G02F 1/21 — с помощью интерференции

Модулятор света

Загрузка...

Номер патента: 122552

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Авруцкий

МПК: G02F 1/21

Метки: модулятор, света

...с равной длиной плеч. Зеркала 1 и 2 плеч интерферометра оптически совмещены с помогцьо полупрозрачного зеркала 3, Световой поток 5, который необходимо ггромодулировать, направляется на зеркало 3 и, частично отражаясь от него, а частично проходя сквозь нанесенный на него полупрозрачный слой серебра, разделяется на два взаимно-перпендикулярп 11 х полупотока равной интенсивности. Один полупоток входит в зеркало 1, и другой в зеркало 2. После нормального отражения от этих зеркал лучи света возвращаются к светоделительному слою серебра на зеркало 3. При этом лучи снова совмеща 1 отся и, выходя из устройства, интерферируют между собой, Зеркало одного из плеч может смещаться под действием пьезокварцевого двигателя, на обкладки которого...

Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией

Загрузка...

Номер патента: 127053

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Архипов, Желудов, Киселев

МПК: G01B 9/02, G01J 3/18, G02F 1/21 ...

Метки: амплитудной, модуляцией, селективной, спектрометр-интерферометр

...лучей вращением плоскопараллельной пластинки-компенсатора.Схема спектрометра-интерферометра, в котором фшетки установлены параллельно друг другу, изобраспектрометр-интерферометр с перпендикулярным рфракционных решеток - на фиг. 2.Пучок параллельных лучей, падающих на плоскопараллельную пластинку-делитель 1, делится на два интерферирующих между собой пучка, проходящих одинаковые пути, Модуляция производится при изменении разности хода вращением плоскопараллельной пластинки-компенсатора 2. Пучок параллельных лучей после делителя 1 и компенсатора 2 отражается с помощью плоских зеркал 3 и 4 на дифракционные решетки 5 и б. Решетки чстановлены па общем основании параллельно (фиг. 1) или перпендикулярно (фиг. 2) друг другу, При сканировании...

Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией

Загрузка...

Номер патента: 127054

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Архипов, Желудов, Киселев

МПК: G01J 3/18, G02B 9/02, G02F 1/21 ...

Метки: амплитудной, модуляцией, селективной, спектрометр-интерферометр

...общем основании и поворачиваются вокруг обшец оси вращения. Это полностью исключает ошибки в углах поворота каждого из зеркал. Для модуляции используют третье зеркало, которое расположено перпендикулярно или параллельно плоскости диффракционной решетки.На фиг. 1 изображена схема спектрометра-интерферометра, в котором модуляционное зеркало расположено параллельно диффрак. ционной решетке; на фиг. 2 - то же, перпендикулярно диффракционной решетке,В обеих схемах пучок параллельных лучей падает на диффракционную решетку 1 перпендикулярно. При этом интерферируют между собой пучки правых и левых порядков. Автоколлимационные зеркала 2 и 3, с помощью которых сканируют спектр, жестко закреплены на общем основании и поворачиваются вокруг общей...

156176

Загрузка...

Номер патента: 156176

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: C22C 38/12, G01J 3/28, G02F 1/21

Метки: 156176

...применяют обычно высоколегированные нержавеющие аустенитные стали марки 1 Х 18 Н 10 Т, Х 18 Н 12 М 2 Т или Х 14 Г 14 НЗТ, содержащие большое количество дефицитного никеля и другик легирующик элементов.Гредлагаемая хладостойкая сталь отличается от известнык химическим составом и строго определенным соотношением углерода, марганца и серы. Химический состав стали 06 НЗ (в"); Значения механических свойств стали в нормализованном состоянии при нормальной и низкик температурак приведены в таблице. УглеродМарганецКремнийНикельМочибденХромСераФосфор 0,02 - 0,0 б 0,45 - 0,60 0,17 - 0,3( 3,5 - 4,0 0,15 - 0,25 не более. 0,30 не более 0,01 не более 0,01156176 Ударная вязкость по Менаке,кг и с,пг25 15 8 - 14 15 - 20 45 35 45 35 20 12 , 3 Предмет...

156716

Загрузка...

