Устройство для сравнения длин волн

Номер патента: 863010

Опубликовано: 15.09.1981

Автор: Коротков

МПК: B06B 1/02

Метки: волн, волны, гиперзвуковые, электромагнитных

...и объемный щ резонатор 7, например, тороидальный, соединенный посредством фазосдвигающей линии 8, например коаксиальной, и элемента связи 9, например кольцевой щели, соответственно с контр 25 электродом 5 и,модулятором 3. Для расширения области применения предлагаемый преобразователь снабжен раз. мещенным на пьезоэлектрическом элементе 4 поликристаллическим слоем 10 фотоупругого материала, например сернистого кадмия, источником 11 света 12, например некогерентного, и оптической системой 13, например линзовой, фокусирующей источник света 11 на поверхность 14 поликристал- З 5 лического слоя 10 через оптический модулятор 15, связанный, например, электрически, с элементом 16 управления частотой генерации, например, с последовательно...

Номер патента: 547236

Опубликовано: 25.02.1977

Автор: Коротков

МПК: B06B 1/02

Метки: волн, волны, гиперзвуковые, электромагнитных

...элементом,Преобразователь электрома.нитных волнв гиперзвуковые волны содержит охваченную Объемным резонатором 1 вакуумнуютрубку 2, установленную по оси 3 трубки2 электронную пушку 4 с фокусирутошейсистемой 5, модулируюший электрог, 6 которой электрически связан с резонатором 1посредством, например, шелк 7, раз;лешенный на торце 8 трубки 2 пьезоэлектрический элемент 9 с дополнительным электродом 10, например кольцевым. соединеннымпри помоши фазосдвигаю 1 цей линии 11 например коаксиальной, с объемным резонатором 1. Между дополнительным электродом10 и пьезоэлектрическим эле:, ентом 9 чстановлен плокосной полупРОводникозыйдиод 12, например, с"-1, переходом 3 Энепосредственно контактируюи ий с Обкладкой14 элемента 8, а между другой...

Номер патента: 450225

Опубликовано: 15.11.1974

Авторы: Глаголевский, Шишов

МПК: G09B 9/00

Метки: волн, демонстрации, длинной, линии, образования, процесса, смешанных

...передачи фазовращателей и изменяют начальную фазу в фазовращателе 3.Напряжение с выходов фазовращателей подается на неуправляемые входы усилителей 10 и 11 с регулируемыми коэффициентами усиления. Под действием импульсов с выходов мультивибратора 8 схема управления 12 формирует два периодических противофазных управляющих напряжения, которые подаются на управляемые входы усилителей 10 и 11, и 5 под их воздействием изменяются коэффициенты усиления усилителей. Величина коэффициента затухания линии регулируется изменением амплитуды управляющих напряжений.Напряжение с выходов усилителей непо средственно и через сумматор 4 подается наКорректор И. Позняковская Редактор Л. Янова Заказ 779/11 Изд.1128 Тираж 456 Подписное ЦНИИПИ...

Номер патента: 601645

Опубликовано: 05.04.1978

Авторы: Вольфсон, Кузнецов, Мар, Шендерович

МПК: G01W 1/00

Метки: волн, длинных, морских

...резисторы, а в,два других - ионисторы.При этом на входе и выходе фильтра могут быть установлены сигнализаторы экстремальных значений напряжения.На чертеже, представлена блок-схема устройства для измерения длинных волн.Устройство содержит преобразователь 1 исследуемого процесса в электрическое напряжение, сигнализатор 2, элекпрический фильтр 3 для фильтрациями измеряемого параметра, сигнализатор 4, измерительный прибор 5 и блок питания (на чертеже не показан).Фильтр выполнен в виде электрического моста, диагональ питания которого подключена к выходу преобразователя, а измерительная диагональ - к измерительному прибору, причем в двух смежных плечах одного полумоста установлены регулируемые резисторы, а в двух смежных плечах второго...

Номер патента: 1747895

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Богомолов, Борейко, Еськов, Захаренков, Линский, Образцов, Подоба, Серегин, Фирсов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения

...зеркала10 и 11, возвратный отражатель 21, прямаяреперная,линия 22 в поле зрения интерферометра.На фиг.4 показаны пробные стекла иконтролируемые поверхности при значительных отклонениях радиусов кривизныпробных стекол от номинального значения,вид сверху: пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22. На фиг,5 показаны пробные стекла и контролируемые поверхности, размещенные на общей раме, при смещении интерферометра из центра кривизны поверхностей сравнения, вид сверху; пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, жесткая рама 9, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22.На фиг.б приведен пример реализации способа с наклонной осью интерферометра при...