H01J — Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы
Способ масс-спектрометрического анализа твердых тел и устройство для его осуществления
Номер патента: 695295
Опубликовано: 23.05.1992
Авторы: Держиев, Рамендик, Черепин
МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/34 ...
Метки: анализа, масс-спектрометрического, твердых, тел
...см, так что эплотность мощности, выделяющейсяв поверхностных слоях мишени лежитв диапазоне 10 - 10" Вт/смз.Предлагаемый способ. характеризуется тем, чтов результате мощногоимпульсногб воздействия первичногопучка на образец происходит взрывооб. разное разрушение материала образцана глубину проникновения первичныхионов,в твердое тело (для энергииионов 1"50 кэВ глубина проникновенияменьше 10".ь см) и у поверхности образ"ца образуется облако плазмы с плот- ностью электронов 10 - 1 О см э7 19 -эи температурой электронов 5 эВ, Таким образом ионизация нейтральныхчастиц происходит не. в результатевыбивания отдельных частиц как в ". прототипе, а в плазме по термическому (столкновйтельному) механизму.Это позволяет снизить до одного поряд-.ка...
Диссектор
Номер патента: 581745
Опубликовано: 23.05.1992
Авторы: Алексеев, Афанасьев, Лисовский, Могилевский, Раевский
МПК: H01J 31/48
Метки: диссектор
...время при попадании электронов на пластины основная часть электронов проходит через отверстия впластинах, попадая на внутреннюю поверхность анода, который обычно за-землен.Поскольку основная часть электронов, попадающих на отклоняющиепластины, проходит через отверстияв них, число отраженных от пластинэлектронов значительно уменьшается.В частности, если общая площадь отверстий отличается от площади пластин не болеечем на 101, число отраженных электронов уменьшается неменее, чем в 10 раз.На. чертеже схематически изображенпредлагаемый диссектор и траекторииэлектронов в нем при отклоненииэлектронного изображения. На чертеже изображена только одна пара от"клоняющих пластин и не показаны не"которые электроды (ограничивающие диафрагмы,...
Катодный узел для электронных приборов
Номер патента: 1735937
Опубликовано: 23.05.1992
Авторы: Демченко, Зубакина, Осауленко, Шутовский
МПК: H01J 1/15
Метки: катодный, приборов, узел, электронных
...тугоплавких материалов, выдерживающих температуры более высокие, чем температура плавления материала металлосплавного эмиттера,В катодном узле держатели 3 выполнены из высокоомного металла, что позвол сделать их с большим сечением, при сох нении потребляемой мощности. Максимальная длина держателей по отношению к длине тела накала ограничивается предельной рабочей температурой держателей - Тд, температурой плавления 5 держателя или эвтектики, образующейсямежду металлами держателя и тела канала.Так как температура плавно снижаетсяв обе стороны от центральной части, то применять высокоомный сплав можно только 10 начиная с такого участка, где температурадаже при предельно допустимых режимах накала не будет превышать температуру плавления...
Разрядная лампа
Номер патента: 1735938
Опубликовано: 23.05.1992
МПК: H01J 61/22
...спектром излучения для освещения при высоких требованиях к качеству цветопередачи. Пределы изменения отношения световых потоков выбраны из следующих соображений: при Фн/Фд0,1 цветовая температура весьма высока, т. е. излучение приближается к чисто ртутному; при Ф/Фд1,7 индекс цветопередачи менее 40, т, е. излучение превращается в излучение обычной НЛВД с низкими цветопередающими свойствами,Наблюдаемое улучшение качества цветопередачи связано с тем, что в спектреНЛВД имеется недостаток излучения в синей и зеленой областях спектра, в то время,5 как спектр излучения ртутной горелки, наоборот, содержит значительное количествоизлучения в синей и зеленой областях спектра, поэтому сочетание в одной лампе горелок с разными спектральными...
