Многолучевой интерферометр типа фабри-перо с переменной разностью хода
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 190618
Автор: Скоков
Текст
198618 ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республиквт. свидетельстваисимое от Заявлено 09,11,1966 ( 1060854/26-25)с присоединением заявки1060857/26-25ПриоритетОпубликовано 29,Х 11.1966, БюллетеньДата опубликования описания 15.11.1967 л. 421 т, 34/1МПК 6 020 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРУДК 535.411:535.853.4: :531.715.1(088,8) МНОГОЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ТИПА ФАБРИ-ПЕ С ПЕРЕМЕННОЙ РАЗНОСТЬЮ ХОДАИзвестны многолучевые интерферометры типа Фабри - Перо с переменной разностью хода, состоящие из двух полупрозрачных зеркальных пластин и регистрирующей системы. Такие интерферометры предназначены для изменения порядка интерференции с помощью механичсского, электромагнитного, термического, пьезоэлектрического устройства, соединенного с зеркальными пластинами.Г 1 редложеиный интерферометр отличае гся тем, что между его полупрозрачными зеркальными пластинами установлена подвижная сисгема отражающих зеркальных поверхностей, выполненных в виде двух крышеобразных зеркал, ребра которых параллельны друг другу и лежат в плоскости, перпендикулярной оптической оси, Кроме того, система отражающих зеркальных поверхностей может поворачиваться вокруг вертикальной оси.Это позволяет упростить юстировку интерферометра, изменять порядок интерференции без воздействия на положение зеркальных пластин и предохранить их от повреждения исследуемым объектом,Необходимость в сложных механизмах для изменения положения пластин отпадает и создается возможнссть расположить обьект исследования вне полупрозрачных пластин с тем, чтобы не повредить зеркальные слои пластин. На чертеже представлена схема предложенного многолучевого интерферометра типа Фабри - Перо с переменной разностью хода.Интерферометр состоит нз полупрозрачных 5 зеркальных пластин 1 и 2, подвижной системы отражающих зеркальных поверхностей 3 и 4, расположенной между зеркальными пластинами, и регистрирующей системы.Световой, пучок от источника падает иа,по лупрозрачную зеркальную пластину 1, многократно проходит между зеркалами 1 и 2 по пути 1 - 3 - 4 - 3 - 2 и обратно. Образованная в результате многократного отражения между зеркалами 1 и 2 многолучевая интерферен ционная картина наблюдается с помощьюоптической системы б на экране б. Ребра зеркальных поверхностей 3 и 4 параллельны друг другу и лежат в плоскости, перпендикулярной оптической оси интерферометра. Зеркала 1 - 4 20 расположены таким образом, что оптическаяось проходит через их центры.При перемещении зеркала 4 параллельносамому себе в направлении к зеркалу 3 и от него изменяется геометрическая длина пути 25 луча между зеркалами 1 и 2 и порядок интерференции.Исследуемая неоднородность в предложеннсм устройстье может располагаться вблизи зеркала 4, т. е. вне полупрозрачных пластин 1 Зо и 2, благодаря чему исключено влияние изу100618 Предмет и зоб ретен ия Составитель И. И, Небосклонова Редактор И, Грузова Техред А, А. Камышникова Корректоры: В. В. Крылова и Г, Е. ОпаринаЗаказ 181/11 Тираж 535 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центо, пр. Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 чаемых объектов на дорогостоящие полупрозрачные зеркальные пластины. 1. Многолучевой интерферометр типа Фабри - Перо с переменной разностью хода, состоящий из двух полупрозрачных зеркальных пластин и регистрирующей системы, отличающийся тем, что, с целью изменения порядка интерференции без воздействия на положение зеркальных пластин и предохранения их от влияния исследуемых объектов, между зеркальными пластинами установлена подвижная система отражающих зеркальных поверхностей, выполненных в виде двух крышеоб разных зеркал, ребра которых параллельныдруг другу и лежат в плоскости, перпендикулярной оптической оси.2. Интерферометр по п, 1, отличающееслтем, что, с целью изменения угла падения 10 луча на зеркальную пластину, система отражаюших зеркальных поверхностей выполнена поворотной.
СмотретьЗаявка
1060854
И. В. Скоков
МПК / Метки
Метки: интерферометр, многолучевой, переменной, разностью, типа, фабри-перо, хода
Опубликовано: 01.01.1967
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-190618-mnogoluchevojj-interferometr-tipa-fabri-pero-s-peremennojj-raznostyu-khoda.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Многолучевой интерферометр типа фабри-перо с переменной разностью хода</a>
Способ измерения разности температур между противоположными поверхностями пластин
Номер патента: 477315
Опубликовано: 15.07.1975
Авторы: Егоров, Килессо, Комаров
МПК: G01K 7/00
Метки: между, пластин, поверхностями, противоположными, разности, температур
...разность темисртур между )Сслсдусмой и доиоли)ггсльной поверхностями будет постояииой, и по исй ихо;)ят )ккомую рягиюсть темпера гур.Ня чертеже показана схема устройства, позволяо)цсго реализовать предложсииый сиоотяст устройство следующим аритсльцо датчик 1 покрывают ленкой 2, затем датчшс 1 и 3 в и мостовой схемы и помещают в которую прокачивают жидкость Ой скоростью течения. Мощиос В 11 тсл 51 у дятчикз 1 (1)иксиру)от, з иервоц)чзль цую мощность изгрсвятеля датчика 3 устаиав.ливают такой, чтобы температура датчика 1 была выше температуры датчика 3. После этого, сохряияя превышение температуры д)г и)- кз 1, умсиьиЯ)от 1(оэ(1)ф)щиеить) тег),)оотд;)чи с иоверхиостей датчиков 1 и 3 путем умсиьшеиия скорости движеиия исидкости и...
