Спорник
Контактный интерферометр пробное стекло
Номер патента: 1786369
Опубликовано: 07.01.1993
Авторы: Костюткин, Радевич, Спорник, Туев
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, контактный, пробное, стекло
...- повышение производительности и точности контроля путем обеспечения контроля деталей, имеющих форму полусферы, полуцилиндра и подобных им "крутых" поверхностей, по всей поверхности одновременно.На фиг, 1 - 7 изображена принципиальная оптическая схема контактноо интерферометра - пробного стекла для контроля погрешности пслированных поверхностей.На фиг, 1-7 показан волоконно-оптический элемент (для контроля полусферы - фиг, 1 - 4, полуцилиндра - фиг. 5-7) в разрезе, где 1 - волоконно-оптический элемент, 2- контролируемая Деталь, 3 - поверхность, на которой наблюдается интерференционная картина, 4 - эталонная поверхность. На фиг, 1 - 4 изображено пробное стекло для контроля полусферы. На фиг. 4 - показано,что входные концы волокон...
Способ контроля диаметра оптического волокна
Номер патента: 1772615
Опубликовано: 30.10.1992
Авторы: Платонов, Спорник, Туев
МПК: G01B 11/08
Метки: волокна, диаметра, оптического
...междуколлиматором 2, 3 и светоделителем 6.Предлагаемый способ осуществллетсяследующим образом,Излучение лазера 1 с длиной волны излучения Л коллимируется колпиматором 2,3 и направляется на контролируемое 4 иэталонное 5 волокна. Контролируемое 4 иэталонное 5 волокна расположены в разнесенных вдоль направления просвечиванияплоскостях под любым углом друг к другу.Излучение, дифрагировавшее на эталонном и контролируемом волокнах, делится .соетоделителем 6 и направляетсл на матрицы фотоприемников 7 и 8, сигналы скоторых поступают в блок обработки сигналов 9. Расстояние по оптической оси устройства от объекта измерения 4 доматрицы фотоприемников 8 отличается отрасстояния по оптической оси между обьектом измерения и матрицей 7 на Л 1, тоесть...
Лазерный измеритель
Номер патента: 1647239
Опубликовано: 07.05.1991
Авторы: Платонов, Спорник, Туев, Чиграй, Яничкин
МПК: G01B 11/08
Метки: измеритель, лазерный
...определяются по величине длительности сигналов с фотоприемников с учетом радиусов сканирования. Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для технологического и вцходного контроля при измерении линейных и угловых размеров объектов. 5Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет определения угловых размеров изделий.На фиг.1 представлена схема лазерного измерителя; на фиг.2 - вид А на фиг.1. 10Измеритель содержит лазер 1, фазовую дифракционную решетку 2, диафрагму 3 с отверстиями, дифракционная решетка 2 и диафрагма 3 обьединены в один блок и установлены с возможностью вращения вок руг оптической оси измерителя, коллиматор 4, фокусирующий объектив 5, зеркало 6, фотоприемники 7 и 8,...
Интерферометр сдвига
Номер патента: 1474453
Опубликовано: 23.04.1989
Авторы: Кузнецов, Петровский, Спорник, Яничкин
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сдвига
...1 излучения и коллиматор 2, и приемную систему, содержащую объектив 3, светоделительныйэлемент 4, выполненный в виде и пардифракционных решеток, имеющих разный период в паре и установленныхтак, что штрихи решеток в каждой паре пересекаются под разными углами,диафрагму 5, имеющую и радиальныхщелей, и плоскости б регистрации, 30Интерферометр работает следующимобразом,Коллиматор 2 формирует от источника 1 параллельный пучок, в которыйпомещается объект 7. Объектив 3 направляет пучок на светоделительныйэлемент 4, размещенный перед Фокальной плоскостью объектива 3. На каждойиз решеток, записанных нелинейно дляповышения дифракционной эффективности, возникает большое число дифракционных максимумов различных порядков, Диафрагма 5...
