Пур

Номер патента: 355488

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, интерферометр, оптических, систем, элементов

...то Нось 10. Форма дсфор- анрованноЙ зе 1)алиОЙ иовсрхнос(и ятгсстуется с помощью колец 11 ьютона, которые образуются при введении в систему полупрозрачной пластины 11,тр отличается ользх ется зеркоторая под и пневматичер, близкую кенного испыому повышаетфероме она исп астины, ских ил ает фо та, иска даря эт нципиальная роля оптичеаберрациями 2 Иа фиг, 1 пр схема интсрферо ских систем со с конечного расс Свет от монох пример, лазера) руется на от ройдя черезедставлена п 1 метра для кон значительными О ЯИ 51,рома 1 ического 1 1 конденсорнсп верстие точечноторую, попада сточника (налинзой 2 фоой диафрагмы ет сначала на 3 кусид, п Предложенный инте тем, что в качестве этал кальная поверхность пл воздействием механиче ских нагрузок приним к...

Номер патента: 346571

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Московское, Пат, Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: иммерсионный, интерферометр

...б, эталонное сфериче- О ское зеркало 7, конденсорную линзу 8, лазерный источник 9 непрерывного действия, объектив 10, диафрагму 11. Центры кривизны С, и С сферических поверхностей 4 и 5 линзы 8 совмещены с геометрическими фокусами Р, и 5 1 е контролируемой асферической поверхности. Благодаря нормальному падению на поверхность 4 и равенству показателей преломления линзы 8 и иммерсионной жидкости 2, 20 все лучи, идущие из точки 11 (С 1), достигаютконтролируемой поверхности 1, не меняя своего направления. Отраженные от контролируемой поверхности лучи падают нормально на полупрозрачную сферическую поверхность б, 25 после отражения от которой повторяют свойпуть в обратном направлении и за светоделительным кубиком б интерферируют с лучами,...

Номер патента: 332319

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, выпуклых, гиперболических, интерферометр, качества, эллиптических

...поверхности; Ы - толщина плоскопараллельной пластинки; и - показатель преломления плоскопараллельной пластинки,Лучи, выходящие из оптического квантового генератора, фокусируются микрообъективом и образуют точечный источник света, расположенный от пластинки на расстоянииа= (2) где Рг и Р - геометрические фокусы (анаберрационные точки) контролируемых поверхностей.Лучи, идущие из точечного источника света, достигают пластинки и разделяются на два пучка: один из пучков построен лучами, отраженными от полупрозрачной поверхности пластинки, и образует эталонный сферический волновой фронт; другой пучок проходит через пластинку, достигает контролируемой поверхности, отражается от пее и вновь проходит через пластинку, но в обратном направлении,...

Номер патента: 306342

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Московское, Ордена, Пур, Савостин

МПК: C01B 11/06

Метки: детали, интерферометр, нанесения, пленок, поверхность, процессе, толщины

...призмы блока 5, ова 7 и небольшого участка детали 12т), на которой наносится пленка. Эталонная ветвь включает в с угольую призму блока 5, объектив 6 детали 12 (точка б), свободный от пленки благодаря действию экранаРаботает предлагаемый интерфер дующим образом. При отсугствцц цацосцмоц пленки оптические пути в эталонной и рабочей ветвях постояш 1 ы, и в плоскости фотоэлемента 11 возникает ицтерфереццноцная картина в виде колец. При нанесеьцш пленки в точке т происходит изменение разности хода в ветвях интерферометра, что вызывает изменение освещенности в центре интерференционной картины. При измецешш расстояния вдоль оси между когерентцымц источниками, расположенными вблизи заднего фокуса объектива 9, на величину 0,5 Л (Л -...

Номер патента: 274418

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Пур

МПК: G02B 11/08

Метки: аберраций, интерферометр, оптических, систем

...изображение для осевого пучка лучей. Центр кривизны зеркальной поверхности линзы совмещен с вершиной пучка лучей, вы шедших из контролируемой системы и преломленных зеркальной поверхностью.На фиг. 1 представлена схема предлагаемого интерферометра для контроля оптических систем в параллельном пучке лучей; на 25 фиг, 2 - схема интерферометра для контроля систем с конечного расстояния.Лучи света от монохроматического источника 1, пройдя точечную диафрагму 2, установленную в фокусе объектива 3, и сам объектив, 30 идут далее параллельным пучком. Полупрозрачное зеркало 4 разделяет лучи на два пучка, один цз которых направляется в эталонную ветвь цнтерферометра к плоскому зеркалу 5, после отражения от которого лучи повторяют свой путь...

Номер патента: 272604

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Пур

МПК: G02B 5/18

Метки: интерферометр, качества, поверхностей, полированных, торических

...торическая поверхность 9. В фокальной плоскости объектива 8 образуется кольцевое изображение АА, плоскость которого перпендикулярна оптической оси объектива 8. Торическая поверхносгь 9 устанавливается так, чтобы геометрическое место центров кривизны сечений, проходящих через ось кольца шарикоподшипнпка (мерндиональные сечения), совпало с кольцевым изображением АА. Тогда все лучи, падающие на торическую поверхность, будут направлены нормально к ней и после отражения от торической поверхности пойдут в обратном направлении. По интерференционной картине с помощью объектива 8 определяют качество поверхности с точностью 0,05 - 0,15,як.Для контроля торических поверхностей колец упорных шарикоподшипннков в плоскости кольцевого...

