H01J — Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы

Номер патента: 1405623

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Долин, Суворов, Трушин

МПК: H01J 37/285

Метки: атомов, межузельных, металлах, параметров, энергетических

...же для облучения образцов собственных ионов . металла обеспечивает необходимое со 234хранение состава, т.е, не вносит новых примесей,После облучения образца его начинают нагревать. Характер подъема температуры обусловлен тем фактом, что начиная приблизительно с 100 К теряется атомарное разрешение автоионного микроскопа. Поэтому нагрев с постоянной скоростью 1 необходимо периодически прерывать с тем, чтобы сфотографировать автоионное изображение при температуре Тп оптимальной для получения атомарного разрешения. Скорость спада и подъема (воэвраще-( ния):температурыдолжна быть .существенно вьппе (более чем на порядок) р. Нагрев образцов осуществляют путем пропускания через дужку с острием электрического тока, характер его изменения...

Номер патента: 1589331

Опубликовано: 30.08.1990

Автор: Третьяк

МПК: H01J 9/42

Метки: разрешающей, способности, трубки, электронно-лучевой

...с центром экрана, а на временном интервале 1 - С - электрическую ко 3 4.ординату цифровой развертки 01,соответствующую совмещению середины линии вертикальной развертки луча с центром экрана. Затем определяют оптимальную ширину линии развертки луча в центре экрана. При сохранении прежнего режима работы ЭЛТ попеременной однократной разверткой луча в центре экрана, формируемой напряже-. ниями вертикально отклоняющих пластин 07 (Фиг,4) и горизонтально отклоняющих пластин П 8, обеспечивающих совпадение центра линий горизонтальной и вертикальной разверток луча с центром экрана, на временном интервале Т- Сформируют импульсы-отметки Б (Фиг.4) в момент пе 9ресечения. горизонтальной линией развертки . луча микрофотодатчика вертикальной линейки...

Номер патента: 1589332

Опубликовано: 30.08.1990

Автор: Третьяк

МПК: H01J 9/42

Метки: линии, луча, оптимальной, развертки, трубки, ширины, экране, электронно-лучевой, электронного

...отверснтра на 3/4 расстояи краем экрана,геометрическую Форшиоиной линий разэтих отверстий .3,чики, обращенныеерхностью к экрануНа экран ЭЛТ накладывают маску так, что ее центр и оси совмещаются с центром и осями экрана. Выбирают пределы изменения фокусирующего напряжения У (фиг.2 а), величину тока луча, скорость его перемещения по экрану " время прямого хода пилообразного напряжения 0 (фиг,26),согласно.техническим условиям на трубки конкретного типа, После каждого прямого хода напряжения . вводят задержку, равную или несколько превосходящую время послесвечения экрана, для уменьшения погрешности от изменения длительности послесвечения экрана.Затем на экране трубки электронный луч разворачивают в строчный цифровой растр, строки...

Номер патента: 1590052

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Миклош, Ференц

МПК: H01J 61/36

Метки: высокого, давления, лампа, разрядная

...вместо обычных ламп накаливания. Так как находящееся в колбенаполнение может разрушать эмаль,вследствие чего по истечении определенного времени соединение не можетбольше выполнять свою задачу, выполненная в соответствии с изобретениемразрядная лампа имеет по сравнению собычными, предусмотренными только сэмалевым соединением, более длительный срок службы, так как находящиесяв разрядном пространстве материалы н;=могут непосредственно соприкасатьсяс эмалью вследствие расположенногомежду разрядным пространством и эмальюпромежуточного металлического уплотнительного кольца,51 О1520Формула25303540реннее уплотнительное кольцо из пласизобретения 1. Разрядная лампа высокого давления, в частности, натриевая, содержащая закрытую с одного конца...