Устройство совмещения голограмм
Номер патента: 1472859
Опубликовано: 15.04.1989
Авторы: Бывальцев, Зейликович, Спорник
Метки: голограмм, совмещения
...снабжена пружинным прижимом одной из голограмм, рама углового раз-.ворота выполнена цилиндрической, дополнительно введена червячная передача, червяк которой установлен на одной из рам прямолинейного перемеще"ния, а шестерня - на цилщцрическойраме, а цилиндрическая рама снабженапружинным прижимом другой голограммы. шнеи амм 17ные винты 18,Устройство раб ает следующим образом.Одна из голограмм 16 устанавливается в полураму 2 и фиксируется спомощью пружинного прижима 12, Другаяголограмма 17 устанавливается на ци;тлиндрической раме 9 г-углового разворота и фиксируется пружинным прижимом 13. Полурама 2 с голограммой16 соединяется с основанием 1 с помощью стержней 14 и пружинных прижимов15. 10 стировочный зазор между голо- граммами 16, 17...
Устройство для измерения угловых параметров деталей
Номер патента: 1411578
Опубликовано: 23.07.1988
Авторы: Белоус, Колбаско, Костюткин, Радевич, Сигов, Спорник, Яничкин
МПК: G01B 11/26
Метки: параметров, угловых
...также для повышения точности наведения диафрагмы 11 на центр дифракционного изображения, создаваемогопервым объективом 9 оптической системы.10Устройство работает следующим образом.Для измерения угловых параметровдетали 16, например угла клиновидности 6 стержня малого диаметра, стержень устанавливают в прост 1 анствемежду зеркалами 4 и 5, При этом в поле зрения зрительной трубы появляютсядва дифракционных кружка, возникающих в результате отражения пучков отпротивоположных торцов стержня, Размер центральной зоны световых кружков определяется известным выражением Эйри и для диаметров стержней менее трех миллиметров превосходит более, чем на порядок размер диафрагмы 11. После этого закрывают фотозатвор 8 и плавными разворотамистержня...
Устройство обработки голограмм фазовых объектов
Номер патента: 1401432
Опубликовано: 07.06.1988
Авторы: Зейликович, Карнаухов, Сигов, Спорник
МПК: G03H 1/22
Метки: голограмм, объектов, фазовых
...двумя светодели. -тельными кубиками 4 и 6, и зеркалами 5 и 7. Второй светоделитель 6 изеркала 5 и 7 осветительной системы снабжены механизмами угловых разворотов относительно осей, лежащихв горизонтальной и вертикальной плоскостях. Угол между двумя пучками,освещающими голограмму 9, угловымиразворотами зеркал 5 и 7 и кубика 6задается таким образом, чтобы "плюс"И-й порядок дифракции, освещающегоголограмму 9 светового пучка, сфокусированного объективом 10, проходилчерез одно отверстие диафрагмы 12,а минус" Х-й порядок дифракции другого пучка, освещающего голограмму9 - через другое отверстие диафраг-мы 12.Диафрагма 12 выполнена с возможностью взаимного смещения двух отверстий. Световые пучки, прошедшиечерез отверстия в диафрагме, отражаются...
Способ измерений деформаций объекта с повышенной чувствительностью и устройство для его осуществления
Номер патента: 1395943
Опубликовано: 15.05.1988
Авторы: Зейликович, Сигов, Спорник, Яничкин
МПК: G01B 9/021, G03H 1/04
Метки: деформаций, измерений, объекта, повышенной, чувствительностью
...зафиксирована волна с Гфазой 18 (х,у) и повторяют указанный 50процесс перезаписи голограмм с накоплением фазы объектной волны,В результате получают последовательность голограмм, у которых фазыобъектной волны соответствуют ряДУ 55,(х,у),ц),(х,у), 1 у (х,у). Как видно из выражения (5), световое поле за второй голограммой со держит две пары объективных комплексно-сопряженных волн, определяемых соответственно 2,5 и 3,4 членами выражения которые отличаются значением фазы,Вьщеляют пару объектных комплексно-сопряженных волн, определяемых2 и 5 членами выражения, обладающихмаксимальными фазами, и используютих для записи третьей голограммы,При этом варьируя значением, устанавливается требуемый угол голографи"рованияПропускание полученной...
