Контактный интерферометр уверского для линейных измерений
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 207427
Автор: Уверский
Текст
207427 ОП ИСА НИ ЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союа Советских Социалистических РеслуйликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 17 Л" 1,1965 ( 1013170/26-25) л. 42 т, 34/1 заявкиприсоединен ПК 6020 ПриоритетОпубликовано 22.Х,1967. БоллетеньЛата опубликования описания 22.П.1968 Комитет по делам ооретений и открытий ори Совете Министров СССРЛК 535.411(0 Авторизобретения Заявитель ОНТАКТНЪЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР УВЕРСКО ДЛЯ ЛИНЕЙНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ2а другой - на подвижное зеркало б, укрепленное на измерительном стержне 7.Пучки света, отраженные зеркалами, проходят объектив 8 и направляются на приемное 5 устройство, например, экран 9 со шкалой,Если разность хода лучей невелика, то световые потоки интерферируют в плоскости экрана-шкалы. В белом свете интерференционные полосы окажутся цветными и среди них чер ная ахроматическая полоса, видимая на шкале, может служить указателем положения измерительного стержня на оси прибора,Измерение объекта 10 на предлагаемом интерферометре производится сравнительным 15 методом и заключается в определении суммыосевых смещений измерительных стержней обоих отсчетных устройств от их нулевых положений, установленных по образцовой мере или образцовому изделию.20 На чертеже экраны показаны раздельно, впромышленном образце они могут быть совме.щены известным способом. ципиальная Лва встречерометра в точника 1 с ветофильтр рая раздека. Один иззеркало б,25 Контактизмсрений двухлучево из светоде и неподвиж 30 емого объ терферометры предназначены аружных линейных размеров ий методом с авнения с конКонтактные индля измерения нразличных издел Рцевыми мерами.Известен контактный интерферометр для линейных измерений, построенный по принципу двухлучевой интерференции света при контактном касании измеряемого объекта. Известные контактные интерферометры для линейных измерений недостаточно точны потому, что не обеспечивают стабильность контактных сближений между измеряемым объектом и предметным столом.Предлагаемый интерферометр свободен от указанного недостатка, Это достигается тем, что на линии, измерения установлены два отсчетных устройства с заданными измерительными усилиями. Между ними помещается измеряемый объект и сумма их показаний дает показание интерферометра с повышенной точностью. На чертеже представлена принсхема предлагаемого устройства.ных отсчетных устройства интерфосновном одинаковы. Свет от испомощью конденсора 2 проходит с3 и попадает на пластину 4, котоляет свет на два когерентных пучних направляется на неподвижное едмет изобретения ый интерферометр для линейных содержащий оптическую систему о интерферометра, которая состоит ительной пластины, подвижного ного зеркала, столика для измерякта и приемного устройства, отлиЗаказ 31/9 Тираж 530 ПодписносЦНИИПИ Комитста по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центо, пр, Серова, д. 4 Тнпография апунова,чающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, он содержит на оптической оси устройства вторую оптическую систему двухлучевого интерферометра, расположенную встречно относительно первой системы,при этом столик для измеряемого объекта расположен между оптическими системами, для направления интерференционных картин па приемное устройство на выходе оптической 5 системы установлена система зеркал.
СмотретьЗаявка
1013170
И. Т. Уверский
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: измерений, интерферометр, контактный, линейных, уверского
Опубликовано: 01.01.1968
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-207427-kontaktnyjj-interferometr-uverskogo-dlya-linejjnykh-izmerenijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Контактный интерферометр уверского для линейных измерений</a>
Предыдущий патент: Система автоматической регистрации и суммирования расхода материалов
Следующий патент: Способ определения температуры плавленияполимеров
Случайный патент: Смазка для холодной прокатки металлов