Кайнер

Номер патента: 1775039

Опубликовано: 07.11.1992

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/12

Метки: диаметров, малых, отверстий

...в поле зрения оптического прибора.Оптический прибор содержит источник . света 1, конденсор 2, столик 3, на котором размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 и деталь б с измеряемым отверстием 7, визирную сетку 8 и окуляр 9,Способ измерения диаметров малых отверстий осуществляется следующим образом.На столик О оптического прибора, например, универсального или инструментального микроскопа, размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 с мелким шагом, например, 20 мкм, таким образом, чтобы один из центральных (серединных) штрихов, шкалы 5 был совмещен с визирной линией визирной сетки 8, Это обеспечивает совмещение штрихов растровой шкалы 5 пластины 4 с линией измерения прибора, После этого на пластину 4 устанавливают...

Номер патента: 1732148

Опубликовано: 07.05.1992

Авторы: Кайнер, Щербатых

МПК: G01B 11/26

Метки: конуса, угла

...4,Формула изобретения Составитель О.МамонтовРедактор М.Янкович Техред М,Дидык КорректорИ,Зрдейи Заказ 1574 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035,. Москва, Ж, Раушская наб., д. 45 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул . Гагарина, 101 3 . 1Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля углов особо точных,конусов, для контроля конусных опра"вок и посадочных мест под них в станкостроении.Целью изобретения является повышение точности и снижение трудоемкости контроля,На чертеже показано взаимное расположение, элементов устройства, реализующего данный способ.Устройство содержит угловые меры1 с измерительными гранями 2...

Номер патента: 1682765

Опубликовано: 07.10.1991

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/00

Метки: детали, линейных, микроинтерферометре, параметров

...позитиве фиксируют проекционные и интерференционное изображения эталонной детали. На этот же позитив. проецируют проекционные и интерференционное изображения исследуемой детали. Микрометрическими винтами совмещают рактерные точки интерференционны ображений и по отсчетам винтов опре яют линейные параметры детали. винтов совмещают проекционные и интерференционное изображения эталонной и исследуемой деталей нз экране.Определяют смещения изображений исследуемой детали относительно изображений эталонной детали на позитиве и используют полученные данные при определении параметров исследуемой детали.Формула изобретения Способ измерения линейных параметров детали на микроинтерферометре, заключающийся в том, что устанавливают деталь на...

Номер патента: 1677506

Опубликовано: 15.09.1991

Автор: Кайнер

МПК: G01B 9/02

Метки: микроинтерферометр

...установленных по ходу пучка лучей источника 1 света конденсора 2, диафрагмы 3, светоделителя 4, микрообъектива 5, плоского отражателя 6, микрообьектива 7, оптически связанного с диафрагмой 3 через светоделитель 4, микроскоп 8, оптически связанный с микрообъективами 5 и 7 через светоделитель 4, предметный столик (на чертеже не показан), предназначенный для размещения контролируемого объекта 9 и оптически связанный с микрообьективом 7, направляющую 10, неподвижная часть которой жестко скреплена с микрообъективом 7, и отражатель 11, скрепленный с подвижной частью направляющей так, что его поверхность перпендикулярна оптической оси микрообъектива 7. Пучки лучей источника 1 света собираются конденсором 2 на диафрагме 3 и затем разделяются...

Номер патента: 1583738

Опубликовано: 07.08.1990

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, прямолинейности

...комбинат "Патент", г.ужгород, ул, Гагарина,101 Изобретение относится к измерительцоц технике и может быть использовано для контроля отклонений от прямолинейности.Цель изобретения - расширение номенклатуры контролируемых поверхностей путем контроля как горизонтальных, так и вертикальных зеркальных поверхностей,На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ контроля прямолинейности поверхности.Устройство содержит автоколлима - тор, показанный в виде двух линз 1 И 2, трехгранную прозрачную зеркальную призму 3, 4 - контролируемая поверхность.Способ осуществляют следующим образом.Устанавливают цп контролируемую поверхность 4 отражатель, выполненная в виде трехгранной прозрачной зеркальной призмы 3, так, что...