Способ получения отрицательных ионов
Номер патента: 1421174
Опубликовано: 23.05.1992
Автор: Лазарев
МПК: H01J 27/00
Метки: ионов, отрицательных
...положительнымиионами и нейтралами. Группа Н , соответствующая лику .13, не изменяет своего положения в спектре в зависи- . мости-от изменения напряжения Б что указывает па та, чта эта группа образуется у поверхности электрода 6,з 142117по-видимому, в результате десорбцииили отражения нейтралов в виде НВ отличие от групп Н , соответствующих пикам 14 и 15; энергия которыхувеличивается с увеличением напряжения 01, энергия группы Н , соответствующей пику 16, уменьшается с увеличением напряжения 01 между электро"дами 5 и 6, что указывает на торможение группы положительных ионов в. электрическом поле между электрода ми 6 и 9 и образование отрицательныхионов,Таким образом, в ускоряющем дляэлектронов и отрицательных ионов иодновременно...
Устройство для локального определения концентрации газообразующих примесей
Номер патента: 1365988
Опубликовано: 30.05.1992
МПК: H01J 49/26
Метки: газообразующих, концентрации, локального, примесей
...для нзпуска необходимого колицества кислорода, поэтому синхроимпульс подается на расширитель им.пульсов, увелйчивающцй его до 1 О ,10с. 40Мощности этого импульса недостаточно длявыключения ТЭЯ. Поэтому зз расширителемимпульсов расположен электронный ключ,открывающий питание ТЭЯ на время действия расширенного импульса.Работа устройства осуществляется следующим образом.Исследуемый образец 3 помещают в камеру 1, откачиваемуа системой 8 откачкидо давления (1,00,5) 10 " Пз, После подготовки устройства к рзооте с помоцью лазерного микроскопа 4 выбцрзют ца поверхности образца участок для анализа. Нз ТЭЯ5 подают напряжение, полярность которогосоответствует выведецию кислорода из ячейки в атмосферу. Включают блок 9 управления, Блок 9...
Способ локального определения концентрации газообразующих примесей
Номер патента: 1316484
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Зуев, Кунин, Михайлова, Скрябин
МПК: H01J 49/26
Метки: газообразующих, концентрации, локального, примесей
...углекислого газа. Полученная в результате воздействия ла" зерных импульсов газовая смесь откачивается и м сс-спектрометр, который регистрирует пардиальньде давления газов (Н, О, Б и СОд ). По отношению парцнального давления углекислого газа к объему кратера судят о концентрации углерода в анализируемом участке.Устройство для осуществления предложенного способа, включающее лазерный микроекоп, расположенный над вакуумной камерой с оптическим окном, и масс-спектрометр, соединенный с вакуумной камерой, сожержит лазер с Фокусйрующей.линзой, зеркало для отклонения излучения лазера соосно с излучением лазерного микроскопа, электронный блок управления лазером и лазерным микроскопом и фольгу иэ кислородсодержащего мате" риала,...
Вакуумная оболочка рентгеновского электронно-оптического преобразователя
Номер патента: 1737554
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Дунаев, Корнеев, Куклев, Луферов, Якушин
МПК: H01J 5/02
Метки: вакуумная, оболочка, преобразователя, рентгеновского, электронно-оптического
...зоны диффузионного соединения на внутреннюю и внешнюю (по отношению к вакуумному объему) части кольца.При этом угол а между образующей и осью вакуумной оболочки выбирают исходя иэ соотношенияй= агсз 1 п - ,где и - толщина оболочки (биметаллического кольца), мм,- длина образующей, мм.Величину и определяют из соображений вэрывобезопасности в зависимости от габаритов корпуса (например, 1,5 мм при внешнем диаметре 250 мм), а величину 1 - уровнем натекания в зависимости от типа листа (например, 6 мм для вышеупомянутого листа ТУ 1-809-455-85). Для листа по друтим ТУ (например, ТУ 1-9-1-84, 1-9- 556-79 и т. и.) величина 1 может быть определена, например, экспериментально или в зависимости от числа дефектов на единицу площади в...
