Патенты с меткой «тестовый»

Номер патента: 69861

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Златкин

МПК: A21C 13/02

Метки: агрегат, конвейерный, тестовый

...состоит из дежев ого кольцевого конвейера тестомесильной машины, дежеопрокидывателя и ступенчатого тестоспуска.На дежевом конвейере 1, перемещаемом на роликах 2 вокруг оси 3 вручную, поворотно монтированы на горизонтальных осях дежи 4 для опары, Брожение опары и замес теста происходят в дежах, а брожение и обминка теста - в ступенчатом .тестоспуске,Дежа с созревшей опарой подается к тестомесильной машине 5, а после замеса в ней теста - к дежеопрокидывателю б для передачи из нее теста в верхний бункер ступенчатого тестоспуска 7.Объем бункеров последовательно увеличивается от верхнего к нижнему в соответствии с увеличением объема теста при его брожении.Бункера сообщаются друг с другом отверстиями с поворотными заслонками 8,...

Номер патента: 570856

Опубликовано: 30.08.1977

Авторы: Антонов, Дубовис, Чернышов

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, микросхем, модуль, параметров, тестовый

...и через резистор 10 к выходу операционного усилителя 9, к которому через резистор 11 подключен вход операционного усилителя 12, соединенный с выходом через резистор 13, а другой вход - к делителю напряжения на резисторах 14 и 15, включенному между общей шиной и выходом операционного усилителя 16, неинвертирующий вход которого подключен через резистор 17 температурной стабилизации к общей шине, а инвертирующий вход - к второму входу испытуемой интегральной микросхемы и через резистор 18 к выходу.Режим испытуемой интегральной микросхемы определяется усилителем 1, устанавливающим равенство выходных напряжений испытуемой интегральной микросхемы. Испытуемая интегральная микросхема и усилитель 1 охвачены глубокой отрицательной обратной...

Номер патента: 632967

Опубликовано: 15.11.1978

Авторы: Антонов, Дубовис, Чернышев

МПК: G01R 31/319

Метки: интегральных, микросхем, модуль, параметров, тестовый

...содержит1-4, ратурной ной свядепитепя ппы кон632967 Тестовый модуль дпя контроля параметров интегральных микросхем работает спедуюшим образом. Режим испытуемой интегральной микросхемы (на чертеже не показана) устанавливается опера- У ционным усилителем 4, устанавпиваюшим равенство входных напряжений испытуемой интегральной микросхемы. Так как операционные усилители 1 и 2 идентичны и согласованы по своим параметрам, то . Ф к входам испытуемой интегральной микросхемы приложено лишь напряжение смещения нуляс и выходное напряжение операционного усилителя 1 равно а смРь -5 СМЬТестовый модуль дпя контроля параф метров интегральных микросхем по авт.св.570856, о т и и ч а ю ш и й с ятем, что, с целью расширения функциональных возможностей...

Номер патента: 1185240

Опубликовано: 15.10.1985

Авторы: Исаков, Сукнов, Холоденко

МПК: G01B 11/00, G01N 33/48

Метки: образец, тестовый

...которых определяется числом уровней дискриминации анализатора, каждый из которых соответствует определенному уровню оптической плотности,Далее производится калибровка по площади и периметру. Она сводится к нахождению калибровочных коэффициентов по площади К и по периметру Кр, Они определяются как частное от деления площади (или периметра) тестовой фигуры, выраженной в абсолютных единицах после измерения и расчета с высокой степенью точности, на площадь (или периметр) той же фигуры, но определенной анализатором в условных единицах как результат обработки видеосигнала изображения этой фигуры на телеэкране, т,е. /тестРтестКЗАН АН) Р рСначала определяют калибровочные коэффициенты К 5 и Кр для всех тестоВых фигур с одйнаковой оптической...