Номер патента: 906231

Опубликовано: 15.08.1989

Автор: Кайнер

МПК: G01B 7/02

Метки: линейных, размеров

...является невозможность измерениявеличины контактной деформации.Наиболее близким техническим решением к данному изобретению является устройство для измерения линейныхразмеров, содержащее измерительныйнаконечник, связанный с ним измерительный.преобразователь, базовуюпроверхность и включенный между измерительным наконечником и базовой поверхностью индикатор кон мерительного наконечника сНедостатком устройства то, что оно не гарантирует ности состояний контакта и ного наконечника и измеряемых лью изобретения является повышение точности измерений.Поставленная цель достигается тем,что индикатор контакта выполне виде блока измерения электрического сопротивления,Блок-схема устройства изображенана чертеже,Устройство соденечник 1,ельный...

Номер патента: 1490468

Опубликовано: 30.06.1989

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/24, G01B 9/08

Метки: одного, перехода, поверхности, профиля, участка

...менисков: по углам смачивания, по высоте сегмента мениска, по симметрии менисков, по идентичности кривизны их формы. Наиболее точной является оценка идентичности кривизны формы обоих менисков.Краевой угол смачивания жидкости с поверхностью твердого тела является стабильной характеристической величиной для данной пары смачивания: жидкость - твердое тело. На коротком участке контролируемой поверхности монотонной формы угол смачивания и кривизна обоих менисков столбика будут одинаковыми, следовательно, форма обоих менисков у контролируемой поверхности идентична,Изменение формы контролируемой поверхности в пределах длины столбика жидкости объективно обуславливает изменение кривизны мениска, что приводит к неидентичности формы обоих менисков...

Номер патента: 1478041

Опубликовано: 07.05.1989

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...на участке пластины, противолежащем дну паза, нанесены сходящиеся риски. 2, Устройство по п,1, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, на сходящихся рисках нанесены деления, определяемые по сечениям, соответствующим базовым длинам шероховатости,Составитель К,КузнецовТехред А.КравчукВ Корректор И.Муска Редактор В,Петраш Заказ 2352/40 Тираж 684 подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 зовано для оценки качества поверхности прецизионных деталей.5Цель изобретения - повышение точности измерения и обеспечение возможности измерения шероховатости поверхности на различной нормируемойбазовой...

Номер патента: 1456755

Опубликовано: 07.02.1989

Авторы: Кайнер, Палей, Розанов

МПК: G01B 5/20

Метки: профиля

...выдавленного слоя жидкости по всему контролируемому сечению позволяет однозначно судить о полном прилега- нии гибкого элемента к профилю контролируемой детали, что в свою очередь обеспечивает повыгение.лочности контроля.Составитель Е.Вакумова Редактор И,Горная Корректор И,111 улла Техред Х.Ходанич Заказ 7543/37 Тираж 683ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно в полиграфическ предприятие, г. Ужгород, уд. Пр;и кгнз,3 145 затем накладывают гибкий элемент на контролируемую деталь и прижимают его к детали до появления равномерно распределенного выдавленного слоя жидкости по всему контролируеьяму сечению профиля. В случае, если на...

Номер патента: 1293468

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Кайнер, Чудов

МПК: G01B 5/25

Метки: валов, вращения, осей, отклонения, параллельности, плоскости

...Корректор С, Шекмар Заказ 369/40 Тираж 678 . ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная,1 1Изобретение относится к техническим измерениям в машиностроении,а именно к контролю расположения осейвращения валов в собранном механизме. 5Целью изобретения является расши"рение функциональных возможностейспособа путем обеспечения контроляпри любом пространственном положении валов. 10На чертеже представлена схема,иллюстрирующая реализацию способа,На выходящих из собранного механизма свободных концах валов 1 и 2закрепляют соответственно прямолинейный стержень 3 и отсчетную головку 4. Стержень 3...

Номер патента: 1285313

Опубликовано: 23.01.1987

Авторы: Кайнер, Чудов

МПК: G01B 5/25

Метки: валов, вращения, осей, перекоса

...Государс по делам изо13035, Москва,677 Подписновенного комитета СССРретений и открытий-35, Раушская наб., д,оизводственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная,Изобретение относится к области технических измерений в машиностроении, а именно к способам контроля расположения осей валов в собранном механизме,Целью изобретения является обеспечение определения перекоса осей вращения валов, ориентированных в любом возможном направлении, в том числе валов, выступающих из проверяемого механизма.На чертеже изображена схема контроля. Для реализации способа используют индикаторную головку 1, закрепляемую . на одном валу 2 на кронштейне 3 так, чтобы ее линия измерения была параллельна предполагаемОЙ оси вращения этого вала, и...