Устройство для дозирования ртути в газоразрядную лампу
Номер патента: 1737555
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Багиров, Брезинский, Кожушко, Намитоков, Сорока
МПК: H01J 9/395
Метки: газоразрядную, дозирования, лампу, ртути
...6, находящегося в закрытом положении, канал 8 которого соединяет патрубок 3, ведущий к лампе,с патрубком 5 вакуумного насоса.Производится откачка лампы. Затемкоромысло 13 поворацивают вокругоси 14, Ограничивающий клапан 6 открывается, а отсекающий клапан 7закрывается и отсекает заданный объем ртути. При этом канал 8 ограници"вающего клапана 6 перекрывается,а канал 9 отсекающего клапана 7 соединяет дозировальную капиллярнуютрубку 2 с патрубком 4 подачи инерт"ного газа, Под давлением газа ртутьнаходящаяся в дозировальной капиллярной трубке 2, подается в патрубок 3, ведущий к лампе, и дальшепоступает в лампу, После поступления в лампу требуемого количестваинертного газа коромысло 13 поворачивает в обратном направлении и ограничивающий...
Способ изготовления люминесцентной лампы
Номер патента: 1737556
Опубликовано: 30.05.1992
МПК: H01J 9/42
Метки: лампы, люминесцентной
...изобретения: после откачки колбы, термообезгаживания стекла прокаливаниякатодов в вакууме на позиции промывки инертным газом до введения ртутизажигают разряд, измеряют напряже"ние зажигания и по градуировоцнойзависимости определяют давление газа в лампе и его отклонение от но"минального значения, а после введе"ния ртути при наполнении инертнымгазом учитывают это отклонение. 1 ил.1737556 гельного отверстия. Поскольку згинедостатки лампы приведут к пониженному давлению в ней при рабочемнаполнении, то количество вводимого в нее рабочего инертного газадолжно быть увеличено. Таким образом, целенаправленное воздействиена количество вводимого в лампурабочего инертного газа компенсирует отклонение в ее размерах и обес-.печивает стабильное...
Многокоординатный предметный столик
Номер патента: 1737557
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Акялис, Рагульскис
МПК: H01J 37/20
Метки: многокоординатный, предметный, столик
...1,Перемещения по направлениям координат Х .и У осуществляются аналогично только под действием вибродви-жущих сил, создаваемых аналогичнымипьезокерамическими приводами 7 и 8,каретки 3 и б перемещаются прямолинейно. Вертикальное перемещение объектодержателя 1 или перемещение покоординате Е происходит следующимобразом. В исходном состоянии винт15 находится в заторможенном.состоянии под действием сил трения междурезьбовыми поверхностями башмаков11 и винта 15, Это означает, что отсутствует перемещение объектодержателя 1 по кооминате Е,2 О 1При подключении половины 17 элек.трода каждого из трех дополнитель"ных стержневых пьезокерамическихприводов 13 через выходной. усилитель,например усилителя 19, и коммутатор 21,на входе...
Растровое устройство для анализа структуры объекта
Номер патента: 1737558
Опубликовано: 30.05.1992
Автор: Бочаров
МПК: H01J 37/28
Метки: анализа, объекта, растровое, структуры
...мощности Р соответствуетрежиму анализа, уровень мощности Ррежиму подготовки поверхности дляанализа, а уровень мощности Ррежиму испарения,"2 3 ф Б 6 У 9 (О 1тие слоев материала, а в интервалах е-, т-в, ,.и- снятие.осажденного слоя (режим подготовки) .После установки исходных данныхи включения начала работы процессанализа объекта происходит автоматически в следующем порядке.С программатора 14 через генератор 11 развертки задаются напряжения на систему 3 сканирования пучка, которые устанавливают пучок вначальные координаты Х и У исследуемого участка объекта, расположенного на столике 4Одновременно с программатора 14на первую адресную шину блока . 13памяти поступают двоичный код номе"5По окончании анализа слоя программатор 14 через...
