Фрудко

Способ контроля параллельности осей цилиндрических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1578464

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Попов, Фрудко

МПК: G01B 11/26

Метки: осей, параллельности, поверхностей, цилиндрических

...на цилиндрические поверхности 1,2 и 4 плоскими отражателями 5 и 6. Плоские отражатели 5 и 6 имеют три 25 контактные площадки соответственно 7 и 8, кахщые из которых образуют плоскость, параллельную рабочей поверхности соответствующего отражателя 5 и 6. Для формирования пучков 30 лучей, падающих на плоские отражатели 5 и 6 и последующего измерения углов, под которыми эти пучки лучей отражаются от плоских отражателей 5 и 6 используются автоколлиматоры 35 9 и 10, оптически связанные с плоскими отражателями соответственно 5 иб,Сущность способа заключается в следующем. 40На контролируемую 1 и две смежные с ней 2 и 4 цилиндрические"поверхности устанавливают два плоских отражателя 5 и 6 так, что две их контактные площадки соотзетственно 45 8...

Эталонный электрический конденсатор

Загрузка...

Номер патента: 506916

Опубликовано: 15.03.1976

Авторы: Кротков, Фрудко

МПК: H01G 4/255

Метки: конденсатор, электрический, эталонный

...систему 18. При измерении длины электрода 1 коллимированный пучок монохроматического света, создаваемьш систе506916 3 мой 10, направляется зеркалом 12 (зеркало 11 выведено из оптической схемы) в интерферометр Фабри - Перо, образованный зеркалами 9, установленными на оптическом контакте на торцах, электрода 1. Пучок света после прохождени иперферометра зеркалами 14 - 16 направляешься в объектив 17, проектирующий картину интерференционных полос и регистрирующую систему, с помощью которой определяется длина интерферометра, ограниченного зеркалами 9, г. е. длина электрода 1. При измерении длины электрода 2 зеркало 11 вводится поворотом в оптическую схему, зеркало 14 выводиг я нз оптической схемы и измерение производится описанным выше...