Номер патента: 156716

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01J 3/28, G02F 1/21

Метки: 156716

...измерения. Это объясняется тем, что линейное изменение разности кода осуществляется, в простейшем случае, равномерным перемещением одного из зеркал в интерферометре Майкельсоца ц измерения можно производить лишь во время равномерного кода зеркала, т. е. спустя некоторое время после разгона мотора и до его замедления. В предложенном способе разность кода изменяют нелинейно. Такое изменение разности кода может быть получено либо прц возвратно-поступательном движении одного нз зеркал, либо при помещении в один из интерферирующих пучков колеблющейся илц вращающейся плоскопараллельцой пластинки, вьполценной цз преломляюшего материала. При этом частоту модуляции увеличивают до значений, прц которык величины абсолютного значения...

186770

Загрузка...

Номер патента: 186770

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Меньших

МПК: G02F 1/21, H03K 19/14

Метки: 186770

...основное свойство, заключающееся в немонотонности амплитудной характеристики, причем эта характеристика его является гребенчатой с резкими максимумами, эквидистантно распределенными по характеристике. Как известно, замыкание такого четырехполюсни к а в цепь обратной(4) связи приводит к образованию многоустойчивого устройства.Действительно, если выход четырехполюсника замкнуть с его входом, то такая система будет замкнутой. Так как входное напряжение четырехполюсника при этом равно выходному (вход и выход непосредственно соединены между собой), то графически это означает, что прямая обратной связи проходит из начала координат под углом 45, пересекая немонотонную характеристику самого четырехполюсника. На оси абсцисс отложено значение...

Электрооптический интерференционный модуляторсвета

Загрузка...

Номер патента: 206636

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Кравцов, Чирков

МПК: G02F 1/03, G02F 1/21

Метки: интерференционный, модуляторсвета, электрооптический

...специальное интерференционное покрытие, являющееся полупрозрачным отражающим покрытием.Луч 4 света, входящий в модулятор, попа 25 дает на светоделительный слой. Один луч,отразившись от слоя, остается в срезе 1, дру.гой проходит слой 3 и распространяется всрезе 2. Оба луча испытывают полное внутреннее отражение, после чего вновь возвра 50 щаются к светоделительному слою, где и смешиваются, давая интерференционную картину.Заказ 4694/16 Тираж 530 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр, Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 Оптическая длина пути светового луча в веществе представляет собой два плеча интерферометра.Электрическое поле изменяет коэффициенг преломления...

Устройство для преобразования светового потока

Загрузка...

Номер патента: 240301

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Меньших

МПК: G01B 9/02, G02F 1/21

Метки: потока, преобразования, светового

...во времени функции "., При этом на выходе прибора возникает реалпзуощпй операцгпо дифференцирования результирующий ответный оптический сигнал Д,Другая разновидность прибора,фиг. 2) со.держит отражатель 6 и полупрозрачное зеркало 7, а интерферометр Фабр-Г 1 еро работаст в режиме отражения и используется в каче.стве одного из отражателей интерферометр 10 Яайкельсона (поз. 8).В оснорр работы устройства лежит расщепление падающего потока когерентного света с заданным изменением интенсивности во времени на два пу ка, один из которых не под вергается временным преобразованиям, а другой экспоненциально затягивается во времени, а также последующее выравнивание интенсивностей световых потоков в стационарном состоянии и сложение указанных...

285134

Загрузка...

Номер патента: 285134

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Кравцов, Плт, Чирков

МПК: G02F 1/21, H01S 3/10

Метки: 285134

...пластины среан под утлом 45 к сторонам прямоугольнио содержит срезы 1 и 2 электроматериала. светоделнтсльный олняющий функцию делптельпого терферометра, и электроды 4 и 5, которых возбуждается управляю285134 Ф/2.амышииковабрамова Подписноеретений и открытийСССРиб., д. 4/5 пиография, пр. Сапунова иг 3Луч света вводят в модулятор через срез 2 перпендикулярно грани, полученной при срезании одного из углов прямоугольника, на расстоянии, равном половине толщины модулятора, от биссектрисы угла прямоугольника, протпваположного срезанному углу. Луч попадает на светоделительный слой 3, где делится на два равноинтенсивных световых потока, которые после двух полных внутренних отражений возвращаюгся к слою 3, где смешиваются, пнтерферируя один с...

