Архив за 1990 год

Страница 964

Устройство для настройки преобразователя линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1578442

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Гомельский, Обычева, Осипов

МПК: G01B 5/00

Метки: линейных, настройки, перемещений, преобразователя

...упора 11, Оператор вращением маховика 10 с помощью винта 9 смещает вдоль оси шток 8. Коническая часть штока 8, взаимодеиствуя с роликом 7 смещает его, а также связанную с ним скобу в вертикальном направлении, например, вниз. При этом плоские пружины 3 деформируются, и упор 4 перемещается поступательно. Перемещение упора 4 контролируется эталонным измерительным прибором 6. Настройку сопрягаемого с преобразователем 14 электронного преобразователя (на чертеже не показан) осуществляют по показаниям эталонного прибора 6. Если устройство используется для проверки преобразователя 14, то о погрешности последнего судят по разности показаний стрелоч Формула изобретения 30 3540 тельной стойки, жестко закрепленной на основании, упор выполнен в...

Устройство для базирования деталей на основании

Загрузка...

Номер патента: 1578443

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Сидорчик

МПК: G01B 5/00

Метки: базирования, основании

...наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 01 Изобретение относится к измерительной технике, а именно к автоматике для базирования цилиндрических деталей типа втулок, роликов, пальцев пр и др. при контроле.Цель изобретения - повышение точности базирования деталей.На фиг. 1 представлена схема устройся; ва; на фиг. 2 - разрез А - А на фиг. 1 в.Устройство для базирования деталей на основание содержит устанавливаемые на основание в подшипниковых опорах и параллельно расположенные цилиндрические валики 1 и 2. На концах цилиндрической поверхности каждого валика имеются базовые пояски 3. Каждый из поясков выполнен в виде одного витка прямоугольной или трапецеидальной резьбы. Привод 4 предназначен для...

Способ настройки устройства для контроля непараллельности и перекоса осей отверстий и валов

Загрузка...

Номер патента: 1578444

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Айрапетов, Афонский, Каплун, Ковалевский, Курганбеков

МПК: G01B 5/24

Метки: валов, настройки, непараллельности, осей, отверстий, перекоса, устройства

...на ноль. Этим фиксируется, соосность базирующей и(54) СПОСОБ НАСТРОЙКИ УСТРОЙСТВА ДЛЯ КОНТРОЛЯ НЕПАРАЛЛЕЛЬНОСТИ И ПЕРЕКОСА ОСЕЙ ОТВЕРСТИЙ И ВАЛОВ(57) Изобретение относится к машиностроению, а именно к методам и средствам контроля зубчатых передач. Цель изобретения - повышение точности устройств, имеющих возможность совмещения осей базирующих призм, путем обеспечения возможности исключения промежуточной оправки. Цилиндрическую настроечную оправку размещают между базирующей и опорной призмами, чем достигается соосность призм и оправки. В этом положечии преобразователи линейных перемещений устанавливают на ноль. 1 ил. опорной призм 2 и 3 относительно оправки 1 и, следовательно, оправок между собой. Таким образом устройство...

Индикаторное измерительное устройство

Загрузка...

Номер патента: 1578445

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Белокрылов, Губин, Зеленовских, Сартакова

МПК: G01B 5/16, G01B 5/24

Метки: измерительное, индикаторное

...с направляющим стержнем 6, а другим плечом 10 - с измерительным наконечником 11, установленным в корпусе с возможностью перемещения в нем перпендикулярно оси направляющего стержня 6, и предназначенным для взаи модействия с измеряемыми поверхностями Д посредством своей грани 12.Устройство работает следующим образом.Корпус 1 с рамкой 2 устанавливают в пазы, например, корпуса клинкетной задвижки, до упора плечиками рамки 2 в торец детали. Вращением винтов 8 производят поворот скоб 4 на осях 5, чем добиваются контакта контрольных валиков 3 с базовыми поверхностями Г, после чего поворотом корпуса 1 в рамке 2 находят контакт грани 12 измерительного наконечника 11 с одной из измеряемых поверхностей Д, при этом измерительный наконечник 11,...

Устройство для измерения радиальных и осевых биений подшипников

Загрузка...

