Рацун

Номер патента: 1307559

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Климов, Рацун

МПК: H03K 5/06

Метки: импульсов, многоканальный, стробирующих, формирователь

...зя, 4 Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано при создании многоканальных формирователей импульсов для стробоскопического измерителя параметров импульсов. 5Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства за счет расширения диапазона изменения длительности импульсов в сторону малых длительностей.10На чертеже представлена схема многоканального формирователя.Устройство содержит генератор 1 тока, усилитель 2, клемму 3 для подключения внешних пусковых импульсов, диоды 4,1 4.и, линии 5.15.и задержки, ключи 6.1 6 и, входные клеммы 7,17.и для подключения сигналов управления каналами, конденсаторы 8.18.и, выходные клеммы 9,1 9.и для подключения стробоскопических...

Номер патента: 970260

Опубликовано: 30.10.1982

Авторы: Климов, Панчешников, Рацун

МПК: G01R 25/00

Метки: задержки, фазовой, четырехполюсника

...синусоидального сигнала, и фаэометр 7 измеряет Фазовый сдвиг й между входным и выходным сигналами четырехполюсника. Код измеренной величины задержки в пределах периода поступает на управляющий вход блока 15 регулируемой задержки и уменьшает его задержку на величину Блок 15 регулируемой задержки и линия 13 задержки настроены так, что в исходном состоянии обеспечивают задержку сигнала в один период счетного импульса, По второй команде с блока управления коммутатор 4 подключает вход испытуемого четырех-полюсника через блок 15 регулируемой задержки к выходу генератора 12 импульсов. По этой же команде измеритель 10 числа периодов подсчитывает количество (и) счетных импульсов, соответствующих числу периодов, поступивших на измеритель за время...

Номер патента: 647695

Опубликовано: 15.02.1979

Авторы: Климов, Рацун

МПК: G01R 31/303

Метки: динамических, интегральных, микросхем, параметров

...микросхемы 6 требуемый режим испытания.Эта матрица состоит из высокочастотных переключателей (реле), Их количество за. висит от типа микросхем, программы и режимов испытаний.Таким образом, тест-импульсы поступают через контакты группы реле на один иэ выходов контролируемой микросхемы. С выхода микросхемы сигнал через другие контакты реле этой же матрицы поступает на вход 7 второго канала двухканального стробоскопического преоб разов ател я 4. Н а вход первого канала сигнал поступает с выхода 2 для тест-импульса генератора 1. Второй двухканальный стробоскопический преобразователь 9 включен последовательнос первым, т. е. выход для проходного сигнала первого канала первого преобразователя 4 присоединен ко входу первого канала...

Номер патента: 234524

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Рацун

МПК: G01R 31/26

Метки: переходных, полупроводниковых, приборов, характеристик

...временных параметров полупроводникового прибора автоматическим сравнением трансформированных во времени с помощью стробоскопических преобразователей входного сигнала, поступающего на испытуемый полупроводниковый прибор, и выходного сигнала, снимаемого с этого прибора.Импульсные напряжения, обеспечивающие начало отсчета интервалов времени, формируются блоком 10 из переднего и заднего фронтов преобразованного входного сигнала, импульсы конца отсчета формируются блоком 11 в момент, когда амплитуда выходного сигнала достигает заданного значения.Блок 12 формирования импульсов запрета приводит в рабочее состояние схемы формирования импульсов начала и конца отсчета и нейтрализует влияние помех на их работу,Интервалы времени измеряются...

Номер патента: 104429

Опубликовано: 01.01.1956

Авторы: Миркин, Рацун

МПК: G04F 10/04, H01J 21/00

Метки: времени, катодов, ламп, разогрева, электронных

...мультивибрат(ура.По мере разогрсвя катода ток в испытуемой лампе увеличивястгя. что приводит к увслпчению положительного напряжения ня сеткс лампы 1 Ля), вглсдсгвие чего ток, прокодящий через лампу (Лз), начинает возрастть. При опрсделенном, заранее известном токе испытуемой лампы, велич(гна положительного напряжения, которос возникает на сопротивлении Я) при прокождснии тока, может выть рассчитана.Начальное смещение, которое закрывает лампу, на сетке ла)пы (Лз) устанавливается прп по)О)ци;слитсля гппрти 5:еп) (Кт), Я)в) и Я)о).При достижении током в испытуемой лампе 80 % номинального значения напряжение на сетке (Ла) становится положительным и ла)Н 11 отпирается, что вызывает уменьшение напряжения на аноде лампы (Лз), а...