Патенты с меткой «спектрометрии»
Приспособление к спектроскопу для визуальной спектрометрии окрашенных растворов
Номер патента: 112400
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Покровский
Метки: визуальной, окрашенных, растворов, спектрометрии, спектроскопу
...1., и. ;303 ВС;):Птс(1)13 Г. 1 ).ж 5 я кгп 1 О:;25 косст ),с этз;1 ОцИЫ); ЯС ГВС)ОЗ ".СЯ:3 ЛИВЯСТСЯ П 1)ОТИ:3 ПИ:КИСГ 07 С 3 П:Ь, СВС, ОБОИ ИС. ЛИ С.СК(Росно 32 . 3 ЬПО(Сиа С)с,Яс)10 П 13Опи,)0 тсг.ьц 031 Яп 1)ЯЯГСЦИИ, посредством зуб.атои переда и цс показана ца чсргсже . Вс)хняя кс Ло 112400вета 2 с плоскопараллельными стенками, заполняемая исследуемым раствором, закрепляется неподвижно по"редством зажимов в вертикальном положении против верхней половины световой щели спектроскопа. К нижней части клиновидной кюветы прикреплена миллиметровая шкала 3, посредством которой определяется положение кюветы относительно световой щели спектроскопа.Во втором варианте (фиг, 2) обе кюветы имеют одинаковую длину, причем клиновидную кювету...
Способ ядерной спектрометрии
Номер патента: 211683
Опубликовано: 01.01.1968
Автор: Изо
МПК: G01T 1/36
Метки: спектрометрии, ядерной
...фотоэлекножителя и последующего усилипороговыми импульсами, подают на линейный усилитель и далее на временной селектор, в котором вновь отделяются от пороговых импульсов, После временного селектора импульсы сцинтилляций (в) задерживаются (г) в первой линии задержки на время 1 несколько большее длительности импульса сцинтилляции т,.С первой линии задержки импульсы сцинтилляций (г) поступают на вторую линию задержки и одновременно на генератор пороговых импульсов, работающий в ждущем режиме, и запускают его. Генератор вырабатывает прямоугольные импульсы (д) стабильной амплитуды.С генератора порогового импульсы (д) поступают на генератор световых импульсов и запускают его. Вспышки генератора световых импульсов регистрируются ФЭУ. На...
Способ скважинной спектрометрии
Номер патента: 266964
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Всесоюзный, Комаров, Методов, Минухин, Петраков
МПК: G01V 5/08
Метки: скважинной, спектрометрии
...постоянным напряжением и переменным, подаваемьпт от источника модуляционного напряжения. При этом плотность потока импульсов, пропускаемых дискриминатором, модулируется низкой частотой.Эти импульсы через формирующий каскад б, усилитель мощности 7 и импульсный трансформатор 8 подаются по кабелю 9 на поверхность, гле расположен модулятор уровня дискрихтинации 10 и остальная аппарат ря.Ихтпульсы поступают через усилтттель 11, задеокивающий похтехтт, дискриминатор 12 и усилитель 1 З, магнитной записи на головк 14 записи, При этотт лентопротяжный механизм продвигает магнитную ленту 15, на которуто одновременно записывается хтолулирутотття я функция. Здесь же расположена головка 1 б стирания.Для контроля правильности работы...
Способ стабилизации резонансных условий в спектрометрии ядерного магнитного резонанса
Номер патента: 283665
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01N 24/06, G01N 24/08
Метки: магнитного, резонанса, резонансных, спектрометрии, стабилизации, условий, ядерного
...в том, что характеристики стабилизатора неоднозначны из-за наличия боковых участков и разных форм выделяемых сигналов. Цель изобретения - повышение однозначности характеристики стабилизации и обеспечение стабилизации в точке с максимальной крутизной характеристики стабилизации.5 Для этого одновременно с фазовым детектированием усиленный по низкой частоте сигнал делят по частоте в 2 раза и напряжение поделенной частоты используют для модуляции поля и создания опорного напряжения 10 для фазового детектирования. Прп наличииопорного напряжения замыкается цепь непрерывной генерации этого напряжения в результате самовозбуждения с частотой, соответствующей условиям делечия частоты прп макси муме второй гармоники частоты модуляции. Источником...
