G01N 21/87 — исследование драгоценных камней

Номер патента: 121962

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Тверской

МПК: G01N 21/87

Метки: алмазов, качества, люминесцентный

...выявлять самые тончайшие трещины шириной менее 0,1 лк. Достигается это тем, что, с целью повышения интенсивности свечения, увеличивают концентрацию люминофоров в составе, заполняющем поверхностные дефекты (трещины) алмазов, для чего люминофоры применяют в виде расплавов, а не в виде растворов в органических растворителях.В стеклянный герметический сосуд засыпают люминофор, например люмоген светло-зеленый, а над ним - исследуемые алмазы, после этого в сосуде создают глубокий вакуум и шейку сосуда запаивают. Затем сосуд и его содержимое нагревают до расплавления люминофора 1 при указанном реагенте - до 130), выдерживают 20 - 40 минпосле чего алмазы извлекают и промывают в дихлорэтане илп другом растворителе.Промытые алмазы...

Номер патента: 160011

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01N 21/87

Метки: 160011

...пучок осветителя пропускают через алмаз, лежащий на качающемся столике, и проектируют объективом на фотоэлектронный умножитель.Фототок, возникающий при падении светового иотока, усиливают усилителем и подают на командный прибор, стрелка которого,отклоняясь, перекатывает окна фотореле. Импульс фотореле подается на исгтолнигелъный механизм поворота столика для сбрасывания алмаза в ящик. На столик алмаз подается автоматическим вибробункером.Таким образом, в зависимости от качества алмазов, а следовательно, и величины светового потока, вышедшего из алмаза, соответствующая ведшчих-та фототока будет характеризовать сорт алмаза. Автомат может настраиваться на определенные диапазоны фототоков, соответствующие сортам алмазов.Прибор для...

Номер патента: 408200

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 21/87, G02B 21/00

Метки: дефектоскопии, прозрачных

...системы проходит через исследуемый бриллиант.Затем производится наведение на резкостьизображения с помощью механизма 10 и перемещение кристалла с помощью механизма 4 его крепления в положение, при котором его изображение располагается точно в центре по ля зрения окуляра стереоскопической системы,а грань кристалла, под которой находится подлежащий измерению дефект, будет ориентирована приблизительно перпендикулярно к линии визирования стереоскопической системы,Далее вращаюшаяся плата кронштейна по ворачивается в положение, при котором через кристалл проходит визирная ось автоколлимационного микроскопа. В оптической системе автоколлимационного микроскопа предусмотрена коллиматорная линза, обеспечивающая 10 на выходе его параллельный...

Номер патента: 819652

Опубликовано: 07.04.1981

Авторы: Волков, Гречушников, Севастьянов, Суходольский, Цветков

МПК: G01N 21/87

Метки: исследования, кристаллов, оптическихсвойств

...77 для него совпадало со значением (дт/йч) 77 для сапфирового хладопровода, то комнатная температура не будет достигаться при мощности нагревателя 132 В, т.е. при мощности примерно в восемь раз большей, чемв случае сапфирового хладопровода. Этосоответствует расходу жидкого азота 3 л/ч.При сапфировом же хладопроводе расходжидкого азота равен 0,4 л/ч.Приведенные цифры показывают, чтохладопровод из ионного монокристалла, например сапфира, позволяет перекрыть весьтемпературный диапазон 77 в 3 К при оптимальных условиях, т.е. позволяет получатьна образце 77 К и при сравнительно небольшом расходе жидкого азота достигать комнатной температуры.П р и м е р. Было проведено исследованиеспектров поглощения кристалла александрита (ВеА 1 г...

Номер патента: 1658829

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Дональд, Хитер

МПК: G01N 21/17, G01N 21/87

Метки: алмазов, качества, оценки

...5 приспособлен к удержанию алмаза б на пути света от лазера и может менять ориентацию алмаза относительно направления лазерного излучения.До проведения оценки качества неизвестного алмаза желательно определить, имеются ли в алмазе внутренние кристаллические дефекты вроде включений. Такие дефекты необходимо учитывать при оценке качества алмаза.Изобретение может использоваться для оценки как огрэнениых, так и неограненных алмазов. Поэтому данный способ может быть приспособлен к групповому или непрерывному методу отделения алмазов по группам известного качества от алмэзоносного материала.желательно, чтобы элмазы неизвестного качества относились к одному цветовому типу, например белому, желтому, зеленому, кроме того, желательно определять...

Номер патента: 1709929

Опубликовано: 30.01.1992

Авторы: Дональд, Хитер

МПК: G01N 21/87

Метки: алмазов, сортировки, типу, цветовому

...источники 1 и 2лазерных излучений 3 и 4, способных создавать рамановское рассеяние излучения 5 оталмаза 6, Каждый источник работает в одноволновом режиме, т.в. в один момент времени испускается излучение только с однойдлиной волны. В данном примере длинаволны лазерного излучения 3 от источника 1может быть изменена, и интенсивность рамановского излучения может быть измерена при двух значениях длины волнпадающего лазерного излучения, Лазер, ис-.пользовавшийся в качестве источника 1,представляет собой аргонно-ионный лазер"Спектра физикс". модель 2020,. способныйсоздавать излучение с длиной волны 488 и514,5 нм. Лазер, использовавшийся в качестве йсточника 2, работает в режиме с однойдлиной волны, т.е; лазерное излучение 4имеет одну...