Устройство обработки голограмм фазовых объектов
Номер патента: 1330603
Опубликовано: 15.08.1987
Авторы: Зейликович, Карнаухов, Сигов, Спорник
МПК: G03H 1/22
Метки: голограмм, объектов, фазовых
...два объектива, между которымиустановлена диафрагма с двумя отверстиями, и регистратор, регистраторустановлен симметрично объектной голограмме относительно второго светоделителя, введены дополнительно оптически связывающие голограмму через13306 диафрагму с регистратором поворотные зеркала и фотозатворы, один иэ которых установлен между вторым светоделителем и объектной голограммой, а другой - между этим светоделителем и регистратором.Кроме того, в устройство введена система сравнения, изображений, содержащая последовательно установленные линзу, диафрагму, вторую линзу и 10 дополнительный регистратор, расположенная симметрично линзовому телескопу относительно первого светоделителя.На чертеже представлена схема 15 предлагаемого...
Устройство для измерения показателя преломления фазовых сред
Номер патента: 1323926
Опубликовано: 15.07.1987
Авторы: Барихин, Зейликович, Карнаухов, Недолугов, Спорник
МПК: G01N 21/45
Метки: показателя, преломления, сред, фазовых
...кубик 5интерферометра 6. После входногосветоделительного кубика 5 излучение обоих лазеров, имеющее взаимноперпендикулярную поляризацию, проходит через оптическую схему интерферометра 6 и делится выходным светоделителем интерферометра на дваканала.В каждом из каналов излучение про ходит через анализаторы 12 и 13,представляющие собой поляризаторы,скрещенные друг с другом под углом90 , причем оптическая ось одного изполяризаторов совпадает с плоскостью 15поляризации одного из зондирующихизлучений. Таким образом, анализаторы 12 и 13 осуществляют селекциюзондирующего лазерного излучения пополяризации и на регистраторы 10 20и 11, расположенные за анализаторами, попадает излучение только одногоиз зондирующих источников света. Каждый из...
Устройство для контроля угловых параметров плоскопараллельных пластин
Номер патента: 1268948
Опубликовано: 07.11.1986
Авторы: Зейликович, Костюткин, Сигов, Спорник
МПК: G01B 11/26
Метки: параметров, пластин, плоскопараллельных, угловых
...с помощьюполяризатора 2 превращается в линейно поляризованное, расширяется телескопической системой 3 и 4 и зеркалом 5 направляется на светоделитель 8 Светоделитель 8 разделяет 2 О с 5 ЗО 35 4 О 45 5 О 55 световой пучок на два, один из которых.проходит полуволновую пластинку10, установленную так, что она поворачивает плоскость поляризации на90, отражается от зеркал 7 и б иснова от полупрозрачной диагоналисветоделителя 8, Второй пучок проходит через светоделитель 8, отражается от зеркал б и 7, проходит полуволновую пластинку 10 и вновь светоделитель 8, Таким образом, послевторого прохождени светоделителя 8 получаются две когерентные волны,которые образ ют ивтерференционнуюкартину. Поворотами светоделителя 8добиваются настройки...
Способ количественного исследования пространственных неоднородностей
Номер патента: 1247726
Опубликовано: 30.07.1986
Авторы: Гайда, Платонов, Пулькин, Спорник
МПК: G01N 21/41
Метки: исследования, количественного, неоднородностей, пространственных
...с двух взаимно перпендикулярных направлений. Таким образом, в плоскость фоторегистрации записываются проекции траекторий лучей х(г) и у(г). Ввиду того, что из-за увеличения рефракции атомов или ионов отклонение траектории лучей можно довести до нескольких градусов дажедля очень сЛабых неоднородностей при приближении длины волны просвечивающего излучения длине волны, соответствующей центру линии поглощения, что.достигается, например, при использованин излучения от лазеров на краси- телях с перестраиваемой длиной волны излучения, проекции траекторий лучей х(я) и у(г) координируются 25 30 35 40 45 50 55 с большой степенью точности. Решениеуравнения каждого луча, преобразованного к системе уравненийЖт"д-Ьн. - " Ь ),где х(г). и...
