203973

Номер патента: 720292

Опубликовано: 05.03.1980

Автор: Дубров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометров, оптических, следящая

...- ного усилителя.На чертеже показана схема следящей системы для оптических интерферометров.Следящая система содержит гальванометр, включающий в себя зеркало 1, рамку 2, фокусирующую линзу 3; дискриминатор в виде прозрачно- отражательного растра 4, коллиматоры 5, фотоприемники 6,7, дифференциаль - ный усилитель 8, балластное сопротивление 9, регистрирующее устройство 10, интегратор 11, усилитель мощности 12 и средство перемещения растра в виде серводвигателя 13 с индикатором 1 4. При этом последовательно включенные балластные сопротивления 9 и рамка 2 гальванометра соединены с выходом дифференциального усилителя, а последовательно включенные интегратор 11, усилитель мощности 12 и серводвигатель 13 подключены к входу усилителя...

Номер патента: 1246197

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Воронин, Мелентьев, Пилипенко, Рабинович, Рыбаков, Смирнов, Утробин, Шанников

МПК: H01Q 13/10

Метки: антенная, исследования, поверхности, подстилающей

...решетки (ФАР) 1, установленные на ЛА 2, при этом угол между плоскостями плоских ФАР выбран из предлагаемого соотношения.Система работает следующим образом.Каждая из плоских ФАР 1 расположена так, чтобы нормали к их плоскостям направлялись на противоположные края сектора обзора (полосы обзора вдоль направления движения ЛА). Ширина луча антенной системы для исследования подстилающей поверхности при отклонении луча от нормали к ее раскрыву определяется соотношением где 8 - ширина луча по уровню полаь 5винной мощности;- рабочая длина волны;Е, - поперечный размер плоскойФАР 1;ф - угол между плоскостями плоских ФАР 1;ч - отклонение луча ат нормалик раскрыву.Тогда разрешающая способность оХ на подстилающей поверхности по поперечной...

Номер патента: 1840425

Опубликовано: 20.03.2007

Авторы: Козько, Крыласов, Плетнев, Судоргин, Шпунтов

МПК: G01S 13/90

Метки: антенны, апертурой, земной, обзора, поверхности, радиолокационного, синтезированной

Система радиолокационного обзора земной поверхности с синтезированной апертурой антенны, содержащая последовательно соединенные синхронизатор, задающий генератор, передатчик, антенно-фидерный блок, приемник, первый блок памяти и блок доплеровской фильтрации, последовательно соединенные инерциально-навигационную систему, формирователь корректирующего сигнала и смеситель, а также индикатор, при этом второй, третий, четвертый выходы синхронизатора подключены к вторым входам соответственно передатчика, первого блока памяти и блока доплеровской фильтрации, второй вход смесителя соединен с выходом задающего генератора, а выход - с вторым входом приемника, отличающаяся тем, что, с целью повышения эффективности радиолокационного обзора земной...

Номер патента: 1319789

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Монтаков, Муфтеев, Никифоров, Савин, Хорошенков, Шматко

МПК: A01B 63/114

Метки: глубины, машин, органов, орудий, рабочих, сельскохозяйственных, хода

...усилитель 5, трехпозициокныйусилитель 7, электрогидравлическийпреобразователь 9 и исполнительныймеханизм 11,Система работает следующим образом,Сигналы крайнего 1 и среднего 3 датчиков глубины хода поступают на суммирующий усилитель 4, а суммарный сигнал - на вход трехпозиционного усилителя 6. Если суммарный сигнал ка входе трехпозиционного усилителя6 не превышает по уровню порога срабатывания, то на его выходе сигналравен нулю, В противном случае навыходе трехпозиционного усилителя 6появляется сигнал постоянного уровня, полярность которого соответствует полярности суммарного сигнала на .его входе. Управляющий сигнал с выхода трехпозиционного усилителя 6поступает на вход электрогидравлического преобразователя 8, которыйв...

Номер патента: 289287

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Бубнов, Цкин

МПК: G01B 11/26

Метки: известной, несоосности, оптический, оптической, отверстий, применением, системы

...3 отверстий диаметров О, О О при проверке несоосностн относительно общей оси (плп с осью базового отверстия при проверке несоосности относительно базовой оси),Затем фокусируют оптическую систему 2, например через призму 4, на участок поверхности а контролируемого отверстия диаметра О, имеющего ось б. Наводку на резкость изображения указанной поверхности осуществляют с помощью оптического микрометра б с достаточно произвольной резкостью и наблюдают через оптическую систему 2,Далее, используя фотометрический датчик 7 с оптической системой 2, фиксируют величину светового потока, падающего на него при полученной резкости изображения контролируемой поверхности а отверстия диаметра О. По оптическому микрометру б снимают некоторый отсчет,...