Номер патента: 1749789

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Специус, Шишков

МПК: G01N 21/64, G01N 21/87

Метки: алмазов, переработки, продуктах, содержания, технологической

...интенсивности рентгеноломинесцейции типа ФЭУ, измеритель 6 величины интенивности рентгенолюминесценции тйпа вольтметра ВК-9.Способ осуществляют следующимобразом.. 2ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖА.МАЗОВ В ПРОДУКТАХ ТЕХНОЛОГОИ ПЕРЕРАБОТКИущность изобретвния: пробу от прохнологической переработки предвао кипятят в соляной кислоте, а держания в ней алмазов произвомулв С 2,54 - 0,3, где Э - интень рвнтгенолюминесценции пробы. При определении содержания алмазов крупностью 0,14-0,2 мм в продукте техноло-гической переработки отбирают пробу продукта, предварительно обрабатывают соляной кислотой, взвешивают и помещают, в кювету 3, последнюю устанавливают напредметный столик 4. Затем включают ис-точник 1 рентгеновского излучения, и послеравномерного...

Номер патента: 1770859

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Решетняк, Третьякова

МПК: G01N 21/87

Метки: диагностики, неразрушающей, самоцветов

...и предварительной подготовки образца, оп рава камня не является препятствием для съемки спектра, Спектр снимается с зеркальной поверхности образца - полированной для ограненных камней или естественной - гранной, спайной плоскости 15 кристалла. Размер образца - от 2 мм.Ограничением операции может быть отсутствие полос отражения в этом диапазоне для ряда минералов (например, киновари, прустита, алмаза, флюорита, сфалерита, га ленита, пирита, гематита и других минералов), что не позволяет использовать спектр ЗО для решения поставленной задачи - видовой диагностики самоцвета.Операция съемки спектра ДО в види мом диапазоне (25000-13000 см ) проводится для выбора оптимальной длины волны возбуждающего света при получении спектра КР,...

Номер патента: 1809921

Опубликовано: 15.04.1993

Автор: Стивен

МПК: G01N 21/65, G01N 21/87

Метки: алмазов, алмазоносном, материале, ними, отделения, породы, рудной, связанной

...алмазоносной руды по желобу 15, наклоненному под углом примерно 60 к горизонту; Устройство подачи воды 16 пропускает воду в руду для получения пульпы 17, проходящей по желобу и затем свободно падающей вниз с конца желоба, Имеется непрерывный аргоновый ионный лазер 18, способный давать мощное излучение с длиной волны 514,5 нм и предназначенный для направления излучения на падающую пульпу 19 для определения присутствия алмаза, Лазерное излучение, рассеиваемое в результате эффекта Рамана, фильтруется при помощи фильтров 20 и детектируется детектором 21, Вблизи падающей пульпы 19 расположен сопловый эжектор 22 сжатого газа, направленный на пульпу. Электронное микропроцессорное устройство 23, связанное с детектором, предназначено для...

Номер патента: 1797336

Опубликовано: 27.03.1995

Авторы: Бочаров, Вангонен, Золотарев, Клюев, Юхневич

МПК: G01N 21/87

Метки: алмазов, идентификации, фрагментов

...в разных сечениях,При необходимости контроля обьекта вовсех пространственных сечениях форма заключающего его образца должна быть сфе 20 рической. Такая форма наиболее удобна дляфурье-спектрофотометра, имеющего круглое входное отверстие. В простейшем случае формой образца может быть и плоскаяпластина в виде таблетки.Если такая подготовка образца выполнена, то из-эа потерь света на отражение,рассеяние и интерференционные эффекты,возникающие на гранях и макродефектахобъекта, прозрачность последнего падаетЗ 0 настолько, что точность спектральных измерений заметно падает или они даже не могутбыть проведены.Контроль положения алмаза или фрагмента в образце осуществляется с помощью35 ИК микроскопа, т.к. среда их халькогенидного стекла...

Номер патента: 1762628

Опубликовано: 20.05.1999

Авторы: Езерский, Решетняк, Шеманина

МПК: G01N 21/87

Метки: алмазных, генетического, зерен, типа

Способ определения генетического типа алмазных зерен, включающий освещение каждого зерна пучком оптического монохроматического излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности при снижении трудоемкости и расширения диапазона исследуемых объектов, регистрируют линию комбинационного рассеяния алмазного зерна в области 1332 50 см-1, измеряют ширину контура указанной линии на половине высоты его максимума, определяют спектральное положение максимума линии комбинационного рассеяния и по полученным данным с использованием заранее построенной диаграммы устанавливают генетический тип алмазного зерна.