Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социалистических Республикур 11 Ч Е 11 Тр 0 Б т 1 Б 1 ИОТЕ 1 Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 04.Ч 1.1966 ( 1095793/26-25 л. 421, 34/1 МПК 6 02 с 1УДЬ, 535 А 11(088.8) ПриоритетОпубликовано 31.Ч 1,1967. Бюллетень1Дата опубликования описания 25,Ч 11.1967 Комитет по делам аобретвииЯ и открытиЯ при Совете Миииотров СССРавторызобретени Я. Ловков и А, И. Харитонов итель ИНТЕРфЕРОМЕТР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИНЕОДНОРОДНОСТЕЙ ОЗРАЧНЫХ ную пла один из к ветвь - з 5, а друг зеркало попадает пучка, лонную ластину ветвь - ну 5,и В эталонных в новлены компенса менения в качест ского квантового пенсаторов в ветв зательна. етвях интерфер торы 1 б и 17. В ве источника с генератора ус ях интерфером метраслучаевета опановкатра не уста при- иче- комобя. 25 получать в ную инфорк й, характер плотностей,а 1 света прохона полупрозрач исоединением заявкиИзвестный интерферометр типа Маха - Цендера состоит из источника света, коллиматора, эталонной и рабочей ветвей и приемной части. В рабочей камере установлена камера с исследуемой неоднородностью,Этот интерферометр не позволяет одновременно получить несколько интерференциопных картин в одной плоскости с различной исходной настройкой (ориентировкой, шириной интерференционных полос и различной компенсацией разности хода).Описываемый интерферометр отличается от известного тем, что в рабочей и эталонной вет. вях установлены полупрозрачные пластины, созда.ощие дополнительную независимую пару когерснтных световых пучков и направляю. щих их на систему плоских зеркал, полупро зрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференцион. ную картину.Этот интерферометр позволяет получить одновременно две интерференционные двухлучевые картины в одной плоскости с различной начальной настройкой (различной ориентировкой, шириной интерференционных полос и компенсацией разности хода).На чертеже изображена схема описываемого интерферометра.Световой поток от источнидит коллиматор 2, попадает стину 3 и делится ею на дв оторых проходит через эта еркало 4 и полупрозрачную п ой пучок - через рабочую б и полупрозрачную пласти в приемную систему 7. Исследуемая неоднородность устанавливается в камере 8 в рабочей ветви интерферометра. С целью одновременного получения вто. рой двухлучевой интерференционнои картины в рабочую и эталонную ветвь установлены по. лупрозрачные пластины 9 и 10. Они направ. ляют один из световых пучков на плоское зеркало 11 и полупрозрачную пластину 12, дру гой - - на зеркала 13, 14 и полупрозрачную пластину 12, после которой световые пучки попадают в приемную систему 15 интерферометИнтерферометр позволяет ние одного опыта одновреме при изучении неоднородност щихся разными величинами19729 Предмет изобретения Составитель И. Н. Небосклонова Редактор Н. А. Джарагетти Техред Л. Я. Бриккер Корректоры: Н. В. Черетаева и Л. В. НаделяеваЗаказ 2183/6 Тираж 535 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 Иптерферометр для исследования прозрачных неоднородностей, состоящий из источника света коллиматора, эталонной и рабочей ветвей, в которой установлена камера с исследуемой неоднородностью, приемной части, отличающийся тем, что, г целью одновременного получения двух интерференционных картин, в одной плоскости с различной настройкой, в рабочей и эталонной ветвях установлены полупрозрачные пластины, создающие дополнительную независимую пару когерентных све товых пучков и направляющие их на системузеркал, полупрозрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференционную картину,
СмотретьЗаявка
1095793
С. Я. Ловков, А. И. Харитонов
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02, G01N 21/45
Метки: интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных
Опубликовано: 01.01.1967
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-197219-interferometr-dlya-issledovaniya-prozrachnykh-neodnorodnostejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей</a>
Устройство для перегрузки полупроводниковых пластин в кассеты с различным шагом размещения полупроводниковых пластин
Номер патента: 1095275
Опубликовано: 30.05.1984
Авторы: Гончаров, Деев, Сухоставец
МПК: H01L 21/00
Метки: кассеты, перегрузки, пластин, полупроводниковых, различным, размещения, шагом
...установ О лен упор 12 для удержания накопителя 1 в отклоненном положении и опора 13 для установки на нем кварцевой кассеты 14, На опоре 13 для кассет выполнен выступ 15 для Фиксации кассет 14 в ориентированном положении относительно накопителя 1. В каретке 5 выполнено окно 16 для опоры основания 8, а накопитель 1 установлен на каретке 5 над ее окном 16. Для фиксации каретки 5 в верхнем и нижнем положениях в направляющей 7 предназначен стопорный винт 17, Пазы 2 для полупроводниковых пластин накопителя 1 со стороны окна 16 каретки 5 выполнены глухими и ограничены упорами 18, выполненными из упругого материала для исключения повреждения полупроводниковых пластин 3. Механизм для распределения полупроводниковых пластин выполнен в...
