Интерферометр для измерения линейных перемещений

Номер патента: 1578457

Авторы: Кокоулин, Соколов

ZIP архив

Текст

Заказ 1905 Тираж 500 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР.113035, Москва, И, Раушская наб., д, 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике, конкретнее к интерферометрам для измерения малых(0,5 мкм) перемец 1 ений,Цель изобретения - уменьшениегабаритов и повышение точности изменения за счет размещения компонентов интерферометра по оси световогопучка и за счет возможности доводкиизмерительных импульсов до максимального значения.На чертеже изображена принципиальМная схизма интерферометра для измерения линейных перемещений,Интерфер 6 метр содержит оптическисвязанныеисточник 1 света, полупрозрачные зеркала 2 и 3, оптическипрозрачную плоскопараллельную пластину 4, уголковый отражатель 5,который может состоять как иэ двух,так и из трех отражающих поверхностей, и приемник 6 света,Интерферометр работает следующимобразом.Световой пучок, формируемый источником 1 света, делится полупрозрачным зеркалом 2 на опорный, прошедший через его полупрозрачную поверхность, и на измерительный, отраженный от нее. Измерительный пучок .отражается от отражателя 5 и соединяется с опорным на полупрозрачнойповерхности зеркала 3. При перемещении отражателя 5 по оси У в зонеприемника 6 света формируется интер.ференционная картина в виде чередующихся темных и светлых полос (пятен).Приемник 6 света вырабатывает импульсы, число которых пропорционально величине перемещения отражателя 5,Плоскопараллельная пластина 4необходима для финишного совмещенияопорного и отраженного лучей на. приемнике 6 света, так как юстировочнаяподвижка зеркал 2 и 3 и уголковогоотражателя 5 приводит одновременнокак к смещению опорного и измеритель-ного, лучей параллельно друг другу,10 так и к изменению угла между ними.Плоскопараллельная пластина 4 перемещается при юстировке, разворачиваясь относительно оптической осиинтерферометра, Описанная схема15 позволяет более качественно отъюстировать интерферометр, а также проводить оперативную лодъюстировку сцелью компенсации, например, темпер;турных деформаций в процессе ра 20 боты. В результате амплитуду измерительных импульсов удается довестидо максимального значения и, соответственно, повысить точность измерения,25 Формула изобретенияИнтерферометр для измерения линейных перемещений, содержащий оптически связанные источник света, дваполупрозрачных зеркала, расположен 30 ные во взаимно перпендикулярныхплоскостях, и приемник света, о т ;л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью уменьшения габаритов и повышения точности измерения, он снабжен35 плоскопараллельной пластиной, расположенной между зеркалами, источниксвета, зеркала и приемник светарасположены на одной оси, а плоскопараллельная пластина установлена с40 возможностью поворота относительноэтой оси.

Смотреть

Заявка

4361380, 08.01.1988

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8495

КОКОУЛИН ВЛАДЭК ИВАНОВИЧ, СОКОЛОВ ДМИТРИЙ ЮРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, перемещений

Опубликовано: 15.07.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1578457-interferometr-dlya-izmereniya-linejjnykh-peremeshhenijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр для измерения линейных перемещений</a>

Похожие патенты