Духопел

Номер патента: 1383969

Опубликовано: 20.07.1997

Авторы: Долик, Духопел, Ельницкая, Ефимов, Жданова, Константиновская, Серегин, Сидоров, Тульева, Федина

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, лучей, обратнокруговым, ходом

Интерферометр с обратнокруговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей, содержащий лазерный источник поляризованного света, последовательно расположенные по ходу потока излучения коллиматорный объектив, установленный с возможностью перемещения вдоль направления излучения, образующие зеркально-призменную систему светоделитель, выполненный в виде призмы-куба, плоское зеркало, симметричный высокоапертурный объектив и двугранное зеркало и наблюдательную систему, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля, лазерный источник поляризованного света выполнен двухчастотным с взаимно перпендикулярной поляризацией частотных компонент излучения в одном...

Номер патента: 980507

Опубликовано: 20.01.1997

Авторы: Духопел, Мышкина, Рассудова, Сердюк, Серегин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интенферометр, объекта, плоскостности, поверхности, прямолинейности

1. Интерферометр для контроля прямолинейности и плоскостности поверхности объекта, содержащий источник монохроматического света, телескопическую систему, расширяющую световой пучок и включающую микрообъектив, светоделитель, коллиматорный объектив и светоделительную дифракционную решетку, плоскую отражательную дифракционную решетку, отстоящую от светоделительной дифракционной решетки на расстоянии, превышающем размер контролируемой поверхности объекта, и регистрирующее устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, упрощения конструкции и уменьшения габаритов, коллиматорный объектив и светоделительная дифракционная решетка выполнены в виде одной вогнутой отражательной дифракционной решетки, оптическая ось которой...

Номер патента: 786471

Опубликовано: 27.05.1996

Авторы: Губель, Духопел, Ефимов, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, лучей, обратно-круговым, оптических, поверхностей, сферических, формы, ходом

Интерферометр с обратно-круговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей, содержащий осветительную систему, включающую лазер и коллиматорный объектив, призменную и наблюдательную системы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля и расширения диапазона радиусов кривизны контролируемых поверхностей, призменная система выполнена в виде последовательно расположенных светоделительного кубика, плоского и двугранного зеркал и установленного между этими зеркалами высокоапертурного симметричного объектива, а коллиматорный объектив выполнен с возможностью осевого перемещения.

Номер патента: 1298529

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Духопел, Логачева, Мартынова, Прохорова, Серегин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, отклонений, переменной, плоскостности, поверхности, чувствительности

...полосы црп соответст вующих углах падения пучка лучей, а также устройство синхронного поворота осветительной и регистрирующей3 1298 систем це показано), кицематцческц связанное с ОРОротцыми Основаниями Зи 5,.Конструктивно особенностью интерферометра является наг нчие двух центров вращения: С для основания 3 осветительной системы и С для ос 2 новация 5 регистрирующей системы, расцоложенцьх симметрично относительно плоскости симметрии призмы 4. 10Центр;С, находится на пересечении перпендикуляра, опущенного иэ середины образцовой грани на входную грань, с продолжением луча осветительной системы, падающего после 15 преломления н призме на середину основания под углом полного внутреннего отражения.Ицтерферометр работает...

Номер патента: 1661567

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Васильев, Венедиктов, Духопел, Лещев, Сидорович

МПК: G01B 9/00

Метки: оптических, поверхностей

...В 3 и В 2, огстоящие от объектива на расстоянияБ и 1соответственно, и в масштабах, относящихся, какБ/Е . В остальном действие способа такое же. как и для осесимметричных поверхностей,В ряде случаев, например в случае использования лазера невысокой временной когерентности, удобнее оказывается использоват для формирования опорной волны отдельное вспомогательное устройство (не показано), Это устройство може быть выполнено в виде обычного плоского зеркала. В этом случае все излучение, пришедшее от точечного источника на объектив, может быть использовано для формирования обьектной волны. Устройство для реализации способа содержит зеркальный объектив 9, не исправленный на аберрации, плоские зеркала 10-12, полупрозрачные зеркала 13 и...