Устройство для компенсации аберраций подложки голограммы
Номер патента: 1144075
Опубликовано: 07.03.1985
Авторы: Зейликович, Платонов, Спорник
МПК: G02B 5/32
Метки: аберраций, голограммы, компенсации, подложки
...плоскость держателя голограммы.10 борачивающий элемент, может быть выполнен здесь, например, в виде плоского зеркала 2 .Существенным недостатком такогоустройства является низкая дифрак 35ционная эффективность голограммывследствие взаимной интерференции наголограмме трех .волн - падающей сигнальной, сигнальной, отразившейсяот оборачивающего оптического элемента, и опорной волны. Таким образом,на голограмме регулируются три голографические решетки и ее дифракцион"ная эффективность в 3 -9 раз меньше,2,чем дифракционнаа эффективность голограммы, на которой зарегистрированаодна решетка.Цель изобретения - увеличение дифракционной эффективности голограммыПоставленная цель достигается тем,что в устройстве для компенсацииаберраций подложки...
Защитное покрытие электродов для электрохимической обработки
Номер патента: 903058
Опубликовано: 07.02.1982
Авторы: Ковалев, Ковалева, Спорник, Явкин
МПК: B23P 1/06
Метки: защитное, покрытие, электродов, электрохимической
...Номер наполнителя Медь От периферийных токов Цинк Магниевыйсплав Чаропрочныйсплав Свинец Графит Хромоникель"титановый От газохимического воздействия сплав Т а б л и ц а 2 Общее содержани наполнителейоб. ч. Номер наполниОбразованный комплекс одновременной защитытеля 0,5.,1;2 Анод - от периферийных токов и катод -от температурных колебаний 4;5;7 1,5 Катод - от теплового, механического ихимического воздействия, анод - от газов телей использовались материалы, измельченные так, что частицы имели адгезионные элементы типа логорифмической спирали. Каждому специально отобранному материалу свойственны определенные защитные функции (см. табл. 1). Например, цинк растворяется электрохимически .интенсивнее других материалов, магниевый сплав...
Способ идентификации интерференцион-ных полос
Номер патента: 842400
Опубликовано: 30.06.1981
Автор: Спорник
МПК: G01B 9/02
Метки: идентификации, интерференцион-ных, полос
...ее производных, наприд мер, при исследовании течений в сверх звуковых соплах, в газодинамическихтрактах, газодинамических лазерах и ед- др. при наличии скачков уплотнения,.что представляет большой практический20 интерес при построении различных мои делей. Формула изобретения 40 на сигнальный и опорньп 1, сведении.этих пучков в.плоскости регистрацииинтерференционной картины и идентификации интерференционных полос расчетным путем, в часть опорного пучкпо его сечению вводят Фазовую неоднродность, полосы, образованные частсигнального и измененной частью опо"Щного пучков, ориентируют в на-правлении, перпендикулярном скачкууплотнения, причем максимальноезначение введенного фазового сдвигаравно или больше значения фазовогосдвига,...
Интерферометр сдвига с синтезирован-ным опорным пучком
Номер патента: 811071
Опубликовано: 07.03.1981
Автор: Спорник
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, опорным, пучком, сдвига, синтезирован-ным
...содержит источник моно- хроматического света (ОКГ) 1, систему формирования объектного пучка 2 - 4, причем между линзами 3 и 4 помещают исследуемый объект 5; коллимирующий объектив 6, светоделительный элемент 7, поворотное зеркало 8, объектив 9, светоделительный элемент 10, диафрагму 11, объектив 12, поворотное зеркало 13, дифракционыую решетку 14, регистрирующую систему 15,Интерферометр работает следующим образом, Монохроматический свет от источника света (ОКГ) 1, пройдя оптические элементы объектной ветви 2, 3, 4 и исследуемуо неоднородность 5, падает на объектив 6, которым коллимируется, и далее делится светоделительным элементом, например, кубиком 7, на два пучка. Объектный пучок, отразившись от зеркала 8 и пройдя...