Номер патента: 1265473

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Кайнер, Пучкова, Щербатых

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: визуальный, высот, диапазоне, заданном, микронеровностей, оценки, плоской, поверхности, шероховатости

...4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для оценки шероховатости плоской поверхности в задан ном диапазоне высот микронеровнос. тей,Цель изобретения - повышение точности оценки и оценки не только плоских, а также и криволинейных поверхностей, путем повышения объективности оценки, поскольку оценивается наличие или отсутствие интерференционной картины, а также за счет использования жидкости в качестве элемента, предназначенного для получения интерференционной картины.Визуальный способ оценки шероховатости поверхности осуществляется: следующим образом.Предварительно подбирают ряд жидкостей, составляя его последовательно от жидкости, дающей интерференционную картину при наименьших...

Номер патента: 1239519

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Высоцкий, Кайнер, Стражник

МПК: G01D 11/02

Метки: базирования, виде, вращения, тел, точности, электропроводных

...в пределах одного оборота,Формула и зо брет ения Составитель В.НиколаевРедактор Н.Тупица Техред О,Гортвай Корректор А.Обручар Заказ 3384/39 Тираж 705 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений .и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г,Ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для контроля точности базирования деталей в виде тел вращения и может быть использовано при измерении линейныхразмеров деталей.Цель изобретения - повышение точности контроля. Способ осуществляют следующим образом.Устанавливают измеряемую деталь на базовую поверхность. Между деталью и базовой поверхностью включают измеритель электрического...

Номер патента: 1173182

Опубликовано: 15.08.1985

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/24

Метки: поверхностей, прилегания

...г.ужгород, ул,Проектная 4 117318Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, например, для контроля прилеганкя поверхностей деталей, в частности, при комплексном контроле конусов.Целью изобретения является повышение точности контроля.При комплексном контроле конусов- способ реализуеИя следующим обра О, .л "ф."элбаНа поверхность одной из сопрягае- Г, мых деталей наносят любой слой жидкости,поэволяю 1 цей получить интерференциодную картину, например, керосйн (может быть использован и бензин). Жидкость быстро испаряется, ипри строго определенной толщине слояпоявляются интерференционные полосы,которые позволяют точно, до 0,1 мкм, 20оценить толщину этого слоя (в общемслучае достаточно только...

Номер патента: 1080006

Опубликовано: 15.03.1984

Автор: Кайнер

МПК: G01B 5/14

Метки: неравномерности, растровых, шага, шкал

...образцовой 10 и поверяемой шкал судят о погрешностях последней Г 1 3.Этот способ обеспечивает высокую точность, однако малопроизводителен и требует сложной дорогостоящей аппаратуры.Наиболее близким к изобретению является способ определения неравномерности шага растровых шкал, заключающийся в том,что выбирают две идентичные шкалы, совмещают их одну с другой,рас.- сматривают полученную композицию на просвет и по разности величин светопропускания судят о погрешности шага. Для получения более полной информации 25 шкалы совмещают несколько раэ, сдвигая одну относительно другой на целое число шагов Г 2 3.Однако известный способ характерируется недостаточной производительностью, вызванной необходимостью выполнения нескольких совмещений.Цель...

Номер патента: 837532

Опубликовано: 15.06.1981

Авторы: Кайнер, Липилина, Познянский

МПК: B21J 5/06

Метки: типастаканов

...производит выца 1;ливание отверстия.постоянного диаметра и образованиеутолщения 1 а , диметр которого меньше максимального диаметра Фланцаизделия. Съем полуфабриката с пуансона 3 осуществляется съемником 4,аудаление его из матрицы 2 при.помощи выталкивателя 5. После этогополуфабрикат укладывают в матрицу 6(фиг. 2), полость которой также выполнена ступенчатой.При движении пуансона 7 вниз егоконический участок 7 а осуществляетраздачу утолщения 1 а до максимального размера, а торец 7 б производитвыдавливание тонкостенной частицетали 1 б и оформление Фланца 1.,Колесникова Техред М. Коштура Корректор А. Гриценко едакт каз 4295/16 ВНИИП по 113035, Тираж 740 Государственног елам иэобретени сква, Ж, Рауш ПодпиР о комите.та С и открытий...