Номер патента: 1578446

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Зверев, Эльчиева

МПК: G01B 5/24

Метки: биений, осевых, подшипников, радиальных

...9, установленным на каретке 4 с возможностью пере- фм мещения с ней и взаимодействия со стерж- р нем 8, обрезиненным диском 10 с выступами,взаимодействующими соответственно с измеряемым подшипником и с цилиндрической ОО ступенью оправки 1, диаметр которой выпол- ДЬ нен равным наружному диаметру измеряе-,ф мого подшипника.Устройство работает следующим образом.В исходном положении каретка 1 со щеками 7 и упором 9 установлены в крайнем правом положении так, что коническая часть оправки 1 выходит из зазорамежду щеками 7. Подвижный центр 3 при ъ. этом отведен. Измеряемый подшипник укладывается в пространство между щеками 7 доупора в ограничитель 6. Затем подвижныйцентр 3 входит в измеряемый подшипник изанимает конусную ступень оправки 1....

Устройство для контроля коробления и толщины плоских деталей

Загрузка...

Номер патента: 1578447

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Павлова, Роберов, Степанов

МПК: G01B 5/28

Метки: коробления, плоских, толщины

...гайками 17. Механизм подачи 21 в корпус 2 крепится к основанию 1 и состоит из пневмоцилиндров 22, двух штоков-поршней 23 с уплотнениями 24 и резьбовых крышек 25 и 26 с уплотнениями 27. Механизм вращения 28 состоит нз электродвигателя 29, связанного с фрикционной передачей 30, опоры 31, установленной во втулку 32, которая запрессована в стяжку 33. Опора 31 выполнена в двух вариантах: с пазами для прохода наконечников 16 и ограничительным буртом 34 (для деталей из хрупких н гибких материалов), и сплошной (для деталей из твердых материалов). Механизм фиксации 35 состоит из откидной планки 36, связанной через пружину 37 с опорой 38, установленной с помощью шарнира 39 в рычаге 40,Устройство работает следующим образом.При измерении детали 41...

Способ измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1578448

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Лежоев

МПК: G01B 7/00

Метки: перемещений

...пренебречь. В диапазоне - 5(х/п(5 зависимость (1) становится сугубо нелинейной, что и определяет погрешность нелинейности известных емкостных датчиков с перекрестными связями, функционирующих в зависимости, от изменения зазора, а также возможную погрешность нелинейности данного датчика в области нуля его характеристики преобразования при измерении одной из частичных емкостей, что обусловлены краевыми эффектами на границе раздела электродов, лежащих в общей плоскости (см. фиг. 2, кривые Сз(х) или С 4(х.Поскольку перемещение х совпадает по абсолютной величине для обеих частичных емкостей, но противоположно по знаку, то разность этих частичных емкостей определяется формулой;ЛС=51 з - 524= у. 1 1 п(еф+1) - у 1 Х Х 1 п(Е-ф+1)=е 1 -...

Устройство контроля перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1578449

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Гутидзе, Лабадзе, Топчишвили

МПК: G01B 7/02

Метки: перемещений

...3 (й 2, КЗ) подпитывается источником 1 постоянного тока и полностью сбалансирован путем подбора сопротивлений К 1 и К 4, величины которых лежат в пределах 5 - 100 м. Подвижной шток 7 кинематически связан с регулируемым объектом, положение которого необходимо контролировать. Принудительным перемещением подвижной шток 7 через шайбу 8 (например, текстолитовую) деформирует чувствительные элементы 5.Поступательное движение шайбы 8 вызывает сжатие одного чувствительного элемента 5 и соответственно растяжение другого, находящегося в преднапряженном состоянии, чувствительного элемента 5.Предварительное напряжение элементов 5 создается резьбовыми прижимами 1. При деформации изменяются сопротивления элементов 5. Поскольку изменяется сопротив ление...

Устройство для контроля модуля вектора перемещения

Загрузка...

