G01B 11/12 — отверстий
Прибор для измерения внутренних диаметров
Номер патента: 41690
Опубликовано: 28.02.1935
Автор: Старицын
МПК: G01B 11/12, G01B 9/08
Метки: внутренних, диаметров, прибор
...точность измерения в процессе эксплоатации, К числу этих недостатков относятся следующие. Отсутствие постоянного мерительного давления при установке шпилей звездки на номинальный разрез диаметра изделия по калибер- ному кольцу (скобе) и при последующем обмере изделия. Отсутствие центрирующего приспособления, дающего гарантию измерения точно по диаметру. Зависимость точности отсчетов от степени неравномерности износа рабочих поверхностей мерительного клина наную измерительную головку 2, в кото, рой на кронштейне 3 укреплен индикатор 4, имеющий выступающий мери- тельный штифт 6, непосредственно передающий изменения размеров при 1 обмере без промежуточного механизма. Для наблюдений за отклонением стрелки индикатора 4 предусмотрена...
Проволочки для измерения малых отверстий диаметром от 0, 3 до 1 мм
Номер патента: 93551
Опубликовано: 01.01.1952
МПК: G01B 11/12, G01B 9/04
Метки: диаметром, малых, отверстий, проволочки
...и микроскопа со спиральным онусом позволяет из- бежРТь Основых недостатков дру х контактных етодов и разрешить задачу измерения отверстий диаметром от 0,3 до 1 1Предлагаемые проволочки выполняются с полусферическими головками и имеют доведенные торцы с ЯРесеными на нпх риской илп точкой, которые могут рассматриваться в микроскоп со спиральням ониусом.На фиг. 1 показан прибор, с помощью которого оя измерения; на фиг. 2 и 3 - конечные положения проволо существляютс чки в процесс93551измерения; на фиг. 4 - поле зрения Отсчетного устройства микроскопа; на фиг. 5 - два положения проволочки в процессе измерения,На колонке приоора (фиг. 1) кроме микроскопа крепятс 51 два столика. На нижнем столике закрепляется проволочка, которая с...
Способ измерения больших диаметров отверстий
Номер патента: 123718
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Семенов
МПК: G01B 11/12, G01B 9/08
Метки: больших, диаметров, отверстий
...цилиндрической поверхности отверстия б.При помощи оптического прибора 1 и марок 3 и 4 производится из мерение отрезка а. Повернув затем прибор на 180, при помощи марок 3, 4 определяют отрезок а.Измерение отрезков Ьо и Ьо производят обычными механическими средствами, например микрометрическим винтом,В горизонтальной плоскости установку прибора 1 и базовой рейки 5 производят при помощи уровней,Перемещая резцедержатель 2 станка вдоль вертикальной оси, можно произвести измерение внутренних диаметров в необходимых горизонтальных сечениях и тем самым определить кону,"ность отверстия. Поворачивая деталь на планшайбе станка и измеряя диаметр Д в нескольких вертикальных сечениях, можно выявить овальность отверстия детали,Для измерения...
Устройство для проверки слюдяных деталей для радиоламп
Номер патента: 147324
Опубликовано: 01.01.1962
МПК: G01B 11/12, G01B 11/14, G01B 9/08 ...
Метки: проверки, радиоламп, слюдяных
...отверстия до координатных осей.В случае наличия допусков на диаметр отверстия детали на трафарете вычерчивают, кроме контура б, соответствующего номинальному размеру, контуры 7 и 8, соответствующие размерам с учетом предельных отклонений.Ориентирование основного трафарета 1 относительно проекций проверяемой детали производят путем совмещения двух наиболее удаленных отверстий, например 9 и 10, трафарета с соответствующими проек- циями отверстий детали. Если расстояние между отверстиями детали по горизонтальной оси будет иметь отклонения от номинала, тогда проекции этих отверстий не совпадут с соответствующими отверстиями 9 и 10 трафарета 1.С целью обеспечения наиболее точного совмещения трафарета 1 с проекцией детали к его базовым...