Номер патента: 1412517

Опубликовано: 07.09.1990

Авторы: Арзубов, Ваулин, Исаев, Кузьмин, Рябчиков

МПК: H01J 37/317

Метки: имплантации, ионной

...импульсный трансосновного дугового разряда плазмапоступает в ускоряющий зазор междуускоряющим электродом 1 и анодом 4. возможчость реализации предлагаемого способа за счет многократного и поочередного проведения облучения оби соответственно на образец 2 подаютускоряющее напряжение, В процессе облучения, например, образца СаАз.на;бирают дозу Р ионов внедряемой примеси, определяемую в данном случаекак Э=6 2510 1.Е Е- (8 К Б)8 ) где 1 - ток пучка ионов;Т - длительность импульса тока;1 - частота следования импульсов.Из литературных данных или дополнительного эксперимента определяют коэффициент распыления материала выбранного образца СаАз ионами данного сорта (например, В). При ускоряющем напряжении 0=60 кВ в выбранном случае 3=3, После...

Номер патента: 1426336

Опубликовано: 15.09.1990

Авторы: Бондарев, Дуркин, Мурин, Шлыгин

МПК: H01J 23/16, H01J 25/10

Метки: выходная, о-типа, прибора, релятивистского

...расстояние между центрами зазоров резонаторов постепенно уменьшаетсяи как только оностанет меньше продольного размера резонаторов, то, начиная с этого места,резонаторь 1 располагаются вплотнуюдруг к другу,При таком расположении, по крайней иере, на протяжении первой группы резонаторов электронный поток тормозится с сохранением амплитуды фаэовых колебаний в сгустке, что позволяет проводить более эффективныйи равномерный отбор энергии от релятивистского патока,Пример расчета вьжодной системы. 45Сгруппированный релятивистскийэлектронный пучок (РЭП) с разбросомдУпо энергиямв - - 6 153, фазовойшириной ъс = 90 и средней энергиейв сгустке У, =- 1 ИэВ поступает в резонаторы выходной системы.Выходная система состоит иэ. 20 одинаковых,резонаторов...

Номер патента: 1438512

Опубликовано: 23.09.1990

Автор: Коренев

МПК: H01J 1/30

Метки: взрывоэмиссионный, катод

...на фрезерном станке. Затем они набираются в пакет, заливаются эпоксиднымкомпаундом, а после вся поверхность шлифуется. Набором в пакет сопротивлений ТВОможно получить катод большой площади.Давление остаточного газа, при которомработает катод, составляет -5 10 Тор.Катод работает следующим образом.При подаче на катод импульса отрицательной полярности на инициаторе 4 катодной плазмы формируется за счет взрыв 2иых эффектов катодная плазма, из которой электрическим ролем вытягивается электронный пучок. Поскольку в инициаторе 4 катодиой плазмы имеется зернистая проводящаяструктура островковою типа, оно обладает свойствами объемной проводимости и след.ствием последнего является равномерное распределение тока по поперечному сечению, что приводит...

Номер патента: 1447196

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Березовский, Извозчиков, Кисляков, Петров

МПК: H01J 49/30

Метки: анализатор, атомных, многоканальный, частиц

...В результатепредельная энергия, регистрируемаяанализатором, возрастает на величину 1При этом сужается диапазон Д одновременно, регистрируемых энергий. Вотсутствие потенциала на камере иониФоо Езракеэации этот диапазон Д = -з естьЕминотношение энергий ч а стиц, реги стрируемых самым высокоэнергетичным и самым низкоэиергетичным каналами аналио Гзатора. Величина Д задаетсягеометрией анализатора и состанляет н разоцых моделях анализаторов Д =10-30,-При подаче на корпус ионизационнойкамеры 1 тормозящего напряжения .этот диапазон Д существенно уменьошится по сравнению с Д , В этом случае высокознергетичным и ннзкоэнергетичцым каналами будут зарегистриронаны энергии частиц на входе и камеруоионизации соответственно Е, =Елакс+омаис ла кси...

Номер патента: 1468311

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Геращенко, Гусева, Никольский, Степанчиков

МПК: H01J 45/00

Метки: молибденового, преобразователя, термоэмиссионного, электрода

...комнаной до рабочей выбран, исходя нз того, что на скорость диФФуэии большеие оказывает величина температуне количество деФектов, Поэто14 б 8311 л Формула изобретения Способ изготовления молибденового электрода термоэмиссионного преобразователя, включающий имплантацию кислорода в поверхностный слой .электрода, нагрев и отжиг в вакууме, о т л и ч.а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения вакуумной работы. выхода коллектора, отжиг осуществляют ступенчатым нагревом коллектора до рабочей температуры электрода с интервалами, равными 80-120 , и выдержкой на каждой ступени, равной 5-15 мин. молоти П35 ставитель В.Синявскийхред М.Ходанич Пилипенко Вдактор Т. Курков Коррект Тираж 395 Заказ 33 ое сударственного комитета по изобретениям и...

