Устройство для контроля динамических параметров интегральных микросхем

Номер патента: 647695

Авторы: Климов, Рацун

ZIP архив

Текст

О П И С А Н-И"-"И" ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскых Соцыалыстыческых Республик(о 1) Дополнительное к авт. свил-ву(Щ Заявлено 09.08.7 6 (21) 2395920/18(5) й, Кл. ( 06 Р 15/46 С 01 Й 31/2 е нрисоедииеннем заявки ИЩ Приоритет Государстаеииый ионит СССР,оо делам изобретеиий и открытий.О,Р 71) Заявитель 4) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРО ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛ НАМИЧЕСКИХ МИКРОСХЕМ Изобретение относится к контрольноизмерительной технике н можетбыть нспользовано для контроля электрических параметров схем, в том числе цифровых ннтегральных микросхем.Известно устройство для контроля дннамнческнх параметров интегральных микросхем, в котором используются стробоскопнческне преобразователи сигнала во времени. Известное устройство содержит преобразователя код-напряженне, напряженне-код, электронную вычнслнтельную машину; сумматоры н интеграторы 1. В этом устройстве производится управление временным положением стробнрующнх импульсов для определения фазы сигнала на заданном уровне отсчета, Для измерения нлн контроля одного нз динамических параметров поиск фазы производится два раза. Известно устройство, в котором преобразование во временн нсследуемого сигнала производится путем последовательного стробировання всех точек сигнала нлн его части, включающей один нз фронтов этого сигнала, Принцип действия этого устройства состоит в том, что с помощью двухканального стробоско. пнческого преобразователя преобразуется во времени входной сигнал, поступающий на испытуемый прибор, н выходной сигнал, снимаемый с выхода этого прибора 121 Наиболее близким к изобретению техническнм решением является устройство для контроля динамических параметров интегральных микросхем, содержащее генератор нмпульсов, коммутационную матрнцу, первый двухканальный стробоскопнческнй преобразователь, блок сдвига, первый блок формнровання уровней отсчетапервую схему срав 1 а нення, блок измерения интервалов времени,блок управления, причем выход тест-импульсов генератора нмпульсов соединен со входом первого канала первого двухканального стробоскопнческого преобразователя н с пер.вым входом коммутационной матрнпы, пер.вый выход н второй вход которой соединены соответственно со входом н выходом контролнруемой микросхемы, второй выход коммутацнонной матрнцы соединен со входом второго канала первого двухканального стробо- ЗО скопнческого преобразователя, выход импульсовв синхронизации генератора импуль, сов через блок сдвига соединен с унрав 1 ян.щнм входом первого двухканального стробо.скоанческого преобразователя, выход кото.647695 10 5 рого соединен с первым входом первой схемы сравнения и через первый блок форми. рования уровней отсчета - со вторым входом первой схемы сравнения, выход кото,рой соединен с первым входом блока измерения интервалов времени, выход блока иэмерения интервалов времени соединен со вхо. дом блока управления 131, Однако известные устройства характеризуются низкой производительностью контроля параметров, причина которой заключается в том, что динамические параметры измеряются и контролируются последовательно.Целью изобретения является повышение производительности контроля динамических параметров микросхем. В описываемом устройстве это достигается тем, что в него введеньь второй двухканальный стробоско- пичскиЯ преобразователь, втораясхема сравнения, второй блок формирования уровней отсчета и блок задержки, причем выходы проходного сигнала первого. и второго каналов первого двухканального стробоскопнческого преобразователя соединены соответственно со входами первого и второго каналов второго двухканального стробоскопического преобразователя, выход блока сдвига через блок задержки соединен с управля 1 ощим входом второго двухканального.стробоскюпического преобразователя, выход которого соединен с первым входом второй схемь 1 сравнения и через второй блок фор-мирования уровней отсчета - со вторым эвходом второй схемы сравнения, выход второй схемы сравнения соединен со вторым входом блока измерения интервалов вре-.