Способ измерения диаметров и контроля геометрической формы отверстий в алмазных фильерах
Номер патента: 148530
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Костин
МПК: G01B 11/12, G01B 9/04
Метки: алмазных, геометрической, диаметров, отверстий, фильерах, формы
...При этом отклонения от номинального размера определяются путем перемещения винтового окулярного микрометра на часть одного оборота.Нг чертеже изображена схема осуществления измерения диаметров отверстий в алмазных фильерах согласно предложенному способу.Измеряемая алмазная фильера 1 устанавливается на стол 2 прецизионного измерительного устройства,Штрих сетки 3 винтового окулярного микрометра 4 наводится на прав ю сторону контура отверстия а,После этого прецизионное измерительное устройство при помощи эталона, соответствующего номинальному значению измеряемого размера, перемещается н занимает положение, показанное на чертеже пунктиром. Левая сторона контура отверстия алмазной фильеры подходи 1 к тому же штриху. Отклонение б,...
193740
Номер патента: 193740
Опубликовано: 01.01.1967
МПК: G01B 11/12, G01B 13/10, G01B 9/08 ...
Метки: 193740
...измерения диаметра ог. верстий иа проекционных коордшатных при. борах, зяключяпощиеся в иавсдсшш перекрестия иа диаметрально расположсииыс образу;о. щие отверстия, отсчете соответствующих ко ординат и определении диаметра по разности этих отсчетов.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что проверяемое отверстие заполняот до ну 5 кпого урокя жидкосгыо и наводят перекрестие иа кр 2 й меииска. 1531 а 1 ГОДаря этому достигастся постоянная четкость иав, деиия при контроле отверстий любого диаметра, какис только можпо зяполиигь жидкостью по условиям капилляриости.Это позволяет повысить то шость коитроля малых огверстий,Измерения проводят с.На столике прибора у проверяемое отверстие за го уровня жидкостью и ия 1 ряи мсиискя, Затем 0...
Способ измерения диаметров отверстий в кольцах
Номер патента: 207400
Опубликовано: 01.01.1968
МПК: G01B 11/12, G01B 9/02
Метки: диаметров, кольцах, отверстий
...что, с целью повышения точности измерения диаметров отверстий и опре-. деления отклонений их от правильной геометрической формы, разность размеров отверстия и пробки определяют по интерференционной картине, наблюдаемой сквозь прозрачную стенку кольца,1 показано кольцоаттестованной пробког- то же, вид сверху,стие кольца 1 вводита 2 и прижимается к введеннои в вид спереди; На фиготверстиена фиг. 2В отверчая проб аттестовантенке отверИзвестны способы измерения диаметров отверстий в кольцах из любого материала по аттестованным цилиндрическим пробкам, Контроль диаметров отвсрстий заключается в определении разности размеров отверстий и пробки, введенной в отверстие, и осуществляется механическим, оптическим или электрическим путем. Однако...
277270
Номер патента: 277270
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Ветвинский, Харько, Янушкевич
МПК: G01B 11/12, G01B 9/02
Метки: 277270
...способ осуществляют следующим образом. В отверстие изделиявводят аттестованную пробку 2 ц перекашцвают ее в плоскости, перпендикулярной отражающей поверхности 3, до получения оптического контакта в точках А и В (пробка выполнена цз прозрачного материала ц состоит цз двух элементов, склеенных непрозрачными отражающими поверхцостямц, расположенными под углом примерно 45 к ее осц), Затем пробку подсвечивают со стороны торцов и через прозрачные торцы наблюдают ццтерференционные полосы равной толщины.Полосы ориентируют симметрично относительно нанесенных вдоль образующей поверхности пробки продольных рцсок 4 и, считая пятна контакта Л ц В пулевыми полосами,отсчитывают со стороны обоих торцов целое число и дробную часть...
Проекционный прибор для контроля линейных и угловб1х размеров детали
Номер патента: 284307
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01B 11/12, G01B 9/08
Метки: детали, линейных, прибор, проекционный, размеров, угловб1х
...я контроля линейных етали, содержащий осв предметный столик с я установки контроли ческую систему с экраном.С целью обеспечения контроля внутренних размеров детали и повышения производительности контроля предлагаемый прибор снабжен вогнутым зеркалом с центральным прозрачным кругом, установленным над прозрачным окном предметного столика и позволяющим фокусировать световой поток от осветителя на внутреннюю поверхность контролируемой детали, и механизмом перемещения детали, расположенным на предметном столике и выполненным, например, в виде подвижной и неподвижной эластичных лент.На фиг. 1 показана принципиальная схема предлагаемого прибора; на фнг. 2 - механизм перемещения детали.Прибор содержит осветитель, состоящий из источника света...