Вторично-эмиссионный радиоизотопный источник тока
Номер патента: 1737559
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Балебанов, Карась, Кононенко, Моисеев, Муратов, Покровский, Сторижко
МПК: H01J 45/00
Метки: вторично-эмиссионный, источник, радиоизотопный
...энергетической эффективности,каждый из эмиттеров выполнен в видеэлектрически изолированных вакуумными промежутками последовательно чередующихся слоев двух различных металлов, коэффициенты вторичной ионэлектронной эмиссии которых различаются больше чем на значение /И,где- среднее значение коэффициента вторичной эмиссии двух метал,лов, а И - число пар слоев металловэмиттера. 17375где Яо - удельная активность 1 смизотопа в Ки/см .Выбор изотопа определяется необходимым временем эксплуатации,Кроме того, изотоп должен излучатьр -частицы, остальные типы излучения (,) должны быть пренебрежимо малы, либо отсутствовать полностью. Для создания вторично-эмиссионного радиоизотопного источникатока со сроком службы около годамогут быть...
Способ времяпролетной масс-спектрометрии
Номер патента: 1737560
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Миловзоров, Шерозия, Шишлаков
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетной, масс-спектрометрии
...частицы приобрели .большэнергию. Отражающая система 5 сост ит из сетки 6, через которую проходят ионы, и пластины 7, на кото,ны пакета до отражения Дт и после него ДС , можно определить велицину разброса цастиц по энергиям ДЕ, который необходимо создать для фокусировки частиц в плоскости детектора.(Рассмотрим общий случай, когда длина дрейфового пространства Ьь до системы отражения и длина Ь дрейфового пространства от системы отражения до детектора не равны. В этом случае Так как длина бесполеяого дрейфового пространства должна быть вйбрана с. условием, что временной промежуток между пакетами, образующийся в процессе дрейфа, должен быть большем, чем временная протяженность пакета в области фокусировки, т,е. йп1 ОДе=- ----2" Р"...
Спектральная газоразрядная лампа для атомной абсорбции
Номер патента: 1737561
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Баранов, Земскова, Кудряшов, Цыганкова
МПК: H01J 61/02
Метки: абсорбции, атомной, газоразрядная, лампа, спектральная
...излучения лянную трубку 11, Лампа наполненаи распопоженные в ней соосно анод и инеРтным газом - неоном .- до давле-,полый катод, помещенный в электроизо" ния 9,0 мм рт.ст. для подключенияляционную трубку, снабжена второй к источнику питания лампа снабженаэлектроизоляционной трубкой, шаспо"р октальным цоколем 12 под стандартложенной концентрично с первой и гер- ную ламповую панель, При подключенииметичио с ней соединенной, так, что такой лампы к источнику питания межмежду ними образована замкнутая по-ду анодом 3 и разрядной полостью калость, давление в которой не превы-тода 4 зажигается тлеющий разряд. вает 110 ф мм рт.ст., а отношение 4 в инертном газе. Продукты распыледиаметров и длин электроизоляционных ния катода в виде нейтральных...
Безртутная металлогалогенная лампа
Номер патента: 1737562
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Архипов, Ашурков, Минаев, Сарычев
МПК: H01J 61/18
Метки: безртутная, лампа, металлогалогенная
...определено экспериментально сучетом обеспецения молярного соотношения между добавками,.указанное соотношение (молярноеотношение количества лития к количещ ству церия)., также определяемое экспериментально, должно располагаться впределах знацений 1",5-3,5.При значениях этого соотношения,больших 3, 5, визлучении лампы начинает превалировать красная составляю-щая в ущерб сине-зеленой части спектра.При знацениях меньших 1,5 излучение лампы в сине-зеленой части спектКонструктивно предлагаемая лампа ничем не отлицается от металлогалогенных ламп с внешним баллоном в софитном исполнении, Софитное исполнение лампы определено тем, цто использование в количестве буФерного газа ксенона повышает напряжение зажигания, Поэтому для зажигания лампы...