Прибор для интерференционной спектрометрии
Номер патента: 363261
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Иностранец
МПК: G01B 9/02
Метки: интерференционной, прибор, спектрометрии
...большим углом схождения.В этом устройстве роль пластин, уравцивающих оптические расстояния от светоделцтельцого слоя до отражаощих поверхностей, вы полняют воздушные зазоры, Плоский зазоробразован прямоугольнымп брусками 17 и 18, вклеенными между гранью 13 и покрытой отражающим слоем внутренней поверхностью пластины 19. Клиновидный зазор образован 30 клиньями 20 и 21, вклеенными между гранью363261 Ъьч, ) иг.1 г иг,З Подписное Заказ 268/11 рам( 4 д. Мо 60 пографня, пр. Сапунова,11 и покрытой отражающим слоем внутренней поверхностью пластины 22,Предмет изобретения 1. Прибор для интерференционной спектрометрии, содержащий интерференционное устройство, выполненное по схеме Майкельсопа, фокусирующую оптическую систему и приемник световой...
Устройство для спектрометрии мощных импульсных потоков рентгеновского излучения
Номер патента: 441491
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Грумбков, Гусева, Иванов, Посылин, Солодихина, Цыганков
МПК: G01N 23/22
Метки: излучения, импульсных, мощных, потоков, рентгеновского, спектрометрии
...Г. ПетроваТехред М, Семенов Редактор И. Орлова Корректор Л. Котова Заказ 1905/2 Изд.1396 Тираж 651 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совста Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, К, Раушская наб., д, 4;51 ипотрафня, пр. Сапунова ния излучения, Детекторы регистрируют суммарную энергию потока излучения в импульсе и отрегулированы так, чтобы при отсутствии фильтров на выходе всех детекторов импульсы напряжения имели одинакову:о амплитуду; Тогда при измерении с фильтрами на выходе каждого детектора будет сигнал и пропорциональный энергии В, импульса излучения, поглощенной детектором, имеющим фильтр с номером 1. Если Е; - энергия 1-й спектральной линии, У; - количество первичных гамма-квантов с энергией Е;,...
Способ спектрометрии оптического излучения
Номер патента: 458718
Опубликовано: 30.01.1975
Авторы: Вилесов, Вовна, Лопатин
МПК: G01J 3/28
Метки: излучения, оптического, спектрометрии
...оптического и фотоэлектронного спектров может осуществляться при использовании в качестве фотоионизирующего газа паров щелочных металлов. Например, при наполнении камеры парами цезия, который имеет первый потенциал ионизации 3,893 экв и энергию первого возбужденного уровня иона порядка 13,35 эв, область однозначного соответствия спектров будет ограниочена длинами волн 3200 - 930 А. Для других участков спектра могут быть использованы другие атомарные газы. Например, в далекой вакуумной ультрафиолетовой области спектра могут использоваться инертные газы (гелия в области короче 500 А, неон - короче 600 А,оаргон - короче 800 А, ксенон - корочео1000 А). За исключением гелия, основные состояния ионов инертных газов за счет спин-...
Способ спектрометрии сильноионизирующих частиц
Номер патента: 557336
Опубликовано: 05.05.1977
Авторы: Попов, Стемпиньски
МПК: G01T 1/36
Метки: сильноионизирующих, спектрометрии, частиц
...в присутствии интенсивных полей слабоионизируюших частиц этот способ теряет свои спектрометрические свойства. 2 индрическую форили равным протицы. Кроме внеш ося катодом 1, и анода) 2, введепый электрод, паралпель 1 оях прустрс йсч па тк.между катодом 1 ь поля небольшая вблпоп катода557336 4коронного разряда, обладающего стабилизирующими свойствами, позволяет отказаться от специальных высокостабилизированных источников высоковольтного напряже ния+В отличие от диэлектрических детекторов-спектрометров, также способных работать в интенсивных полях у -лучей, предлагаемый детектор наряду со спектрометрией позволяет фиксировать момент попадания исследуемой частицы в объем детектора, т. е. может быть использован в схемах совпадения,...