Интерференционный нутромер для измерения диаметров отверстий изделий
Номер патента: 315913
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Веснина, Коломийцов
МПК: G01B 11/12
Метки: диаметров, интерференционный, нутромер, отверстий
...прямоугольной, объектив 21зрительной трубы и сетку 22 окуляза.Работает предлагас.;ын нтромеп слетукщим образом.20 Выходящий из объектива 1 пучок лучейразделяется зеркалами 5 и б на два пучка,образующих между собой угол у. Каждая пзпризм-куоов пучки лучей раздсляюг надвапучка, один пз которых проходит через нес, а25 другой отражается се диагональной поверхностью в направлении зеркал 16 и 16, Микро.объективы 10 и 11 вместе с призмой 14 проектпруют изображения щелей соответственнона прОтивОНОлОжные стенки НОнтрОлирусмО 30 го отверстия 28 так, что длинная сторона щс лей параллельна образующим отверстия, М;1- крообъективы 12 и И дают такие жс изображеция щели на поверхностях эталош:ых зеркал 15 и 1 б. Пучки, отратксцп 1 е от поверхностей...
Устройство для контроля продольного сечения отверстия детали
Номер патента: 324487
Опубликовано: 01.01.1972
Автор: Царев
МПК: G01B 11/12
Метки: детали, отверстия, продольного, сечения
...отверстия, полученное при вращении подвижной оптпче- О ской системы.Устройство содержит рамку 1, ихС)05 цх и)ВОЗ)ОЖПОСТЬ ВРЩЕИ 5 В ПОЛОВИНИКЯХ ) ОТ п)ВВОдя (пе )етсжях пе нокзп) . К кс жсстко прикреп,5 сп 1 зекял,) - /, Ооъектив 5 Я, цпл)5)лрпческяя лпГз 9, колснсор 1 ОЯпстури)я диафрГх)я 11 (ко)л"псо)апертурная диафрагм могут быть вынесены зя пределы рамки и расположены неподвик.но). Внутри рамки а кронштейне 12 закрен- О лево пеподвпж)юс зеркало 1,5.,1 ст 5)л 11 сКОИТОЛ 1 РУС)1 Ь 1)1 ОТВСРСТИСЪ ИаХОДПТС 5 Цс 1) ,1) ет и Ос столике 15. ОсВСГител ыс 1 51 часть с 1иствс Сост 0 т из 1 Сточикс 1 16 све 1 с, коллектора 17, полевой дис)ч)рсгмы 18, зеркал 19Я а также коцдеисора 10 и диафрагмы 11.Устройство содержит так)ке окуляр 20, пе-...
Прибор для дистанционного излерения внутреннего диаметра отверстия
Номер патента: 347565
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01B 11/12
Метки: внутреннего, диаметра, дистанционного, излерения, отверстия, прибор
...2Для этого щупы снабжены рамками со щелями и лампочками подсветки, а в корпусе установлена светочувствительная подложка.После проявления светочувствительной подложки получается наглядная картина расположения меток в соответствии с размерами измеряемого диаметра, устраняющая необходимость во вторичных регистрирующих приборах и линиях передачи измерительного сигнала.На чертеже изображена принципиальнаясхема прибора, В корпусе 1 закреплена кольцевая светочувствительная подложка 2, к которой прилегают рамки 3 с лампочками 4. Измерительные щупы 5, жестко связанные с рамкой 3, поджаты пружинами б, обеспечивающими контакт со стенками 7 обмеряемого отверстия.Работает предлагаемый прибор следующим 20 образом.При подаче импульса электрического...