мени,На чертеже показана схема описываемого устройства,Оно содержит генератор импульсов 1,выход 2 которого для тест-импульса 2 присоединен ко входу 3 первого канала двухканального стробоскопического преобразователя 4 и к коммутационной матрице 5, 4 всоединенной с контролируемой микросхемой 6 и со входом 7 второго канала двухканального стробоскопического преобразователя 4, выход 8 для проходного сигналакоторого дрисоединен ко входу первого канала двухканального стробоскопического преобразователя 9, выход 10 для проходного сигнала преобразователя 4 присоединен ко входувторого канала двухканального преобразо-вателя 9, выход 11 сигнала синхронизациигенератора 1 присоединен к блоку сдвига 12, 50выход которого подключен к двухканальному стробоскопическому преобразователю 4 ик блоку задержки 13, присоединенному кдвухканальному стробоскопическому преобразователю 9. Выход стробоскопическогопреобразователя 4 присоединен к блоку формирования уровней отсчета 14 и к схемесравнения 15, а выход стробоскопическогопреобразователя 9 присоединен к блоку фор 4мирования уровней отсчета 16 и к схеме сравнения 17, вторые входы схем сравнения 15 и 17 присоединены к блокам форми. рования уровней отсчета 14 и 6, а выход - к блоку измерения интервалов времени 18, присоединенному к блоку управления 19,Генератор 1 формирует тест-импульсы, которые поступают на коммутационную мат. рицу 5 и на вход 3 первого канала двухканального стробоскопического преобразователя 4, Коммутационная матрица 5 произ. водит автоматически по заданной программе переключения, обеспечивая на выходах контролируемой микросхемы 6 требуемый режим испытания.Эта матрица состоит из высокочастотных переключателей (реле), Их количество за. висит от типа микросхем, программы и режимов испытаний.Таким образом, тест-импульсы поступают через контакты группы реле на один иэ выходов контролируемой микросхемы. С выхода микросхемы сигнал через другие контакты реле этой же матрицы поступает на вход 7 второго канала двухканального стробоскопического преоб разов ател я 4. Н а вход первого канала сигнал поступает с выхода 2 для тест-импульса генератора 1. Второй двухканальный стробоскопический преобразователь 9 включен последовательнос первым, т. е. выход для проходного сигнала первого канала первого преобразователя 4 присоединен ко входу первого канала преобразователя 9. Аналогично соединены и вторые каналы.Двухканальн 1 й стробоскопический преобразователь 4 преобразует часть сигнала, соответствующего одному из фронтов исследуемого сигнала, двухканальный стробоскопический преобразователь 9 -часть, соответствующую другому фронту,Сигнал синхронизации с выхода 11 генератора 1 поступает на блок сдвига 12, который включает в себя генератор быстрого пилообразного напряжения, генератор медленного ступенчатого напряжения и схе. му сравнения. В последней происходит сравнение быстрого пилообразного напряжения с медленным ступенчатым и формируются сигналы, сдвинутые один относительно другого на время 6 с - шаг считывания, Сигналс, выхода блока сдвига поступает на стробоскопический преобразователь 4 для возбуждения строб-генератора этого преобразователя и через блок задержки 13 - на преобразователь 9.Таким образом, сигналы синхронизации преобразователей 4 и 9 сдвинуты один относительно другого на заданное время, Это и обеспечивает одновременное преобраэова. ние двумя преобразователями 4 и 9 двух частей сигнала.Преобразованные во времени сигналы с выхода двухканального стробоскопическогопреобразователя 4 поступают на блок формирования уровней отсчета 14 и на схему сравнения 15.Блок формирования уровней отсчета 4 содержит два емкостных узла памяти для запоминания верхнего и нижнего уровней сигналов и делителей напряжения.Опорные капряжения с этих делителей поступают на схему сравнения5,.Количество делителей для входного сигнала - . один (0,5 амплитуды сигнала), для выходного - три (0,5; 0,1 и 0,9 амплитуды сигнала),Схема сравнения 15 содержит четыре дискриминатора - один ка каждый уровень отсчета,При задании уровней отсчета.