Номер патента: 1578450

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Худорожков

МПК: G01B 7/03

Метки: вектора, модуля, перемещения

...Х и У подключен к входам сумматоров 2 и 3, вторые входы которых подключены к инверторам 4 и 5, входы которых подключены к шинам 12 и 13, задающим начало координат. Выходы сумматоров 2 и 3 подсоединены к входам квадраторов 6 и 7, выходы которых подключены к входам сумматора 8, выход которого подключен к одному из входов компаратора 9, второй вход которого подключен к квадратору 10, вход которого подключен к шине 11. Шины 12 и 13 подключены к входам инверторов 4 и 5 соответственно,Устройство работает следующим образом.При перемещении объекта двухкоординатный датчик 1 выдает текущие значения координат Х; и У; в виде напряжений, пропорциональных перемещению объекта в круговой зоне, на входы сумматоров 2, 3, на вторые входы которых...

Устройство для измерения толщины слоев многослойных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1578451

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Трибунский, Яковлев

МПК: G01B 7/06

Метки: многослойных, слоев, толщины

...щель 22 ориентирована вдоль проводника 24. В таком положении значение ЭДС преобразователя 1 максимальна, а ее среднее значение Е, -й, р цо - яаф -где- частота тока;Ц, - сумма площадей витков катушки индуктивности;р - относительная магнитная проницаемость материала измеряемого слоя;ро - магнитная постоянная;1 о - амплитудное значение силы тока влинейном проводнике;,р - угловая характеристика направленности преобразователя, определяемая параметрами магнитного экрана;го - расстояние от преобразователя до.линейного проводника.Сигнал преобразователяусиливается Дифференциальным усилителем 2, выпрямляется линейным выпрямителем 3, на выходе которого имеется напряжение 0=К Егде К - коэффициент усиления по напряжению усилителя 2. 5 10 15 20 25 30...

Способ контроля толщины покрытий в процессе осаждения

Загрузка...

Номер патента: 1578452

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Копылов, Манаков, Невлюдов, Николаенкова, Сальников

МПК: G01B 7/06

Метки: осаждения, покрытий, процессе, толщины

...объекта контроля.Величина образцовой емкости С подбирается такой, чтобы при достижении заданрения и получения информации с самого объекта контроля. В основу способа положен емкостной метод измерения электрофорезных покрытий, когда одним электродом измерительного датчика является электропроводящий корпус объекта контроля, а вторым - корпус ванны, которая заполнена электро- проводящим раствором лакокрасочного материала. Емкостной датчик включен в мостовую измерительную схему, за питы ваемую специальным генератором частотой 10 кГц, Специально подобранная фильтрация для анодного напряжения электрофорезного покрытия позволяет непосредственно в процессе осаждения производить измерение толщины электрофорезного покрытия с микрометрической...

Контактный толщиномер движущегося материала

Загрузка...

Номер патента: 1578453

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Ильин, Петров, Степанов

МПК: G01B 7/06

Метки: движущегося, контактный, толщиномер

...В данном толщиномере корпус 2 крепится к основанию 1 посредством стойки 17, состоящей из двух частей, соединенных между собой шарнирными звеньями 18 и пружинами 19, На поворотном рычаге 6 закреплен щуп 7, а соосно ему на боковой стенке измерительного узла 5 закреплен щуп 8. Блок 12 управления состоит из шкального прибора 20 и цифрового прибора 21, Посредством шкального прибора 20 производится отсчет отклонения толщины контролируемой ленты 22 от заданного размера, а цифровой прибор 21 предназначен для установки заданной величины толщины ленты 22.Подготовка толщиномера к работе производится в следующем порядке,Нижний щуп 8 закрепляют на одной плоскости с опорными роликами 4. Верхний щуп 7 приводят в соприкосновение со щупом 8....

Способ контроля качества монтажа измерительной цепи с четырехкомпонентными розетками тензодатчиков

Загрузка...