Способ измерения разности температур между противоположными поверхностями покрытия, нанесенного на металлическую подложку
Номер патента: 775633
Опубликовано: 30.10.1980
МПК: G01K 7/00
Метки: между, металлическую, нанесенного, поверхностями, подложку, покрытия, противоположными, разности, температур
...подложки безразмер.- у ная избыточная температуры поверхlности покрытия 9 р будет изменяться также, как и температура подлож 1 Уки 6 св случае, если таким же потоком действовать со стороны покрытия, т.е. будет выполняться тождество( 11К м А=Окоторое в размерном виде можно записать как3( о-):011 О,где д(Цх,С)-1 о) - избыточная температура образца.Помимо таких Факторов, как неодномерность температурного поля, зависимость теплофизкческих свойств от температуры, устраняемых общеизвестными способами, решающую роль в отклонении условий. эксперимента от теоретических играет конечность величины теплолроводности материала лодложки, оценка влияния которой сделана путем сравнения решения задачи для случая, когда теплолроводность материала...
Прибор для измерения площади фактического контакта между соприкасающимися поверхностями металлического и неметаллического образцов
Номер патента: 125933
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Демкин, Крагельский, Лазарев
МПК: G01B 11/28, G01N 3/56
Метки: контакта, между, металлического, неметаллического, образцов, площади, поверхностями, прибор, соприкасающимися, фактического
...конденсаторов 6, объективов 7 и 8, матовых стекол 9 и диафрагм 10, Матовые стекла служат для обеспечения равномерной освещенности призмы и фотоэлементов. Полупрозрачная пластинка 11 и окуляр 12 предназначены для визуального наблюдения площади фактического контакта и для тарировки прибора.Фотоэлементы 4 и 5 включены один навст 1 речу другому по балансной схеме через зеркальный гальванометр 13, Установка гальванометра на ноль о "уществляется путем изменения освещенности фотоэлемента э достигаемого его перемещением относительно матового стекла 9. При увеличении нагрузки на образец 2 световой поток, отражающий:я от призмы, уменьшается, так как часть света попадает в точки контакта, и поглощается (визуально точки контакта наблюдаются как...
Устройство для измерения расстояний между отражающими поверхностями
Номер патента: 1180697
Опубликовано: 23.09.1985
Авторы: Айсин, Подобрянский, Пушечников, Смирнов, Хлебников, Шевелев
МПК: G01B 21/08
Метки: между, отражающими, поверхностями, расстояний
...Кроме того, измеряется расстояние между отражающими поверхностями объекта 31, например линзы,Устройство работает следующимобразом,Источник 1 света освещает щелевуюдиафрагму 2, автоколлимационноеиэображение которой от первой поверхности строится с помощью полупрозрачного элемента 3, коллимирующегои фокусирующего объективов 5 и 6 вплоскости анализа, в которой -установлена щелевая диафрагма 2,Автоколлимационное изображениещелевой диафрагмы 2 также строитсяв плоскости анализа с помощью полупрозрачного элемента 7, зеркал 8-10и фокусирующего объективаФокусирующие объективы 6 и 11 установлены таким образом, что расстояние между их фокальными плоскостями больше максимального расстояния между отражающими поверхностями линзы 31.При перемещении...
Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями, одна из которых прозрачная
Номер патента: 1446472
Опубликовано: 23.12.1988
Авторы: Бручас, Маченис, Печкис
МПК: G01B 21/08
Метки: двумя, зазоров, которых, малых, между, одна, поверхностями, прозрачная
...осиподвеса, Световой поток, излучаемыйисточником 1 света с длиной волныЯ, через щелевую диафрагму 2 направляется в измеряемый зазор между поверхностями в виде световой линии, 55ориентированной в радиальном направлении прозрачного диска 4, по которому перемещается поверхность 5. Отраженные этими двумя поверхностями интерферирующие лучи направляются светоделителем 3 на линейку 6 Фотоприемников (число Фотоприемников определяется радиусом диска), Сигналы сФотоприемников через электронный коммутатор 7 поступают на многоканальный блок 10 регистрации, перемещениеповерхности 5 фиксируется датчиком,пинейного перемещения, выдающим аналоговый сигнал, который через преобразователь 8 аналог - код управляетэлектронным коммутатором 9. В исходном...
Предыдущий патент: Калейдоскоп
Следующий патент: 190619
Случайный патент: Узел сцепления толкаемой ледокольной приставки с судном