Архив за 1981 год
Способ определения склонностинержавеющих сталей k межкристаллит-ной коррозии
Номер патента: 819635
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Руттен, Томашов, Чернова, Яковлева
МПК: G01N 17/00
Метки: коррозии, межкристаллит-ной, склонностинержавеющих, сталей
...способа является его трудоемкость.Целью изобретения является снижениетрудоемкости способа.Цель достигается за счет того, что образец выдерживают в электролите в течение 2 - 5 ч, а наличие трещин определяют при изгибе образца.Способ осуществляется следующим образом.Образцы нержавеющих сталей промывают в ацетоне и помещают в химические стаканы по одному образцу в каждый. Раствор электролита, содержащий. "/о: 1 - 10,0; НМОз; 0,10 - 70 ГеС 1 и 0,15 - 180 НС 1, наливают из расчета 2,0 - 2,8 мг на 1 см".образца. Образец погружают в раствор пол ностью или на 1/2 часть. Если образцы имеют сходные свойства, они могут быть помещены в один стакан или емкость. Образцы выдерживают в электролите 2 - 5 ч, затем их извлекают, высушивают, загибают с...
Способ определения коэффициентатрения ролика и обоймы и устройстводля его осуществления
Номер патента: 819636
Опубликовано: 07.04.1981
Автор: Панов
МПК: G01N 19/02
Метки: коэффициентатрения, обоймы, ролика, устройстводля
...втулки 2 с продольными направляющими качения (на чертеже не показаны), промежуточный элемент, выполненный в виде штока 3 и пластины 4, имитирующей рабочую плошадку звездочки МСХ, обойму 5, установленный на пластине 4 ролик 6, узел нагружения ролика 6 и обоймы 5, выполненный в виде рычага 7 с грузами 8, Устройство снабжено винтовой направляющей 9 (фиг. 2) установленной на пластине 4, и регулируемым упором 1 О, размещенным на направляющей 9 и образующим с ней пару гайка - винт. Накатка 11 служит для удобства вращения направляющей 9.Способ реализуется следующим образом. Ролик 6 через шток 3 и пластину 4 прижимают к внутренней поверхности вращающейся обоймы 5 с помощью грузов 8 и рычага 7. Путем вращения накатки 11 и винтовой направляющей 9...
Способ измерения распределенияудельного сопротивления b оптическихпрозрачных средах
Номер патента: 819637
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Морозов, Руковишников
МПК: G01N 21/00
Метки: оптическихпрозрачных, распределенияудельного, сопротивления, средах
...напряжения, соответственно;Ьп, - изменение показателя преломния на частоте переменного напряжения;д - расстояние между электродамиобразца;Т - время релаксации;Е и с. о - диэлектрическая проницаемостьсреды и вакуума;В - константа. г 1 л. чертеже представлена схема устройства, реализующего предложенный способ, где источник света 1, коллиматор 2, скрешенные поляроиды 3 и 4, компенсатор 5, образец 6, объектив 7, экран 8, фотоприемник 9, источник переменного напряжения 10, аттенюатор 11, конденсатор 12, источник постоянного напряжения 13.Пример осуществления способаК двум электродам на противоположных гранях исследуемого образца, выполненного в виде прямоугольного параллелепипеда, прикладывают постоянное электрическое напряжение. По...
Автоматический сахариметр
Номер патента: 819638
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Батманова, Горохов, Дмитриев, Лоскутов, Талачка
МПК: G01N 21/01
Метки: автоматический, сахариметр
...11, которое обеспечивает выполнение всех последующих операций цикла. Из дозатора 12 пробы исследуемую среду с помощью автоматического клапана 3 подают в смеситель 14, куда одновременно посредством автоматического клапана 4 вводят воду на разбавление. В смесителе 14 получают однородный разбавленный раствор и через автоматический клапан 5 подают в аналитическую ячейку 1, куда одновременно с этим, с помощью автоматических клапанов 6, 7 из дозатора 13 реагентов вводят соответствующие реагенты (например, едкий натр и феррицианид калия). Затем включают подогрев (нагревательный элемент, мешалка и индикатор, размешенные в аналитической ячейке 1 на фиг, 1 условно не показаны). Через промежуток времени, необходимый для закипания смеси и...