Номер патента: 769320

Опубликовано: 07.10.1980

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G01B 9/02 ...

Метки: интерференционный, криволинейными, линейных, объектов, оптически, поверхностями, прозрачных, размеров

...1 о)на известном расстоянии, причем коэффициент п 1 преломления жидкости выбирают отличающимся от коэффициента и, преломления материала измеряемого объекта на величину, достаточную для создания упомя,- нутой,разности хода. Эта величина определяется в каждом конкретном случае расчетным путем по известным зависимостямНаправление лучей обозначено на чертеже стрелками (вниз - от компаратора, вверх - к компаратору) .Измерение производится следующим образом.Получив в компараторе систему интерфврвнционных полос, определяют взаииное положение полос от лучей 1 О и лучей 1 ь По величине смещения полос определяют оптическую разность хода этих лучей, обусловленную тем, что один луч 1, проходит только через слой жидкости, а другой луч - через всю...

Номер патента: 741041

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Кайнер, Ляховский

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/02 ...

Метки: интерферометр, криволинейных, майкельсона, поверхностей, типа

...саттестованной длиной.На фиг. 1 изображена оптическаясхема интерферометра типа Майкельсона для измерения криволинейных поверхностей; на фиг. 2 - то же, в процессеконтроля,Интерферометр содержит (фиг. 1)осветительную систему 1, светоделительный кубик 2 с зеркальной гранью3, образующей референтное зеркало,измерительную ветвь, включающую элемент, предназначенный для наложенияна измеряемую поверхность (фиг. 2)и выполненный в виде гибкого световода 4 с отражательным торцом 5; оптическую систему (окуляр 6), предназначенную для образования в плоскости иэображения интерференционной картины.Работает описываемый интерферометр следующим образом.5Гибкий световод 4 накладывается на измеряемую пов ерхнос ть 7 (фиг. 2) . Крепление световода 4 к...

Номер патента: 737784

Опубликовано: 30.05.1980

Автор: Кайнер

МПК: G01D 13/02

Метки: измерительных, систем, шкала

...конструктивная схема шкалы, где указаны герметичный кор пус 1, отдельные слои 2, 3, 4 и т,д образованные из несмешивающихся жидкостей и прилегающие друг к другу. Эти слои служат делениями шкалы или делениями и интервалами между ними.Граничащие между собой слои должны обладать различными, например, оптическими или электромагнитными свойствами.При изготовлении шкалы корпус последовательно заполняют слоями жидкости, толщину которых можно аттестовать посредством измерений на интерференционном компараторе, если слои отличаются оптическими свойствами.Если слои отличаются электромагнитными свойствами, то для аттестации может быть использована, например, система с емкостным преобразователем.Предлагаемые шкалы позволят повысить точность и...

Номер патента: 697810

Опубликовано: 15.11.1979

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/26

Метки: величины, воспроизведения, измеряемой, мера

...измерительных средств, например с помощью автоколлиматора.Мера содержит прозрачную кювету 1,заполненную двумя компонентами с равнымиплотностями, представляюшими собой несмешивающиеся жидкости 2 и 3, которыеразделены вертикальной плоской поверхностью 4, Воспроизведение измеряемой величины (прямого угла) с помощью описываемой меры и оптических измерительныхсредств - автоколлиматора 5 производитсяследуюшим образом,Под действием гидростатических сил исил молекулярного взаимодействия геометрическая форма поверхности 4 практически 1 юидентична горизонтальной поверхности 6жидкостей 2 и 3. Под действием гравитационных и гидро- статических сил поверхность 4 располагается строго под углом 90 к горизонтальной поверхности 6 (из условия...