Номер патента: 1578454

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Криворучко, Кузнецова

МПК: G01B 7/16

Метки: измерительной, качества, монтажа, розетками, тензодатчиков, цепи, четырехкомпонентными

...тензодатчиков к аппаратуре, Для этого сравнивают полУченные значениЯ У 1 р, Угр и Узр с соответствующими угловыми коэффициентами В 1 В. г, и Вз, зависящими от углов взаимной ориентации тензодатчиков в каждой д-розетке и рассчитываемыми предварительно в соответствии с заданной ориентацией крепления тензодатчиков с помощью следующих зависимостей:апазов апЯар+азф.1 р -япа 1 р ип(а 1 р+агр) апаз ап(а+агр+азр),1 иа 1 р ЯПагрдпла +азап а 1 +аг +азр)Взр --При сравнении решений Ур с угловыми коэффициентами В, учитывают технологически допустимое отклонение 6 в фактической ориентации каждого тензодатчика от заданной, т, е, сравнивают У 1, с (В 1,+6 В), Угр с (Вгд6 В)Узр с (Взц,З"6 В) . Отсутствие решений Ур в какой-то д-системе уравнений...

Устройство для измерения несоосности валов роторов

Загрузка...

Номер патента: 1578455

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Никитин

МПК: G01B 7/312

Метки: валов, несоосности, роторов

...из центрируемых валов устанавливают датчики 12"17 линейных перемещенийЗамеряют значения линейных величин К, К, К, характеризующих соответствек 5 15 но расстояния между датчиками 12 и 16 и точки расположения подшипников второго из центрируемых валов. При включении устройства генертор 1 питания вырабатывает напряжение, которое подается через блок 5 коммутации на измерительный мост, образованный одним из датчиков 12-17 линейных перемещений и соответствующим ему отсчетным компенсатором 6-11, Выходной сигнал с моста подается на фазочувствительньп детектор 2 и индицируется на регистраторе 3, Г помощью отсчетных компенсаторов 6-11 устанавливают последовательно "О" отсчета. На моделирующем нланшете 26 перемещают обойму 33 с парой датчиков...

Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре

Загрузка...

Номер патента: 1578456

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Недбай

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений

...8, и образует интерФеренционную картину, которая регистрируется, блоком 9.Изобретение позволяет повысить виброустойчивость интерферометра за счет того, что лучи, отражаемые зеркалом 6, собираются оптическим элементом 4 на зеркале,.благодаря чему уменьшается вероятность ухода интерферируюцих лучей за пределы чувствительной плоцадки фотоприемника. Одновременно повышается пространственное разрешение устройства, поскольку отражение всех лучей происходит от небольшого участка поверхности зеркала б.Поворотом отражателя и его поворотом .совместно с собирающим элементом 4 относительно центров зеркал 5 и 6 появляется возможность изменять количество отражений от зеркала б,и, тем самым, изменять чувствительность интерферометра. Формула...

Интерферометр для измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1578457

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Кокоулин, Соколов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, перемещений

...2 на опорный, прошедший через его полупрозрачную поверхность, и на измерительный, отраженный от нее. Измерительный пучок .отражается от отражателя 5 и соединяется с опорным на полупрозрачнойповерхности зеркала 3. При перемещении отражателя 5 по оси У в зонеприемника 6 света формируется интер.ференционная картина в виде чередующихся темных и светлых полос (пятен).Приемник 6 света вырабатывает импульсы, число которых пропорционально величине перемещения отражателя 5,Плоскопараллельная пластина 4необходима для финишного совмещенияопорного и отраженного лучей на. приемнике 6 света, так как юстировочнаяподвижка зеркал 2 и 3 и уголковогоотражателя 5 приводит одновременнокак к смещению опорного и измеритель-ного, лучей параллельно друг...

Интерферометр для измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1578458

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Соколов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, перемещений

...за счет воэможности задания требуемой точности измерения, например, при использовании в устройствах совмеще- ния для микролитографии.На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для измерения линейных перемещений.Интерферсметр содержит источник 1 света, полупрозрачные зеркала 2 и 3,расположенные на оси источника 1 света, уголковые отражатели 4 и 5 (уголковые отражатели могут состоять как из двух, так и из трех отражающих поверхностей), расположенные по обе стороны от полупрозрачных.зеркал 2 и 3, со смещением по оси Х друг относительно друга. Величина смещения а определяется размером в полупрозрачных зеркал (эеркало 2 не должно перекрывать пучки света, отраженные от отражателей 4 и 5, то есть ав/2) Один из уголковых...