Номер патента: 1475417

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Геращенко, Гусева, Засимович, Клименко, Корюкин, Никольский, Степанчиков

МПК: G21D 7/00, H01J 45/00

Метки: поверхности, преобразователя, соединений, термоэмиссионного, углерода, электрода

...на взаимодействие с адсорбирующим углеродом и последующую десорбцню в виде СО,ФДля осуществления способа в электрод ТЭП на ионно-лучевом ускорителе проводят нмплантацию кислорода дозой 1 О - 2 10 ион/см с ускорениемь60-80 кэВ. Затеи электрод помещают в вакуумную камеру или устанавливают на рабочее кесто в ТЭП и, получив вакуум не ниже 6,65 10 Ла, электрод нагревают и отжигают при 750-850 С в течение 3-4 ч. При этом поверхность электрода на глубину около 1000 А очищается от углерода и его соединений,П р и м е р, Способ реализован на электроде из монокристаллическогомолибдена. Имплантация кислорода осуществлена с суммарной дозой 2 хх О ион/см . После этого электро(1 а5ды отжигались при 750 и 850 С с одновременным контролем времени...

Номер патента: 1594624

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Алферовский, Петров

МПК: H01J 35/22

Метки: рентгеновская, трубка

...по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 11303 5, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 Рентгеновская трубка содержит вакуумный баллон 1 в котором в катодном цоколе 2 размещен катбдный узел 3 с выводами 4. Напротив катодного узла 3 расположен анодный узел, включающий электрически соединенные частично прозрачный для электронов злек" трод 5, разомкнутую спираль б из электропроводного материала и рентге новскую мишень 7. Электрод 5 закреплен на ближнем к катодному узлу 3 конце разОмкнутой спирали б. Мишень 7 анодного узла и выводы 4 катодного узла 3 подключены к источнику 8 вы сокого напряжения, в анодную цепь которого включен ограничительный резистор...

Номер патента: 1594625

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Зелев, Кононенко

МПК: H01J 37/00

Метки: вакуумный, шлюз

...3),при этом лампочка 26 сигнализирует о 15 степени откачки шлюзового объема. Рычаг 27 суплотнительным кольцом 28 служит для напуска воздуха в шлюзовой объем. Розетка 29 предназначена для подачи питания к электромагнитному вентилю 25. В колонне 7 электронного микроскопа вакуумный шлюз уплотняется с помощью уплотнения 30.Вакуумный шлюз работает следующим образом. 25Перед работой с дифракционными приставками вакуумный шлюз в закрытом положении устанавливаетсяв колонну 7 электронного микроскопа уплотняется уплотнением 3, штуцер 21 поц соединяется к электромагнитному вентилю 25, к которому подключается ро.зетка 29, а затем в колоннеэлектронного микроскопа создается высокий вакуум.Дифракциониая приставка 3 с исследуемым объектом 4 вводится в...

Номер патента: 1594626

Опубликовано: 23.09.1990

Автор: Тарантин

МПК: H01J 49/26

Метки: бинарных, потерь, реакциях, энергии, ядерных

...= ДРз/Р- подлежащая измерениюотносительная дисперсность продуктов ядерныхреакций по импульсам,обусловленная поглощением в реакции энергии 10Ц и возбуждением Е продуктов бинарной ядернойреакции А + А = А +3+ А , где А - массовыечисла компонентов бинарной реакции;й Я Я 1Е),ф - относительная дис4персность продуктовядерных реакций,обусловленная дисперсностью о бомбардирующихчастиц, которая вычисляется исходя из кинематики ядерной реакции изаконов сохранения импульсов и энергии численьно Рможет быть определена экспериментальноили по формуле Р дР Р в ./ - где Р 1 ДР Р ф 3 3Р - импульсы первичныхи вторичных частиц(это соотношение,используя законы сохранения энергии иимпульса, можно выразить через А 1,АА,А, ЯиЕ),В формулах (1) и (3)...