Горелка для пламенной спектрометрии
Номер патента: 792085
Опубликовано: 30.12.1980
МПК: G01J 3/10
Метки: горелка, пламенной, спектрометрии
...с противоположной стороны формируется пламя, поверхность, формирующая пламя, имеетвыступы с отверстиями для выхода смеси га зов .На фиг.1 схематически изображенапредлагаемая горелка; на фиг,2 - 1 по"казан однощелевой вариант горелки.Полый корпус горелки 1 имеет наодном конце отверстие 2 для подводасмеси горючих газов от смесителя ираспылителя, а с противоположной стороны поверхность 3, на которой формируется пламя, Формирующая пламч по- - верхность 3 имеет выступы 4 с отверстиями для выхода смеси газов 5.Работа горелки осуществляется следующим образом.Горелка устанавливается на корпус смесителя и распылителя, причемотверстие для ввода смеси горючих газов совпадает с соответствующим отверстием смесителя. Горючая смесь проходитчерез...
Способ газовой спектрометрии
Номер патента: 985739
Опубликовано: 30.12.1982
Автор: Фурашов
МПК: G01N 22/00
Метки: газовой, спектрометрии
...давлениягаза в кювете 3, генератор 6 опорногонапряжения, усилитель 7, синхронный детектор 8 и индикатор 9,Способ реализуют следующим образом,формируют сверхвысокочастотное излучение с помощью генератора 1, Одновременно осуществляют плавную перестрой ку рабочей частоты генератора 1 с помощью блока 2. Излучение генератора 1пропускают через кювету 3 с исследуемым газом При этом давление газа вкювете 3 изменяют с определенной;частотойй с помощью модулятора 5 давления, Частоту Я, задает генератор 6опорного напряжения Так как величинапоглощения излучения газом функциональ-,но связана с давлением газа, то при совпадении частоты сверхвысокочастотногосигнала и резонансной частоты спектральной линии поглощения газа интенсивностьпоступающего на...
Способ спектрометрии импульсного рентгеновского излучения
Номер патента: 950048
Опубликовано: 15.09.1985
Авторы: Зверев, Ляпидевский
МПК: G01T 1/36
Метки: излучения, импульсного, рентгеновского, спектрометрии
...излучения за фильтрами, т.е. эа одним фильтром располагают один детектор. В предлагаемом способе за каждым фильтром располагается не менее двух термолюминесцентных детекторов, т.е. фактически имеется два или более одинаковых спектрометра, Рассмотрим, как достигается цель изобретения на простом примере двух спектФ рометров.Все детекторы одного спектрометра ,синхронно с началом рентгеновского импульса длительностью 3 начинают. облучать светом, который освобождает носители, локализующиеся на центрах захвата при облучении рентгеновским излучением, препятствуя тем самым запасанию светосуммы, и прекращают облучать через время дГ о /2. Второй спектрометр облучают только рентгеновским излучением, т.е. детекторы второго спектрометра запасают...
Источник ионов на основе скользящего разряда для масс спектрометрии
Номер патента: 1132726
Опубликовано: 30.10.1987
Авторы: Галль, Дашук, Краснов, Кузьмин, Лукашенко, Николаев
МПК: H01J 37/08
Метки: ионов, источник, масс, основе, разряда, скользящего, спектрометрии
...превышает толщину стенки диэлектрика, Электроды могут быть выполнены с возможностью перемещения вдольоси цилиндрического диэлектрика, атокопроводящий заземленный элементвыполнен в виде цилиндра с наружнымдиаметром в 2-5 раз меньшим внутрен3 113него диаметра диэлектрика и расположен на внутренней поверхности диэлектрика по образующей так, что упомянутая образующая и образующая наружной поверхности диэлектрика, покоторой расположен один из электродов лежат в одной плоскости, приэтом диэлектрик выполнен с возможностью вращения вокруг оси,На фиг, схематически изображенпредлагаемый источник ионов, содержащий источник импульсного электрического питания 1, подключенный кэлектродам 2 и 3, разделенным разделительным диэлектриком 4, на...
Способ спектрометрии
Номер патента: 1354041
Опубликовано: 23.11.1987
Авторы: Казачевская, Мищенко, Ребо, Трилесник, Тумаркин
МПК: G01J 3/28
Метки: спектрометрии
...5 и 6 секции 1 и детекторами 7 и 8 секции 11, составит, соответственно3054041 з13 ло ступеньки характеризует энергию Е этой группы, т.е, частоту соответствующей ей спектральной линии исследуемого излучения, а ее высота Д 1иас в конце участка роста, соответствуюЕщего Б = - связана с интенсив 1+уностью этой спектральной линии соот- ношением Таким образом, предлагаемый способ регистрации спектральной интенсивности изменяет форму сигнала, превращая ступенчатые области роста 4 1 в соответствующие линии, ширина которых определяется величиной , Таким образом появляется возможчость изменяя величинуоптимальным образом подбирать10 разрешение и чувствительность исходяд 1 макс с 1 . (5)максЕслис(1, 41. = с 1(б)Сигнал, регистрируемый на выходе...