Металлический ввод в кварцевую колбу
Номер патента: 1737563
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Кодылев, Левашев, Никифоров, Сотников
МПК: H01J 61/36
Метки: ввод, кварцевую, колбу, металлический
...две кольцевие канавки,одна из которых имеет станку с угломнаклона 30-5 к оси держателя, чтоповыеает надежность пайки. Введениевторого колпачка значительно повышает надежность ввода при эксплуатации, особенно. в жестких механоклиматических условиях вследствие увеличе- .ния вакууммой зоны спая металла с кварцем, в значительной степени снижает раэруаение ввода как в процессеизготовления, так и при эксплуатации.На чертеже изображен предлагаемыйввод.Ввод содержит токоведущий стержень(держатель электрода), на которомустановлены два колпачка 2, горловиныкоторых герметично соединены со стержнем либо. путем пайки, либо сваркой.Тонкостенная часть колпачков гер 34метично впаяна между оболочкой лампы и вкладьаем. Йклядыш выполнен из двух...
Газоразрядная лампа
Номер патента: 1737564
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Абрамян, Агабабян, Вартанян, Галстян
МПК: H01J 61/54
Метки: газоразрядная, лампа
...и сокращается время повторного зажигания. 1 ил,давления, содержащая наружнудвумя основными электродамивспомогательным электродом,ненным с противоположным осн ванной или газпнаполненещена кварцевая горелкамя одинаковыми электро 3173дами 2, 3 и 4. Злектроды 4 и 3 соеди-нены между собой проводниками 5 и7 и биметаллическим элементом 6, замыкающим цепь в нерабочем состояниии расположенным у конца с двумя электродами,При включении лампы между электродами 2 и 4 возникает тлеющий разряд,быстро переходящий в дуговой. Междууказанными электродами поддерживаетсясильно ионизированная термическаяплазма, а электроды нагреты до рабочей температуры, Осажденные на поверхностях электродов галогены и галогениды испаряются,.в результате чегоснижается...
Газоразрядная безэлектродная высокочастотная лампа и способ ее изготовления
Номер патента: 1737565
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Хузмиев, Хузмиева, Шашенок
МПК: H01J 65/04
Метки: безэлектродная, высокочастотная, газоразрядная, лампа
...тем, что вгаэоразрядной беээлектродной ВЧ-лампе, содержащей герметичную кварцевую колбу, заполненную инертным газоми рабочим веществом, часть внутренней поверхности которой покрыта слоем материала, отличного по составуот материала оболочки, в качест 7565 4ве которого использовано переходноестекло. По способу изготовлениялампы, включающему изготовление5смеси рабочего вещества с раэбави"телем,введение дозы смеси в объемколбы, откачку колбы и обезгажива"ние ее и рабочего вещества прогревом, наполнение колбы инертным газом и герметизацию, согласно изобретению, в качестве раэбавителя используют порошок переходного стекла, который во время обеэгаживанияколбы нагревают до расплавления и образования слоя на части внутреннейповерхности...
Способ калибровки газоаналитических систем по азоту
Номер патента: 1417607
Опубликовано: 30.05.1992
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: азоту, газоаналитических, калибровки, систем
...технологии егонанесения;высокая стабильность соединенияТ 1 Ы определяет практически,неограниченную во Времени годность образ"ца для калибровки;низкой концентрацией азота (посравнению с покрытием) в сталях боль".шинства марок.Объет кратера Ч складывается изобъема испаренного покрытия (Ч)и объема основы (Ч) рЧ Ч+ Чттта масса выделившегося азоташ " Со Чтт ф С ь о ргде С - объемная концентрация азота В ОСНОВЕ.14176Проведенные ка шлифах исследования показали, что при условии Ъ/Н ) 10 объем 7 с большой точностью можно вычислить по формуле цилиндра, т.е.бпй 2ЧН9 где Ь - глубина кратера.Для нитридотитановых покрытий 1,толщиной от 10 икм) на стальной поц" ложке это условие при плотности мощности (Р) большей. 3 10 Вт/смВозрастание...
