Многолучевой интерферометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕИЗОЫ ЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Саюа Соеетских Социалистических Республик.заявкис присоединением Комитет ло делаю аобретений и открыт ори Сосете Министре СССРПриоритетОпубликовано 31,И.1967. БюллетеньМПК О 026УДК 535,411(088.8 описания 25,И 1,1967 Дата опубликов Авторы изобретени С, Я. Ловков и И, В, Скоко аявите МНОГОЛУЧЕВОЙ ИН 1 ЕРФЕРОМЕ коэфф завис На лучевициентами отражения и имеющими немые юстировочные механизмы.чертеже изображен описываемый многоой интерферометр. ит источи зеркаль у 3, зеркал ставляющи стлн с разл ия и имею механизмь объектив б(например,дуемым пол 20 мощью уюшеи ряжеп. картина сается регистрна экране), с м. В зависимости от характера объекта зеркала мчогоэлемент устанавливаются определенным о на различном расстоянии и под 30 углами относительно зеркальнойизучаемого ого блока разом, т. е. азличными ластины д. Известные многолучевые интер ферометры типа Фабри-Перо состоят из пары зеркальных плоскопараллельных пластин, между которыми помещается исследуемая прозрачная неоднородность. Эти устроиства предназначены для определения различных параметров (например, плотности, давления, температуры, показателя преломления и т. д.) в прозрачных средах.Однако они не позволяют проводить одновременное исследование неоднородностей, характеризующихся наличием участков с существенно различными величинами определяемых параметров.Для таких неоднородностей, характеризующихся разными величинами и направлениями градиентов плотности, необходима исходная настройка различных участков интерференционного поля на различную ширину и ориентировку полос.Известные многолучевые интерферометры не позволяют проводить одновременную настройку интерференционной картины, обеспечивающую получение системы полос с различными параметрами за один цикл эксперимента, т. е, без перенастройки устройства.В данном устройстве это достигается тем, что одна из зеркальных пластин выполнена в виде многоэлементного блока, состоящего из системы зеркальных пластин с различными Он содери коллиматора ную пластин блок 4, пред 0 кальпых пла ми отражен тировочные родность 5,стему 7. 5 Предлож щим образо Плоский объектива стину д, исс кальный бл Интер фер объектива системой 7 вой с иссле 5ик света 1, объектив 2 ную плоскопараллелььный многоэлементный й собой систему зеричными коэффициентащими независимые юсисследуемую неоднои регистрирующую сиронт от источника 1 и через зеркальную плаеоднородность 5 и зер.дактор Заказ "183/5ЦПИ 11 П 14 Комитета и Тираж 535 Подписита:д изобретений и открытий при Совете Министров СССМосква, Центр, пр. Серова д. 4 пографии, пр. Сапунова,Благодаря этому интерференционное поле будет иметь ряд участков с разными параметрами интерференционной картины.Предложенное устройство повышает точность и надежность измерения, снижает стоимость эксперимента, устранив необходимость введения специальных спосооов согласования экспериментальных данных. Предмет из о бр е те ния Многолучевой интерферометр, построенныйпо схеме Фабри-Перо, содержащий коллима. тор, две зеркальные плоскопараллельные пластины и регистрирующую систему, отличатиийся тем, что, с целью одновременного изуучастков исследуемого поля с различ ными параметрами и получения системы интерференционных картин с различной шириной и ориентировкой полос, одна из зеркальных пластин выполнена в виде многоэлементного блока, состоящего из системы зеркаль.10 ных пластин с различными коэффициентами отражения и имеющими независимые юстиро.вочные механизмы.
СмотретьЗаявка
1083146
С. Я. Ловков, И. В. Скоков
МПК / Метки
Метки: интерферометр, многолучевой
Опубликовано: 01.01.1967
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-197218-mnogoluchevojj-interferometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Многолучевой интерферометр</a>
Предыдущий патент: Безыммерсионный апохроматический зеркально-линзовый объектив микроскопа
Следующий патент: Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей
Случайный патент: Молотилка для льна