Патенты с меткой «интерферометрическое»

Номер патента: 371419

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Крупицкий, Эмдин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометрическое, неоднородностей, оперативного, прозрачных, средах, фазовых

...в пучке по определенному закону, 1 о Наиболее легко при дальнейшей обработкеинформации реализуется закон шахматной последовательности, по которому изменяется фазовая структура пластины, производящей две градации фазы света, причем уменьшая 15 размер элементов градации фазовой структуры, можно проводить исследования мелкомасштабных фазовых неоднородностей среды.На чертеке схематически изображенопредлагаемое устройство,2 О Свет от источника 1 когерентного светапроходит через коллиматор 2 и расщепляется светоделительной призмой-куоом 3 на два пучка, предметный и опорный. Предметный пучок разворачивается зеркалом 4 в направ ленни исследуемой среды б, и, пройдя черезфазовую пластину б, становится пространственно молулированным по...

Номер патента: 545876

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Архипов, Балаценко

МПК: G01J 3/06

Метки: интерферометрическое, сканирующее

...спектра.25 Цель изобретения - повышение точностисканирования ц надежности устройства в табо гс.Для этого в предлагаемом устройстве статор иыполцсц полым, его внутренняя стенка3 ЗО Ооращецная к поплавку, сцаб;1 сепа Отвсрстня 545876ми наддува, а полость статора соединена систочником сжатого газа.На чертеже изображена функциональнаясхема пнтерфсрометрического сканирующегоустройства,Устройство содержит светодслитель , неподвижное 2 и подвижюе 3 зеркала, подвижную деталь - поплавок 4, привод 5 подвижного зеркала, например, электродинамического типа, пеггодвижнуго деталь - статор 6, цилиндрическую полость 7 в корпусе статора,источник Я сжатого газа, шланг 9, отверстиянаддува 70.Ицтсрфсрометрическое сканируОщее устройство работает...

Номер патента: 646296

Опубликовано: 05.02.1979

Авторы: Коренберг, Шабельников

МПК: G01V 3/12

Метки: выявления, горных, интерферометрическое, контактов, массиве, пород

...антенны, излучающие и принимающие волну,вектор напряженности алектромагнитногополя которой горизонтален, т.е, тангенциален поверхности массива. При атомо- необходимо принять во внимание, что35расположенный на поверхности массива.горизонтальный вибратор является источником также и вертикально поляризованного поля, напряженность которого/лярном оси вибраторв. Поэтому ри параллельном расположении горизонтальнополяризованных вйтенн на полупроводяшем,массиве между ними будет существовать связь только за .счет наличия го45рнзонтадьной составляющей электричес-.кого поля. На основании изложенногоможно также снедать вывод о том, чтонаибольшая развязка между передающейи приемной антеннами будет иметь мес" то именно при использовании...

Номер патента: 697809

Опубликовано: 15.11.1979

Автор: Ляховский

МПК: G01B 11/26

Метки: интерферометрическое, объекта, перемещений, угловых

...принципиальнаясхема интерферометрического измерительного устройства вместе с измеряемым объектом; на фиг. 2 - вид профилей зеркал.Интерферометрическое измерительноеустройство содержит источник света 1, полупрозрачную пластинку 2 для разделения светового пучка на две ветви, поворотное зеркало 3, служащее для поворота одного из световых пучков на 90, отражательный блок,выполненный в виде соосно расположенныхзеркал 4 и 5 с криволинейными поверхностями, схему регистрации 6, обеспечивающуюнаблюдение интерференционной картиныи счет полос. Зеркало 4 введено в ветвь 7сравнения, а зеркало 5 - в- рабочую ветвь 8интерферометра. Отражательный блок жестко укреплен на измеряемом объекте 9.Отражающая поверхность зеркала 4 представляет собой...