Способ рентгеновской и электронной спектрометрии электропроводящих материалов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1390551
Опубликовано: 23.04.1988
Автор: Смирнов
МПК: G01N 23/22
Метки: рентгеновской, спектрометрии, электронной, электропроводящих
...позволяет улучшить соотношение сигнал-фон.При проведении количественного анализа по спектрам рентгеновского излучения ипи Оже-электронов ампли 35 туду модулирующего напряжения увеличивают, чтобы получить максимальную интенсивность сигнала, которая имеет оптимальную величину в зависимости от энергии регистрируемых ли ний. времени ускоряющее напряжение 11001000 В), в результате чего в образцепоследовательно возбуждается характеристическое рентгеновское излучение элементов, содержащихся в образце, Оно регистрируется с помощью детектора. Ускоряющее напряжение модулируют напряжением постоянной частоты, амплитуду которого изменяют синхронно с ускоряющим напряжением так,что отношение амплитуды модулирующего напряжения к ускоряющему...
Способ микроволновой газовой спектрометрии
Номер патента: 1589166
Опубликовано: 30.08.1990
МПК: G01N 22/00
Метки: газовой, микроволновой, спектрометрии
...4 азовые соотношения с сигналом пропускаемого через ячейку с газом мик- роволнового излучения можно учесть при синхронном детектировании принимаемого сигнала и исключить паразитный сигнал при регистрации полез -.ного сигнала,Для этого необходимо осуществитьсинхронное детектирование сигнала,полученного при пропускании микроволнового излучения через ячейку в отсутствие в ней исследуемого газа, Регистрируемая в этом случае зависимость от частоты интенсивности принятого излучения обусловлена лишьотражениями и интерференцией излучения в ячейке и приемном тракте, Этопозволяет подобрать такую временнуюзадержку Т = 1опорного сигнала,при которой детектированный сигналравен нулю (в этом случае фазы опорного и детектируемого сигналов отличлны на п...
Горелка для пламенной спектрометрии
Номер патента: 1700450
Опубликовано: 23.12.1991
МПК: G01N 21/72
Метки: горелка, пламенной, спектрометрии
...диаметр поперечного сечения каналов монотонно уменьшается от входного отверстия к выходному, причем диаметр выходного отверстия составляет 0,25 - 0,5 диаметра входного отверстия, и в выступах корпуса дополнительно выполнены каналы для подачи окислителя, соединенные с камерой, размещенной в корпусе и имеющей штуцер для независимой подачи окислителя.Предлагаемая горелка отличается от из-. вестной тем, чта каналы в выступах выполнены переменного сечения, а диаметр отверстия канала монотонно уменьшается на выходе выступа и увеличивается в направлении полого корпуса горелки. Зто снижает влияние эффекта осаждения частиц аэрозоля на стенках канала, увеличивает время работы на приборе без необходимости чистки горелки и повышает точность...
Горелка для пламенной спектрометрии
Номер патента: 1749792
Опубликовано: 23.07.1992
МПК: G01N 21/72
Метки: горелка, пламенной, спектрометрии
...длины каналов для вы ни, Снижение динамического: сопротивлехода смеси газов, За время прохождения ния стенок профилированных каналов и ихчастиц анализируемого вещества по каналутемпературы позволяет значительно увелизначительная часть частиц осаждается на чить суммарную поперечную площадь отстенках канала, не достигая пламени. Обра- верстий, что ведет к росту количестваэующийся в канале из-за торможения пото анализируемого раствора, попадающего вка скачек уплотнения приводйт к пламя, без увеличения риска проскока плаэктивизации процессов слияния капель мени,энализйруемого вещества, что увеличивает На чертеже изображена предлагаемаядолю крупных частиц, попадающих в пламя,горелка, поперечйый разрез.и увеличивает шумы плэмейи....