Номер патента: 1640532

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Бахтин, Бородин, Духопел, Крюков

МПК: G01B 9/021

Метки: изображения, носителе, фототермопластическом, фтп

...напряжения и узла 8 создания воздушного потока.Устройство работает следующим образом,Нэ коронирующий электрод 2 от источника б подается высокое напряжение, что обеспечивает возникновение коронного разряда. В результате разряда нэ поверхности ФТП-носителя 4 образуется поверхностный электрический заряд, Затем осуществляется экспонирование ФТП-носителя 4, в результате чего из-за эффекта фотопроводимости распределение заряда нэ поверхности ФТП носителя 4 становится подобным распределению интенсивности пэдающего на ФТП-носитель 4 светового излучения. После этого от источника 5 управляющего напряжения на нэгревательный элемент 3 подается импульс токэ, что приводит к образованию объема нагретого воздуха около нэгревэтельного...

Номер патента: 1640531

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Бахтин, Бородин, Духопел, Иванович, Крюков

МПК: G01B 9/021

Метки: изображения, носителе, фототермопластическом, фтп

...заряд на поверхности ФТП-носителя 4 перераспределяется соответственно распределению интенсивности излучения в плоскости ФТП-носителя 4, которая может представлять собой интерференционную картину, образованную наложением опорной и объектной волн на поверхности ФТП-носителя 4, От источника 8 управляющего напряжения на нагревательный элемент 3 подается импульс тока, в результате чего объем воздуха около нагревательного элемента 3 нагревается и благодаря диффузионному переносу тепла нагревается ФТП-носитель 4, Затем происходит охлаждением ФТП-носителя 4 и фиксация голограммы, Благодаря креплению ФТП- носителя 4 в узле 5 натяжения не происходит его коробление и не появляются паразитные интерференционные полосы, снижащие...

Номер патента: 1469343

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Алексеев, Бубис, Вересова, Духопел, Еськов, Мартынова, Медведев, Муретов, Прохорова, Серегин, Трегуб, Шидловский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, многоходовой, объекта, плоской, поверхности

...направленная светоделителем 3 в опорный канал, преобразуется третьим коллиматором 10 в узкий слабо сходящийся опорный пучок диаметром Й и через четырехзер кальный узел 11 направляется в многоходовой узел, в котором совершает многократные прохождения между отражателем 6 и вторым светоделителем 4, совершая при каждом прохождении отЗО ражения от контролируемой поверхности детали. Диаметр опорного пучка мал, поэтому его отражения от поверхностей элементов многоходового узла происходят на малых участках.Благодаря этому снижается влияние 35 ошибок указанных поверхностей на точность контроля. Деформация волнового фронта за счет неплоскостности участка поверхности контролируемого объекта пренебрежимо мала. Часть излучения, направленная...

Номер патента: 1303962

Опубликовано: 15.04.1987

Авторы: Бойков, Воронков, Духопел, Прозуменщиков

МПК: G02B 5/10

Метки: зеркала, пленочного, стеклянного

...2 и, если требуется получить зеркало высокого качества, откачивают из нее воздух и заполняют инертным газом, например аргоном высокой очистки. Затем производят нагрев до температуры размягчения пленки 7 и превращения ее в жидкую стеклянную пленку. Полученная жидкая пленка сма ФормулаСпособ изготовления стеклянногопленочного зеркала, заключающийся изобретения чивает технологическую оправу 1 и прилипает к ней. Контроль за смачиванием ведут через иллюминатор 8.После смачивания жидкой пленкой технологической оправы 1 начинают откачивать газ из оправ 1 и 6 и (или) подают регулируемый потенциал на электрод 3. Перепад давления на поверхности пленки 7 и (или) электростатические силы вдавливают пленку 7 в формовочную оправу 6 и придают пленке 7...

Номер патента: 1231400

Опубликовано: 15.05.1986

Авторы: Духопел, Иванова, Китаева, Лосев, Серегин, Соловьева, Терехина

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, плоских, поверхностей

...падает на держатель 6 объекта,на котором устанавливается контролируемая 1 О деталь. После отражения от контролируемой поверхности рабочий пучок проходит светосоединитель 7, совме щается с образцовым пучком и интерферирует с ним. Затем оба пучка направляются зеркалом 8,в наблюдательную систему, объектив 9 которой формирует интерференционную картину в плоскости регистратора 2. Линза 11 вводится с помощью узла 1 О в поток излучения интерферирующих пучков так, что в,плоскости 12 наблюдается совпадение изображений зрачков рабочего и образцового пучков интерферометра. Совмещение изображений зрачков осуществляется поворотом держателя, 6 относительно. двух взаимно перпендикулярных осей, лежащих в плоскости, параллельной зеркальномуэлементу 5....

