Наблюдательная система интерферометра

Номер патента: 1093378

Опубликовано: 23.05.1984

Авторы: Бобров, Поляков, Халеев

МПК: B21B 45/02

Метки: клетями, между, охлаждения, полосы, прокатного, стана

...полосы относительно оси прокатки уменьшение угла между осью струи охладителя, подаваемого сверху иа поверхность полосы, и осью прокатки и увеличение угла меаду осью струи охладителя, подаваемого снизу, и осью прокаткиобеспечивает постоянство ширины зоны,охлаждения сверху и снизу полосы прн"любом полоаении петледержателя.Стабилизация ширины зоны охлаждеЗп ния сверху и снизу полосы обеспечивает постоянство плотности орошения,коэффициента теплообмена и теплосъе-.ма с обеих сторон полосы,На фиг. 1 представлена схема про 35 катки листа между двумя чистовымиклетями при нулевом значении углаподъема полосы относительно оси про"катки; на фиг. 2 - то ае, при значении угла, равном М .40,Принятые обозначения: 1 и 2 - рабочие валки чистовых клетей;...

Номер патента: 1744611

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Афанасьев, Гулидов, Левченко, Хашимов, Щелоков

МПК: G01N 23/20

Метки: атомных, изгиба, монокристаллических, пластин, плоскостей, радиуса

...сто абразивной резки. лодержател ь кристалличе)4 диаметмм, Рабочая ана до 14-го рона - после пускаемых промышленностью одно- и двукристальных дифрактометрах.П р и м е р 1, На кристаллодержатель устанавливают образец монокристаллического кремния марки КДБ 10 (111) 4 О, Д 76 мм, толщиной 3 мм, отполированный до 14-го класса чистоты.Образец устанавливают таким образом, чтобы его поверхность была параллельна оси гониометра и рентгеновский луч скользил по рабочей поверхности образца. Перед исследуемым образцом на одно основание на расстоянии 1 мм от него устанавливают эталон - монокристаллическую пластину толщиной 2 мм, отполированную до 14-го класса чистоты, Эталон жестко закрепляют перед образцом таким образом, чтобы его атомные...

Номер патента: 102950

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Большаков

МПК: F21V 5/00

Метки: линза, линзы, прессования, пуансона, ступенчатая, типа, френеля

...1 фО(1 п)л 10 Обжп)ки (гриба или чашки), пзготовлснной по расчетной кривой; затем производятся шлиФовка, полировка и хроми 1)ованис торцев в соответствия с расчетной к 1 во) и обратнос обжГмание спи ради так, чтобы выступоющие точки торцев ленты расположились в одной плоскости. Заключенная в кольцевую оправу спиральна)1 лента служ)т пуансоно)1 для прессования линз, на торце которого имеется спиральная канавка с элемснта 1)- ными поверхностями, соответствующими расчетноп.Изготовленная ири помощи такого пуансона спирально-ступенчатая линза имеет преимущество перед ступенчатокольцсвой, так как обеспечивает более плавное преломление лучей, идущих в различныс зоны л)онзы.На Фиг. 1 схематично показана установка для прессования линз: здесь...

Номер патента: 701243

Опубликовано: 30.07.1983

Авторы: Александров, Готлиб, Комаров, Лейкин, Молочников, Павленко

МПК: G01N 21/41

Метки: интерференционно-поляризационный, рефрактометр

...3, 7 и 9 жестко соеОдинены между собой и образуют блок11, аналогично жестко соединенныемежду собой пластины ч, 8 и 10 образуют блок 12, Блоки 11 и 12 укреплены в общем для них держателе 13, 1 р.Устройство работает следующим образом,Пуцок света от источника 1 (например, оптического квантового генератора) проходит через поляризатор2 и направляется на первую кристаллическую пластину 3 интерференционного узла, котОрая разделяет исходныйпучок на два пучка, линейно поляризованных в ортогональных плоскостяхи имеющих некоторую разность хода.Указанная разность хода компенсируется при прохождении разделенных пучков через систему ппастин 9 и пластин7, установленную за пластиной 3 походу луча. Далее йуцки проходят церез рабочую и сравнительную...

Номер патента: 1374042

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Горбатенко, Клименко, Рябухо, Сурменко

МПК: G01B 9/021

Метки: диффузно, измерений, интерференционный, относительных, отражающих, перемещений, поверхностей

...лучалазер 1, делитель 2 пучка, полуволновую пластину 3 и зеркало 4, установленные с возможностью поступатель.,ного перемещения вдоль лазерного луча и регулирования угла его наклона, фоторегистратор 5, установленныйс возможностью перемещения в своейплоскости, и поляризационный анализатор 6 между делителем 2 и фоторегистратором 5,Пучок когерентного излучения от лазера 1. с помощью делителя 2 направляется на диффуэно отражающие поверхности 7 и 8. Отраженное от поверхностей излучение совмещают в плоскости фоторегистратора 5. Ири этом для устранения попадания на фоторегистратор 5 излучения, отраженного поверхностью 8, минуя зеркало 4, осуществляют развязку излучения путем 40 прохождения его через полуволновую пластину 3 и поляризационный...