Способ определения качества поли-мерной пленки
Номер патента: 819639
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Батырев, Гдалин, Зарецкий, Кечекьян, Попов, Семенов
МПК: G01N 21/21
Метки: качества, пленки, поли-мерной
...пленки, 819639На фиг. 1 схематически изображены углы расхождения рефлексов рассеяия; нафиг. 2 - устройство для осущесгвленияпредлагаемого способа.Устройство имеет лазер 1, измеряемуюпленку 2, плоскость которой перпендикулярна лучу лазера, и анализатор 3, За последним расположен диск 4 с эксцентрично установленным на нем фотоприемником.5, например фотодиодом. Ось вращения дискасовпадает с оптической осью устройства.Устройство работает следующим образом.Измеряемая пленка 2 просвечивается поляризованным лучом света, например лучом лазера 1, в котором при прохождениичерез пленку образуется рефлекс рассеяния,Анализатор 3, установленный за пленкой,выделяет рефлексы рассеяния, улавливаемый фотоприемником 5,При вращении диска 4 на выходе...
Способ планарно-фотометрическогодетектирования веществ и устройстводля его осуществления
Номер патента: 819640
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Арновер, Белова, Иоонсон, Лийн, Лоог
МПК: G01N 21/27
Метки: веществ, планарно-фотометрическогодетектирования, устройстводля
...в детектор калибруюший поток модулируется посредством модулятора 3 массового расхода, амплитуда и частота модуляции которого постоянны, причем частота модуляции выбрана на один-два порядка выше наибольшей частоты изменения детектируемого сигнала. В качестве такого модулятора можно использовать, например, вибрационный магнитный клапан, управляемый генератором с заданной частотой модуляции.Таким образом, любой поступающий в детектор поток анализируемого вешества смешивается с модулированным калибруюшим потоком и в результате оказывается модулированным с постоянной амплитудой модуляции. Амплитуда переменной составляющей Л,1 сигнала спектрофотометрического устройства 4 является, следовательно, мерой динамической чувствительности...
Устройство для автоматическогоанализа газовых проб
Номер патента: 819641
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Акимов, Дашковский, Коробейник
МПК: G01N 21/27
Метки: автоматическогоанализа, газовых, проб
...в анализируемом газе, после проведения каждого измерения вследствие застойных явлений и пристеночного эффекта. Необходимость такой очистки устанавливает обратную связь между требованием быстродействия прибора и высокой точности анализа, усложняет работу прибора и ухудшает его метрологические характеристики.Целью изобретения является повышение точности и чувствительности анализа, а также упрощения работы прибора. Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для автоматического анализа газовых проб, содержащем источник и приемник излучения, оптическую кювету и вторичный прибор, внутри кюветы расположен газонепроницаемый поршень, центральная часть которого прозрачна для потока излучения, с возможностью перемещения поршня вдоль оси...
Устройство для получения цветныхтеневых картин
Номер патента: 819642
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Зейликович, Комиссарук
МПК: G01N 21/45
Метки: картин, цветныхтеневых
...6, объектив приемной части 7, визуализирующую щель 8, регистрирующую или наблюдательную систему 9.Устройство работает следующим образом.Система двойного изображения (призма 4) образует в фокальной плоскости объектива 5 два мнимых изображения осветительной щели 3, Вследствие дифракции на голограмме 6 в фокальной плоскости объектива 7 образу 1 ется два спектральных изображения щели 3, смещенных по отношению друг к другу на отрезокф, где - величина углового двоения призмы,- расстояние между щелью 3 и средней плоскостью призмы, при этом предполагается, что фокусные расстояния 1 объективов 5 и 7 одинаковы. Условие, при котором синий участок спектра +первого порядка дифракции совмещается с красным - первого порядка, можно записать в виде:1...