Интерферометрическое устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1578459

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Вагнер, Костюков

МПК: G01B 11/02

Метки: интерферометрическое, перемещений

...стойками 16 так, чтобы ось опорной линейки 14 была параллельна оптической оси лазера 9 и конструктивной оси Х объекта 17 измерения.На опоре, аналогичной опоре 13, закрепляют лазер 1 измерительного канала так, чтобы оптическая ось лазера 1 была параллельна оптическойФормула 10 оси лазера 9 измерительной системы,- конструктивной оси Х объекта 17 из.мерения и оси опорной линейки 14, а пучок от лазера 1, пройдя через интерферометр 2, выполненный в виде светоделительного кубика 3, и, отразившись от уголкового отражателя 4 и подвижного уголкового отражателя 5, закрепленного на каретке 11, поступает на фотоприемники 6 и 7,. электрически связанные с электронным блоком 8 обработки. По опорной линейке 14 переместить каретку 11 так чтобы пучок...

Способ определения напряженно-деформированного состояния объекта

Загрузка...

Номер патента: 1578460

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Мыльников, Рудяк

МПК: G01B 11/16

Метки: напряженно-деформированного, объекта, состояния

...величину интенсивностисветового потока, прошедшего через объект, возвращают анализатор, после нагружения объекта снова удаляют анализатор, ориентируют плоскость поляризации света по одному из направленийквазиглавных напряжений и деформацийи измеряют величину потока, прошедщегочерез объект. 2 ил. 2 табл. Й - толщина диска; Й,и Я - квази- главные (главные в диске) деформации,П р и м е р. Определяли оптическую анизотропию, замороженную в сжатом вдоль центральной оси диске (Фиг,1,2) из полимерного материала на базе эпоксидно-диановой смолы ЭДМ. Размеры диска: диаметр 50 мм, толщина 5 мм, величина сжимающей силы 19,6 Н. Температура замораживания материала диска 132 С. Измеряли величину относитель- ного (в процентах) поглощения интен- ф...

Фотоэлектронное измерительное устройство

Загрузка...

Номер патента: 1578461

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Иванов, Колтунов, Проников, Смольянкин, Спиренков

МПК: G01B 11/26

Метки: измерительное, фотоэлектронное

...световодам 18 могут поступатьсветовые сигналы выше порогового значения, при этом с выходов этой группы 11 фотоприемников электрические 20 сигналы поступают в дискриминатор 13,а в группу 12 Фотоприемников по световодам 19 четных строк двух сосед-.них участков световодов и световодам18 первой четной строки одного из 25 соседних участков поступят световыесигналы, превышающие пороговое значение, при этом с двух Фотоприемниковгруппы 12 электрические сигналы поступают в дискриминатор 14, Рабата 30 дискриминатора 14 аналогична работедискриминатора 7.Сигналы с дискриминаторов 6 и 7,а также 13 и 14 поступят на входысоответствующих дешифраторов 8 и 9,а также 15 и 16, где они преобразуются в двоичные коды, соответствующиеномерам...

Способ измерения малых угловых поворотов объекта

Загрузка...

Номер патента: 1578462

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Аугустайтис, Бансявичюс, Гинетис

МПК: G01B 11/26

Метки: малых, объекта, поворотов, угловых

...тов объекта состоит в том, что ированный поток излучения форсходящимся, делят на два по- каждый из них направляют на тствующую отражающую поверхОдна иэ поверхностей усивается на объекте, другаяв качестве опорной, Отые от поверхностей потокимодулю вектора смещения центра интерференционной картины вычисляютугловые повороты зеркальной поверхности, а следовательно, и объекта.Если поверхность обеспечивает зеркальное отражение потока излучения,то объект можно устанавливать в потоке излучения непосредственно нанекотором расстоянии от точки фокуса. 10Устройство, реализующее данныйспособ измерения работает следующимобразом,Луч света, излучаемый лазером 1, проходит коллиматор 2, фокусируется линзой 3 в точку,.А. Светоделитель 4 делит...