Способ масс-спектрометрического анализа поверхности методом ионно-циклотронного резонанса
Номер патента: 1739398
Опубликовано: 07.06.1992
Авторы: Мордехай, Николаев, Франкевич
МПК: H01J 49/38
Метки: анализа, ионно-циклотронного, масс-спектрометрического, методом, поверхности, резонанса
...ниЯ М 2.Разрешение по массе определяется энергетической шириной спектра ионов рассеяния, которая зависит от разрешения экспериментальной установки по энергии и углу. Для детектора с достаточно малым углом сбора разрешающая способность по массе определяется разрешающей способностью экспериментальной установки поЕ 1энергии-3: МгМг Е 1 М 1ЛЛ 2 ЪБ(М 2 + 1)М 1(гу - зпго - созб(Мгу зпо) М 1 М 1 Из этого соотношения видно, что максимальное разрешение получается при угле О= 180 О т,е. рассеивании назад. При пред. лагаемом способе анализа угол рассеивания равен 180 О, что позволяет получать максимально возможное разрешение по массе,Способ анализа осуществляется следующим образом,Ионы, образованные в ионном источнике 1 (фиг.З), ускоряются в поле,...
Металлогалогенная лампа
Номер патента: 1739399
Опубликовано: 07.06.1992
Авторы: Абрамян, Азоян, Вартанян, Восканян
МПК: H01J 61/18, H01J 61/30
Метки: лампа, металлогалогенная
...удержания )кидкой фазы вводимых металлов и металлогалогенидов.Этот способ эффективен лишь при при- ,ф менении металлов или металлогалогенидов О с низкой упругостью паров. Кроме этого, ъюг.ъ указанные покрытия имеют очень сложную 0 технологию нанесения, следовательно, не ,К) могут найти применения в массовом производстве,Цель изобретения - повышение свето- - ф отдачи и упрощение технологии изготовления ламп с излучающими добавками.Поставленная цель достигается тем, что рабочая поверхность колбы снабжается кольцевыми или сферическими выпуклостями, равномерно распределенными по всей длине.1739399 оставитель В,Горчаноехред М,Моргентал ктор Н.Яцол Корректор Т.Палий аказ 2005 Тираж ВНИИПИ Государственного комитета по изо 113035; Москва, Ж,...
Открытый резонатор
Номер патента: 1739412
Опубликовано: 07.06.1992
Авторы: Костенко, Кузьмичев, Хлопов, Шестопалов
МПК: H01J 23/18, H01P 7/06
...рабочего колебания открытого резонатора с гауссовым распределением с полем в раскрыве рупора 3 и удовлетворяют соотношениям: а = (2,4-3,3) во в Н плоскости, Ь = (1,6-2,4) во в Е плоскости,Длинарупора 3 выбрана из условия минимума фазовых ошибок в раскрыве рупора 3 и удовлетворяет первенству где а 1 - минимальный размер широкой стороны рупора 3;А - длина волны рабочего колебания.Параметры одномерной дифракционной решетки определяются, исходя из требуемого коэффициента связи открытого резонатора и рупора 3, в зависимости от применения открытого резонатора.Принцип работы открытого резонатора одинаков для всех предлагаемых типов зеркал 1 и 2 и состоит в следующем,Электромагнитная вол на Н 1 о прямоугольного волновода 4 поступает в открытый...