Устройство для исследования неоднородностей в прозрачных средах
Номер патента: 773428
Опубликовано: 23.10.1980
Авторы: Зейликович, Картазаева, Спорник
МПК: G01B 9/021
Метки: исследования, неоднородностей, прозрачных, средах
...параллельный пу- З чок света, освещающий диспергирующий элемент, например призму б, и объектную голограмму 7. Световой пучок, диспергированный на призме б и на объективной голограмме 7, фокусируется объективом 8, в Фокальной плоскости которого образуется два спектрально окрашенных изображения днаФрагмы 4. Диафрагма 9, расположенная вблизи фокальной плоскости объектива 40 8, перекрывает один из порядков диФракции света, а другой пропускает, Две щели 10, визуализирующие кромки которых взаимно перпендикулярны, установлены в Фокальной плоскости объектива 8 в + первых порядках дифракции света на голограмме 7. Регистрирующая среда 11 с помощью объектива 8 оптически сопряжена с плоскостью 1 голограммы 7.50Пусть на голограмме 7...
Голографический интерферометр
Номер патента: 765649
Опубликовано: 23.09.1980
Автор: Спорник
МПК: G01B 9/021
Метки: голографический, интерферометр
...с другом большими гранями однойпрямоугольной 5 и двух параллелограммных б и 7 призм, первые две 5 и биэ которых выполнены со светоделительным, а третья - 7 с отражающим по-.крытиями, диффузный рассеиватель 8,установленный на малой грани среднейпризон б, фоторегистрирующий материал 9, оптические клинья 10 и 11, гипотенуэные грани которых обращены всторону фоторегистрирующего материала 9, Индексом 12 обозначен исследуемый объект. Работает описываемяй галографический интерферометр следующим образом.Сигнальный пучок, прошедший иссле- дуемый объект 12 и объективы 3 и 4, падает на параллелограммную призму б. Пройдя через светоделительные покрытия призмы б, часть пучка (20) проходит призму 5, клин 10 и падает на фоторегистрирующий...
Устройство для количественной оценки неоднородностей в прозрачных средах
Номер патента: 748126
Опубликовано: 15.07.1980
Автор: Спорник
МПК: G01B 9/021
Метки: количественной, неоднородностей, оценки, прозрачных, средах
...со шкалой 14.Устройство работает следующим образом.Источник 1 белого света освещает щель 3 через конденсор 2, Далее расходящийся световой пучок коллимируется коллиматором 4 и подает на диспергирующий элемент 5, положение которого задает величину и направление дисперсии света ЬЧ , связанной ,с величиной и направлением дисперсии 4 К, вносимой голограммой 9. Величина угловой дисперсии дЧ диспергирующего элемента 5 является функцией угла поворота одной призмы относительно другой и может изменяться плавно. Диспергированный свет проходит объективы б и 7, осуществляющие оптическое сопряжение призм с голограммой 9, которая просвечивается под углом голографирования с помощью зеркала 8. Дисперсия света восстановленного пучка с...
Устройство для исследования восстановленного с голограммы волногого фронта
Номер патента: 588800
Опубликовано: 28.02.1979
Авторы: Биктагиров, Зейликович, Спорник
МПК: G01B 9/021
Метки: волногого, восстановленного, голограммы, исследования, фронта
...конденсор 2 со щелью 3, коллиматор 4, оптический клин 5, голограмму б,приемный объектив 7, в фокальной плоскости которого установлены четыре щели 8,9, 10, 11, из которых 8, 10 - визуализирующие, 9, 11 - сканирующие, фокусирующий объектив 12 со шкалой 13 и линзу 14для наблюдения картины.Устройство работает следующим образом.Из осветителя расходящийся пучок коллиматором 4 направляется нормально наголограмму б, Часть световых лучей отклоняется клином 5 для образования вспомогательных изображений источника света.Световые пучки, отклоненные клином 5 идифрагированпые на голограмме б в + 1 Омпорядка дифракции, направляются в приемный объектив 7, в фокальной плоскостикоторого образуются четыре изображенияисточника света, частично...