Номер патента: 634100

Опубликовано: 25.11.1978

Автор: Кайнер

МПК: G01C 9/20

Метки: жидкостный, оптический, уровень

...поверхности жидкости,634100 Формула изобретения Положение пластины 3 относительнокюветы и поверхности 4 слоя жидкостирегулируется установочным винтом 5,Пластина образует с поверхностьюжидкости интерференционную систему,,реагирующую на изменение положениякюветы вместе с пластиной.5 Известно, что урвень свободной поверхности жидкости в сосуде является образцовой горизонтальной поверхностью, относительно которой 10 производится измерение положения контролируемых поверхностей объектов.,Регулируя положение прозрачной пластины 3 относительно свободной поверхности уровня жидкости в кювете, )5 добиваются появления интерференционной картины - металлического блеска, что обеспечивает строго параллельное положение пластины с погрешностью 0,1 мкм...

Номер патента: 552502

Опубликовано: 30.03.1977

Автор: Кайнер

МПК: G01B 5/08

Метки: аттестации, диаметров, конусов, настроечный, эталон

...одну из его частей переворачивают и собирают так, чтобы грани, образовывавшие ранее плоскость разъема, стали измерительными,На фиг. 1 изображен пв положении настрой3 на фиг. 2 - то же, в средств при измеренииположении аттестации,,Эталон (см. фиг. 1) выполнен в виде состоящего из двух частей 1 и 2 призматического тела с трапецеидальным основанием, соответствующим профилю контролируемого объекта. Угол 2 а между боковыми сторонами трапеции равен углу при вершине контролируемого конуса. Боковые грани 3 и 4 эталона выполнены плоскими, доведенными, что обеспечивает их притираемость. Плоскость разъема 5 эталона совпадает с биссекторной плоскостью угла 2 а. Грани, образующие плоскость разъема, также выполнены плоскими, доведенными. Высота...

Номер патента: 492724

Опубликовано: 25.11.1975

Автор: Кайнер

МПК: G01B 3/24

Метки: калибр-кольцо, образцовый

...применения калибра.Для этого внутренняя поверхность калибра покрыта оптически прозрачным слоемэлектропроводного вещества.На чертеже приведена схема конструкциикалибра,Образцовый калибр-кольцо содержит пластину 1, выполненную из прозрачного материала, например из кварца. Внутренняя поверхность 2 пластины 1 является измерительной. На эту поверхность, например, путем вакуумного напыления наносят слой 3электропроводного вещества, например сеО ребра. Толщина слоя К должна обеспечивать его оптическую прозрачность. (Для напыленного серебра это составляет около 0,01 мкм)Образцовый калибр-кольцо аттестуют на интерференционном компараторе; благодаря оптической прозрачности слой электропроводящего материала не препятствует проведению...

Номер патента: 393573

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Гринштейн, Кайнер, Кулаков

МПК: G01B 7/02

Метки: линейных, размеров, угловых

...сигнала использоой разностью потенциаительным наконечником делием. Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения линейных и угловых размеров изделий,Известны устроиства для измерения линейных и угловых размеров изделий, содержащие последовательно включенные измерительный наконечник, источник электрического сигнала для определения момента контакта измерительного наконечника с изделием, отсчетный узел и регистратор.В этих устройствах в качестве ис электрического сигнала использованисточник напряжения, например сеточ тенци ал л ам пы.Недостатком этих устройств является невысокая точность измерения из-за погрешностей определения момента контакта измерительного наконечника с контролируемой...

Номер патента: 344264

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: линейного, прецизионного, размера, эталона

...измерительной поверхности пластины и опре деляют размер эталона как алгебраическуюсумму расстояний от свободной и притертой измерительных поверхностей эталона до свободной измерительной поверхности образцовой стеклянной пластины.20 Предлагаемый способ поясняется чертежоми осуществляется следующим образом.Образцовую стеклянную пластину 1 с притертым к ней эталоном (мерой) 2 устанавлиливают на столик 3 интерференционного при бора, например интерференционного компаратора, образцом вверх и определяют по интерференционным полосам расстояние 1 от свободной измерительной поверхности эталона (меры) до свободной измерительной поверхно сти стеклянной пластины. После этого устаЗаказ 219818 Изд.941 Тираж 406 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам...