Способ измерения показателя прелом-ления
Номер патента: 819643
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Бондаренко, Криницын
МПК: G01N 21/45
Метки: показателя, прелом-ления
...двух когерентных световых лучей, проходящих через исследуемую и референтную среды соответственно, в котором для вычисления показателя преломления измеряют длину кюветы с исследуемой и референтной средами, затем подстройкой частоты когерентного излучения добиваются минимума интенсивности интерференционной картины и измеряют значение этой частоты Д ф, после чего изменен тоты добиваются следующего мини терференционной картины и измер чение этой частоты т, а показатель ления вычисляют по формуле и = 1 где С - скорость света 2) .Недостатком этого способа явля достаточная точность измерения, с с необходимостью измерения трех с 1 1 ф Целью изобретения является повыточности измерения за счет использодвух интерферометров, позволяющихвиться от...
Способ и устройство для определе-ния обемной концентрации аэрозоля
Номер патента: 819644
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Голубев, Кривоносов, Ягодкин
МПК: G01N 21/53
Метки: аэрозоля, концентрации, объемной, определе-ния
...осяхполупрозрачного зеркала, щелевой диафрагмой, установленной перед одним из дополнительных фотоприемников.На чертеже изображено устройство дляреализации способа.Устройство содержит источник монохроматического света 1, полидисперсную средуаэрозоля 2, линзу 3, фотоприемник 4, измерительный блок 5, полупрозрачное зеркало 6, щелевую диафрагму 7, фотоприемники 8, 9, измерительные блоки 10 и 11, вычислительный блок 12 и вторичный прибор 13.Устройство работает следующим образом.Параллельный пучок света, создаваемый источником 1 монохроматического излучения, проходя через полидисперсную среду аэрозоля 2, рассеивается. Рассеянный, атакже параллельный нерассеянный часгицами аэрозоля световые потоки сооираютсялинзой 3. Затем ослабленный...
Способ определения критическихусловий конденсации веществ натвердой поверхности
Номер патента: 819645
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Бургасов, Рыбаков, Чиров
МПК: G01N 21/55
Метки: веществ, конденсации, критическихусловий, натвердой, поверхности
...световым излучением от внешнего источника и регистрации изменения его интенсивности, поддерживают температуру поверхности постоянной, увеличивают интенсивность набегающего молекулярного потока и определяют критические условия конденсации по изменению интенсивности отраженного света, что отображено на графике.Способ осуществляется следующим образом.Исследуемая пара материалов помещается в вакуумные условия. Поверхность нагревается до определенной температуры, которая поддерживается постоянной. Молекулярный поток увеличивающейся интенсивности направляется на исследуемую твердую поверхность, поверхность в месте па 20 дения молекулярных частиц освещается внеш ним источником света постоянной интенсивности. При достижении молекулярным потоком...
Устройство для определения опти-ческих характеристик рассеивающихсред
Номер патента: 819646
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Несруллаев, Шелемин
МПК: G01N 21/59
Метки: опти-ческих, рассеивающихсред, характеристик
...от объекта 3 свет попадает на наклонно расположенную волоконную шайбу 4 и после прохождения через нее с помощью фотоаппарата 5 фотографируют на фотопленку плотность распределения интенсивности рассеянного света. После проявления пленку микрофотометрируют, например, на приборе ИФО - 451. По полученным кривым распределения плотности определяют точки для построения индикатрисс рассеяния. При этом количество определяемых точек ограничивается лишь точностью микрофотометрирования, Обычно погрешность микрофотометрирования составляет - 1 о. В этом случае количество точек, которые можно определить при диаметре пятна рассеивающей области на фотопленке в 5 мм составляет 2 тыс.Использование в предлагаемом устройстве волоконной шайбы,...
Способ компенсации фоновой флуо-ресценции b многокомпонентнойсистеме
Номер патента: 819647
Опубликовано: 07.04.1981
Автор: Терской
МПК: G01N 21/64
Метки: компенсации, многокомпонентнойсистеме, флуо-ресценции, фоновой
...образца .возбуждается излучением с длиной волны, соответствующей максимуму в спектре поглощения анализируе мого примесного соединения, а в качествеэталона используется тот же самый образец, црзбуждаемый излучением той же интенсивности, длина волны которого соответствует области менеее интенсивного поглощения в спектре анализируемого соединения.При м ер. Исследуют наличие 3,4-бензпирена в нефти. Образец нефти, растворенный в гексане, возбуждают излучением с длиной волны, соответствующей длинно-волновому максимуму в спектре поглощения 3,4-бензпирена (403 нм), В качестве эталона используют гексановый раствор той же нефти, который возбуждают излучением с длиной волны, 400 нм. В этой области813поглощение 3,4-бензпирена примерно в три раза...