Вптб -пм г; gt; amp; п-;
Номер патента: 397746
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Авторы, Зарецкин, Любомиров, Панин, Шеметилло
МПК: B07C 5/06, G01B 11/12
...9: изменяют таким ооразом пространственное положение ветвей петли 8. Прц этом изменяется ллцна петли, что, в свою очередь, о приводит к изменению расстояния межлуопорами 2 и 3 измерительных рычагов 1, к повороту зеркала 5 и перемещению светового индекса по шкале 7. ю ли м для отвер ме зооретен Устройство для лелий по авт. св.тем, что, с целью п О рения, опора олного астройки содерж петлю 8, соедин т пр ющу ния Л. В. Сегалович, Э. К. Зарецкий,Г, И. Панин иИзооретенце относится к измерени нейных величин, а именно к устройства измерений при сборке пар деталейстия в в.Известное устройство для измерения от верстий изделий по авт. св.318329 содержит два контактирующих с измеряемой поверхностью в диаметрально протнвоположнь; точках,...
Пробка для измерения отверстий интерференционным методом
Номер патента: 439694
Опубликовано: 15.08.1974
Авторы: Ветвинский, Янушкевич
МПК: G01B 11/12
Метки: интерференционным, методом, отверстий, пробка
...(например стекла), Склеенные поверхности имеют плотное зеркальное покрытие 3 и расположены под углом приблизительно 45 к оси пробки,Для удобства отсчета интерференционных полос на рабочей поверхности А пробки нанесены поперечная риска 4 и две продольные диаметрально противолежащие риски 5.Рабочая поверхность А и торцы Б лиров анны ми, (индекаль с измеряемым отпробки вы сом б обо верстием),Пробка м рения отвер Пробку вв кашивают в коса образу которых при 10 ки появляет виде полос ров отверст щью указ рцы пробкполнены п значена де ожет быть применена для изместпй следующим образом.одят в отверстие детали б и перенем, (фиг, 1). В результате пере- ются воздушные клинья, за счет подсветке со стороны торцов пробся интерференционная картина...
Устройство для измерения отверстий изделий
Номер патента: 318329
Опубликовано: 25.06.1976
Авторы: Галушин, Зарецкий, Панин, Сафелкин, Сегалович, Шеметилло
МПК: G01B 11/12
Метки: отверстий
...изделий, например кольцевых катибров, содержащие два контактирующихс измеряемой поверхностью в диаметраль-,но противоположных точках, установленныхна опорах и качающихся в одной плоскостиизмерителы:ых рычага, пружинно-оптичес,кий преобразователь перемещений типа оптикатора, оптическую систему для 1 проектирования штриха и шкалу,Предлагаемое устройство отличается1 тем, что.пружинно-оптйческий преобразователь закреплен на измерительных рычагах,Такое выполнение устройства позволяет повысить точность и стабильность из,мерений,На чертеж о аегаемого устр а с измеряемой поверхностьюв диаметр но противоположных точках, установле на опорах 5 и 6 и качаются в одной кости, Преобразователь .закреплен на б гах. вводятся в отверстие к али 7. Под...
Способ измерения внутренних диаметров образцовых колец
Номер патента: 557259
Опубликовано: 05.05.1977
Авторы: Грейм, Зарецкий, Махов, Шеметилло
МПК: G01B 11/12
Метки: внутренних, диаметров, колец, образцовых
...него кольцом и располагают в плоскости, совпадающей с осью О действия измерительного усилия 11), Затем зазор ориентируют с помощью плоскопараллельного перемещения кольца относительно вала- эталона на величину разности размеров в паре эталон - кольцо, измеряемой по шкале 15 измерительного устройства. При этом размер измеряемого кольца определяют как сумму размера вала и результата измерения по измерительному устройству. Недостаток известного способа - неточность при работе в 20 реальных производственных условиях из-за пыли, которая при линейном контакте между измеряемым кольцом и валом-эталоном оказывает влияние на результат измерения и деформации измеряемого кольца. 2 б Цель изобретения - повышение точности измерения путем уменьшения...