Способ измерения отклонения от перпендикулярности поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1578463

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Дегтярев

МПК: G01B 11/26

Метки: отклонения, перпендикулярности, поверхностей

...1,призму 2 с зеркальными гранями 3 и 4,основания призмы 5, потоки:излучения6 и 7, поверхности 8 и 9, призму 10с зеркальной гранью 11 и.основанием12.Устройство работает следующимобразом.Зеркальные грани 3 и 4 конструктивно объединены в призму 2 с основанием призмы 5, Призма 2 устанавливается на поверхность 8 на основаниепризмы 5, Зеркальные грани 3 и 4 призмы 2 расположены друг относительно друга по углом 135 . Автоколлимаотор 1 может располагаться либо на поверхности 8, либо вне ее, Оптическая ось автоколлиматора направлена вдоль поверхности 8. Призма 2 располагается в потоке излучения автоколлиматора таким образом, что поток 6 падает на зеркальную грань 3, а поток 7 на зеркальную грань 4. Автоколлиматор выставляют по автоколлима"...

Способ контроля параллельности осей цилиндрических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1578464

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Попов, Фрудко

МПК: G01B 11/26

Метки: осей, параллельности, поверхностей, цилиндрических

...на цилиндрические поверхности 1,2 и 4 плоскими отражателями 5 и 6. Плоские отражатели 5 и 6 имеют три 25 контактные площадки соответственно 7 и 8, кахщые из которых образуют плоскость, параллельную рабочей поверхности соответствующего отражателя 5 и 6. Для формирования пучков 30 лучей, падающих на плоские отражатели 5 и 6 и последующего измерения углов, под которыми эти пучки лучей отражаются от плоских отражателей 5 и 6 используются автоколлиматоры 35 9 и 10, оптически связанные с плоскими отражателями соответственно 5 иб,Сущность способа заключается в следующем. 40На контролируемую 1 и две смежные с ней 2 и 4 цилиндрические"поверхности устанавливают два плоских отражателя 5 и 6 так, что две их контактные площадки соотзетственно 45 8...

Измерительный эндоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1578465

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Асланян, Лебедев

МПК: G01B 11/30

Метки: измерительный, эндоскоп

...внутреннюю полость газотурбинного двигателя для осмотра какой-либо его части и выявления дефектов. Включают источник 5света, к выходу которого присоединенсветовод б освещения, создающий необходимое освещение на контролируемой поверхности 12. Оператор, наблю-, дая в окуляр 3 и используя оптическую систему 1 передачи иэображенияи объектив 2, осматривает контролируемую говерхность 12.Если в процессе осмотра обнаруживается дефект, размер которого необходимо измерить, включают дополнительный источник 9 света или источник 5 света, присоединенный к входумоноволоконного световода , и с помощью градана 8 формируют параллельный калибровочный луч света, падающийна контролируемую поверхность 12,создавая на ней световое пятно определенного диаметра,...

Устройство для измерения перемещения горячего проката

Загрузка...

Номер патента: 1578466

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Заикин, Слепых, Шнайдер

МПК: G01B 21/00

Метки: горячего, перемещения, проката

...преобразователя поступает на усилитель 4, фильтр 5 и далее на амплитудныйдискриминатор 6, на выходе которого появляется импульс при превышении амплитуды нарастающего сигнала фотоэлектрического преобразователя некоторого опорного уровня. Первый триггер 11 узла 9 запоминания координат п точек на прокате переключается в начале каждого цикла сканирования сигналом с третьего выхода тактового генератора 2, соответствующим началу цикла сканирования, Началоработы блока 10 выделения величины перемещения проката определяется сигналом со второго выхода тактового генератора 2, соответствующим концуцикла сканирования.В отсутствие проката в зоне датчика 8 наличия проката работа тактового генератора 2 запрещена сигналом датчика 8 наличия проката,...

Устройство автоматического контроля геометрических размеров объектов

Загрузка...

Номер патента: 1578467

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Боровских, Голубев, Иванов, Чистяков

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, объектов, размеров

...того, осуществляет формирова ние импульсов выборки управляющих сигналов для нидеоусилителя 4 и блока 5 аппроксимации. Видеосигнал с выхода фотоприемника 3 на основе ДПЗС поступает на первый вход нидеоусилитеця 4, который усиливает его до необходимого уровня и фильтрует от возможных помех. Усиленный и очищенный от помех сигнал, несущий информацию о размере измеряемого изделия, поступает на блок. 5 аппроксимации, который н 1сглаживает его и выдает на вход порогового элемейта 6, при этом первый импульс соответствует световому лучу, отраженному от внешней стенки стеклянной трубки 18, а второй импульс от ее внутренней стенки.На выходе порогового элемента 6 образуются два импульса прямоуголь- . ной формы, расстояние между средними частями...