Номер патента: 1594627

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Зуев, Скрябин

МПК: H01J 49/26

Метки: образцах, объема, полостей, твердых

...зависимость парциального давления аналогично алпроксимируют функцией видаР = А ехр(-К 1) - ехр(-Кг),где А г - нормировочный множитель.Изменение количества выделенного газа приводит лишь к необходимости изменения Аг. К 1 и К г остаются неизменными.Измерение К, и К для разработанной установки осуществляется при выделении иэ образца азота, Лазерная экстракция осуществляется путем воздействия сфокусированным лазерным7 импульсом плотностью мощности 10 10 ) Вт/см на поверхность твердого образца. При этом происходят плавление и кипение локального участка поверхности, сопровождающиеся интенсивным гаэовыделением. В качестве материала, содержащего азот,выбрано нитридотитановое покрытие на керамической основе. Зкстракция азота иэ покрытия под...

Номер патента: 1594628

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Абрамов, Бандура, Высочкин, Иванов, Сурков, Сысоев

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...ми5 159462 шени 2 в наружную 1 О либо внутреннюю 11 его часть. Угол наклона р образующих элементов 9 выбирается при этом из интервала 40-50 , когдаоэмиссия ионов, образующихся при ударе микрочастицы, максимальна,Электрическое поле, создаваемое частями 10 и 11 данного элемента жалюзи и частями 10 и 11 соседнего элемента с меньшим радиусом основания,имеющи- ми соответственно потенциалы Бр, Б, , П , Бк, создаваемые йодключением к крайним электродам бло-. ков 8 питания, замедляет и поворачивает обратно ионы, движение которых в результате гидродинамическо" го разлета плазмы направлено в сторону, противоположную направлению от данного элемента жалюзи к вход ному окну анализатора 4, Пакет ионов, ускоренных электрическим полем, формируемым...

Номер патента: 1395024

Опубликовано: 30.09.1990

Авторы: Арзубов, Ваулин, Исаев, Рябчиков, Хлоповских, Шипилов

МПК: H01J 3/04

Метки: ионов, источник

...сеткой 4.Источник ионов работает следующим 55образом. 11 ри подаче с блока питанияи.коммутации на электрод 9 поджигающего импульса длительностью - 1-10 мкс и амплитудой 2-5 кВ по поверхности диэлектрического кольца 3 происходит пробой промежутка между поджйгающим электродом 9 и дополнительным элементом 5, расположенным напротив него. Образовавшаяся после пробоя плазма после расширения создает дуговой разряд между данным дополнительным элементом 5 и анодом 2 за счет энергии, запасенной например, в емкостном накопителе 1.9. В этом случае амплитуда тока разряда определяется величиной зарядного напряжения и значением сопротивления резистора К 1.Длительность Формируемого импульса ионного пучка определяется длительностью разряда между...

Номер патента: 1455926

Опубликовано: 30.09.1990

Авторы: Арзубов, Исаев, Луконин, Рябчиков

МПК: H01J 3/04

Метки: ионов, источник

...величину падЕриянапряжения на дуговом разряде междукатодом 1 и анодом 2. Таким образом,необходимо, чтобы к моменту достиже-ния плазмой анода 2 емкость С 1 заря.-дилась до напряжения, превышающегопадение напряжения на. дуге Б междуанодом 2 и катодом 1. Соотношение, определяющее данноеусловие, можно подучить исходя из 4 О следующих соображений. После пробояпромежутка между катодом 1 и"поджигающим электродом 4 плазма, формируемая катодным пятном вакуумной дуги,достигнет анода 2 за время 45Ь(1)7 олгде 1, - расстояние от катода 1 доанода 2;Ч. - скорость распространенияплазмы от катода к аноду.Исходя из условия, что за,время,распространения плазмы Ы емкость С,"должна зарядиться дб напряжения Ос ,превышающего напряжение горения дуги бб...