Устройство для измерения отверстий изделий
Номер патента: 664021
Опубликовано: 25.05.1979
Авторы: Зарецкий, Любомиров, Панин, Сегалович, Шемелилло, Шеметилло
МПК: G01B 11/12
Метки: отверстий
...Другое плечоэтого рычага соединено с подвижнойойоРой промежуточным элементом регулйруемой длины, например винтом 12,Измерительные рычаги 1 подпружиненымежду собой пружиной 13, а пружина14 связывает подвижную опору 3 с корпусом,Устройство работает следующим образом,Измерительные рычаги 1,"введенные1в отверстие контролируемой детали 4 20под действием пружины 13 прижимаютсясвоими наконечниками к ее внутренней .- поверхности, Изменение положения этихрычагов относительно исходного, выставленного с помощью кольцевогб калибра (иа чертеже не показан), обус- .лавливает поворот зеркальца пружинноолтическогб преобразователя 5 и перемещение светового индекса 7 по шкале 8. Начальное положение световогоиндекса устанавливается поворотом регулируемого...
Способ измерения диаметра отверстия
Номер патента: 773429
Опубликовано: 23.10.1980
МПК: G01B 11/12
...в свободном пространстве.На чертеже приведена диаграмма, поясняющая способ измерения. Способ осуществляется следующимобразом. Электромагнитной волной облучаютиз точки 1 измеряемое отверстие 2, с другой стороны которого получают комбинированную дифракционную и интерференционную картину. Затем опре 1 р деляют амплитуду излученной волныв точке 3 свободного пространства.При этсв. измерение амплитуды интерференционного сигнала нечетных гармоник ведут по максимальной амплитуде в точке 4 с одновременным изменением длины волны облучения до значения длины волны А , при которой амплитуда интерференционного сигнала нечетных гармоник в точке 4 равна удвоенному значению амплитуды электромагнитной волны в точке 3 свободного пространства. Диаметр О...
Устройство для контроля геометрических параметров глубоких отверстий
Номер патента: 896395
Опубликовано: 07.01.1982
МПК: G01B 11/12
Метки: геометрических, глубоких, отверстий, параметров
...содержит пробку 1, состоящую из пружины 2 с отверстием 3 повсей длине пружины и из пружины 4, наружная поверхность которой выполнена снезначительной конусностью, механизм 5взаимного поворота пружин, состоящий. из втулки 6, жестко закрепленной напружине 4, и втулки 7, жестко закрепленной на пружине 2,Для вЗаимного поворота пружин иопределения диаметра отверстия втулки3 89639 снабжены рукоятками 8 и 9, лимбом 10 и штрихом 11.Устройство соцержит также источник 12 освещенности и измеритель 13 освещенности, ЭУстройство работает слецующим образом.Перед ввоцом в отверстие концы пружин 2 и 4 с помощью рукояток 8 и 9 втулок 6 и 7 скручиваются, их диаметр 10 уменьшается, и устройство легко входит, в отверстие, Затем втулки 6 и 7 поворачивают в...
Способ измерения параметров глубоких отверстий
Номер патента: 911148
Опубликовано: 07.03.1982
Автор: Кулагин
МПК: G01B 11/12
Метки: глубоких, отверстий, параметров
...радиальном чаправлении. Размах этих колебаний должен быть достаточным, чтобы обеспечить контактное взаимодействие подвижного основания с диаметрально про"тивоположными участками контролируемой поверхности и тем самым осуществить динамическое базирование вотверстии целевого знака во всем диапазоне измерений.Колеблющийся целевой знак 1 совместно с основанием 2 вводят в контролируемое отверстие 6, визируют нанего визирную трубу 3 и получают визуальный или электрический с выходаФЭП 4 сигнал Ч 1,смещений центра целевого знака 1 относительно оси визирной трубы 3, Этот сигнал разделяют одновременно на переменную ипостоянную составляющие, например, спомощью фильтра 5.Так: как амплитуда Динамическойсоставляющей смещений целевого знака 1...
Способ определения диаметра отверстий
Номер патента: 1413415
Опубликовано: 30.07.1988
Авторы: Александров, Биенко, Галушко, Ильин
МПК: G01B 11/12
...Затем один из вторичных пучков направляют в первый коллиматор 3, получают расширенньп параллельный пучок света, в ходе которого в узле крепления устанавливаютобъект контроля (деталь с отверстием). ОПри этом в результате дифракции лазерного пучка на отверстии последовательно одно эа другим по его осиформируются дифракционные изображения измеряемого объекта с минимумамиинтенсивности в центре. Эти дифракционные изображения увеличиваютсяобъективом 5 и проецируются на плоскость первой круглой диафрагмы 6,которая вырезает центральную зону.Первый фотоэлемент 7 регистрирует 50освещенность центральной зоны каждого дифракционного иэображения отверстия на диафрагме 6.= 2- длина волны лазерного излу ния р мул Способ оп ления диаметра...