Конденсационный гигрометр
Номер патента: 819648
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Онкин, Радзиевский, Романовский
МПК: G01N 21/81
Метки: гигрометр, конденсационный
...7 и балластный 8 фоторезисторы, Под зеркалом установлен датчик температуры 9, соединенный со вторичным прибором 3.Электронная схема автоматического регулирования слоя росы на зеркале содержит однополярный дифференциатор 10, идеальный диод 11, опорный конденсатор 12, сумматор 13 и предусилитель 14, соединенный с регулятором тока 15.Дифференциатор 10 состоит, например, из усилителя 16 с конденсатором 17 на входе и диодом 18 на выходе.Идеальный диод 11 выполнен, например, в виде усилителя 19 с диодом 20 в цепи обратной связи. Выходы дифференциатора 10 и идеального диода 11 посредством сумматора 13 подключены к одному из входов предусилителя 14, а входы их - к точке между фоторезисторами 7 и 8 и другому входу пред- усилителя 14. Выход...
Влагомер
Номер патента: 819649
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Мусаев, Мухитдинов, Рожков
МПК: G01N 21/85
Метки: влагомер
...коммутатор связан с регистратором.На чертеже показана структурная схема устройства.Устройство содержит генератор 1, к выходам которого подключены два светодиода 2 и 3 с различными спектральными характеристиками, контролируемый объект 4, фотоприемник (фоторезистор) 5, нагрузочный резистор 6, ключ 7, пороговое устройство 8, коммутатор 9 и регистратор 10 (цифровой измеритель разности временных интервалов).Устройство работает следующим обра819649 Составитель А. Чурбаков Редактор О. Филиппова Техред А. Бойкас Корректор М, Шароши Заказ 1290/20 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Генератор 1...
Индикатор проколов
Номер патента: 819650
Опубликовано: 07.04.1981
Автор: Дашевский
МПК: G01N 21/86
...13 1 О с проколом 14 расположен между источниками 1 и 2 света и корпусом 3.Выходом предлагаемого индикатора проколов является выход дифференциального усилителя 10.15И ндикатор проколов работает следующим образом.При появлении прокола в контролируемом материале, дижущемся между источниками 1 и 2 света, освещающими материал, и корпусом 3, и прохождении прокола над 2 О контрольными окнами 4 и 5 световые потоки источников света проходят через прокол и соответствующее контрольное окно и попадают на фотоприемники 6 и 7, которые преобразуют импульсы света в электрические. Эти импульсы усиливаются усилителями 8 и 9, а затем диффенециальным усилителем 10, на выходе которого появляются импульсы противоположной полярности, сдвинутые на время...
Индикатор проколов
Номер патента: 819651
Опубликовано: 07.04.1981
Автор: Дашевский
МПК: G01N 21/86
...окно 4 и попадает на фотоприемник 6, которые преобразует падающий на него световой поток в электрический импульс. Этот импульс усиливается дифференциальным усилителем 8, на выходе которого появляется импульс определенной (например, положительной) полярности, свидетельствующий о прохождении прокола над контрольным окном 4. В дальнейшем, при прохождении прокола над контрольным окном 5, световой поток источника 2 света попадает на фотоприемник 7, выходной электрический импульс которого усиливается усилителем 8, на выходе которого появляется импульс противоположной (отрицательной) полярности, свидетельствующий о прохождении прокола над контрольным окном 5. Задержка появления второго импульса (время транспортного запаздывания) при...