Свч-прибор о-типа с азимутально-неоднородной рабочей волной
Номер патента: 1529996
Опубликовано: 07.06.1992
Автор: Белявский
МПК: H01J 25/00
Метки: азимутально-неоднородной, волной, о-типа, рабочей, свч-прибор
...вдоль оси Е азимутапьцо-цесимметричцой электрома г ц тн ОЙ н 01111 б Ол пой амплитуды В статитеском пт)ОдОльцом магцитцом попе (В) при преттебрежеттти силами прострастнецц ) гоаряда имеет следующттт нид;(4) коллектору, ппод цс ргиц - цд коппекторцом концс приборд,Плавное уменьене сопроинпецияСВЛЭП Р цд 1 Гайдн упдС.тКС ЗС;(Е)рводит к переддче чдсти ксПсб,тельнойэцергч электроног бегупссоппе,Чта тд;жС. СОСС 1 ст(5 ет ОЫП С ис КПД.Для уепичепя 01 Д прПср: 111 эжНО С 1 ОП 1 ЗОПДЦПС РЕ 1 ЕПСД 1,1 П 1 1 ОГОполя (см. фцг. 2), ,спто пс жпс 1 сотворяет успсьчю (2) . с, бплст рс персапериод 3.; дои.сн1 сПел с дсоот здчел 1 перец р. ср1, слчтоВ /Р 2,0 3,0 4,0 5,050 39 48 Жприп=- -2 537 597 В,/В 1,3 1.е 45 Л 607тора в поле вопцы Я с.-пО, можно...
Свч-прибор клистронного типа
Номер патента: 1658771
Опубликовано: 15.06.1992
Авторы: Андреев, Галкин, Симинов, Шемарина
МПК: H01J 25/10
Метки: клистронного, свч-прибор, типа
...ззимодействия двухз зээО Га резонатора нэ Оснае саатн,)швний (1), (2) повциэетсэффективность взэима- действиЯ СВЧ.паля с электронным лучомТем самым говыаавтся КПД пгцбора, э 20 раз,1 О.це ив 1. "аэ)нага 1 лзпнэтп)эвнут)и труэ , " и: 10 эвагЯе дбеспечить минималь ь: ссаггбаритн хара ктерис гики прибор э.,3 кспер менты, выполненные на клистране ВГ, в котором в трубе дрейфа между вторым и третьим резонаторами был расположен двухээзарный резонатор, настроенный нэ КРЭтНЬЕ ЧаСТОГЫ (ПРатИВОфаэный На чаСТО- те 1, синфазный а частоте 21), покэзь- ваот, чта предлагаемое техичское решение Озолявт при сохрэении мэссагэбаритных характеристик и без увеличени 1 факусир угаега магнит нога поля знэ иээл О увеличить КПД прибора с 36- 35 40 да 56...
Способ закрепления барьерной пленки на поверхности микроканальной пластины
Номер патента: 1563485
Опубликовано: 15.06.1992
Авторы: Александров, Денисов, Лещиков, Смирнов
МПК: H01J 9/12
Метки: барьерной, закрепления, микроканальной, пластины, пленки, поверхности
...до полного совмещееЕя поверхностей ИКП 6 и слоя 7 исходного материала двухслойной пленки,1 еобходимость вертикального перемеще" опя столика 5 вызвана возможным появлением морщин на двухслойной пленке при ее неточном опускащ 1 и на поверхность МКП 6. Исходное расстояние межДу столиком 5 и Двухслойной плеякой может быть любьпч. Например, при рас"стоянии 20-30 мкм можно в случаенеобходимости производить ионную чистку в разряде соприкасающихся поверхностей исходного материала и поверхности МКП 6.После совмещения поверхностей МКП6 и слоя исходного материала двух-.слойной пленки в зазоре между держа"телем 4 и катодом 3 зажигают нормаль-ный тлею 5 ций разряд с плотностью тока0,5-2,0 мЛ/см и областью отрицательного тлеющего свечения в...