Устройство для измерения параметров глубоких отверстий
Номер патента: 1415053
Опубликовано: 07.08.1988
Авторы: Богатырев, Вяткин, Соколов, Спешков, Ширкунов
МПК: G01B 11/12
Метки: глубоких, отверстий, параметров
...в измеряемомотверстии с помощью роликов 18, Измерительные рамки 9 и 1 О подключены ксумматору 19 и дифференциальному усииндицируется на индикаторе 22, Разностный сигнал рамок пропорционален измеряемой непрямолинейности и индицируется иа индикаторе 23, 1 ил,лителю 20 отсчетного узла, а фотоэлектрический датчик 3 - к усилителю 21 рассогласования, к выходу которого подключен следящий электродвига" тель 6. К выходу сумматора 19 подсоединен индикатор 22 измеряемых диаметров, а к выходу дифференциального усилителя 20 - индикатор 23 измеряемой непрямолинейности.Устройство работает следующим образом. Источник 1 света материализует своии лучом прямую, относительно которой определяется непрямолинейность измеряемого отверстия. Корпус 2, опираясь...
Устройство для размерного контроля отверстия
Номер патента: 1534302
Опубликовано: 07.01.1990
Авторы: Звонарев, Кийко, Тарлыков
МПК: G01B 11/12
Метки: отверстия, размерного
Способ определения диаметра цилиндрических отверстий
Номер патента: 1597533
Опубликовано: 07.10.1990
Авторы: Нестеренко, Остафьев, Тымчик
МПК: G01B 11/12
Метки: диаметра, отверстий, цилиндрических
...за выходным торцом световода 7 лучи заполнят область пространства, ограниченную двумя несовпадающими близкими коаксиальными коническими поверхностями, углы при вершинах которых пропорциональны углу между узким параллельным пучком лучей, сформированным на входном торце световода 7, и нормалью плоскости д этого торца, Для увеличения рабочей апертуры на выходе световода 7 плоскость его входного торца наклоняют так, что угол между последней и оптической осью линз 5 и 6 не равен 90 . 25 :При введении выходного торца световода 7.в отверстие 13, диам .тр которого измеряется, лучи, заполняющие указанную область пространства, отражаются от поверхности отверстия 13 и посту 3 пают на фотоприемники 9, укрепленные на кронштейне 8. Затем...
Способ определения диаметра отверстий и устройство для его осуществления
Номер патента: 1620826
Опубликовано: 15.01.1991
МПК: G01B 11/12
...20 плоскости контролируемого отверстия и действительное иэображение от его выходной ,плоскости. Действительные изображения контролируемого и эталонного отверстий сравнивают с помощью коммутатора 15, вы полненного с зеркальными участками, чередующимися с равными им по размеру и форме прозрачными участками, Коммутация изображений осуществляется вращением коммутатора 15. Фиксируют координату эта лонного отверстия, соответствующую его положению при получении действительного изображения, и принимают ее за начало отсчета. Эталонное отверстие перемещают вдоль пучка, вместе с ним перемещается 35 отражатель 6. Отражатель 6 со вторым светоделителем 5 образуют линейный интерферометр Майкельсона, В интерферометр поступает часть излучения от первой...
Способ бесконтактного измерения диаметра отверстий
Номер патента: 1651093
Опубликовано: 23.05.1991
Авторы: Нестеренко, Остафьев, Райфурак, Тымчик
МПК: G01B 11/12
Метки: бесконтактного, диаметра, отверстий
...диаметром.Цель изобретения - повышение точ 1ности и расширение диапазона контролируемых отверстий за счет контроля отверстий с переменным диаметром.На чертеже изображена схема устройства, реализующего способ бесконтактного измерения диаметра от верстий. 2отверстий, в том числе с переменнымдиаметром. Цель изобретения - повышение точности и расширение диапаэона контролируемых отверстий. Лучлазера делится на два пучка, измерительный и эталонный. Измерительнымпучком облучают противоположные участки контролируемого отверстияаэталонным пучком - два зеркала, ус. тановленных параллельно друг другу нарасстоянии, равном номинапьному диаметру контролируемого отверстия.Затем пучки сводят, регистрируют ингенсивпость излучения в...
