Способ определения напряженно-деформированного состояния объекта

Номер патента: 1670388

Опубликовано: 15.08.1991

Автор: Рудяк

МПК: G01B 11/16

Метки: напряженно-деформированного, объекта, параметров, состояния

...излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют разность главных напряжений и разность главных деформаций. Одновременно с регистрацией интерференционной картины регистрируют фотоприемником интенсивность отраженного или прошедшего излучения. Экспериментально установлено, что величины этих ванного состояния объектов из оптически чувствительных материалов, Целью изобретения является повышение информативности путем определения суммы главных напряжений, К объекту из оптически чувствительного материала прикладывают механическую нагрузку, Просвечивают обьект поляризованным излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют разность главных напряжений, Одновременно с этим регистрируют...

Номер патента: 1165901

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Лисянский, Морозов, Морозова

МПК: G01J 1/44

Метки: излучения, коэффициента, объектов, прозрачных, пропускания, пространственного, распределения

...изображения, трехзапоминающих устройств - 18-20,аналогового измерителя 21 отношений,формирователя 22 строчных и кадровьм 55синхроимпульсов и формирователя 23стробирующих импульсов, два входакоторого соединены с соответствую 901 .4щими выходами формирователя 22 строчных и кадровых синхроимпульсов и формирователя 17 стробирующих импульсов четных и нечетных кадров иэображения, а выход соединен с входом второго запоминающего устройства19, выход. которого подключен к первому входу видеоконтрольного устройства 11, к второму входу которого подключен формирователь 22 строчных и кадровых синхроимпульсов 22,вход которого соединен с одним выходом формирователя 16 тактовых импульсов, два входа которого подключены соответственно к датчикам...

Номер патента: 1721483

Опубликовано: 23.03.1992

Авторы: Дубовик, Ивченко, Непомнящий, Райхел

МПК: G01N 21/88

Метки: глубины, дефектов, объектах, поверхностных, ситаллов

...повышенная температура обработки, достижение которой в случае использования органических в основе люминесцентных жидкостей не представляется возможным, Таким образом, атомы углерода диффундируют в полости дефектов значительно глубже молекул веществ, входящих в состав люминесцентных жидкостей, Это приводит к повышению точности определения глубины дефектов.П р и м е р. Производят дефектоскопию наружной поверхности изделий из кордиеритового ситалла в системе МОО-МпО-АгОзОг-ТЮг. Механическую обработку наружной поверхности изделий осуществляли путем шлифования алмазным кругом 1 А 1 100 х 10 х 3 х 32 по следующему режиму: угловая скорость вращения заготовки 50 об/мин, угловая скорость вращения круга 6000 об/мин, глубина резания 1,0...

Номер патента: 807038

Опубликовано: 23.02.1981

Авторы: Антонов, Морозов, Чернышев

МПК: G01B 5/30

Метки: внутренних, напряжений, оста-точных

...возмущенному состоянию исследуемой детали. Затем высверливают второе отверстие того же диаметра соосно первому. на большую 15 глубину, и регистрируют на фотопластинке новое возмущенное состояние. Сравнивают полученные голографические интерференционные картины и подсчитывают число полос, по которым щ судят о внутренних остаточных напряжениях.Изобретение позволяет повысить точность. измерений за счет того, что отверстия могут быть выбраны как25 угодйо малого диаметра, и добиться упрощения способа за счет исключения трудоемких операций наклейки тензо.датчиков,формула изобретенияСпособ определения внутреннихостаточных напряжений, заключающийсяв том, что в исследуемом объектевысверливают отверстие, измеряютдеформацию объекта,...

Номер патента: 1177798

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Гусев, Дозорцева, Ефанов, Крымский, Маликов

МПК: G05B 23/02

Метки: динамических, объекта, характеристик

...1 эталонного изменения управляющего воздействия также запускает генератор З,на выходе которого формируется линейно изменяющееся во времени С напряжение, поступающее на первый сигнальный вход управляемого аналогового делителя 4. На второй сигнальный. вход управляемого аналогового делителя поступает сигнал у с выхода второго управляемого интегратора 5.Процессы деления в управляемом аналоговом делителе 4 и.интегрирования во втором управляющем интеграторе 5 начинаются с момента, сдвинутого относительно момента поступления сигнала с выхода генератора 1 эталонного изменения управляющего воздействия на величину у.С выхода управляемого аналогового делителя 4 сигнал 7 = у/е+упоступает на первый вход инвертирующего сумматора 7, на вход первого...