Способ интерференционной амплитудно модуляции h3js учения аш1йо-тш: -бнблиоте;:

Загрузка...

Номер патента: 329409

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Оптикн, Тарасов, Чиков

МПК: G01J 3/08, G02F 1/21

Метки: амплитудно, аш1йо-тш, бнблиоте, интерференционной, модуляции, учения

...гг,илг, получил прирагцение 7. при повороте решетки, то крайний слева луч левого пучка получит приращение Л- 7 Отсюда следует, что при сканировании ггспектра на величину О разностьгинтсрферирующимп пучками пз и вслнчинусведении этих двух пучков в один и интерференции их при непрерывно меняющес разности хода происходит пнтерференцпонная амплитудная модуляция.Способ можно осуществить в с:сктрометрах, схематически показашых па фиг. 2, 3.На фш. 2,а представлена оптическая схема спектрометра с однократной дпфракцисй.Параллельный пучок лучей, падающих на плоскопараллельную пластинку-светоделитель 1 делится на два когерентных пучка, один из которых после пентагопальпого отражателя 2 дифрагирует на плоской дифракционпой редетке 3, а затем...

Устройство для измерения длительности монохроматических ультракоротких световых импульсов

Загрузка...

Номер патента: 500772

Опубликовано: 25.01.1976

Автор: Филипп

МПК: G02F 1/21

Метки: длительности, импульсов, монохроматических, световых, ультракоротких

...пластинки, коэффициснт отра женпя которой равен 0,5. Тогда получают ,два одинаковых луча 3 и 4. Последние отражаются с помопсью зеркал 5 и 6, дегтем интерферпруют на фотокатоде 7, расположенном В плоскости, нормальной к пло,Эально, т. е, угол Я,близок к 90 о. Выбор величины этого угла определяется тем, что в этомслучае величина напряженности электрического поля" Е ( т, ), связанного с поляризованной световой волной, в лучах 3 и 4 максимальна, поскольку направление поля Е () практически нормально. поверхности фотокатода 7. Последний выполнен из металлического слоя малой толщины, находится под вторичным вакуумом и электричер ски связан с массой. Позади фотокатода 7 и против поверхности интерференции лучей , 1 3 и 4 находится сетка 8...

Устройство для измерения изменений разности фаз световых колебаний

Загрузка...

Номер патента: 505984

Опубликовано: 05.03.1976

Автор: Эцин

МПК: G02F 1/21

Метки: изменений, колебаний, разности, световых, фаз

...призмы 6; интер ферометр Майкельсона, включающий зеркала 7, 8, разделительную и компенсаци онную пластины 9, 10, двулучепреломляющиефазовые пластинки 11, 12 в одну восьмую длины волны, расположенные в разных ветвях интерферометра, и выходной объектив 13.Пластины 11, 12 ориентированы так, что их 10 оси составляют с направлением пропусканияпризмы 6 угол 45, а между собой - 90,За объективом 13 расположен поляроид 14,связанный с осью синхронного электродвигателя 15 и установленный перед фотоприемни ком 16. Ось вращения поляроида параллельна оси оптической системы интерферометра,Перед поляроидом 14 помещена дополнительная оптическая система для получения опорного сигнала, состоящая из электриче ской лампы накаливания 17, конденсора...

Поляризационный интерферометрмодулятор

Загрузка...

Номер патента: 771601

Опубликовано: 15.10.1980

Авторы: Габучян, Елинсон, Игнатов, Ковалев, Перов

МПК: G02F 1/21

Метки: интерферометрмодулятор, поляризационный

...два пучка. Отраженный от делительной пластины 2 пучок, поляризованный в плоскости перпендикулярной плоскости чертежа непрозрачными пластинами 4 и 5 направляется на пластину 3, аналогичную пластине 2. Прошедший через делительную пластину 2 пучок проходит поляризатор отражательного типа, содержащий четыре полупроводниковые пластины 6-9, и пластиной 3 совмещается с другим пучком излучения. Пластины 4-9 изготовлены из непрозрачного полупроводникового материала с высоким показателем преломления, например легированного кремния, и установлены полированной стороной под углом Брюстера к падающему на них излучению. Делительные пластины 2 и 3 установлены под таким же улом. При последовательном отражении от пластин, установленных под углом...