Номер патента: 1081606

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Духопел, Мышкина, Орлова, Симоненко

МПК: G02B 5/32

Метки: голографических, линз, формирования, цилиндрических

...содержащемгде К- 51 п Ъ, - радиус кривизны цилиндрической поверхности пробного стекла;- угол между направлением образующей и сигнальным пучком.источник когерентного излучения, коллиматор, систему для образования интерференционной картины, в которой расположена цилиндрическая поверхность, проекционную систему и регистрирующую среду, система для образования интерференционной картины выполнена в виде двух дифракционных решеток, расположенных перпендикулярно к оптической оси коллиматора и цилиндрической поверхности, установленной между ними и параллельно оптической оси.На чертеже представлено предлагаемое устройство,Устройство содержит источник 1 света (одномодовый газовый л азер), коллиматор 2, прозрачные дифракционные решетки 3 и 4 с...

Номер патента: 1000745

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Духопел, Рассудова, Симоненко, Федина

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, поверхностей, цилиндрических

...число штрихов может достигать одной 45 с от ни или более .Наблюдательная система состоит иэ цилиндрической линзы 7 и объектива 8.Интерферометр работает следующим образом.Расширенный телескопической труб(кой 2 пучок от лаз ерного источ ника 1 света попадает на цилиндрическую линзу 3 и собирается ею в линию на узкой зеркальной полоске, нанесенной на первой поверхности плоско- параллельной пластины 4. После отражения от зеркальной полоски све товой пучок попадает на дополнительную цилиндрическую линзу 5, которая 6 О через интерференционную систему б направляет его в сторону контролируемой детали 9. При подготовке к проведению контроля деталь 9 устанавливаетя так, чтобы геометрическое 65 место центров кривизны проверяемойцилиндрической...

Номер патента: 848999

Опубликовано: 23.07.1981

Авторы: Духопел, Ефимов, Славнов, Федина

МПК: G01B 9/021

Метки: закрепленииих, зеркал, измененияаберраций, интерферометр, линз, оправы

...зеркала 9. Интерферометр настраивается так, что фокус микро- объектива 3 совмещается с фокальной плоскостью контролируемой линзы 15. В этом случае лучи, выходящие иэ линзы 15, наиболее приближаются к 40 параллельному ходу и после отражения от вспомогательного зеркала 9 возвращаются в обратном направлении. На обратном пути они, минуя плоское ножевидное зеркало 5, последователь но попадают на объектив 10, зеркало .12, полупрозрачную пластину 13, голограмму 14, Чтобы обеспечить разделение хода рабочего пучка в прямом и обратном направлении и свести к 50 минимуму угол наклона главного луча к оси контролируемой линзы 15, плоское зеркало 5 выполнено ножевидным, причем острая кромка на его отражающей поверхности совмещена с...

Номер патента: 848996

Опубликовано: 23.07.1981

Авторы: Бубис, Губель, Духопел, Серегин

МПК: G01B 9/02

Метки: аберрацийкрупногабаритных, интерферометр, исследования, качестваповерхностей, неоднородностей, оптических, прозрачных, элементови

...положительной линзы, а сканирующее зеркало - с возможностью возвратно-поступательного перемещения вдоль оптической оси интерферометра.На чертеже представлена принципиальная оптическая схема предлагаемого интерферометра.Интерферометр содержит монохроматический (лазерный) источник 1 света, первый светоделитель 2, направляющий световой поток в две ветви - рабочую и опорную, фокусирующий элемент 3, сканирующее зеркало 4, выполненное с воэможностью возвратно-поступательного перемещения вдоль оптической оси, плоское зеркало 5 рабочей ветви, телескопическую систему б, расположенную между плоским зеркалом 5 и вторым светоделителем 7, высокоапертурный .микрообъектив 8 и регистрирующее устройство 9.Интерферометр, работает следующим...

Номер патента: 531023

Опубликовано: 05.10.1976

Авторы: Духопел, Зубаков, Манукян

МПК: G01B 11/26

Метки: линз, патроне, центрирования

...круговое движение (биение), При точном совмещении и световое пятна остается неподвижным и имеет вид кольцевойсистемы интерференционных полос.Если величина биения невелика, то наличие или отсутствие его определить трудно, Эта трудность связана, во-первых, стем, что границы светового пятна являютсянерезкими, и. во-вторых, с тем, что расстояние от линзы до экрана пр условиям эксплуатации не может быть большим.Ддя увеличения чувствительности к биению рассматриваемого устройства необходимо в плоскость экрана поместить проз -рачную копию интерференционной картинь:,образовавшейся в результате отражения лазерного пучка от поверхностей центрируемой линзы. Такую копию легко получитьфотопутем, поместив фотопленку в плоскостьэкрана, При...