Способ измерения линейных размеров

Загрузка...

Номер патента: 1578468

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Дубровский, Есьман, Кулешов, Пилипович, Поседько

МПК: G01B 21/02

Метки: линейных, размеров

...Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская .цаб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. 1 агарица, 101 5 ,15784их положения относительно линейки фо"топриемников, определяют положениекодовой шкалы относительно линейкифотоприемников, о т л и ч а ю щ и й -с я тем, что, с целью повышения точ 5ности измерения, фиксируют двуградационные изображения кодовых участков,положение кодовых участков определяютпо координатам Х, и Х; ,центров.тяжести двуградационных изображенийд-го и (+1)-го кодовых участков относительно линейки фотоприемниковЯйХ;(,+,) = Т Е. К 1/2 В,где К - порядковые номера фотоприемников, находящихся на фронтах двуградационного иэображения -го...

Устройство для измерения геометрических размеров движущихся предметов

Загрузка...

Номер патента: 1578469

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Авраменко, Каллер, Пипа, Стародуб

МПК: G01B 21/02

Метки: геометрических, движущихся, предметов, размеров

...содержит последовательно соединенные генератор 7 синхроимпульсов и двоичный счетчик 8, дешифратор 9, последовательно соединенные аналоговый мульти- З 5 плексор 10. компаратор 11 и индикатор 12, Л-триггеры 13. Информационные выходы счетчика 8 соединены с информационными входами дешифратора 9, Р-триггеров 13 и управляющими , 4 О входами мультиплексора 10, синхронизирующие входы В-триггеров 13 объединены и соединены с вторым выходом компаратора 11, Информационные выходы Э-триггеров 13 соединены с информационными входами индикатора 12, выход которого является управляющим выходом схемы Ь синхронизации. Выходы дешифратора 9 являются информационными выходами схем 6 синхронизации и соединены с излучателями 2, Информационные входы...

Устройство контроля внешнего вида деталей типа “втулка

Загрузка...

Номер патента: 1578470

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Андрианов, Захаров, Скачков, Черников

МПК: G01B 21/20

Метки: вида, внешнего, втулка, типа

...того, с целью компенсации влияния на достоверность контроля перечисленных факторов блоком 23 перестройки 8470для каждой. из типов контролируемыхповерхностей детали вырабатываетсясигнал перестройки интенсивности излучения излучателя 27Блоки 16-18 управления и обработкиинформацин вырабатывают импульсныесигналы управления Фотоприемниками28, с выходов которых видеосигналыподаются в блоки 16-18 управления иобработки информации, где фильтруются, усиливаются, нормируются поамплитуде и длительности, превращаясьв видеосигнал, соответствующий бинарному изображению 34 элементарногоучастка контролируемой детали, и да.- лее обрабатываются по заданному алгоритму циФровой обработки (напрмер,вычисление площади дефекта в кадре 20 или на .базовом...

Оптико-электронный профилометр

Загрузка...

Номер патента: 1578471

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Антонов, Бутенко, Дудник, Зелинский, Федоров, Хвалов

МПК: G01B 21/30

Метки: оптико-электронный, профилометр

...И 27, входы которой подключены к выходам моновибратора 23 и инвертора 37, схемы И 28, входы которой подключены к выходам моновибратора 20 и компаратора 17, схемы И 29, входы которой подключены к выходам моновибратора 21 и инвертора 37 соответственно, схемы И 30, входы которой подключены к выходам моновибратора 19 и инвертора 22, схемы И 31, входы которой. подключены к выходам моновибратора 23 и компаратора 18, схемы ИЛИ 32, входы которой подключены к выходам схем И 24-27 схемы ИЛИ 33, входы которой подключены к выходам схем 28"31, реверсивного счетчика 34, входы которого подключены к выходам схем ИЛИ 32 и 33 соответственно, и последовательно соединенных цифроаналогового преобразователя 35, вход которого подключен к выходу счетчика 34,...