по постоянному напряжению эти уровни подаются на вход соответствующих двухканальных стробоскопических преобразователей, запоминаются блоком формирования уровней отсчета 14, после их преобразования, и затем подаются на схему сравнения 15. С выходов четырех дискриминаторов сигналы поступают на блок кзмерения интервалов времени 18, С выходов первого и второго каналов двухканального стробоскопического преобразователя 9 сигналы поступают на блок формирования уровней отсчета 16 и схему сравнения 17, Эти блоки аналогичны соответствующим блоку 14 и схеме 15. Блок измерения интервалов времени одновременно производит контроль сразу четырех динамических параметров интегральных схем. Он содержит четыре счетчика числа импульсов, на которые сигналы разрешения счета и конца счета поступают с дискриминаторов, Зафиксированная в счетчиках информация о длитель. ностк измеряемого интервала считывается поочередно в схему цифрового сравнения, которая в соответствии е заданными уставками производит разбраковку интегральных схем по параметрам.,Блок управления 19 обеспечивает автоматизацию измерения параметров испытуемой микросхемы.Изобретение позволяет одновременно кон. тролировать четыре динамических параметра интегральной микросхемы, при этом производительность контроля повышается в че. тыре раза,Формула изобретенияУстройство для контроля динамических параметров интегральных микросхем, содер жащее генератор импульсов, коммутапионную матрицу, первый двухканальный стробоскопический преобразователь, блок сдвига,первый блок формирования уровней отсче.та, первую схему сравнения, блок измеренияинтервалов времени, блок управления,.причем выход тест-импульсов генератора импульсов соединен. с входом первого каналапервого двухканального стробоскопического преобразователя и с первым входом ком.мутационной матрицы, первый выход и второй вход которой соединены соответственносо входом и выходом контролируемой микросхемы, второй выход коммутационной мат.- рицысоединен со входом второго канала пер 15 вого двухканального стробоскопического пре.образователя, выход импульсов синхронизации генератора импульсов через блок сдвига соединен с управляющим входом первого двухканального стробоскопического пре.образователя, выход которого соединен спервым входом первой схемы сравнения ичерез первый блок формирования уровнейотсчета соединен со вторым входом первойсхемы сравнения, выход которой соединен спервым входом блока измерения интервалов25 времени, выход блока измерения интервалов времени соединен со входом блока управления, отличающееся тем, что, с цельюповышения производительности, в устройство введены второй двухканальный стробоскопический преобразователь, вторая схема сравнения, второй блок формированияуровней отсчета и блок задержки, причемвыходы проходного сигнала первого и второго каналов первого двухкакального стробо.. скопического преобразователя соединены соответственно со входами первого и второгоканалов второго двухканального стробоско пического преобразователя, выход блокасдвига задержки соединен с управляющимвходом второго двухканального стробоскопического преобразователя, выход которого40 соединен с первым входом второй схемысравнения и через второй блок формирования уровней отсчета - со вторым входомвторой схемы сравнения, выход второй схе.мы сравнения соединен со вторым входом4 блока измерения интервалов времени.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1. Электронная промышленность, 1973,4,с,10 - И,2, Авторское свидетельство СССРЮ234524, кл, б 01 К 31/26, 96.3. Электронная промышленность, 971,3, с. 19.на ПИ Госуда ио деламМосква, ППП сПате Редактор Л. ТюрЗаказ 3.14/42ЦНИИ303Филиалорректор А. Кравченкоодписное Составитель В. Крылова Техред О. Луговая К Тираж 779 П рствен ного ком итет а СССР изобретений и открытий Ж-ЗЬ, Раушская наб., д. 4/5 нтэ, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

2395920, 09.08.1976

РАЦУН МИРОН ОСИПОВИЧ, КЛИМОВ АЛЕКСАНДР ВИКТОРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/303

Метки: динамических, интегральных, микросхем, параметров

Опубликовано: 15.02.1979

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-647695-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-dinamicheskikh-parametrov-integralnykh-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля динамических параметров интегральных микросхем</a>

Похожие патенты