Номер патента: 529362

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Астахова, Духопел, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02 ...

Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов

...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...

Номер патента: 515937

Опубликовано: 30.05.1976

Авторы: Духопел, Зубаков, Манукян

МПК: G01B 11/26

Метки: интерференционный, клиновидности, оптических, пластин, прозрачных

...волны. На экране волны налагаются друг на друга и создают интерференционную картину, имеющую вид концентрических колец, ширина которых убывает от центра к краю. Радиусы колец такой картины меняются по параболическому закону.Положение центра интерференционных колец зависит от величины угла а клина пластины 5. Если а=О, то центр колец совпадает с центром отверстия в экране 3. При а 9=055937 кольца инцентр колец смещается с центра отверстия к основанию клина. Величина смещения к, как известно, может быть определена с помощью формулы где а - показатель преломления материала проверяемой пластины;1 - толщина пластины;У. - расстояние от пластины до экрана. Измерение угла а рекомендуется проводить следующим образом.Сначала пластина...

Номер патента: 403949

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Духопел, Пахомова, Урнис

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр

...содержит монохроматическпй источник 1 света, кондепсор 2, диафрагму (входддодд зрачок интерферомстра) 3,25 плоское зеркало 4, светоделительн пластину 5, тубуспую линзу 6, микрообъектив 7, полусферическую линзу 8, выключающийся объектив 9, окуляр 10.Позицией 11 обозначена контрол30 таль, 12 - капля иммерсионной ж25 ЗО 35 3образцовая сферическая поверхность; б - контролируемая поверхность.Работает предлагаемый интерферомстр следующим образом.Монохроматический источник света 1 с помощью конденсора 2 освещает отверстие диафрагмы 3, установленной в фокальной плоскости тубусной линзы 6. Прошедшие через диафрагму пучки плоским зеркалом 4 направляются сначала на линзу 6, а затем в микрообьектив 7, В предметной плоскости...

Номер патента: 355489

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Духопел, Симоненко

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, качества, поверхностей, цилиндрических

...пучок направляется па цилиндрическую линзу б, с помощью которой ня гряп 5 гх а и б кубика 7 собирается в прямыс ли нии, параллельные образующим цилиндрических поверхностей линзы 8 и проверяемой детали 10 и расположенныс, соответственно, в фокальной плоскости линзы 8 и пл)Скост 51 центров кривизны проверяемой поверхности.10 1.1 я гранях а н б нанесены зсркальныс по,1)ски, в середине которых прорезаны узкие прозрачныс цели (св. внд по стрелке Л), Щель па граш 6 совмещена с фокальной линией лпнзь 1 б и пропускает к поверхности проверяс мОЙ детали гольку ту часть пучка, котора 51дифрагировала на щели. После отражения от детали 10 пучок направляется в пнтерферов 1 етр мимо зеркальной полоски, 1 кой х),1 пучка обеспечивается соответствующиз...

Номер патента: 326445

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Духопел, Урнис

МПК: G01B 11/26

Метки: зеркально, непараллельности

...1 - 7 и 11 - 13 представляет собой автоколлиматор типа АКТ.За объективом автоколлиматора помещена диафрагма 8, выполненная в виде двух со- ЗО прикасающихся круглых отверстий. дпафраг326445 Предмет зобретения Спосоо контроля непараллельности зеркальнд отражающих торцов непрозрачной детали с приз енением оптических устройств, от.ппчаюш,яйся тем, что, с целью повышения производительности и упрощения процесса контроля, и ка естве оптических устройств исгользуют автоколлиматор и коллиматор с,плоским зеркалом в фокальной плоскости, установленные навстречу друг другу, располагают между ними контролируемую деталь так, чтобы обращенная к автоколлиматору торцовая плоскость детали была перпендикулярна падающему на нее осевому пучку света и чтобы...