Интерференционный модулятор

Загрузка...

Номер патента: 851321

Опубликовано: 30.07.1981

Автор: Гусев

МПК: G02F 1/21

Метки: интерференционный, модулятор

...позволяющее регулировать величину эксцентриситета.На чертеже, изображена схема интерференционного модулятора.Интереренционпый модулятор состоит из электродвигателя 1, ось которого через соединительную муфту 2соединена с подвижным оптическим кли.ном 3, причем ось вращения двигателяи оптическая ось подвижного клинасмещены относительно друг друга навеличину е с помощью механическогоустройства 4, позволяющего менять851321 Формула изобретения 25 ИИПИ Заказ 6348/ раж 539 Подписно П фПатентф, ул. Проектная,Филиал г.ужго величину эксцентриситета, и неподвижного оптического клина 5.Интерференциониый модулятор работает следующим образом.Вращение детали 3 приводит к смещению ее поперек пучка света на величину е, устанавливаемую в...

Компаратор световых потоков

Загрузка...

Номер патента: 853592

Опубликовано: 07.08.1981

Авторы: Козак, Ромоданов

МПК: G02F 1/21

Метки: компаратор, потоков, световых

...возникновению между ними некоторой разности фаз Г, При томже направлении приложенного электрическогополя в потоке 11 после прохождения плас 1 зшы4 обыкновенный компонент потока отстает отнеобыкновенного, что соответствует разностифаз - Г.Далее расщепленные потоки попадают наанализатор 5, ориентированный таким образом,что через него может пройти только один из 25компонентов (например, обыкновенный). В отсутствии электрического поля электрооптический элемент не воздействует на проходящиепотоки, и они беспрепятственно проходят че.рез оптическую систему. При наложении пере.менного электрического напряженияО = О яп од т анализатор поочередно с частотой Ы пропускает обыкновенный компонент 1и 11 потоков на расположенный за анализатором 5...

Модулятор света

Загрузка...

Номер патента: 873197

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Медведев

МПК: G02F 1/21

Метки: модулятор, света

...перпендикулярном своей проходной грани.Элементы 4 и 8 (фиг. 1 и 2, нарушающие полное внутреннее отражение в, призмах 3 и б могут быть выполнены из пьезоэлектриков которые под дейст-, вием управляющего сигнала изменяют свою толщину, а с ней и воздушный слой между плоскостями элементов 4 и 8 и гранями призм 3 и б, что приводит к оптическому контакту между ними и модуляции света, или Фз электрооптического кристалла, находящегося в оптическом контакте с призмами 3 и б и, показатель преломления которого изменяется под действием управляющего сигнала.Модулятор света работает следующим образом.Плоскополяризованный световой поток проходит через трехгранную призму 1, преломляется на границе призма 1 - двулучепреломляющий,элемент 2 в...

Модулятор интенсивности лазерного излучения

Загрузка...

Номер патента: 1500142

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Виневич, Ипполитова, Печенин

МПК: G02F 1/21

Метки: излучения, интенсивности, лазерного, модулятор

...которая для мощного лазера обычно меньше "1". Будеи считать эту величину известной. Тогда 25 А= К 6)где к = 21-г,)г е2 Г-ге)гееНазовем 8 эффективностью сложения пучков,Значение 8 максимально при г =0,5.Тогдал = 2 1(-,)г,ЗО 35 Последнее равенство показывает, что, модулируя фазу пучка с малой интенсивностью, вследствие эффекта интерференции можно получить глубокую иодуляцию интенсивности выходного 40 пучка, Если, например мощность входного пучка 250 Вт, максимально допустимая для элемента мощность 25 Вт, можно, выбирая для модулятора решеткусиеситель с коэффициентом отражения 4 0,5, а решетку-делитель с коэффици 25ентом = 0,1, получить модуляцию мощности выходного пучка с амплитудой 150 Вт, хотя модулируется при этом фаза пучка...