Номер патента: 235341

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02, G01N 11/02

Метки: интерферометр, оптических, систем

...от центра зеркала 7 до Е, Р, и Р., - волновые фронты, идущие цз контролируемой системы после отражения лучей от зеркал 8 и 9. По 25 вознцкающец интерференционной картине,для наблюдения которой служит диафрагма 4, определяют погрешности контролируемой системы 6.Пучок лучей, выходящий из контроли ЗО мой системы 6, прц помощи зеркала 7 раляется на два пучка, идущих к сферическим зеркалам 8 и 9 разных радиусов. После отражения от этих зеркал и выхода из контролируемой системы пучки лучей образуют два волновых фронта Р, и Р, деформированные относительно друг друга на незначительную величину, хотя отклонение каждого волнового фронта от сферы или плоскости может быть очень большим. В результате взаимодействия этих волновых фронтов возникает...

Номер патента: 232477

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Конколович, Пур

МПК: A61M 1/02

Метки: аппарат, крови, переливания, прямого

...К 1 тшкд 9 ЗО крепится к корпусу 10 аппарата с помощью защелок. Наличие ндпрявлгпощих роликов обеспечивает фиксированное положение трубки. 51 ехянизм перемещения роликов в радиальном направлении, позволяющий рсгулировать стспень исрежятия трубки, содержит гайку 11 с Онической поверхность 0 и зубчатым венцом 12 и ручку 13 с закрепленным на ней зубчатым колесом 14. При перемещении этой ручки на себя зубчатое колесо входит в зацепление с зуочятьм Венцов Гайки, соторя 5 Нри Врящс- нии ручки двигается Вдоль ротора 1, нажимая нз палыэ 1 З, жестсо связанные с ВилЯми 6.С помощью зубчатых колес 16 и 17 вращение ротора передается редуктору 18, выход которого жестко связан со стрелкой 19 и с помощью зубчатых колес 20 и 21 - с валиком кругового...

Номер патента: 219793

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Пур

МПК: G01B 11/24

Метки: асферической, линзы, поверхности, полированной, положительной, формы

...положительных линз, которая совместно с контролируемой асферической поверхностью дает безаберрационное изображение источника света, установленного на конечном расстоянии или в бесконечности.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности контроля, на сферическую поверхность линзы па время контроля наносят зеркально отражавший слой.На чертеже дана схема устройства для осуществления описываемого способа.На сферическую или плоскую поверхность 1 линзы 2 наносят зеркально отражающий слой и устанавливают точечный источник 3 света на заданном расстоянии от линзы. Оценку качества поверхности производят при помощи микроскопа 4 теневого или интерференционного устройства, При этом, если первая поверхность линзы...

Номер патента: 202547

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/30, G02B 9/04

Метки: компенсационный, объектив

...эллиптической поверхности, показатель и преломления стекла, из которого сделан второй компонент, и расстояние з от заднего фокуса первого компонента до плотской ,поверхности второго компонента.д 2может быгь также выполнен в виде плоскопараболичвокой линзы (фиг, 2) из стекла с показателем преломления, равным также величине, обратной величине эксцентриситета исследуемой поверхности, с толщиной д, определяемой формулой д=/ - з, где / - фокусное 5 расстояние параболической поверхности. Предмет изобретения 1. Компенсационный обьектив для контролявогнутых эллиптических поверхностей вращения, состоящий из исправленного на сферическую аберрацию первого компонента и второго компонента в виде выполненной из стекла с показателем преломления,...

Номер патента: 201721

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...осуществить ход лучей, при котором выпуклая параболическая поверхность работает как вогнутое 25 параболическое зеркало, фокусируя действительные лучи, падающие, параллельным пучком на параболическую поверхность.Предлагаемый способ позволяет контролировать качество выпуклых, параболических 30 линз только по интерфернционным кольцам,Получение интерференционных полос принципиально невозможнопоэтому определение очень малых:погрешностей затруднено.Описываемый интерферометр применим практически для любой формы второй, поверхности параболической линзы 8 (а, б, в, г). При контроле серии одинаковых линз, например,:выпукло-плоских (в), дополнительную линзу можно выполнить переменной толщины, в виде двух, подвижных клиньев,...

Номер патента: 200165

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/26

Метки: оптический, углов

...угключающийся в определении смещения жения источника света, образованного ируемой поверхностью детали, ось коараллельна оптической оси зрительной Извеслов, заизобраконтролторой птрубы.Предложенный способ отличаетсвестного тем, что измерению подлметр кольцевого изображения истота, Образованного коптрОлируемОЙ 1повсрх 110 сть 10, ч ГО полволяст пОВьность и расширить пределы измереотраженном, так и проходящсм сконтролю подлежит угол растворанпческих линз. я от изежит диа 1 ннка свеоничсской 1 снть точшя как в вете, если плоскокоНа фиг. 1 представлена схема, поясняющая способ измерения углов раствора полированных конических поверхностей в отраженном свете; на фиг. 2 - схема, поясняющая способ измерения углов раствора полированных...