Способ исследования оптическихсвойств кристаллов
Номер патента: 819652
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Волков, Гречушников, Севастьянов, Суходольский, Цветков
МПК: G01N 21/87
Метки: исследования, кристаллов, оптическихсвойств
...77 для него совпадало со значением (дт/йч) 77 для сапфирового хладопровода, то комнатная температура не будет достигаться при мощности нагревателя 132 В, т.е. при мощности примерно в восемь раз большей, чемв случае сапфирового хладопровода. Этосоответствует расходу жидкого азота 3 л/ч.При сапфировом же хладопроводе расходжидкого азота равен 0,4 л/ч.Приведенные цифры показывают, чтохладопровод из ионного монокристалла, например сапфира, позволяет перекрыть весьтемпературный диапазон 77 в 3 К при оптимальных условиях, т.е. позволяет получатьна образце 77 К и при сравнительно небольшом расходе жидкого азота достигать комнатной температуры.П р и м е р. Было проведено исследованиеспектров поглощения кристалла александрита (ВеА 1 г...
Способ контроля степени мозаично-сти изогнутого монокристалла
Номер патента: 819653
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Лобова, Подлесная, Райхельс, Смушков
МПК: G01N 23/20
Метки: изогнутого, мозаично-сти, монокристалла, степени
...чем вдвух точках,Точки выбирают на том расстоянии, длякоторого построена градуировочная зависимость, и определяют степень мозаичностипо градуировочной кривой,После выращивания монокристаллов привысоких температурах и остывании до комнатной температуры, наблюдаемая мозаичность кристалла часто обусловлена такимстатистическим распределением блоков мозаики по кристаллу, при котором соседниеблоки повернуты один относительно дру-гого в одну сторону, Измеренный характер 4изменения углов отражения рентгеновскнх лучей в точках кристалла, расположенных вдоль какого-либо направления, имеет впд монотонно изменяющейся кривой. Это обуславливает искривление кристаллографической плоскости как целого всей поверхности кристалла.На чертеже изображен...
Устройство для исследования кристал-лов c помощью заряженных частиц
Номер патента: 819654
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Бондаренко, Виноградова, Иванов, Маренов, Махлин, Шишин, Шнырев
МПК: G01N 23/203
Метки: заряженных, исследования, кристал-лов, помощью, частиц
...рукояткой привода 9,Обечайка 10 (фиг. 2) рабочей камеры выполнена в виде усеченного конуса, обращенного внутрь рабочей камеры, и своим большим основанием герметично закреплена во фланце, а в меньшем основании обечайки, расположенном в непосредственной близости от образца, помещенного в центре Фамеры, закреплен одним концом сильфон 11 другой конец которого связан с источником заряженных частиц. Подвижный детектор 12 соединен с днищем рабочей камеры посредством сильфона 13, а неподвижный детектор 14 жестко соединен с рабочей камерой 1, Образец 15 жестко установлен в держателе 16 криостата 17, который также жестко соединен с крышкой 18 рабочей камеры 1,Работа устройства может быть проиллюстрирована на примере проведения эксперимента по...
Способ измерения ширины линииферромагнитного резонанса
Номер патента: 819655
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Зинченко, Огаренко, Шмелева
МПК: G01N 24/00
Метки: линииферромагнитного, резонанса, ширины
...рсоб.Устройствнатор 2, в котф томер 3, СВи магнит 6.Устройствозом. Сигнал С же схематически изображено ализующее предлагаемый споо содержит клистронорый помещен образец Ч-детектор 4, система819655 Формула изобретения Составитель В. Копанев Редактор т. Зубкова Техред А. Бойкас Корректор Н. Швыдкая Заказ 1290/20 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР ло делам изобретений и оз крытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4ют на вход резонатора с образцом и частотомер. Сигнал с выхода резонатора поступает на СВЧ-детектор и далее на вход системы АПЧ и с выхода системы АПЧ на отражатель клистрона.Предлагаемый способ реализуется сле дующим образом. С помощью...
Способ регистрации резонансныхсигналов b спектрометрическойаппаратуре
Номер патента: 819656
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Линев, Лисовский, Мочальский, Фурса, Яновский
МПК: G01N 24/00
Метки: регистрации, резонансныхсигналов, спектрометрическойаппаратуре
...выбирается иэ дН Ад+ а ИЧ (аН(7 Н Максимальные амплитудные иекажения ЬЧп, наблюдаются в области реэон нса где скорость изменения сигналадмаксммальнавМ й дЧ (дН) ЪЧ . аи "- и- амплитуда сигнала сР/с)йр1 п АН - ширина спектральной линиирезонанса. Тогда время развертки 1 р магн го поля для регистрации сигнала нанса Ы УЫНсоставляет ДН ДИр й, р(3)2 дН с 1Р дЧ дН где ЬНр - амплитуда го поля, которая для ной спектральной лин условии: ЬН МОдН(4)1Основным недостатком известного способа является необходимость предварительной регистрации сигнала резонанса для35 , определения параметров сигнала и задания, исходя из этого, скорости развертки магнитного поля цля регистрации сигнала резонанса с заданными искажениями и максимальной чувствительностью....
