению центра ахроматической относительно начала40 развертки, Формирователь 8 формирует сигнал, длительность которого не изменяется и равняется приблизительно 1/4 периода модуляции. Сигналы с выходов блока 7 и формирователя 8 посту 1 пают на вход формирователя 9 сигнала расстройки, который формирует импульс, пропорциональный разности длительностей входных сигналов, т,е. пропорциональный положению пика сигнала,50 связанного с ахроматической полосой, полученной на выходе фотоприемника 5, относительно положения, выбранного с помощью сигнала фиксированной длительности за начальноеЗа началь 55 ное положение центра ахроматической полосы, относительно которого...