Номер патента: 1596400

Опубликовано: 30.09.1990

Авторы: Гапоненко, Солоница, Ткач, Харченко

МПК: H01J 1/30, H01J 3/02

Метки: взрывной, импульсный, источник, электронов, эмиссией

...схемаимпульсного источника электронов,Источник содержит зарядное устройство 1, формирователь 2, разряднуюкамеру 3, в которую через изолятор4 введен катодный стержень 5, закрепленный на держателе 6. Торец катода1596400 55 обращен к выходному отверстию,закрытому анодной фольгой 7. Узелперемотки 8 анодной фольги и прижимной фланец 9 размещены в камере дрейфа 1 О, где за анодной фольгой 7 находится исследуемый, облучаемый образец 11. Катодный стержень 5 выполнен из вилита. Конструкция держателя6 позволяет изменять длину 1 рабочейчасти катодного стержня, выступающуюиз держателя в разрядную камеру 3без изменения величины Х анод-катодлкного промежутка. Для этого держатель6 может быть выполнен, например, издвух стаканов - большего и...

Номер патента: 1596401

Опубликовано: 30.09.1990

Авторы: Воронов, Гузенко, Курбатов, Моисеев, Фролов

МПК: H01J 49/30

Метки: космический, магнитный, спектрометр

...магнитами 5-8 с потерями магнитного напряжения не более 3-Я от магнитного напряжения на высоте Ь рабочего зазора. Размеры магнитов 5-8 в принятых ограничениях конструкции выбираются из условия наиболее энергетического выгодного режима работы, что одновременно обеспечивает минимум массо-габаритных показателей магнитной системы в целом.Дпя высококоэрцетивных сплавов типа КСоптимальные размеры магнитов, отнесенные к размерам рабочей зоны имеют значения При этом среднее значение индукции в рабочей зоне составляет В ,=0,4 Тл. Таким образом, максимальное значение индукции в рабочей зоне,которое можно получить при эффективном использовании магнитных матерна;лов для сплава КС"составляет В0,5 В, где В- остаточная индукция материала постоянных...

Номер патента: 1597961

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Свищ

МПК: H01J 37/285

Метки: микроскоп, туннельный

...Оба УТТ 21 и 26 включают предварительный усилитель, логарифмический усилитель, интегратор и выходную схему. Микроскоп работает следующим образом.С помощью узлов 1 О и 11 иглы 6 и 7 устанавливают в такое положение, при котором в промежутке между иглами и образцами под действием напряжения источника 22 протекают равные туннельные токи. При этом на выходах УТТ 21 и 26 устанавливается напряжение, равное нулю, В обе туннельные ячейки помещают идентичные образцы, Для исследования поверхности образца 5 с задающего генератора 24 подаются сигналы развертки сканирования иглы 7 по двум взаимно перпендикулярным направлениям через первый усилитель 17, фильтр 18, пьезоэлектрические системы 8 и 9 и одновременно на регистратор 25, например ос...

Номер патента: 1597962

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Радченко, Спивак-Лавров

МПК: H01J 49/20

Метки: масс-спектрометра, отклоняющая

...требуемой траектории междумагнитдля фионов.Система работает следующим образом.В коническое магнитное поле призмы 1 после прохождения системы экранов-электродов 2 и 3, фокусирующих линз 4 и 5 и коллиматора 6 поступает пучок от источника 7 ионов. В коническом поле призмы 1 осуществляется поворот пучка ионов вокруг оси призмы, причем ионы, имеющие разные массы, занимают траектории с различным радиусом кривизны. После этого ионы проходят через систему экранов электродов 2 и 3, линзы 4 и 5, и коллиматор 6 и поступают на приемник 8 ионов. В зависимости от положения 1 цели приемника, в него посту 1597962пают ионы с различной массой, что позволяет анализировать спектральный состав потока ионов.Использование в отклоняющей системе конического...