Устройство для получения цветных теневых картин
Номер патента: 624191
Опубликовано: 15.09.1978
Авторы: Белозеров, Биктагиров, Зейликович, Спорник
МПК: G02B 27/38
Метки: картин, теневых, цветных
...решет. ку 9,:а другой пучок отражается кубиком 5, зеркалом 8 и направляется на дифракционную решетку,10. Решетки образуют ряд дифрагированных волн, которые соединяются светоделительным кубиком 11 и Фокусируются Объективом( у 12. В фокальной плоскости линзы 12 образуются спектрально-окрашенные изображения осветительной щели З,Поскольку штрихи решеток 9 и 10 взаимно перпендикулярны и перпендикулярнысоответствующему иэображению щели конденсатора, то в фокусе объек- тива 12 образуются изображения ,щели 3, вытянутые вдоль взаимно перпендикулярных линий (вид.А-А и Б-Б. Цветные фильтры 13 расположе" ны вблизи фокуса линзы 12 в плоскости пространственного разделения по- . рядков дифракции таким образом, что, каждый из них .перекрывает один из...
Голографический интерферометр
Номер патента: 532279
Опубликовано: 05.02.1978
Авторы: Белозеров, Зейликович, Спорник
МПК: G01B 9/021
Метки: голографический, интерферометр
...расположенного в одном из каналов системы для разделения пучка, состоит в том, что он формирует рассеянную опорную волну, спектр пространственных частот которой значительно шире спектра пространственных частот объекта. Засчет этого, используя метод двойнойэкспозиции, удается получать интерферограммы высокого качества безсдвига волновых Фронтов.Возможен вариант:выполнения диффузного рассеивателя, в котором поверхность одного из оптических .элементов в одном из каналов системы дляразделения пучка может быть рассеивающей,На фиг. 1 приведен вариант оптической схемы предложенного устройства; на фиг, 2 показан другой вариант, при котором стеклянная диффузнорассеивающая пластина в схеме отсутствует, но, например, вместо зеркалаустановлена...
Способ количественной оценки неоднородностей в прозрачных средах
Номер патента: 494722
Опубликовано: 05.12.1975
Автор: Спорник
МПК: G03C 9/08
Метки: количественной, неоднородностей, оценки, прозрачных, средах
...с помощью отсчетного устройства в системе наблюдения, получают различные смещения источника света для соответствующих зон неоднородности. Разделив данные смещения на фокус приемного объектива, получают значения углов отклонения световых лучей в исследуемой неоднородности, восстановленной с голограммы. Точность обработки практически не зависит от приемника (в данном случае глаза), так как производится непосредственное сравнение участков поля, имеющих одинаковую окраску,Предложенный способ реализуется с помощью устройства, которое изображено на чертеже.Устройство включает в себя источник полихроматического света 1, конденсор 2, осветительную щель 3, коллиматор 4, формирующий параллельный пучок света, который направляется на голограмму о,...
Интерферометр с дифракционной решеткой
Номер патента: 358611
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Белозеров, Спорник, Яничкин
МПК: G01B 9/02
Метки: дифракционной, интерферометр, решеткой
...получать переменную величину и направление сдвига волновых фронтов при различной ширине и ориентации интерференционных полос,Схема предложенного интерферометра показанн а н а чертеже.Интерферометр содержит источник света 1, объектив 2 осветительной части, объектив 3 приемной части, дифракционные решетки 4, б и экран б.Световые пучки, сформированные объективами 2 и 3, дифрагируют сначала на решетке 4, Нулевой порядок дифрагированного светового пучка, прошедшего через решетку 4, дифрагирует на решетке б. В результате взаимодеиствия световых пучков, дифрагированных на обеих решетках, в первых порядках дифракции одного знака образуется интерференционная картина. Ширина интерферен ционных полос зависит от шага дифракционных решеток и...