Ядерно-магнитный измерительколичества протекшего вещества b mho-гофазных потоках
Номер патента: 819657
Опубликовано: 07.04.1981
Автор: Семенюта
МПК: G01N 24/08
Метки: mho-гофазных, вещества, измерительколичества, потоках, протекшего, ядерно-магнитный
...катушкиЯМР- плотномера, так как при заданнойдлительности управляющих ЯМР- плотномерам импульсов С ошибка в измерениях = еГде Юскорость потоф. ка;- длина катушки датчика ЯМРплотномера, то есть ошибка, пропорциональная скорости движения вещества потока. Кроме того, сам .процесс преобразования сигнала с выхода ЯМР- скоростемера вносит некоторое запаздывание, чтоприводит также к увеличению абсолютнойпогрешности измеряемого количества изза того, что часть вещества за времчзапаздывания уйдет иэ ооласти катушкидатчика ЯМР - плотномера и .не будетзафиксирована,9657Целью изобретения является повыше; ние точности измерений количества про текшего вещества методом ЯМР.Поставленная цель достигается тем, .что в известном ядерно-магнитном...
Устройство для определения началь-ной амплитуды импульсных сигналовямр
Номер патента: 819658
Опубликовано: 07.04.1981
Автор: Иоф
МПК: G01N 24/08
Метки: амплитуды, импульсных, началь-ной, сигналовямр
...звена, а выход диф- .ференциального звена - с выходом цифференциального усилителяи вхоцом цетектора огибающей, а второй вход подключен к фильтру нижних частот, соецигцененному с источником опорного напряжения блока управления через ключ.На фиг. 1 приведена блок-.схема описы-:ваемого устройства, 0Устройство содержит основной усилитель переменного тока 1, дополнительныйусилитель 2, множительное звено 3,фильтр низких частот 4, ключ 5, детектор 6, интеграторы 7 и 8, квадратор 9,длительное звено 1 О и блох управления11. Выхоц целительного звена являетсявыхоцом устройства.В момент времени 1 = О, соответству- ня30ющий началу процессии, ключ 5 замыкается и на вхопы множительного звена попаются цва напряжения: напряжение сигнала(т.) и...
Спектрометр электронного парамагнит-ного резонанса
Номер патента: 819659
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Кадыров, Приступа, Трубников
МПК: G01N 24/10
Метки: парамагнит-ного, резонанса, спектрометр, электронного
...1, находящимся между ними, рабочий генератор с системой АПЧ 5, генератор модуляции сигнала 6, электронные блоки питания, стабилизации и управления спектрометром 7, источник фото-радиолизующего облучения исследуемого образца 8, источник зондирующего излучения исследуемого образца 9 в цепь оптической регистрации сигналов ЭПР 10, содержащую фотоприемник, усилитель регистрации с фазовым детектором, магнит 11,Оптическая прозрачность металлического прямоугольного резонатора с типом колебаний Н, для зондирующего излучения, падающего на торцы резонатора, достигнута за счет того, что торцовые стенки выполнены в виде решетчатых диафрагм, образованных стержнями, находящимися на равном расстоянии друг от друга и от стенок резонатора. Соединение...