Способ измерения внутренних диаметров крупногабаритных изделий
Номер патента: 1668859
Опубликовано: 07.08.1991
МПК: G01B 11/08, G01B 11/12
Метки: внутренних, диаметров, крупногабаритных
...высвечиваются световые метки А 1, А 2, С 1, С 2, В. С помощью подстроечных винтов 4 совмещают метки А 1 с А 2 и С 1 с С 2, Образованные световые метки А,В,С совпадают с вершинами вписанного в контролируемое отверстие прямоугольного треугольника, один из катетов которого совмещен с базовым отрезком АС прямой.С помощью угломерного прибора 8, например теодолита, измеряют угол СЕВ между направлением к одной из двух меток, совпадающих с концами базового отрезка АС прямой и направлением к противолежащей по отношению к ним метке В. Поскольку треугольник АВС- прямоугольный, его 5 10 15 20 25 30 35 40 45 тиволежащей по отношению к ним метке В Гипотенуза АВ прямоугольного треугольника АВС совпадает с диаметром О контролируемого отверстия....
Способ измерения диаметров малых отверстий
Номер патента: 1775039
Опубликовано: 07.11.1992
Автор: Кайнер
МПК: G01B 11/12
Метки: диаметров, малых, отверстий
...в поле зрения оптического прибора.Оптический прибор содержит источник . света 1, конденсор 2, столик 3, на котором размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 и деталь б с измеряемым отверстием 7, визирную сетку 8 и окуляр 9,Способ измерения диаметров малых отверстий осуществляется следующим образом.На столик О оптического прибора, например, универсального или инструментального микроскопа, размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 с мелким шагом, например, 20 мкм, таким образом, чтобы один из центральных (серединных) штрихов, шкалы 5 был совмещен с визирной линией визирной сетки 8, Это обеспечивает совмещение штрихов растровой шкалы 5 пластины 4 с линией измерения прибора, После этого на пластину 4 устанавливают...
Устройство для контроля геометрических параметров отверстий
Номер патента: 1775599
Опубликовано: 15.11.1992
Авторы: Антонов, Борзенков, Шавыкин, Шевляков
МПК: G01B 11/12
Метки: геометрических, отверстий, параметров
...а применение дискриминатора размера дает воэможность использовать телевизионные автоматические устройства для контроля внутренних диаметров отверстий с погрешностью 0,5 - 1 мкм.Угол наклона между плоскостью, образующей торец оптического волокна в наконечнике, и перпендикулярном к продольной оси датчика выбирают из условия уменьшения или исключения засветки за счет отражения от внутренней поверхности втулки. Это обстоятельство особенно важно для измерения диаметров втулок с отражающими поверхностями.Для передачи сконцентрированной оптической мощности в контролируемую зону используются оптические волокна, у которых наиболее удаленные относительно друг друга края несут информацию об измеряемом размере, что дает возможность достигнуть...
Устройство для контроля металлизированных отверстий печатных плат
Номер патента: 1793208
Опубликовано: 07.02.1993
Авторы: Галкин, Гусев, Кособоков, Кучеренко, Тарасова, Токарева, Уткин, Эппель
МПК: G01B 11/12
Метки: металлизированных, отверстий, печатных, плат
...отражающую сферу б.Лазерный пучоклучей имеет крайненеэначительную угловую расходимость ( Ь= 10 ).Это обстоятельство позволяет беэ особой погрешности при конструктивных расчетах "0 считатьегосостоящим из параллельных лучейв пределах относительно малых длин (толщин контролируемой платы, диаметр отражающей зеркальной сферы), что неоднократно подтверждено практикой. От разившись от зеркальной сферы 6 малогодиаметра, соизмеримого с диаметром конт ролируемого отверстия, лучи лазерного пуч. ка утрачивают свою параллельность.Отраженный от зеркальной сферы 6 пучок 20 становится рассеянным, близким к гомоцентрическому и проходит через контролируемое отверстие 9 платы еще раз только в обратном направлении, Направляясь к призме-кубу 5, световые...