Номер патента: 1597963

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Герчиков, Кузьминов, Панеш, Симонов

МПК: H01J 49/26

Метки: 1-го, диагностики, монокристаллах, переходов, рода, фазовых

...зависимости зй,/а 1=(Т), температура максимума которого (820 К) соответствует температуре перехода типа жидкость в кристалл в аргоновых пузырьках.Эксперименты, проведенные на % (100), показали, что при В+)6 10 ион/см- на кривых зависимости эН,/а 1=(Т) появляется один пик (пик В), температура максимума которого (840 К) равна температуре перехода жидкость - кристалл в пузырьках аргона, размещенных в решетке никеля. Пик А на И не наблюдается, что связано с отсутствием ФП 1-го рода в Л в исследуемом интервале температур.Хплга 7 лю т,гобд=бли Юб бремя, Т, К (ставитель В. КащеевА. Кравчук Кор99 Под по изобретениям и отк - 35, Раушская наб. инат Патент, г. Ужг Редактор И. ШуллаЗаказ 3060 Техред Типаж ектор С. Шевкунисноеытиям при ГКНТ СССРд....

Номер патента: 1597964

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Евстифеев

МПК: H01J 49/26

Метки: ионизацией, ионов, источник, поверхностной

...ленты накала на втором этапе (Йг) В ЭВМ 5 вычисляетсяВготношение - и сравнивается с заданным,Воопределяемым или из анализа эталонной пробы, проводимого по обычной методике, но с контролем отношения сопротивлений, или исходя из формулы 10 конденсаторами на входе. В состав устрой 20 25 30 35 40 45 50 55 где а (Тг) - температурный коэффициент удельного сопротивления материала ленты накала 2 с учетом распределения температуры по ленте, 1/К;Тг - температура ленты в месте нанесения пробы, соответствующая проводимой методике анализа, К,При достижении отношения заданной величины по команде с ЗВМ 5 в устройстве 4 управления формируются сигналы, при которых останавливается развертка сигнала на первом его выходе, сигнал на втором выходе...

Номер патента: 1597965

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Игнатов, Кирьянов, Матанцев, Эрзин

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...образуемые в источнике 1 ионов и фокусируемые фокусирующими линзами 2, поступают в фокусирующую систему 3 прямого пучка ионов, состоящую из соосных цилиндров. Система примыкает к двух- зазорному рефлектору 4, в котором происходит фокусировка ионов по энергии. Ионы теряют в первом зазоре большую часть энергии (70) и с меньшей скоростью входят во второй зазор, где и происходит основной эффект Фокусировки ионов по энергии, т.е, ионы большей энергии проходят большее расстояние до отражения и большее расстояние до детектора, в результате чего они попадают в детектор в одно время с ионами меньшей энергии, прошедшими меньшее расстояние,Изобретение относится к масс-спектро. метрии, конкретно к времяпролетным массспектрометрам,...

Номер патента: 1597966

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Борисовский, Мамонтов, Поскребышев, Шеретов

МПК: H01J 49/42

Метки: гиперболоидного, масс-спектрометра, питания

...11 (фиг,2 б) на цифровой вход стабилизатора 1 тока заряда поступает импульс длительностью то 1. Тогда в соответствии с напряжением, поступающим с второго выхода цифроаналогового преобразователя 5 на аналоговый вход стабилизатора 1 тока заряда, через Сн протекает токк заряда, который вызывает изменение напряжения на электродах анализатора 3 полинейному временному закону(фиг,2 г), В момент времени с 2(окончания импульса) ток заряда через Сн прекратится, при этом напряжение на электродах анализатора 3 соответствует Опа.Аналогично в момент времени 1 з (фиг,2 в) на цифровой вход стабилизатора 2 тока разряда поступает импульс длительностью го 1. Тогда в соответствии с напряжением, поступающим с первого выхода цифроаналогового...

Номер патента: 1597967

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Корищ, Фишкова

МПК: H01J 49/44, H01J 49/48

Метки: заряженных, частиц, электростатический, энергоанализатор

...как ЬО, что практического интереса непредставляет, так как приводит к искажениюэлектростатического поля, При - ( 0,12, чтобсоответствует (754 О, не существует режимов, при которых осуществлялась бы фокусировка третьего порядка, в частностипри б = 0 (двухэлектродный энергоаналио Чг - Ч 1затор) имеем при 0= 49,6ф-0,431 Ь; С 2= 0; Сз=-5,7 а.Несоблюдение расстояния между источником и приемником, т.е. при ( 4,8 а илинепопаданию пучка в анализатор, а именнов первую по ходу пучка щель в плоскомэлектроде,При расстоянии между вторым плоскими цилиндрическим электродами р0,6 г 5пучок заряженных частиц еще до своего поворота попадает на цилиндрический электрод(величина (Хмакс- б). При р 1,6 г ширинаплоских электродов(их протяженность в...