Номер патента: 1037063

Опубликовано: 23.08.1983

Автор: Вернер

МПК: G01B 11/00

Метки: изменения, интерферометрическое, расстояний

...(не показан) световозвращатепя 2, основными эпементами которого являются вогнутое эеркапо и линза, ( й - измеряемое расстояние мех- ду главными точками 3 и 4 пинэ о и 6).В таком устройстве источник 7 света, выпопненный в виде оптического квантового генератора, освещает оптоакустичеокую ячейку 8, которая пучок 8 света дифрагирует в оцредепенное чиспо дифракционных пучков, из которых пучок 10 О-го порядка предусмотрен дпя хода измеритепьных лучей, а пучок 11 1 го по рядка - дня хода пучей сравнения. Так , как пучок 0-го порядка обпадает наибоп шей допей энергии, то он спужит дпя освещения обпасти обьекта и имеет частоту колебаний Ч, генерируемую источником 7 света. Частота пучка 11 1-гопорядка модупируется посредством наводимой в...

Номер патента: 1161819

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Романов, Садов, Шестаков

МПК: G01B 11/00, G01B 9/02

Метки: интерферометрическое, линейных, перемещений

...отсчетного блока при неконтролируемом поперечном смещении объекта.Цель изобретения - повышение точ 35ности измерений путем стабилизацииположения интерференционной картиныотносительно отсчетного блока.Поставленная цель достигается тем, что интерферометрическое .устройство для измерения линейных перемещений, содержащее оптически связанные источник когерентного излучения, светоделитель, предназначенный для деления излучения на две ветви, призмен 45 ный блок с нечетным числом отражений, установленный в одной из этих ветвей, светосоединитель и отсчетный блок, снабжено вторым приэменным блоком, выполненным и установленным аналогич но первому блоку во второй ветви излучения, а источник когерентного 1 излучения, светосоединитель и...

Номер патента: 1165878

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Рокос, Рокосова

МПК: G01B 9/02

Метки: измерительное, интерферометрическое

...11, узкополосного фильтра 12 и реверсивного счетчика 13, двустороннее зеркало 14, установленное на предметном столике 5 параллельно двум дополнительным зеркалам 15 и 16, светоделительный блок в виде светоделительного кубика 17 и четырех фазовых пластин 18 - 21, каждая из которых посажена на оптический контакт с соответствующей гранью кубика 17, установленного на оптической оси устройства между модулятором 8 и анализатором 9, блок 22 настройки нулевой полосы, расположенный за светоделителем 2 по ходу потока излучения, ось которого перпендикулярнаоптической оси устройства, в виде оптически связанных источника 23 немонохроматического излучения, обьектива 24, поляризатора 25 и светофильтра 26, оптически связанного со светоделителем...

Номер патента: 1257475

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Альтшулер, Белашенков

МПК: G01N 21/45

Метки: интерферометрическое, лазерное, нелинейности, оптических, показателя, преломления, сред

...возникает интерференция, картина которой регистрируется фотоприемником 7, По изгибу интерференционных полос, возникающему в результате различия нели- Ы нейных набегов фаз световых импуль.сов при их прохождении исследуемой оптической среды, судят о нелинейносУстройство представляет собой двухлучевой интерферометр с фотоприемником для регистрации интерференционной картины, обеспечивающий совмещение оптических трактов интерфериру ющих световых пучков. При этом устраняется снижение контраста интерференционной картины. Контраст интерференционной картины двух световых пучков можно определить по формулег Г;т,сов (иг,-и)Т+ Т где 7 - контраст;1 1 г - интенсивности световых пучков;Ч Ч - набеги Фазы, связанные сдифракцией и рассеянием света на...

Номер патента: 1293498

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Адрианов, Коленко, Лачугин, Макаров, Ульянов

МПК: G01H 11/00

Метки: амплитуды, интерферометрическое, колебаний, механических

...6и референтного зеркала 3 составляющие излучения направляются на фотоприемник 10, Выходной сигнал фотоприемника 10 несет информацию о .параметрах движения контролируемогообъекта 6. После выделения первойгармоники выходного сигнала фотоприемника 10 первым узкополосным фильтром 11 амплитуда этой гармоники имеет вид где С - константа, определяемая параметрами интерферометра;4 Я1 ( - - ) - функция Бесселя 1-гоБо,порядка аргумента длина волны источника когерентного излучения;Бо - результирующая амплитуда колебаний, определяемая разностью амплитуд референтного зеркала 3 и поверхности исследуемого объекта 6.При некоторых значениях аргумента Бесселевой функции 1-го порядка 47 Б /Ъ амплитуда 1-ой гармоники обращается в нуль. Эти моменты...