Способ формирования кадров электронного изображения и электронно-оптический преобразователь
Номер патента: 1741187
Опубликовано: 15.06.1992
Авторы: Жилкина, Сырцев, Фельдман
МПК: H01J 31/50
Метки: изображения, кадров, формирования, электронно-оптический, электронного
...тормозящие электроды 10, 11, две пары электростатических пластин 12, 13 равной чувствительности, разделенных диафрагмой 14.Устройство работает следующим образом,Возбужденные под действием света фотоэлектроны эмиттируются с фотокатода 1, ускоряются в сторону анода 3, фокусируются при помощи электрода 2 на люминесцентном экране б . На электроды 10, 11 подают отрицательный относительно анода 3 потенциал, который частично расфокусирует электронный поток. Дополнительный фокусирующий электрод 5и подфокусирует изображение на экране. Между электродами прикладывают напряжение, ускоряющее электроны до энергии, достаточной для возбуждения люминесцентного экрана.Распределение осевого потенциала приведено на фиг. б.На участке а - б фотоэлектроны...
Способ определения высокочастотных параметров ускоряющих структур
Номер патента: 1742896
Опубликовано: 23.06.1992
МПК: H01J 9/42
Метки: высокочастотных, параметров, структур, ускоряющих
...поглощающейнагрузкой 5 и фокусирующей системой 6,СВЧ-тракт 7, связанный с ускоряющей секцией и оканчивающейся согласованнойнагрузкой 8, содержащей калиброванныйответвитель 9, подключенный к измерительной детекторной головке 10 и частотомеру 11; 30Способ реализуют следующим образом.Непрерывный электронный пучок изинжектора 1, удерживаемый магнитным полемсистемы 6, проходит пространство взаимодействия ускоряющей структуры 4. В такойсистеме возникает автогенерация СВЧмощности, распространяющейся навстречупучку, по типу лампы обратной волны(ЛОВ),и регистрируется измерительной детекторной головкой 8, если ток инжекции, измеряемый системой 3, ббльше пороговогозначенияОпз 45где Оп - напряжение инжекции, соответствующее примерному синхронизму...
Устройство для обработки сигналов изображения в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1742897
Опубликовано: 23.06.1992
Авторы: Камалягин, Куляс, Плешивцев
МПК: H01J 37/28
Метки: изображения, микроскопе, растровом, сигналов, электронном
...производится ручная или автоматическая подстройка яркости и контраста в ВКБ 12.Первый и второй детекторы 5 и 6 экстремумов измеряют и преобразуют в цифровой код максимальное и минимальное значения 14 и 15 сигнала 16, Измерение осуществляется на интервале времени прямого хода по кадру. Сброс результатов измерения (подготовка детекторов к следующему измерению) осуществляется кадровым синхроимпульсом, поступающим с второго выхода синхрогенератора 1. Синхронизация аналого-цифрового преобразователя осуществляется тактовыми импульсами, поступающими на детекторы 5 и 6 с третьего выхода синхрогенератора 1,Цифровые коды экстремумов с выходов детекторов 5 и 6 поступают на входы второго блока 9 суммирования, на выходе которого к концу...
Способ настройки многофункциональной электронно-лучевой установки
Номер патента: 1742898
Опубликовано: 23.06.1992
Автор: Рыбалко
МПК: H01J 37/28
Метки: многофункциональной, настройки, установки, электронно-лучевой
...картины. Пилообразные токи, подаваемые на растровую систему, симметричны относительно нулевой точки; т, е, амплитуда отрицательных токов равна соответствующим амплитудам положительных токов.Далее отключают растровую систему и увеличивают в три раза ток 1 возбуждения формирующей линзы и в девять раз ускоряющее напряжение О. Т. е. 0 36 кВ. Снижение тока возбуждения конденсоров до 0 2 А позволяет увеличить ток пучка до бф 10 А, Время облучения тест-объекта порядка 10 с приведет к испарению серебра под пучком, Этот участок диаметром 2-4 мкм будет выглядеть как отверстие в пленке. Да1742898 Составитель Е. БарышевскийРедактор М. Кузнецова Техред М.Моргентал Корректор О. Ципле Заказ 2290 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по...