Номер патента: 1597968

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Ашимбаева, Горелик, Жуков, Зашквара, Зверева, Трубицин

МПК: H01J 49/44, H01J 49/48

Метки: анализатор, заряженных, частиц, энергетический

...к их энергии у входной кольцевой прорези 3).Потенциалы Чф 1 и Чф 2 должны обеспечивать положение изображения источника вплоскости входной щели анализатора при различных степенях торможения электронов Сфокусированный пучок электронов с30 энергией, уменьшенной в М раз, через входную кольцевую прорезь 3 попадает в пространство между цилиндрическими электродами 1 и 2. Далее под действиемотрицательного потенциала Ч, поданного на35 внешний цилиндрический электрод 2 с источника 14, электроны отклоняются к внутреннему цилиндрическому электроду 1 ичерез выходную прорезь 4 и апертуру диафрагмы 12 попадают на вход приемника 1340 электронов,Анализатор имеет полосовую функциюпропускания, т,е. на вход приемника 13электронов попадают...

Номер патента: 1597974

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Калязин, Минаев, Сулацков

МПК: H01J 61/36

Метки: высокого, газоразрядная, давления, лампа, сверхвысокого

...температура, лампы в заэ 5 лектродной зоне, в результате чегоповышается ее световая отдача.Формула изобретения1. Газораэрядная лампа высокого илисверхвысокого давления, содержащая квар 10 цевую колбу, в ножках которой с помощьюуплотняющих вакуумных звеньев герметично установлены электроды, соединенные свнешними выводами, и центрирующие втулки, расположенные между вакуумными15 звеньями и электродами, о т л и ч а ю щ а яс я тем, что, с целью повышения срока службы и световой отдачи, центрирующие втулкивыполнены из материала, коэффициент пропускания которого в ультрафиолетовом и20 инфракрасном диапазонах спектра не превышает соответственно 40 и 25 о ,2. Лампа по и 1, о т л и ч а ю щ а я с ятем, что центрирующие втулки...

Номер патента: 1599820

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Аксиненко, Глаголева, Матюшин, Саитов

МПК: G01T 5/12, H01J 47/02

Метки: ионизирующей, камере, способности, стримерной, частиц

...Ф 5иаксмаксимальная величина ионизационных потерь, прикоторой 3 -электроны ещеостаются в пределах следа.В случае, когда исследуемый трек 20 релятивистской частицы имеет большуюдлину, а следовательно, большое количество стримеров, процесс калибровкиможно свести к определению положения"зубца" на измеренной для исследуемого трека зависимостис 11(с 1 с 1 о.)11 1 Положение зубца на энергетической шкале является известной физической величиной, соответствующей краямполос поглощения атомных оболочек,например в случае неона положение"зубца" соответствует энергии 850 эВ.На чертеже изображена точкамиэкспериментально полученная со снимка в стримерной камере, наполненнойнеоном, зависимость Ж(ЙЙ )Й 1плотность стримеров на треке частицыс...

Номер патента: 1599909

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Ластовиря, Полянский

МПК: B23K 15/00, H01J 3/02

Метки: плотности, пучка, электронного

...и перпендикулярным ножевой пластине. При попадании в цилиндр Фарадея неэкранируемой части пучка возникают вторично-эмиссионный и отраженный потоки электронов, которые искажают картину анализа, если они вылетают через входную щель цилиндра Фарадея, Направление максимума потока отраженных электронов соответствует закону отражения световых пучков. Максимум потока вторичных электронов направлен по нормам к поверхности в точке падения основного пучка. В соответствии с этим невылет электронов обеспечивается конструктивным решением преобразователя. При многократных отражениях энергия элект ронов резко убывает и вероятность их вылета из цилиндра Фарадея резко падает.Исходя из физических явлений, привзаимодействии электронного пучка с металлом...