Номер патента: 1411577

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Медовиков, Нигаматьянов

МПК: G01B 11/26

Метки: интерферометрическое, объекта, перемещений, угловых

...последовательно в потоке от светоделителя 8на диске 6, неподвижную ось 12. Устройство работает следующим образом.Пучок излучения из источника 7 падает на светоделитель 8 ч разделяется 25 на два потока, Один поток после выхода из светоделителя 8 повернут на 90 о и падает на отражательную поверхность отражателя 2 и после отражения от нее проходит через полупрозрачный слой 30 светоделителя 8, затем через линзу 9попадает на фотоприемник 10. Другой поток проходит через полупрозрачный слой, падает на отражательную поверхность светоделителя 8, отражаясь от которой, падает на фотоприемник 10,где образует интерференционную картину совместно с первым потоком. Полученное изображение в виде чередующих-, ся светлых и темных интерференционных...

Номер патента: 1465857

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Герловин, Фрейберг

МПК: G02B 21/14

Метки: интерферометрическое, колец, фазовых

...темной интерференционной полосы 19 совмещена с индексом 15, и снимают первый отсчет по оптическому уст" ройству 10, Затем разворачивают анализатор 11 до получения,интерференции на. зоне 16, при этом середина темной интерференционной полосы оказывается смещенной относительно индекса 15 на величину П, Перемещают призму Волластона таким образом, что интерференционная картина перемещается на величину 0 и снимают второйотсчет, По разности первого и второго отсчетовопределяют величину контролируемого фазового сдвига. В результате расположения интерференционных полос вдоль направления раздвоения изображения они пересекают серповид" ное изображение фазового кольца .18 в широкой и протяженной его части и хорошо различимы даже в случае низкого...

Номер патента: 1578459

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Вагнер, Костюков

МПК: G01B 11/02

Метки: интерферометрическое, перемещений

...стойками 16 так, чтобы ось опорной линейки 14 была параллельна оптической оси лазера 9 и конструктивной оси Х объекта 17 измерения.На опоре, аналогичной опоре 13, закрепляют лазер 1 измерительного канала так, чтобы оптическая ось лазера 1 была параллельна оптическойФормула 10 оси лазера 9 измерительной системы,- конструктивной оси Х объекта 17 из.мерения и оси опорной линейки 14, а пучок от лазера 1, пройдя через интерферометр 2, выполненный в виде светоделительного кубика 3, и, отразившись от уголкового отражателя 4 и подвижного уголкового отражателя 5, закрепленного на каретке 11, поступает на фотоприемники 6 и 7,. электрически связанные с электронным блоком 8 обработки. По опорной линейке 14 переместить каретку 11 так чтобы пучок...

Номер патента: 1304532

Опубликовано: 10.06.2000

Авторы: Воробьев, Мамошин, Пермяков, Русаков, Слабкий

МПК: G01B 9/02

Метки: движения, интерферометрическое, объекта, параметров

1. Интерферометрическое устройство для измерения параметров движения объекта, содержащее точечный источник света, оптически сопряженный посредством формирователя когерентных точек с регистратором, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения и расширения диапазона измеряемых параметров, в него введены поляроид, оптически сопряженный с формирователем когерентных точек, светоделитель, размещенный между поляроидом и формирователем когерентных точек и оптически сопряженный с ними и посредством коллимирующей линзы с точечным источником света, коммутатор, первый и второй входы которого соединены соответственно с первым и вторым генератором управляющих сигналов, блок обработки...