Низкотемпературная воднокислотнаяматрица для анализа алюминиевыхсплавов методом эпр
Номер патента: 819660
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Овчаров, Сердюк, Федин
МПК: G01N 24/10
Метки: алюминиевыхсплавов, анализа, воднокислотнаяматрица, методом, низкотемпературная, эпр
...низкотемпературной водно-кислотной матрице для анализа алюминиевых сплавов, матрица дополнительно содержит соляную кислоту, концентрация которой выбирается из условия полного растворения образца, а концентрация серной кислоты находится в пределах 1/13-2 мольных долей.При использовании указанной смеси кислот происходит быстрое растворение образца, при замораживании раствора ширина линии спектра ЭПР меди и марганца не зависит от их концентрации, что свидетельствует о равномерном распределении парамагнитных ионов. Таким образом, преодоления эффекта сегрегации и полного растворения образец перед замораживанием растворяется в смеси серной и соляной кислот. При концентрации серной кислоты менее 1/13 и более 2 мольных долей раствор замерзает...
Детектор по теплопроводности
Номер патента: 819661
Опубликовано: 07.04.1981
МПК: G01N 25/18
Метки: детектор, теплопроводности
...А - А фиг. 1 по одному из каналов для чувствительного элемента; на фиг. 3 - сечение Б - Б фиг. 2.Детектор по теплопроводности содержиткорпус 1 с рабочей и сравнительной камерами. Каждая из камер представляет собой центральный канал 2 (рабочая камера) или 2 (сравнительная камера), образованный соприкасающимися по хордам каналами 3 и 3 для размещения чувствительных элементов 4. Корпус детектора снабжен входныМи штуцерами 5,5 и выходными штуцерами 6 и 6.15 Анализируемый газ поступает к чувствительным элементам 4 по центральному каналу 2, через штуцер 5 и выводится из штуцера 6, чистый газ-носитель вводится через штуцер 5 и выводится через штуцер 6.Детектор позволяет устанавливать в каждой камере вокруг центрального канала по винтовой...
Устройство для определения тепло-вых свойств материалов
Номер патента: 819662
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Егоров, Николаев, Николаева
МПК: G01N 25/18
...повысить точность определений тепловых свойств материалов в ши-.роком диапазоне температур, что является необходимым для исследования тепловых свойств при фазовых переходах широкого класса веществ. В отличие от известных устройств введение полуограниченных тел с известными и равными тепловыми свойствами увеличивает точность определений, так как исключаются трудноучитываемые лучистый и конвективный теплообмен с поверхностей образцов, и позволяет использовать образцы в форме тонких пластин и пленок с толщиной от единиц до десятых долей миллиметра, что особенно важно при определении тепловых свойств материалов в жидком и газообразном состоянии или в их композиции с твердым телом, то есть гетерогенных сред. Кроме того, введение...
Устройсто для измерения влажностипара
Номер патента: 819663
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Зуйко, Кипнис, Коваленко
МПК: G01N 25/60
Метки: влажностипара, устройсто
...трубка 2 из теплоизолируюшего материала с электрическим пароперегревателем 3, расходомерная трубка 4 с отборами давления 5 и 6, дифференциальный датчик 7 температуры перегрева и клапан 8 с соленоидом 9.Мощность, потребляемая электрическим пароперегревател" м, измеряется датчиком 10, давление пара контролггруется датчиком 11. В блоке 12 обработки информации производится вычисление влажности пара,Датчик 7 может быть выполнен в виде термобатареи, одна группа спаев которой помещена в трубке, а другая - в паропроводе.Включается электрический пароперегреватель 3. Через промежуток времени, необходимый для прогрева пароперегревателя, открывается соленоидный клапан 8. По истечении выдержки, необходимой для стабилизации тепловых...
Кондуктометр
Номер патента: 819664
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Коженков, Никитин, Сидоров
МПК: G01N 27/02
Метки: кондуктометр
...3 постоянного тока, транзисторы 4 и трансформатор связи 5, первичная обмотка которого подключена к выходу стабилизирующей ячейки б.Блокинг-генератор снабжен дополнительно электрической ячейкой, выполненной в виде сосуда 7 и. электро-,дов 8, погруженных в электролит 9.Межэлектродный промежуток электролитической ячейки включен через резистор 10 в цепь обратной связи блокинггенератора.для измерения сопротивления электролита к блокинг-генератору подключают электролитическую ячейку и источ"ник 3 постоянного тока. При этом навыходе трансформатора 1 генерируются электрические импульсы, часто О та которых пропорциональна сопротивлению электролита. Поэтому значениесопротивления измеряется непосредственно регистратором частоты.Наблюдаемое...