Номер патента: 315904

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Гринштейн, Зимин, Кайнер

МПК: G01B 7/06

Метки: линейно-угловыхразмеров

...изобретения является повышение точности и надежности фиксации механического контакта измерительного наконечника с контролируемым изделием. Для этого в предложенном устройстве электронный датчик выполнен в виде приемника радиосигналов, параллельно входу которого включены измерительный наконечник с контролируемым изделием. следующим образом. анического контакта аконечником 2 и конт приемник 4 радиоигналы соответствуютки,Работает устроиство При отсутствии ме О между измерительнымролируемым изделием сигналов регистрирует щие его частоте настр кого контакцепью измеируемое иза входе резтствующему иемника, Таакт измериируемым изпалов опреоприемника, достичь пое. мощность конечника с сравнению с На чертеже показана блок-схемаженного...

Номер патента: 315001

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Бюро, Кайнер, Кулаков

МПК: G01B 5/28

Метки: качества, оценки, поверхностей, притираемостй, сопрягаемых

...поверхности притирают одну к другой, разбирают их и сравнивают с помощью микроскопа полученное распределение капель жидкой фазы смазки, появившейся из микротрещин, с эталоном.Описываемый способ состоит в том, что с притираемых поверхностей удаляют смазку и контролируют ее отсутствие на микроскопе, т, е, в поле зрения микроскопа не должно быть капель смазки, Удаление смазки с притираемых поверхностей позволяет максимально сблизить эти поверхности практически до непосредственного контакта одной с другой. Затем сопрягаемые поверхности притирают и А, И. Кулакови в металлообрабатывающейшленности одну к другои. В результате притирки в микрополостях сопрягаемых поверхностей образуется разреженное пространство, куда и стекает смазка,...

Номер патента: 312134

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Кайнер, Марков, Сацердотов

МПК: G01B 7/14

Метки: деформаций, температурных

...легкоисей. Изобретение относится к области машиностроения, а именно к способам исследованиятемпературных деформаций прецизионныхобъектов, содержащих кинематическую цепь,например механизмов измерительных приборов.Известные способы исследования температурных деформаций заключаются в том, чтоизмерительный прибор помещают в камерус определенной температурой, контролируют 10взаимное положение отдельных звеньев измерительной цепи, например базового и замыкающего звена, затем изменяют температурукамеры и регистрируют перемещение конечного звена. Недостатком этих способов является невозможность определения звена,наиболее чувствительного к температурнымвоздействиям,При определении температурной деформации по предложенному способу звенья...

Номер патента: 307263

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Кайнер

МПК: G01B 13/02, G01B 13/12

Метки: влияния, параметров, слоя

...проектировании точньх направляющих скольжения. Использование способа позволяет определять ОптнмальпыЙ зазор между измеритель ным стержнем и направляющей втулкой высокоточных Ршдуктивных датчиков и оптимальные условия их эксплуатации.Известен способ определения влияния параметров слоя между сопряженными поверхно стямР 1 на пх взаимное положение, заключающийся в том, что на длине сопряжения создают перепад давления и измеряют взаимное положение поверхностей. При известном способе созда 1 ст избь 1 точное давление и опреде ля 1 ст параметры истечения слОя через зазор между сопряокенными поверхностями например плуР 1 жерноР 1 пары.ПредлагаемыР 1 способ отличается от известного тем, что пространство между сопряжен нымн поверхностями...

Номер патента: 301518

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Кайнер, Марков

МПК: G01B 7/34

Метки: качества, оценки, поверхности

...то не спектральный сост 10 стей. ОВ ро льного наконечникаизменению темпе ициент трения и соо тактировапия поверх араметров шерохов . Так как при этом онный показатель ка т необходимости учи ав поверхностных не хноным щают и на ороение что стви.редмет изобрете с ис- датчи- накона заостью, щения спольхност ктным ещают ности й ско о новь чика нт. Способ оценки качества повер пользованием прибора с конта 5 ком, при котором датчик перем нечником по исследуемой поверх данную базовую длину с заданно отличающийся тем, что, с целы полноты контроля, в качестве дат 20 зуют термочувствительный элемегаебра. а бачика, КМТ, туры Изобретение относится к области методсредств линейных измерений в машиноснии.Известен способ оценки качества поверсти с...