Способ лазерной фотоионизационной спектрометрии
Номер патента: 1824544
Опубликовано: 30.06.1993
Автор: Пахомов
МПК: G01N 21/39
Метки: лазерной, спектрометрии, фотоионизационной
...время-пролетного масс-фильтра, в конце которой расположен вторично-электронный умножитель (ВЭУ), Вакуум в трубе и камере поддерживается турбомолекулярными насосами (ВМН), Си ндл с ВЭУ усиливается предусилителем (У). Схема измерений и управления осуществляет управление лазерным комплексом дтомизатором аналитического блока, регистрирует сигнал от ВЭУ и осуществляет обработку информации как в процессе измерений так и по их окончанииНа фиг, 2 предсгавлен аналитический блок. Показано. что атомный пучок формируемый атомизатором, лазерные лучи и электрическое поле, формируемое отклоняощими электродами, взаимно орогональы.На фиг, 1 показан лишь один аналитический блок Для осуществлен ия способа дких блоков должно Ььп ледоотлетст 15 20 25...
Способ определения поверхностной концентрации компонентов бинарного сплава методом термодесорбционной масс спектрометрии
Номер патента: 2000625
Опубликовано: 07.09.1993
Авторы: Вяткин, Головин, Пастухов, Привалова
МПК: H01J 49/14, H01J 49/26
Метки: бинарного, компонентов, концентрации, масс, методом, поверхностной, спектрометрии, сплава, термодесорбционной
...(фиг,2);2 ж И 12 тв - тО жЕ ДЛЯ 2-ГО КОМПОНЕНта; с - отношение эффективных сечений атомов 1-го и 2-го компонентов.Расчетные формулы получены следующим образом. В основу расчета положено уравнение для ионного тока1=а А й С ехр(-Е/МТ). (2) где а - константа;А - площадь поверхности;М - поверхностная концентрация часС - энтропийный множитель;Е - энергия активации десорбции;М - постоянная Больцмана.При температуре Т в интервале от тпературы солидус до температуры ликвитвердая и жидкая фазы сосуществуют вно ве с и и, т. е, Ствехр(-Етв/кТ)=СжеЕж/МТ). Величина а и площповерхности А сократятся, если записатношение ионных токов при Т:Э=1 тв/11 ж Й 1 тв/Й 1 жЬ 2 тв/12 ж М 1 тв/1 ч 1 ж. (3)Постоянство площади поверхности оразца дает уравнениеЙ 1 те...
Способ анализа материалов методом вторичной ионной масс спектрометрии и устройство для его осуществления
Номер патента: 1306396
Опубликовано: 27.01.1995
Автор: Попов
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: анализа, вторичной, ионной, масс, методом, спектрометрии
СПОСОБ АНАЛИЗА МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ ВТОРИЧНОЙ ИОННОЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ.1. Способ анализа материалов методом вторичной ионной масс-спектрометрии, по которому в аналитическую камеру помещают образец материала, производят откачку камеры, напускают химически активный газ и контролируют его давление, воздействуют на образец первичными ионами и регистрируют токи вторичных ионов материала, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности анализа и воспроизводимости его результатов, создают молекулярный поток химически активного газа величиной от 10-8 до 10-5 л Па/с, направленный на поверхность образца, а с помощью нераспыляемого газопоглотителя поглощают...
Источник ионов на основе скользящего разряда для масс спектрометрии
Номер патента: 1429829
Опубликовано: 27.07.1996
Авторы: Галль, Кормилицын, Кузьмин
МПК: H01J 37/08
Метки: ионов, источник, масс, основе, разряда, скользящего, спектрометрии
Источник ионов на основе скользящего разряда для масс-спектрометрии по авт. св. N 1132726, отличающийся тем, что, с целью повышения выхода ионов, он снабжен дополнительным электродом, соединенным с катодом, расположенным над областью разряда на расстоянии, большем половины межэлектродного расстояния, и имеющим щель для экстракции ионов.
Устройство для спектрометрии нейтронного излучения
Номер патента: 596095
Опубликовано: 10.04.2000
Автор: Кукарин
МПК: G01T 1/36, G01T 3/00, H01J 49/00 ...
Метки: излучения, нейтронного, спектрометрии
Устройство для спектрометрии нейтронного излучения, содержащее водородсодержащий радиатор, коллиматор протонов отдачи, детектор, усилитель и регистрирующий прибор, отличающееся тем, что, с целью повышения разрешающей способности по энергиям нейтронов и точности измерений, между коллиматором и детектором установлен электромагнит, между полюсами которого размещена вакуумная камера, трубопровод с дрейфовым участком, расположенный вне электромагнита, между усилителем и регистрирующим прибором установлен дифференциальный амплитудный дискриминатор.