Прибор для формовки различных профилей нитей и пластин из восковых и пластических масс
Номер патента: 124584
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Ларин
МПК: A61C 19/00
Метки: восковых, масс, нитей, пластин, пластических, прибор, профилей, различных, формовки
...часть столика).Прибор состоит из цилиндра 1, укрепленного на станине 2, поршня 3 с нарезной осью 4 и рукояткой 5 для вращения, съемнык канюль 6 и состоящего из съемной и несъемной частей столика 7 с фиксирующим поворотным устройством, соединенным шестеренчатой передачей о с осью поршня для перемещения протеза 9. Приоор снабжен струбциной 1 О.Съемная часть столика вместе с протезом 9 устанавливается на несъемную и вводится в зацепление со звездочкой 11. После заполнения цилиндра пластмассой и маномером (для чего цилиндр на шарнире 12 откидывается в вертикальное положение) устанавливается канюля б с заданным размером просвета; затем цилиндр устанавливается в горизонтальное положение. При вращении рукоятки э поршень выдавливает ленту,...
Многолучевой интерферометр типа фабри-перо с переменной разностью хода
Номер патента: 190618
Опубликовано: 01.01.1967
Автор: Скоков
Метки: интерферометр, многолучевой, переменной, разностью, типа, фабри-перо, хода
...повредить зеркальные слои пластин. На чертеже представлена схема предложенного многолучевого интерферометра типа Фабри - Перо с переменной разностью хода.Интерферометр состоит нз полупрозрачных 5 зеркальных пластин 1 и 2, подвижной системы отражающих зеркальных поверхностей 3 и 4, расположенной между зеркальными пластинами, и регистрирующей системы.Световой, пучок от источника падает иа,по лупрозрачную зеркальную пластину 1, многократно проходит между зеркалами 1 и 2 по пути 1 - 3 - 4 - 3 - 2 и обратно. Образованная в результате многократного отражения между зеркалами 1 и 2 многолучевая интерферен ционная картина наблюдается с помощьюоптической системы б на экране б. Ребра зеркальных поверхностей 3 и 4 параллельны друг другу и лежат в...
Способ изготовления оптических поверхностейвращения
Номер патента: 315569
Опубликовано: 01.01.1971
МПК: B24B 13/00
Метки: оптических, поверхностейвращения
...3, Инструмент 4 устанавливают на рычаге 5 станка и крепят в исходном для обработки поверхности положении. При этом поводки б с закрепленными на них рабочими элементами 7 инструмента 4 упирают в обрабатываемую поверхность заготовки 1. Для получения различных видов поверхностей эталонную пластину 8 инструмента наклоняют к его оси под необходимым углом и тем самым задают нужный наклон косого среза, по которому идет контакт рабочих элементов 7 с обрабатываемой поверхностью.Для шлифования применяют металлические рабочие элементы, и при полировании на рабочую кромку наносят слой смолы или крепят фетр.Обработку ведут при помощи абразива, при 5 этом рабочие элементы инструмента,перемещают из обрабатываемой поверхности по эллиптической траектории...
Устройство для изготовления волокна из минерального расплава
Номер патента: 1735214
Опубликовано: 23.05.1992
Авторы: Калитин, Колескин, Петраков
МПК: C03B 37/04
Метки: волокна, минерального, расплава
...волокна и низкую производительность,Цель изобретения - улучшение качества волокна и повышение производительности.Поставленная цель достигается тем, что чаша выполнена с канавками, равномерно расположенными на ее внутренней поверхности и направленными от центра чаши к ее периферии по дугам, изогнуты в сторону, противоположную направлению вращения чаши,На фиг.1 изображено устройство для изготовления волокна, продольный разрез; на фиг.2 - чаша (фрагмент внутренней поверхности),Устройство для изготовления волокна из минерального расплава включает направляющий лоток 1 для подачи расплава, чашу 2, вращающуюся на горизонтально установленном приводном валу 3, и кольцевую дутьевую головку 4,При этом чаша 2 выполнена с канавками 5, равномерно...
Предыдущий патент: Многолучевой интерферометр
Следующий патент: Датчик температуры
Случайный патент: 319155