Номер патента: 284356

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Духопел, Родионов, Урнис

МПК: G02B 27/32

Метки: 3вл, ллгш, лптоколлимлциоиньш, оте, фотоэлектрическиймикроскоп, шрее«

...вызывает лоявление тока. Этот ток (сигнал) может быть использован как для регистрации наличия расфокусировки, так и,для приведения,в действие какого-либо механизма автоматической фокусировки, т. е, для осугцествлапня обратной связи. Недостатком изображенной на фиг. 2 фотоэлектрической части установки является необходимость жесткой стабилизации питания источника света. Менее чувствительна к неточности стабилизации схема, принцип действнякоторой можно уяснить нрп рассмотрении фиг.3. Здесь 18 - ,растр, соответствующий раструфиг. 2. Выше растра расположен модулятор24, Модулятор под действием синусоидаль 1 о ного напряжения совершает колебательноедвижение с амплитудой а в направлении, указанном стрелкои, Прошедший через растр 18свет...

Номер патента: 182365

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Духопел

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вращения, выпуклых, гиперболических, поверхностей, эллиптических

...иммерсионной жидкостью. лаполнение происходит автоматически, если дополнительная линза и кювета жестко связаны между собой. м ет изобрете птических вращения ичаюиий- езаберраптическую дкостью и ют в раТваймана,верхности и картине. Споси гипе любых ся тес ционно деталь дополь бочую провер осущес Данное изобретение относится к измери. тельной технике - контролю асферических поверхностей.Предложен способ контроля выпуклых эл. липтических и гиперболических поверхностей вращения любых относительных отверстий, который позволяет проверять асферически. поверхности без применения специального об ьектива.Проверяемую деталь с помощью иммерси. 10 онной жидкости и дополнтиельной линзы превращают в безаберрационную систему, кото. рую...

Номер патента: 135232

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Голубовский, Духопел, Инюшин

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, обнаружения, оптических, поверхностей, фотоэлектрический

...б - фотоумноиитель.Источник света 1 кондецсором 2 проектируется в плоскость диафрагмы 3, которая находится в фокальной плоскости микрообъективя 4. Вышедший из микрообъектива параллельный пучок света зеркалом 5 направляется на конденсор б, который дает изображение, светящегося отверстия диафрагмы 3 на контрслгируемой поверхностен 7. Пучок све. та, зеркально отраженный от контролируемой поверхности, возвращается обратно по прежнему направлению и не.попадает ца катод ротоумцожителя. Свет, рассеянный дефектами контролируемой поверхцо. сти 7, в пределах апертуры 17 собирается конденсором б и цаправ 1 ясг. ся на катод фотоумножителя 1 б, Диаметр оветящегося пятна на контролируемой поверхности равец 0,2 люле, Развертка лонтролируемсй по....

Номер патента: 130209

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Духопел, Коломийцев

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: интерферометр

...если проверяемая поверхность 10 имеет местные дефекты.Для обеспечения совмещения центров кривизны эталонной и проверяемой поверхностей столик, на который накладывается проверяемая линза, может перемещаться в трех взаимно-перпендикулярных направлениях. Совмещение контролируется наблюдением в окуляр 12 автокол130209лимационных изображений 13 отверстия 4, полученных после отражения лучей от поверхностей 8 и 10 и полупрозрачной пластинки 14. Интсрферометр обеспечивает возможность изменения кривизны полос, т, е. точный контроль местных дефектов по искривлению прямых полос, астигматической разности радиусов кривизны поверхности в двух сечениях и отступления радиусов поверхности от номинального значения по числу наблюдаемых колец,...

Номер патента: 120931

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Духопел, Цеснек, Шатенев

МПК: G01B 11/25

Метки: вращения, выпуклых, геометрических, поверхностей, размеров, тел

...плоскости которого помещена диафрагма 2 с круглым отверстием малого диаметра. Между объективом коллиматора 1 и исследуемым телом 3 расположена сетка 4, выполненная в виде ряда прозрачных и непрозрачных концентрических колец известного диаметра.Прибор устанавливается так, что оптическая ось коллиматора совпадает с осью исследуемого тела 3. Прн освещении отверстия диафрагмы 2 источником света 5 на поверхности тела 3 будет проецироваться ряд чередующихся светлых и темных колец б, соответствующих кольцам сетки 4.Контроль размеров тела 3 осуществляется по зонам путем измерения расстояния межд теневыми проекциями соседних 1 олец с помощью микроскопа 7. Параметры измеряемой зоны вычисляются по соответстВующиъ 1 формулам, полученным из ура 1...